专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]多机箱测试装置及其测试信号传送装置-CN201610164393.9有效
  • 沈游城;高嘉言 - 德律科技股份有限公司
  • 2016-03-22 - 2020-02-07 - G01R31/28
  • 一种多机箱测试装置及其测试信号传送装置。应用于多机箱测试装置的测试信号传送装置包含全域走线测试信号传送模块。测试信号传送模块各包含输入输出端口、测试线及包含输出及输入单元的桥接阵列。输出单元将自输入输出端口接收的输出信号传送至测试线,或将该输出信号传送至一全域走线并将自另一全域走线接收的输出信号传送至测试线。输入单元将自测试线接收的输入信号传送至输入输出端口,或将该输入信号传送至一全域走线并将自另一全域走线接收的输入信号传送至输入输出端口。多机箱测试装置可利用测试信号传送装置在任何测试控制器及电路内测试系统间进行信号传输。
  • 机箱测试装置及其信号传送
  • [实用新型]一种DCU电控单元测试系统-CN201420541049.3有效
  • 王柯;王殿辉;朱磊磊;刘海涛;张倩 - 中国重汽集团济南动力有限公司
  • 2014-09-19 - 2015-02-18 - G05B23/02
  • 本实用新型公开了一种DCU电控单元测试系统,包括DCU测试箱、集成测试线束、CAN总线通讯设备和测试台,DCU测试箱设有电位器、执行器指示灯、系统电源接口和信号传输接口,所述电位器与执行器指示灯分别与信号传输接口相连,所述系统电源接口和信号传输接口分别通过集成测试线束连通待测DCU电控单元。CAN总线通讯设备包括CAN总线转换器、CAN通讯线束和USB线束,集成测试线束分别连接DCU测试箱、DCU电控单元和CAN通讯线束,CAN通讯线束与CAN总线转换器、USB线束、测试台依次相连。集成测试线束本实用新型针对DCU电控单元的功能进行全面测试,具有可视化操作界面,测试功能全面,测试方法简单,测试结果直观等优点。
  • 一种dcu单元测试系统
  • [实用新型]一种电池管理系统的测试装置以及测试系统-CN202222596598.8有效
  • 赵佳聪;王成龙;刘振;万里平 - 湖北亿纬动力有限公司
  • 2022-09-29 - 2023-02-10 - G01R31/00
  • 本实用新型公开了一种电池管理系统的测试装置以及测试系统。该测试装置包括测试机柜、多组第一测试线束组、多组第二测试线束组、多个第一连接器和多个第二连接器,第二连接器与第一连接器一一对应可拆卸连接;测试机柜连接多组第一测试线束组,每组第一测试线束组包括至少两条第一测试线束;每个第二连接器对应连接一组第二测试线束组,每组第二测试线束组包括至少两条第二测试线束。本实用新型实施例通过设置连接一组第二测试线束组的第二连接器与连接一组第一测试线束组的第一连接器一一对应可拆卸连接,可以提高测试机柜与电池管理系统之间线束连接的效率,使得连线规整,降低线束连接的出错率,节省拆除线束的人力成本
  • 一种电池管理系统测试装置以及
  • [实用新型]液晶面板测试电路-CN201020254277.4有效
  • 李丽;彭志龙 - 北京京东方光电科技有限公司
  • 2010-06-30 - 2011-05-25 - G02F1/13
  • 本实用新型提供一种液晶面板测试电路,包括:第一组数据线测试端、第二组数据线测试端及公共电极测试端,均位于被测的阵列基板外围布设有数据线测试总线的一边的外侧,其中:第二数据线测试总线与第一数据线测试总线之间断开连接,公共电极测试端通过公共电极测试线沿所述第二数据线测试总线与所述第一数据线测试总线之间断开连接的位置连接于所述阵列基板的公共电极上,使所述第一数据线引出端及所述第二数据线引出端分别位于所述公共电极测试线的两侧本实用新型避免了公共电极测试线上ESD现象的发生,降低了对良率的影响,保证了后续正常检测流程的顺利进行。
  • 液晶面板测试电路
  • [发明专利]显示面板的测试电路和显示装置-CN202111194931.6有效
  • 杨维世;许益祯;王立苗;任春晖;唐榕;赵聪聪;郑浩旋 - 惠科股份有限公司
  • 2021-10-14 - 2022-01-07 - G09G3/00
  • 本申请公开了一种显示面板的测试电路和显示装置,测试电路包括:多条测试线、多个第一主动开关和保护电路,测试线包括高电平信号测试线、低电平信号测试线和至少一条测试信号线;第一主动开关控制测试信号线、低电平信号测试线和高电平信号测试线的导通与关断;高电平信号测试线还连接每一个第一主动开关的控制端;保护电路包括控制信号输入端和控制信号输出端,控制信号输入端分别与高电平信号走线、低电平信号走线连接,控制信号输出端与每一个第一主动开关的控制端连接;保护电路在显示面板正常工作时本申请通过上述方案,以解决改善测试线短路的问题。
  • 显示面板测试电路显示装置
  • [实用新型]一种继电保护及自动化装置测试线-CN202020472975.5有效
  • 王超;王恺溪;杨玉龙;杨云龙 - 王超
  • 2020-04-03 - 2020-12-01 - G01R1/04
