专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]降低暗电流影响的全局快门装置-CN201680092075.4有效
  • H·T·杜;P·G·利姆;S·W·米姆斯 - BAE系统成像解决方案有限公司
  • 2016-12-19 - 2021-10-29 - H04N5/341
  • 公开了一种具有连接到位线的多个像素传感器的成像阵列。每个像素传感器包括具有光电二极管、浮动扩散节点、和放大器的第一光电检测器。浮动扩散节点的特征在于具有寄生光电二极管和寄生电容。放大器放大浮动扩散节点上的电压,从而在放大器输出上生成信号。第一光电探测器还包括:位线栅极,其响应于行选择信号而将放大器输出连接到位线;以及分压电容器,其具有连接到浮动扩散节点的第一端子和连接到驱动源的第二端子,驱动源响应于驱动控制信号而在地与地之间不同的驱动电位之间切换第二端子上的电压。
  • 降低电流影响全局快门装置
  • [发明专利]一种用于检定直流充电桩电流值的方法及系统-CN202010863471.0有效
  • 李贺龙;于海波;卢达;王春妍;刘佳;王春雨 - 中国电力科学研究院有限公司
  • 2020-08-25 - 2022-09-02 - G01R19/00
  • 本发明公开了一种用于检定直流充电桩电流值的方法及系统,属于电能计量技术领域,本发明方法,包括:确定插值扩充后的电流/电压数据,受不同环境工况影响影响特征;根据影响特征,确定电压/电流影响因素矩阵及测量误差矩阵;根据电压/电流影响因素矩阵及测量误差矩阵,建立测量电压/电流影响因素影响的修正模型;根据修正模型,对电流/电压进行修正,根据修正后的电流/电压,确定修正后电流/电压的纹波影响因素矩阵及误差矩阵;根据修正后电流/电压的纹波影响因素矩阵及误差矩阵,建立误差模型;根据误差模型,确定直流充电桩电流值。本发明实现了检定装置电压电流在现场环境工况下的抗干扰检定。
  • 一种用于检定直流充电电流方法系统
  • [发明专利]一种考虑位错影响的氮化镓HEMT器件模型的建模方法-CN202211240149.8在审
  • 刘岑松;汪洁;刘军 - 杭州电子科技大学
  • 2022-10-11 - 2023-05-23 - G06F30/398
  • 针对现有的器件模型没有同时考虑位错对漏极电流和栅极泄漏电流影响、位错对漏极电流影响的模型没有动态模拟电荷的捕获和释放,以及栅极泄漏电流模型没有充分考虑位错的影响的问题,本发明公开一种考虑位错影响的氮化镓该建模方法包括:建立位错对GaN HEMT漏极电流影响的模型;建立位错对GaN HEMT栅极泄漏电流影响的模型;将位错对GaN HEMT漏极电流影响模型和位错对GaN HEMT栅极泄漏电流影响模型整合到基于表面势的模型中,得到考虑位错影响的GaN HEMT器件模型并采用Verilog‑A语言进行描述;给出考虑位错影响的GaN HEMT器件模型的参数提取方法。
  • 一种考虑影响氮化hemt器件模型建模方法

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