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[发明专利]分光测量装置和分光测量方法-CN201980030327.4在审
发明人：庄沱 -专利权人：索尼公司
申请日： 2019-04-23 - 公布日： 2020-12-18 - 主分类号： G01J3/36 文献下载
摘要：本发明的目的是实现使得能够独立地调整分光测量装置的空间分辨率和波长分辨率的配置。该分光测量装置包括：空间分辨率调整单元，用于调整分光测量装置的空间分辨率；以及波长分辨率调整单元，用于调整分光测量装置的波长分辨率，其中，空间分辨率调整单元通过将从分光测量装置的会聚单元到分光成像单元的输出光保持为平行光并且调整会聚单元的构成元件的参数，在不改变波长分辨率的情况下改变分光测量装置的空间分辨率。波长分辨率调整单元调整分光测量装置的分光成像单元的参数，以在不改变空间分辨率的情况下改变分光测量装置的波长分辨率。
分光测量装置测量方法

[发明专利]多分辨率压缩感知图像处理-CN201680066675.3有效
发明人： A·冈萨雷斯;H·蒋;G·黄 -专利权人：阿尔卡特朗讯美国公司
申请日： 2016-11-07 - 公布日： 2022-04-08 - 主分类号： G06T5/50 文献下载
摘要：提供了用于从表示单个原生分辨率图像的压缩版本的一组压缩测量构建多分辨率图像的系统和方法。在一方面，取回使用压缩感知矩阵生成并表示场景的单个原生分辨率图像的压缩版本的压缩感知测量。确定期望二维多分辨率图像的大小，并分配多个区域，每个所分配区域具有各自的分辨率。定义扩展矩阵以将每个所分配区域的分辨率映射到原生分辨率，并且使用所述压缩感知测量、所述压缩感知矩阵、以及所定义的扩展矩阵，构建所述场景的多分辨率图像。在各个方面，全分辨率或其它多分辨率图像可从相同的压缩测量构建而不生成新的压缩测量。
分辨率压缩感知图像处理

[发明专利]测量报告分辨率调适方法-CN201680068992.9有效
发明人： F.根纳斯森;Y.布兰肯斯普;S.莫达雷斯拉扎维;H.赖登;I.斯奥米纳;K-E.苏内尔;R.苏斯塔瓦;王萌;A.扎伊迪 -专利权人：瑞典爱立信有限公司
申请日： 2016-09-23 - 公布日： 2020-11-10 - 主分类号： H04W64/00 文献下载
摘要：公开了一种由无线装置执行的用于调适测量报告分辨率的方法。该方法包括：执行测量；确定要使用的测量报告分辨率；以及向网络节点发送基于确定的测量报告分辨率编码的测量报告。根据附加实施例，在确定要使用的测量报告分辨率之前，无线装置告知网络节点无线装置的发送基于多个不同测量报告分辨率编码的测量报告的能力。根据附加实施例，在告知网络节点无线装置的能力之后，以及在确定要使用的测量报告分辨率之前，无线装置从网络节点接收期望的测量报告分辨率。
测量报告分辨率调适方法

[发明专利]基于扫频OCT的轴向分辨率精准计算的评估方法及系统-CN202310465123.1在审
发明人：武西宁 -专利权人：天津恒宇医疗科技有限公司
申请日： 2023-04-26 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于扫频OCT的轴向分辨率精准计算的评估方法及系统，该方法包括利用仿真光源模型，生成可调节的光谱信号作为模拟干涉信号；基于模拟干涉信号求取仿真轴向分辨率。构建一个轴向分辨率测量系统，基于PSF方法进行实际轴向分辨率的计算；将仿真轴向分辨率与实际轴向分辨率进行比较，若差值不超过预设范围，判定实际轴向分辨率有效，若差值超过预设范围，则判定实际轴向分辨率无效，对轴向分辨率测量系统进行重新调整。本仿真方法与实际分辨率计算结果相吻合，采用本评估方法可以利用计算的仿真轴向分辨率，精确评估实际分辨率计算结果，有利于实际OCT系统测量时，及时进行调整，实现对OCT的轴向分辨率的精准评估。
基于 oct 轴向分辨率精准计算评估方法系统

[发明专利]一种锥束CT的分辨率性能测量装置及标定方法-CN201510741133.9在审
发明人：戎军艳;卢虹冰;廖琪梅;刘文磊;高鹏 -专利权人：中国人民解放军第四军医大学
申请日： 2015-11-04 - 公布日： 2016-03-23 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明涉及一种锥束CT的分辨率性能测量装置及标定方法。测量装置包括横向和纵向两个分辨率测量模块，利用该装置，可以对锥束CT的横向和纵向分辨率分别标定。标定方法为：首先对测量装置的两个模块分别进行锥束CT采集及三维重建，对横向分辨率测量模块的中心横断面及纵向分辨率测量模块的中心冠状面的斜边图像生成边缘扩展函数，在此基础之上计算调制传递函数。分别选取10％调制度下的空间频率为锥束CT系统的横向分辨率和纵向分辨率。本发明的优点体现在：公开了一种测量锥束CT三维分辨率的装置和相应的标定方法，其装置结构简单，成本低廉；标定方法易于实现，可满足锥束CT横、纵两个方向分辨率的测量需求。
一种 ct 分辨率性能测量装置标定方法

