专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]毫米波或赫兹波参数测试装置-CN202320181632.7有效
  • 王懋;周奇;秦华;于润;靳琳 - 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
  • 2023-02-10 - 2023-08-04 - G01N21/3581
  • 本实用新型公开了毫米波或赫兹波参数测试装置,测试装置包括发射组件以及探测器。所述发射组件包括可连续调频的发射,所述发射用于发射毫米波或赫兹波,所述发射组件具有一出射面,所述发射发射的毫米波或赫兹波能自所述出射面射出;所述探测器以所述出射面所在处为圆心,相对所述发射组件可旋转设置,所述探测器用于接收经所述出射面射出的毫米波或赫兹波。本实用新型毫米波或赫兹波参数测试装置,其能够实现毫米波或赫兹波束多个参数的测试并获取波束的多个关键参数指标,对被测毫米波或赫兹波束的快速、高效、标准化测试具有重要意义。
  • 毫米波赫兹参数测试装置
  • [实用新型]利用赫兹成像检测层状绝缘材料内部缺陷的装置-CN201621179739.4有效
  • 张振伟;张存林 - 首都师范大学
  • 2016-10-27 - 2017-04-26 - G01N21/88
  • 本实用新型公开了一种利用赫兹成像检测层状绝缘材料内部缺陷的装置,该装置用于在不损坏层状绝缘材料的情况下对其内部的缺陷进行检测。利用赫兹成像检测层状绝缘材料内部缺陷的装置包括赫兹发射、两个透镜、赫兹探测器、二维扫描装置和成像处理装置,赫兹发射用于发射连续调频赫兹波,两个透镜用于将赫兹发射发射赫兹波会聚至待测样品的表面,在待测样品表面反射后的赫兹波再次经过两个透镜后由赫兹探测器接收并与其内部的本振信号混频后得到一中频信号,二维扫描装置控制赫兹发射在距离待测样品表面的一设定距离处对待测样品的表面进行扫描。
  • 利用赫兹成像检测层状绝缘材料内部缺陷装置
  • [发明专利]一种保密传输系统、方法及芯片-CN201910475218.5在审
  • 银珊;梁原达;石欣桐;黄巍;胡放荣;张文涛;熊显名 - 桂林电子科技大学
  • 2019-06-03 - 2020-12-04 - H04B10/85
  • 加密时,赫兹发射赫兹芯片上发射赫兹波,赫兹波经赫兹芯片进行低频滤波后传输至赫兹波接收器,实现信息加密;解密时,赫兹发射赫兹芯片发射赫兹波,激光发射赫兹芯片发射激光,赫兹波与激光经赫兹芯片进行高频滤波后传输至赫兹波接收器赫兹芯片包括衬底以及衬底顶面的二维阵列,并附着有信息板;二维阵列由周期排列的单元结构组成。单元结构包括金属结构主体、金属结构上形成有凹槽,在凹槽中还设有关于金属结构中心线对称的金属块和半导体材料块。本申请利用了赫兹芯片对赫兹波进行带通滤波,实现了便捷的保密传输。
  • 一种保密传输系统方法芯片
  • [实用新型]一种保密传输系统及芯片-CN201920821523.0有效
  • 银珊;梁原达;石欣桐;黄巍;胡放荣;张文涛;熊显名 - 桂林电子科技大学
  • 2019-06-03 - 2020-03-10 - H04B10/85
  • 本实用新型提供了一种保密传输系统及芯片,加密时,赫兹发射赫兹芯片上发射赫兹波,赫兹波经附赫兹芯片进行低频滤波后传输至赫兹波接收器,实现信息加密;在解密时,赫兹发射赫兹芯片发射赫兹波,激光发射赫兹芯片发射激光,赫兹波与激光经赫兹芯片进行高频滤波后传输至赫兹波接收器,实现信息解密。赫兹芯片包括衬底以及衬底顶面的二维阵列;二维阵列由周期排列的单元结构组成。单元结构包括金属结构主体、金属结构上形成有凹槽,在凹槽中还设有关于金属结构中心线对称的金属块和半导体材料块。本实用新型利用了赫兹芯片对赫兹波进行带通滤波,实现了便捷的保密传输。
  • 一种保密传输系统芯片
  • [发明专利]利用赫兹成像检测层状绝缘材料内部缺陷的方法和装置-CN201610955147.5有效
  • 张振伟;张存林 - 北京远大恒通科技发展有限公司
  • 2016-10-27 - 2023-10-27 - G01N21/88
  • 本发明公开了一种利用赫兹成像检测层状绝缘材料内部缺陷的装置和一种利用赫兹成像检测层状绝缘材料内部缺陷的方法,该装置和方法用于在不损坏层状绝缘材料的情况下对其内部的缺陷进行检测。利用赫兹成像检测层状绝缘材料内部缺陷的装置包括:赫兹发射、两个透镜、赫兹探测器、二维扫描装置和成像处理装置,赫兹发射用于发射连续调频赫兹波,两个透镜用于将赫兹发射发射赫兹波会聚至待测样品的表面,在待测样品表面反射后的赫兹波再次经过两个透镜后由赫兹探测器接收并与其内部的本振信号混频后得到一中频信号,二维扫描装置控制赫兹发射在距离待测样品表面的一设定距离处对待测样品的表面进行扫描。
  • 利用赫兹成像检测层状绝缘材料内部缺陷方法装置
  • [发明专利]一种赫兹移频器-CN202010460023.6在审
  • 翟召辉;朱礼国;杜良辉;彭其先 - 中国工程物理研究院流体物理研究所
  • 2020-05-27 - 2020-07-31 - H01S1/00
  • 本申请涉及一种赫兹移频器,属于赫兹技术领域。该赫兹移频器包括:赫兹发射、动态光栅器、分束器以及激光设备;赫兹发射用于发射频率为第一频率的赫兹波;分束器用于将部分赫兹波反射到动态光栅器上;激光设备用于产生具有频率差的两束激光且这两束激光呈一定夹角照射到动态光栅器的上并发生干涉,形成激光干涉条纹;动态光栅器还用于在受到两束激光的照射后,产生与激光干涉条纹同步运动的光生载流子,照射到动态光栅器上的赫兹波受光生载流子的调制而发生衍射,输出频率为第二频率的赫兹波。本申请利用动态光栅衍射技术,使赫兹波在动态光栅器上发生衍射,使得只需要一套赫兹发射,即可使赫兹波产生频率偏移。
  • 一种赫兹移频器
  • [实用新型]一种赫兹移频器-CN202020917668.3有效
  • 翟召辉;朱礼国;杜良辉;彭其先 - 中国工程物理研究院流体物理研究所
  • 2020-05-27 - 2020-12-18 - H01S1/00
  • 本申请涉及一种赫兹移频器,属于赫兹技术领域。该赫兹移频器包括:赫兹发射、动态光栅器、分束器以及激光设备;赫兹发射用于发射频率为第一频率的赫兹波;分束器用于将部分赫兹波反射到动态光栅器上;激光设备用于产生具有频率差的两束激光且这两束激光呈一定夹角照射到动态光栅器的上并发生干涉,形成激光干涉条纹;动态光栅器还用于在受到两束激光的照射后,产生与激光干涉条纹同步运动的光生载流子,照射到动态光栅器上的赫兹波受光生载流子的调制而发生衍射,输出频率为第二频率的赫兹波。本申请利用动态光栅衍射技术,使赫兹波在动态光栅器上发生衍射,使得只需要一套赫兹发射,即可使赫兹波产生频率偏移。
  • 一种赫兹移频器

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