专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种钻铤方位测量仪器-CN201922423598.6有效
  • 冯建宇;宋江属 - 北京六合伟业科技股份有限公司
  • 2019-12-26 - 2020-12-04 - E21B47/00
  • 本实用新型公开了一种钻铤方位测量仪器,主要由:钻铤(1)、传感器(2)、脉冲器(4)以及控制机芯组件(3)组合而成,所述传感器(2)与所述控制机芯组件(3)均设置于所钻铤(1)的侧壁内部,所述脉冲器(4)置于所述钻铤(1)中心孔内,所述传感器(2)与控制机芯组件(3)通过电缆连接;该钻铤方位测量仪器设置在钻铤的侧壁内部,传感器更靠近地层,提高了测量精度,可以得到更准确的地质参数;控制机芯组件把传感器传递过来的上、下及自然值通过磁耦合无线传递给脉冲器,避免有线传递时要考虑的过线及密封问题;钻铤测量方向衰减小,反向屏蔽效果好,分层效果好。
  • 一种钻铤式方位测量仪器
  • [发明专利]中子密度测井中地层体积密度确定方法及设备-CN201910789202.1有效
  • 吴文圣;王虎 - 中国石油大学(北京)
  • 2019-08-26 - 2021-05-25 - E21B47/11
  • 本发明实施例提供一种中子密度测井中地层体积密度确定方法及设备,方法包括:在各预设条件的地层中,通过近探测器和远探测器确定的非弹计数比,通过近超热中子探测器和远超热中子探测器确定的超热中子计数比;设定预设参数,建立地层体积密度与非弹计数比和超热中子计数比的初始响应关系;根据得到的各预设条件的地层中的非弹计数比和超热中子计数比的响应数据,对初始响应关系进行拟合,得到预设参数的值,得到地层体积密度与非弹计数比和超热中子计数比的最终响应关系;将目标地层的非弹计数比和超热中子计数比导入根据最终响应关系,得到目标地层的视体积密度,不需要进行结果校正、测量结果准确。
  • 中子密度测井地层体积确定方法设备
  • [发明专利]校正方法、显示面板的驱动电路及显示面板-CN202310282777.0在审
  • 谭杰辉;康报虹 - 长沙惠科光电有限公司;惠科股份有限公司
  • 2023-03-21 - 2023-07-04 - G09G3/20
  • 本申请公开了一种校正方法、显示面板的驱动电路及显示面板,属于显示技术领域。该校正方法包括:获取标准值,确定所述标准值与当前芯片的适配情况;在所述标准值与当前芯片不适配的情况下,将所述标准值转换为与当前芯片适配的校正值;将所述校正值写入所述当前芯片;获取所述当前芯片基于所述校正值产生的输出信号,将所述输出信号与所述标准值进行比较,根据比较结果确定校正结果。本申请对标准值进行转换得到与当前芯片适配的校正值,无需重新调试对应的标准值,使得不同的芯片能够兼容一组标准值,减少了开发成本,降低了管理难度。
  • 校正方法显示面板驱动电路

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