  • 本实用新型公开了一种继电保护及自动化装置测试线箱,包括测试线箱,所述测试线箱的内部设置有第一放置区,并且测试线箱的内部设置有第二放置区,所述测试线箱的内部设置有缠线杆,所述缠线杆的底部设置有固定杆,所述固定杆上固定连接有钩子本实用新型利用在测试线箱的内部设置有第一放置区和第二放置区,第一放置区和第二放置区可以放置短款测试线或者测试零件,在缠线杆的底部设置有固定杆和钩子,固定杆上的钩子可以有效的防止长款的测试线凌乱现象,同时测试箱的周测底部固定连接有底座,底座可以有效的针对测试线箱在施工平台和凹凸不平的工作台上进行固定作用,防止测试箱体出现滑落或者不平稳的现象。
  • 一种保护自动化装置测试
  • [发明专利]金属互连测试结构及电迁移测试方法-CN202310345167.0在审
  • 盛鑫;朱业凯;范庆言;朱月芹 - 上海华力微电子有限公司
  • 2023-03-31 - 2023-07-04 - H01L23/34
  • 本发明提供一种金属互连测试结构及电迁移测试方法,金属互连测试结构包括测试金属线和金属加热器,金属加热器位于测试金属线的相邻层或者外周,通过金属加热器来产生热量进而加热测试金属线。由于金属加热器位于测试金属线的相邻层或者外周,金属加热器所产生的热量能够高效的传导到测试金属线上,提高了测试过程中的热传导效率。在进行电迁移测试时,通过金属互连结构的金属加热器对测试金属线进行加热,并监测测试金属线的加热温度,并在测试金属线的加热温度达到目标温度时,对测试金属线进行测试。由于金属加热器所产生的热量能够高效的传导到测试金属线上,可以缩短测试金属线的加热温度达到目标温度的时间,提高测试效率及测试成本。
  • 金属互连测试结构迁移方法
  • [发明专利]一种多线测试系统、方法、装置及存储介质-CN201911015207.5有效
  • 周恩宇;李万荣;朱文渊 - 广州市槿泓电子有限公司
  • 2019-10-24 - 2022-09-27 - G01R31/58
  • 本发明公开了一种多线测试系统、方法、装置及存储介质,该系统包括:计算机设备,用于存储、分解、接收及分析测试档案;测试档案包括基础数据、生产数据及产品测试数据;若干台线测试设备,用于测试线束的技术参数;若干个测试板和/或测试工装,用于连接线束及线测试设备;计算机设备与所述线测试设备通过通讯接口连接。该测试系统中计算机设备与测试设备通过通讯接口连接,测试设备通过测试板和/或测试工装与线束连接,并对线束测试测试数据进行分析判断是否测试合格,实现同时测试多个产品或多个测试设备联合测试测试资料及测试结果的自动处理,测试设备的利用率高、拓展性好且效率高。该发明可广泛应用于线测试技术领域。
  • 一种多线束测试系统方法装置存储介质
  • [实用新型]后段工艺可靠性测试结构-CN201621184399.4有效
  • 王明;张沥文 - 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司;中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2016-11-03 - 2017-05-03 - H01L23/544
  • 本实用新型提供一种后段工艺可靠性测试结构,包括多层金属线层,包括自下而上依次设置的第一金属线层至第N金属线层,每层金属线层包括至少两条相互平行的测试金属线,且相邻金属线层中的测试金属线在水平面内的投影垂直相交;金属插塞,位于多层金属线层中相邻金属线层之间;第一测试焊盘和第二测试焊盘分别连接多层金属线层中的奇数层金属线层和偶数层金属线层,且奇数层金属线层中的测试金属线与偶数层金属线层中的测试金属线分别与第一测试焊盘、第二测试焊盘依次间隔连接。本实用新型的测试结构可同时检测堆栈的所有层的Via‑Via、Via‑Metal以及Metal‑Metal的性能问题,简化现有技术中BEOL性能测试的过程,提高了测试效率,可用于小于40nm的先进工艺中。
  • 后段工艺可靠性测试结构
  • [实用新型]一种等电位测试-CN202120423061.4有效
  • 杜平;张兆;姜洲;杨成 - 湖北天地雷电科技有限公司
  • 2021-02-26 - 2021-10-01 - G01R27/02
  • 本实用新型提供了一种等电位测试仪,包括测试仪本体、多根测试线和用于存放测试仪本体的存放箱,所述存放箱包括顶部开口的箱体,所述箱体上转动连接有用于密封箱体顶部开口的箱盖,所述测试仪本体的测试接口处可拆卸连接有用于加固多根测试线的限位机构,所述限位机构包括两块限位板,所述限位板上开设有多个弧形槽,两块限位板上的弧形槽两两一组构成多个供测试线穿过的第一通孔。本实用新型解决了现有技术中存在的使用者在拖拽测试线时容易将测试线从等电位测试仪的接口处拔出,或是相邻测试线发生缠绕打结的问题,产生了有效防止人工拖拽测试线过程中测试线从等电位测试仪的接口处被拔出,相邻测试线发生缠绕打结的效果
  • 一种电位测试仪

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