[发明专利]基于深度超分辨率网络的结构位移测量方法及装置-CN202210114593.9在审
发明人：陆新征;孙楚津;廖文杰 -专利权人：清华大学
申请日： 2022-01-30 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： G06T7/60 文献下载
摘要：本发明提供一种基于深度超分辨率网络的结构位移测量方法及装置，方法包括：获取待测结构位移前后的原始图像，分别从位移前后的原始图像中提取初始ROI图像；分别将位移前后的初始ROI图像输入图像超分辨模型，得到位移前后的超分辨率ROI图像；分别对位移前后的超分辨率ROI图像进行还原处理，得到位移前后的超分辨率图像；基于位移前后的超分辨率图像，对待测结构进行位移测量，得到位移测量结果。通过图像超分辨模型可以根据位移前后的初始ROI图像，获得相应的超分辨率ROI图像，进而获得位移前后的超分辨率图像，利用位移前后的超分辨率图像，可以得到更加精确的位移测量结果，有效提升了结构位移的测量精度
基于深度分辨率网络结构位移测量方法装置

[发明专利]对感测到的测量值进行融合的方法和系统-CN201680068669.1有效
发明人： U·卡米洛夫;P·T·布福诺斯 -专利权人：三菱电机株式会社
申请日： 2016-12-14 - 公布日： 2021-08-13 - 主分类号： G06T3/40 文献下载
摘要：一种对感测到的测量值进行融合的方法和系统，该系统包括：深度传感器，该深度传感器用于获取场景的深度测量值作为帧序列；以及摄像机，该摄像机被配置成获取场景的强度测量值作为图像序列，其中，深度传感器的分辨率低于摄像机的分辨率处理器在深度测量值的多个时间相邻帧中搜索相似片段，利用强度测量值将相似片段分组成块，利用事前约束提高所述块的分辨率以获得分辨率提高块，然后从分辨率提高块构建分辨率高于传感器的分辨率的深度图像。
感测到测量进行融合方法系统

[发明专利]一种针对颗粒厚度的超分辨率测量方法-CN201410469327.3在审
发明人：李强;吴亚婷;江虹;黄玉清 -专利权人：西南科技大学
申请日： 2014-09-08 - 公布日： 2016-06-01 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：为了提高扁平状颗粒厚度的测量精度，本发明将超分辨率技术引入颗粒厚度测量中。在小波图像增强的基础上，采用基于稀疏表示的超分辨率方法重建单幅图像。利用采集的低分辨率图像获取低分辨率图像块与字典训练集，并采用正交匹配跟踪算法求出稀疏表示系数。利用K-SVD方法获得高、低分辨率的超完备字典，再通过高分辨率的超完备字典与稀疏表示系数的乘积求得高分辨率图像块，重构出高分辨率图像。进而结合颗粒图像分割与最小外接矩形方法实现厚度测量。该方法能够去除采集图像中的噪声、毛刺等污染，能丰富图像内容并改善图像质量，提高了颗粒厚度的测量精度。
一种针对颗粒厚度分辨率测量方法

[发明专利]一种光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置及测量方法-CN202110136762.4有效
发明人：王敬涛;王正义;彭建华;张林涛 -专利权人：浙江省医疗器械检验研究院
申请日： 2021-02-01 - 公布日： 2022-09-30 - 主分类号： A61B5/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置，所述光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置包括光学基准板和光学参考板，其中所述光学基准板和所述光学参考板之间的夹角为0.1度至0.5度。本发明还涉及一种使用所述光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置的光学干涉断层成像系统轴向分辨率的测量方法。本发明的光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量方法通过一次扫描便可以得到系统的实际轴向分辨率，而无需反复调整空气隙实际宽度来无限逼近系统实际分辨率，因此具有操作简单、快速的特点。
一种光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置测量方法

[发明专利]一种基于光谱分辨率校正提高光信噪比测量精度的方法-CN201610815635.6有效
发明人：柯昌剑;尹国;邢晨;崔晟;刘德明 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2016-09-09 - 公布日： 2018-09-04 - 主分类号： H04B10/079 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于光谱分辨率校正提高光信噪比测量精度的方法，通过测量一定带宽内宽光谱信号的实际功率，以及采用光谱分析仪测量该宽光谱信号在该带宽内的采样点的功率之和，获取光谱分析仪的校正分辨率；并用校正分辨率代替光谱分析仪的设置分辨率，获取光信噪比，提高其测量精度；本发明提供的这种基于光谱分辨率校正提高光信噪比测量精度的方法能有效地解决光谱分析仪的设置分辨率与实际分辨率不同导致光信噪比测量误差较大的问题；本发明提供的方法适用于所有光谱分析仪分辨率的校正，也适用于所有基于光谱分析的光信噪比测量方法精度的提高，具有操作及处理方法简单，且易于实施的优点。
一种基于光谱分辨率校正提高光信噪测量精度方法

