专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种同时测量同位素丰度与杂质含量的质谱系统与方法-CN202110302534.X有效
  • 姜山 - 启先核(北京)科技有限公司
  • 2021-03-22 - 2022-08-30 - G01N30/72
  • 本发明提供一种同时测量同位素丰度与杂质含量的质谱系统与方法,质谱系统包括:离子源系统,用于进样和引出电荷态的离子束流;加速度子系统,用于对电荷离子进行加速、同时将电荷离子在能量和动量进行聚焦和分析;以及探测器子系统,用于检测同位素离子的束流、区分两种同量异位素以及区分两种具有相同质荷比的离子。本发明利用电荷态的电子回旋共振离子源能够瓦解所有分子离子,利用薄膜吸收技术和单粒子能量探测技术能够分辨同量异位素离子,从而显著提高了同位素丰度测量的灵敏度,降低了对每一种元素的检测下限,能够实现材料或样品中同位素丰度比值和杂质含量的同时
  • 一种同时测量同位素杂质含量谱系方法
  • [发明专利]一种无机质谱仪-CN201910948022.3在审
  • 姜山 - 姜山
  • 2019-10-08 - 2021-04-09 - H01J49/26
  • 本发明公开一种无机质谱仪,是一种基于电荷离子源的无机质谱仪器,具体结构包括:电荷离子源,前端分析系统、后端分系统和离子探测器。所述电荷离子源与前端分析系统相连接,所述前端分析系统与后端分析系统相连接,所述的后端分析系统与离子探测器相连接。
  • 一种无机质谱仪
  • [发明专利]一种二次离子质谱的一次离子-CN201010222243.1无效
  • 王亮;徐福兴;丁传凡 - 复旦大学
  • 2010-07-09 - 2010-11-24 - H01J49/10
  • 本发明属于分析技术领域,具体为一种二次离子质谱的一次离子源。具体采用带电荷的较大分子化合物的离子作为二次离子质谱的一次离子源。二次离子质谱中,二次离子离子化效率和对样品深度的分析能力取决于一次离子的能量。带电荷的一次离子,相比于传统的带单电荷的一次离子,能在相同加速电场下获得更大的动能,从而提高二次离子离子化效率,优化了仪器结构。本发明给出的实验系统具有结构简单,操作方便,造价便宜等优点。
  • 一种二次离子一次离子源

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