专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种视觉质量分析仪-CN202110373581.3有效
  • 尉佩;陈文光 - 上海美沃精密仪器股份有限公司
  • 2021-04-07 - 2022-09-23 - A61B3/10
  • 本发明涉及一种视觉质量分析仪,其特征在于,包括通过二向色镜二组合在一起的OCT模块以及像差测量模块,OCT模块出射的准直激光光束作为像差测量模块的光源。本发明将OCT系统的光纤准直镜出射的准直光束同时作为OCT成像系统和像差测量系统的入射激光,其经过眼睛后的返回光经过二向色镜,一部分回到OCT系统进行三维成像和轴测量,另一部分经过像差测量系统进行形态分析、像差测量。与现有技术相比,本发明的优点在于:系统简单、功能较,可同时实现角膜像差像差轴长度等参数测量。
  • 一种视觉质量分析
  • [发明专利]高阶像差矫正方法-CN200410009115.3无效
  • 董小春;杜春雷;邱传凯;赵泽宇;高洪涛;饶学军;张雨东 - 中国科学院光电技术研究所
  • 2004-05-24 - 2005-11-30 - G02C7/04
  • 高阶像差矫正方法,其特征在于包括下列步骤:(1)采用人像差测量设备精确测量人的各阶像差,获取人像差数据;(2)根据人像差数据优化设计像差矫正函数;(3)根据设计的人像差矫正函数对光刻掩模进行设计,并根据设计制作掩模板;(4)采用制作的掩模对抗蚀剂进行曝光,显影后即可获得抗蚀剂材质的微浮雕结构;(5)以该微结构为母板,采用复制工艺将微结构转移至适于人佩带的隐形眼镜材料表面。本发明不仅可用于人低阶像差矫正,而且可以矫正人高阶像差,改善视觉效果。尤其适合于近视、老花、散光等多种并发症并存的情况。
  • 眼高阶像差矫正方法
  • [发明专利]一种可以消除人像差影响的人散射客观测量仪-CN202011031305.0在审
  • 赵军磊 - 中国科学院光电技术研究所
  • 2020-09-27 - 2020-12-08 - A61B3/10
  • 一种可以消除人像差影响的人散射客观测量仪,该测量仪包含人双通PSF图像测量子系统、人像差测量子系统和计算机,人双通PSF图像测量子系统包括光源、准直透镜、入瞳光阑、中继光学系统、出瞳光阑、成像物镜、光电探测器,用于人双通PSF图像测量;人像差测量子系统包括信标光源、准直透镜、中继光学系统以及波前传感器,用于测量人像差;计算机中包含三个功能模块,分别实现以下三个功能:(1)由人双通PSF图像计算客观散射系数,(2)根据波前传感器测量的数据复原计算人像差系数,然后由人像差数据计算人像差引入的客观散射系数,(3)由人双通PSF图像计算得到的客观散射系数中减去人像差引入的客观散射系数,以此消除人像差对眼内散射客观测量的影响
  • 一种可以消除人眼像差影响散射客观测量仪
  • [发明专利]改进型像差测量恢复系统和方法-CN202080058411.X在审
  • M·霍尔;T·帕德瑞克;E·J·萨弗尔 - 爱尔康公司
  • 2020-09-25 - 2022-04-01 - A61B3/14
  • 公开了用于提供改进的像差测量恢复的系统和方法的技术。像差测量系统(100)包括被配置为提供与由像差测量系统(100)监测的光学目标(102)相关联的波前传感器数据的波前传感器(120)和被配置为与波前传感器(120)通信的逻辑装置(140)。逻辑装置(140)被配置为接收(802)至少包括由波前传感器(120)提供的波前传感器数据的像差测量输出数据,识别(806)在所接收的像差测量输出数据中的成像伪影引起的奇异性,至少部分地基于所识别的奇异性和所接收的像差测量输出数据来确定(808)校正的像差测量输出数据,并且至少部分地基于所校正的像差测量输出数据来生成(810)对应于所接收的像差测量输出数据的用户反馈。
  • 改进型眼像差测量恢复系统方法

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