[实用新型]一种管子-管板焊缝射线检测分辨率测量的分辨率试片-CN202022809055.0有效
发明人：张岩;王晓兰;赵晓华;张建磊 -专利权人：哈电集团（秦皇岛）重型装备有限公司
申请日： 2020-11-27 - 公布日： 2021-10-15 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种管子‑管板焊缝射线检测分辨率测量的分辨率试片。本实用新型提供的分辨率测量用的分辨率试片尺寸小巧、加工成本低、通用性强、使用方便。按本实用新型使用该试片可以测量管子‑管板焊缝射线检测的系统分辨率和不同位置的图像分辨率。经简单的数学变换，还可计算出管子‑管板焊缝射线检测不同位置处的不清晰度和分辨力。
一种管子焊缝射线检测分辨率测量试片

[发明专利]测量装置的测量分辨率优化方法、装置、设备及存储介质-CN202111599587.9在审
发明人：王维虎;蔡小林;胡小杰 -专利权人：北京西华益昌技术开发有限责任公司
申请日： 2021-12-24 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： E21B49/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了测量装置的测量分辨率优化方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取测量装置以原始测量分辨率相对被测对象在当前测量点的当前测量原始值，并获取上一测量点相对期望测量分辨率关联的上一目标测量集；根据所述当前测量原始值及所述上一目标测量集，结合预确定的贡献因子序列，确定所述测量装置在所述期望测量分辨率下相对所述当前测量点的当前目标测量集。上述技术方案，采用依据测量装置的上一目标测量集、当前测量原始值以及贡献因子序列，计算当前测量点的当前目标测量集的方式，相对于现有利用纯物理手段提升测量分辨率的方法而言，本发明实施例具有经济性，极少约束性的特点，可以提高测量装置的测量分辨率。
测量装置分辨率优化方法设备存储介质

[发明专利]基于F-P标准具的瞬态高分辨率光谱仪-CN201510366145.8有效
发明人：石锦卫;赵芸赫;李鸿暾;魏巍威;刘大禾 -专利权人：北京师范大学
申请日： 2015-06-30 - 公布日： 2018-07-13 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：该发明是一种瞬态高分辨率光谱测量装置，涉及高分辨率光谱测量领域和瞬态光谱测量领域。该高分辨率光谱测量装置利用标准具自身的角度分光以及通过将多个F‑P标准具串接的技术来实现对单脉冲瞬态光谱的高分辨率测定。该发明可应用于布里渊散射、塞曼效应、自旋电子学等高分辨光谱测量领域。
高分辨率光谱测量装置光谱测量瞬态光谱标准具瞬态高分辨率光谱仪布里渊散射自旋电子学测量领域塞曼效应串接的单脉冲等高分光分辨应用

[发明专利]一种海洋测量数据网格化的最佳分辨率确定方法-CN201410062978.0无效
发明人：徐广袖;李凯锋;吴太旗;陆秀平;任来平;欧阳永忠;王耿峰 -专利权人：中国人民解放军92859部队
申请日： 2014-02-25 - 公布日： 2014-07-02 - 主分类号： G01C13/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种海洋测量数据网格化的最佳分辨率确定方法，其主要技术特点是：设海底地形和海洋地球物理场信息均为频率域函数，则通过测量数据的采样密度和分布方式可确定网格化时能够恢复的函数最高频率；通过采样点的空间分布特征进行最佳分辨率估算，从而得到海洋测量数据网格化的最佳分辨率。本发明根据网格分辨率与测量比例尺、采样点密度三者之间的关系，只需要利用测量比例尺参数即可快速、准确地确定海底地形和海洋地球物理场测量数据最佳网格分辨率，避免了网格化时分辨率确定的盲目性和随意性，可广泛应用于船载、机载测量平台获取的海洋环境数据的最佳网格化分辨率计算。
一种海洋测量数据网格最佳分辨率确定方法

[发明专利]物理量测量设备和物理量测量方法-CN201310247025.7无效
发明人：佐佐木晋一 -专利权人：横河电机株式会社
申请日： 2013-06-20 - 公布日： 2014-01-15 - 主分类号： G01R23/10 文献下载
摘要：本发明公开了物理量测量设备和方法。该物理量测量设备（100）包括：信号输入模块（110），接收具有连续脉冲的输入信号；低分辨率时钟信号产生器（130），产生低分辨率时钟信号；高分辨率时钟信号产生器（140），产生高分辨率时钟信号；选通时间产生器（122），以预定间隔输出选通时间信号；低分辨率时钟信号同步器（132），产生低分辨率时钟同步信号；低分辨率计数器（152），对所述低分辨率时钟信号的上升沿的数量进行计数；高分辨率时钟信号产生控制器（142），输出所述高分辨率时钟信号作为选通时钟信号；高分辨率时钟信号同步器（144），产生高分辨率时钟同步信号；以及高分辨率计数器（154），对所述选通时钟信号的上升沿的数量进行计数。
物理量测量设备测量方法

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