专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种十层共挤包装薄膜-CN201220673667.4有效
  • 杨伟;何斌 - 江阴升辉包装材料有限公司
  • 2012-12-10 - 2013-08-07 - B65D65/40
  • 本实用新型公开一种十层共挤包装薄膜,该薄膜为十层共挤层状结构,其贴合被包装物的最底层为水透气层;该十层结构中含有6至9个水透气层,水透气层间夹有粘接层,粘接层和水透气层的总层数为10;或该十层结构中含有2至7个水透气层和1至6个氧层,水透气层和氧层的总层数为6至8,至少有一个氧层被夹在两个水透气层之间,且相邻的氧层和水透气层之间均夹有一个粘接层,粘接层、水透气层和氧层的总层数为10本实用新型包装薄膜比传统薄膜薄膜各层功能设计上具有更大的灵活性,且具有更优化的薄膜结构设计,综合性能突出。
  • 一种十层共挤包装薄膜
  • [实用新型]薄膜晶体管液晶显示装置-CN201720319492.X有效
  • 不公告发明人 - 肇庆高新区虎鲨电子技术有限公司
  • 2017-03-29 - 2017-11-28 - G02F1/1335
  • 本实用新型公开了一种薄膜晶体管液晶显示装置。薄膜晶体管液晶显示装置包括彩膜基板、液晶层、薄膜晶体管阵列基板和背光模组;彩膜基板、薄膜晶体管阵列基板和背光模组叠加组合为一体;彩膜基板包括第一基板、彩膜层、黑色矩阵层、共通电极层、间隔子组合层、第一配向膜层,彩膜层包括红色色块、绿色色块、蓝色色块、白色色块;红色色块、绿色色块、蓝色色块和白色色块中均嵌套有网状夹层,网状夹层用于提高红色色块、绿色色块、蓝色色块、白色色块的结构强度。本实用新型能提高薄膜晶体管液晶显示装置中的色块的结构强度,避免色块因薄膜晶体管液晶显示装置受到外力的挤压作用而部分剥落。
  • 薄膜晶体管液晶显示装置
  • [发明专利]一种多功能忆器及其调控方法-CN202111287968.3在审
  • 杨蕊;夏剑;缪向水 - 华中科技大学;湖北江城实验室
  • 2021-11-02 - 2022-03-18 - H01L45/00
  • 本发明公开了一种多功能忆器及其调控方法,其调控方法包括:在底电极上形成原始薄膜,所述原始薄膜为包括含In和Se的化合物薄膜;通过氧等离子体工艺对所述原始薄膜进行处理,将原始薄膜表层氧化为氧化层,形成变层,所述变层包括氧化层和剩余的原始薄膜;在所述变层上制备顶电极,形成忆器;其中,在形成变层期间,通过调控氧等离子体工艺的处理参数,调控变层内导电细丝的形态,改变忆器的易失性或非易失性。本申请可以基于一种材料,通过改变器件制备期间的工艺参数,得到不同性能的忆器,基于同一种材料实现忆器的多功能调控,有利于简化大规模集成电路的工艺与结构。
  • 一种多功能忆阻器及其调控方法
  • [发明专利]双应力薄膜的制造方法以及半导体器件-CN201210451741.2无效
  • 张文广;陈玉文 - 上海华力微电子有限公司
  • 2012-11-12 - 2013-02-13 - H01L21/3105
  • 本发明公开了一种双应力薄膜的制造方法以及半导体器件,采用含氮气体沉积碳化硅薄膜,所述碳化硅薄膜应力薄膜,并采用碳氢化合物对所述碳化硅薄膜进行远程等离子体处理,减少了碳化硅薄膜中的氮的含量,避免后续光刻工艺中光失效而导致曝光效率的下降,从而影响最终应力目标值和均匀性的风险;同时,利用UV光照射碳化硅薄膜,经过UV光照射的碳化硅薄膜应力薄膜转变成拉应力薄膜,解决了氮化硅薄膜双应力薄膜不能满足一些先进器件RC delay的要求的问题,并且避免传统双应力薄膜工艺存在的交叠区域问题,从而防止因为交叠区域而造成良率的损失,工艺简单易实施。
  • 应力薄膜制造方法以及半导体器件
  • [发明专利]双应力薄膜的制造方法以及半导体器件-CN201210451798.2无效
  • 张文广;陈玉文 - 上海华力微电子有限公司
  • 2012-11-12 - 2013-02-06 - H01L21/311
  • 本发明公开了一种双应力薄膜的制造方法以及半导体器件,采用含氮气体沉积碳化硅薄膜,所述碳化硅薄膜应力薄膜,并采用碳氢化合物对所述碳化硅薄膜进行原位等离子体处理,减少了碳化硅薄膜中的氮的含量,避免后续光刻工艺中光失效而导致曝光效率的下降,从而影响最终应力目标值和均匀性的风险;同时,利用UV光照射碳化硅薄膜,经过UV光照射的碳化硅薄膜应力薄膜转变成拉应力薄膜,解决了氮化硅薄膜双应力薄膜不能满足一些先进器件RC delay的要求的问题,并且避免传统双应力薄膜工艺存在的交叠区域问题,从而防止因为交叠区域而造成良率的损失,工艺简单易实施。
  • 应力薄膜制造方法以及半导体器件
  • [发明专利]一种基于a-TSC:O陶瓷薄膜的忆开关器件及其制备方法-CN201810931359.9有效
  • 宋宇浩;次会聚;陈奕丞;刘诚;李东阳;李伟 - 电子科技大学
  • 2018-08-15 - 2020-03-17 - C23C14/35
  • 一种基于a‑TSC:O陶瓷薄膜的忆开关器件及其制备方法,属于光电器件技术领域。本发明在传统忆开关器件结构的基础上,创新提出“a‑TSC:O薄膜/a‑TiOx薄膜”的介质层结构,拓宽了忆开关器件介质层材料的选择范围。由于a‑TSC:O薄膜变性能大范围可调节,并且a‑TiOx薄膜透明且可提供氧缺位电迁移通道,因此使得a‑TSC:O薄膜具备良好的变性能,可用作忆开关器件的介质层同时,由于本征a‑TSC陶瓷薄膜具有非常好的导电性以及近红外透过率,因此也可将其作为顶电极材料,与透明导电薄膜形成的顶电极共同构建近红外全透明忆开关器件。此外,本发明提出忆开关器件的制备工艺简单、成本低廉、可靠性高,有利于实现大规模生产。
  • 一种基于tsc陶瓷薄膜开关器件及其制备方法
  • [实用新型]焊剂层的薄膜化装置-CN202121236368.X有效
  • 丰田裕二;田边昌大 - 三菱制纸株式会社
  • 2021-05-31 - 2022-01-11 - H05K3/00
  • 本实用新型的课题在于,提供一种焊剂层的薄膜化装置,在焊剂层的薄膜化装置中,即使在将胶束的溶解除去速度极慢的焊剂层薄膜化的情况下,也不会残留无法利用胶束除去液完全除去的焊剂层,薄膜化面变得平滑。本发明的焊剂层的薄膜化装置的特征在于,是具备利用薄膜化处理液使没有固化的焊剂层的成分胶束化的薄膜化处理组件、和利用胶束除去液除去胶束的胶束除去处理组件而成的焊剂层的薄膜化装置,胶束除去处理组件具有胶束除去液供给用喷雾喷嘴
  • 焊剂薄膜化装

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