专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]分光薄膜-CN201120525093.1有效
  • 莫醒献 - 莫醒献
  • 2011-12-15 - 2012-11-07 - G02B5/02
  • 本实用新型公开了一种分光薄膜,包括一层透明的基膜,所述的基膜上表面均匀地附有一层由透明固体颗粒与粘胶剂均匀混合后制成的致密分光涂层,所述的分光涂层的上表面还设有一由OPP制成的保护膜。
  • 分光薄膜
  • [发明专利]一种分光薄膜真空磁控镀膜方法-CN202110464164.X在审
  • 李亦龙 - 深圳市新邦薄膜科技有限公司
  • 2021-04-26 - 2021-11-30 - C23C14/35
  • 本发明公开了一种分光薄膜真空磁控镀膜方法,属于真空镀膜领域。本发明的一种分光薄膜真空磁控镀膜方法,采用真空磁控溅射卷绕式镀膜机,以金属铌靶(NbOx)、硅靶(Si)作为溅射靶材,采用特定的溅射膜层叠层顺序和膜层厚度,能够生产0.2mm膜层厚度以下的分光薄膜,并且独特的膜层结构设计使生产的分光薄膜具有特殊的分光功能。本发明的一种分光薄膜真空磁控镀膜方法,工艺稳定性高、产品达标率高,能够实现较薄分光薄膜的规模化生产。
  • 一种分光薄膜真空镀膜方法
  • [发明专利]利用分光聚光技术与LED并行互补技术的太阳能照明系统-CN201710104534.2在审
  • 吕辉;宋多福;黄斯豪;李艳;郭静;廖军;吕清花 - 湖北工业大学
  • 2017-02-24 - 2017-06-23 - F21S19/00
  • 本发明公开了一种利用分光聚光技术与LED并行互补技术的太阳能照明系统,包括太阳追踪单元、碟面聚光分光单元、光电传输控制单元、LED与光纤互补照明单元;碟面聚光分光单元设置在太阳追踪单元上,光电传输控制单元为碟面聚光分光单元和LED与光纤互补照明单元的连接结构;太阳追踪单元用于控制系统跟随太阳转动,使太阳光始终垂直入射在碟面聚光分光单元的碟面上,碟面上设置有分光薄膜,太阳光经分光薄膜分光,红外光透过分光薄膜被下层的太阳能电池吸收用于发电并被蓄电池储存,可见光被分光薄膜反射,经双曲面镜收集后通过光纤导入到室内进行照明;LED与光纤互补照明单元运用光控开关控制由蓄电池供电的LED阵列开启和关闭,使室内光强保持基本不变。
  • 利用分光聚光技术led并行互补太阳能照明系统
  • [实用新型]一种镀于分光棱镜上的分光介质膜-CN201720646670.X有效
  • 徐裕宏 - 松林光电科技(湖北)有限公司
  • 2017-06-06 - 2018-01-05 - G02B5/28
  • 本实用新型公开了一种分光介质膜,具体地说是一种镀于分光棱镜上的分光介质膜,包括镀于分光棱镜上的膜系,膜系为多层结构,总数为103层,且交替分布的高折射率薄膜、次高折射率薄膜和低折射率薄膜,高折射率薄膜厚度为7.3‑140.4nm,次高折射率薄膜厚度为56.6~201.4nm,低折射率薄膜厚度为5.0~311.2nm。该分光介质膜通过设置103层,且交替分布的折射率薄膜、低折射率薄膜和次高折射率薄膜,通过优化每一层的厚度,对波段为400nm~650nm的可见光高透过,对波段为800nm~900nm近红外波段高反射,实现对波段
  • 一种分光棱镜介质
  • [发明专利]一种基于零反射差分信号测量各向异性薄膜的方法-CN202211000966.6在审
  • 沈万福;胡春光;卢火青;马国腾;于宇 - 天津大学
  • 2022-08-19 - 2023-05-02 - G01B11/06
  • 一种基于零反射差分信号测量各向异性薄膜的方法,涉及薄膜厚度检测领域,包括以下步骤:利用反射差分光谱仪、光弹调制式反射差分光谱仪测得样品的宽波段反射差分光谱;确定零反射差分信号对应的入射波长:在宽波段反射差分光谱中遍历所有波长通道,确定反射差分信号过零时对应的波长;各向异性薄膜厚度的确定:根据获得反射差分零信号对应的波长与薄膜厚度的映射关系,确定各向异性薄膜的厚度。本发明提出利用反射差分信号的过零点ΔR/R=0的位置来确定各向异性薄膜的厚度,可以去除入射光的偏振角度与各向异性薄膜晶轴角度的差异引入的误差,更进一步地,可以省去确定晶轴的时间。
  • 一种基于反射信号测量各向异性薄膜方法

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