专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]制造半导体装置的方法-CN201610683813.4有效
  • 邱威超;王志谦;许峰嘉;郭景森;张浚威;曾凱 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2016-08-18 - 2019-11-29 - H01L21/027
  • 包括:形成第一阻图案及第二阻图案于基板上方。第一阻图案与第二阻图案分隔一间隙。化学混合物被涂布在第一阻图案及第二阻图案上。化学混合物包含化学材料及混合至化学材料内的表面活性剂粒子。化学混合物填充间隙。对第一阻图案及第二阻图案执行烘烤制程,此烘烤制程造成间隙收缩。至少一些表面活性剂粒子配置在间隙的侧壁边界处。对第一阻图案及第二阻图案执行显影制程。显影制程移除间隙中及阻图案上方的化学混合物。配置在间隙的侧壁边界处的表面活性剂粒子减少显影制程期间的毛细效应。
  • 制造半导体装置方法
  • [发明专利]一种能长时间储存的户外消剂及其使用方法-CN202210439373.3在审
  • 张草根 - 佛山市客临登新材料有限公司
  • 2022-04-25 - 2022-07-08 - C09D7/42
  • 本发明涉及消剂领域,公开了一种能长时间储存的户外消剂及其制备方法,户外消剂由內挤化学剂和外混物理消剂组成,包括以下步骤,S1:制得羟基丙烯酸树脂粉末;S2:将羟基丙烯酸树脂粉末与辅助试剂(可不添加)进行混合,将內挤化学剂与粉末涂料混合封装;S3:将外混物理消剂封装,于常温下保存;S4:需要使用户外消剂时,将含有內挤化学剂的粉末涂料与外混物理消剂混合均匀后即可使用。通过将化学剂和物理消剂分开封存保存,使得外混物理消剂不会催化內挤化学剂与粉末涂料的反应,能够大大延长內挤化学剂与粉末涂料的储存时间,其光泽度能够达到相对传统消剂来说更低的数值,且其流平不会改变
  • 一种长时间储存户外消光剂及其使用方法
  • [实用新型]光电化学太阳电池测试仪-CN201220233996.7有效
  • 杨良 - 北京赛凡光电仪器有限公司
  • 2012-05-23 - 2013-01-02 - G01R31/26
  • 本实用新型公开了一种光电化学太阳电池测试仪,包括提供测试所需光辐射的光源、路选择器、单色器、太阳模拟器路、功率测试器件、光电化学样品池和电化学工作站,其中,路选择器将所述光源的光辐射分为两路,第一路进入单色器转换成单色光、第二路进入太阳模拟器路转换成标准AM太阳模拟光源,光电化学样品池内盛放有液性样品,功率测试器件和光电化学样品池交互分别与所述单色光、标准AM太阳模拟光源对准,接收其光辐射并测量设定参数,功率测试器件和光电化学样品池均与电化学工作站连接,电化学工作站控制设定参数的测量并收集该设定参数。
  • 光电化学太阳电池测试仪
  • [发明专利]形成图形的方法和在其中使用的处理剂-CN01818879.6有效
  • 居岛一叶;高野祐辅;田中初幸;船户觉 - 克拉瑞特国际有限公司
  • 2001-10-24 - 2004-02-11 - G03F7/38
  • 形成抗蚀图形的方法,包括以下步骤:(a)涂覆和形成化学放大致抗蚀剂膜,(b)在化学放大致抗蚀剂膜上涂覆pH值为1.3到4.5的处理剂,(c)在涂覆和形成化学放大致抗蚀剂膜和涂覆所述的处理剂这两步的至少一步之后烘焙所述的化学放大致抗蚀剂膜,(d)选择性地,将所述的化学放大致抗蚀剂膜曝光,(e)曝光后烘焙所述的化学放大致抗蚀剂膜,和(f)将所述的化学放大致抗蚀剂膜显影,其中在用水去除致抗蚀剂上的处理剂和在显影前旋转干燥后,比不涂覆处理剂的情况,化学放大致抗蚀剂薄膜未曝光部分和显影液的接触角降低了10°到110°。使用此方法,在致抗蚀剂膜上的显影溶液的湿润性得到了提高,因为在处理剂中含有例如有机酸的酸性成份,所以减小了漂浮的碱性物质的影响,从而形成了具有良好形状的图形。
  • 形成图形方法其中使用处理
  • [发明专利]化学增幅正型阻组合物及阻图案形成方法-CN200910262157.0有效
  • 田中启顺;武田隆信;渡边聪 - 信越化学工业株式会社
  • 2009-12-25 - 2010-06-30 - G03F7/039
  • 本发明涉及一种化学增幅正型阻组合物,是用以形成在光刻中使用的化学增幅阻膜,该化学增幅正型阻组合物的特征在于:至少含有:(A)基质树脂,是碱不溶性或碱难溶性的树脂,具有被叔烷基保护的酚性羟基的重复单元,且当前述叔烷基脱离时,变成碱可溶性;(B)酸产生剂;(C)碱性成分;及(D)有机溶剂;且,以通过旋转涂布来获得具有10~100nm的膜厚的前述化学增幅阻膜的方式调整固体成分浓度。根据本发明,可提供一种化学增幅正型阻组合物,在光刻中,可在形成10~100nm的膜厚时,一边抑制由于化学增幅阻膜薄膜化而造成的的LER恶化,一边获得高解析性;及提供一种使用此阻组合物的阻图案形成方法
  • 化学增幅正型光阻组合图案形成方法

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