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- [发明专利]热像检测装置-CN201710416902.7有效
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周育良;苏主胜;杜屏莹
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亚迪电子股份有限公司
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2017-06-06
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2020-06-09
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G01J5/08
- 本发明的热像检测装置包含第一摄影机、第二摄影机、热像摄影机、以及处理器。热像摄影机是设置于第一摄影机和第二摄影机之间，并侦测待测物以产生第一温度值。处理器包含控制单元。控制单元依照第一测量模式及第二测量模式的设定而控制第一摄影机及第二摄影机。在第一测量模式下，控制单元撷取第一摄影机及第二摄影机画面，以量测待测物至设置面的第一距离。在第二测量模式下，控制单元撷取第一摄影机画面，以量测待测物的尺寸。处理器根据第一温度值、第一距离与待测物的尺寸决定待测物的第二温度值。
- 检测装置
- [发明专利]取像参数优化调整系统与方法-CN201910384716.9有效
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李彦志
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联策科技股份有限公司
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2019-05-09
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2021-10-29
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H04N5/232
- 本发明提供一种取像参数优化调整系统与方法，使用光学影像检测系统对一待测物的至少一量测位置检测一量测数值，该方法包含在该量测位置执行以下步骤：选定至少一光源；决定多个取像参数的一优化调整顺序；设定最优先的取像参数的一参数调整范围，并设定其余的取像参数各别的默认值；基于其余的取像参数的默认值，并在最优先的取像参数的该参数调整范围内，撷取多张检测影像以计算一量测分布数值，并以该量测分布数值的数学统计稳定公式决定最优先的取像参数在该参数调整范围内的最佳值；以及，依序完成其余的取像参数优化，记录每个取像参数的最佳值，使该光学影像检测系统以该等取像参数的最佳值对后续待测物在该量测位置进行检测。
- 参数优化调整系统方法
- [发明专利]非制冷红外焦平面阵列非均匀性校正的方法和装置-CN201410820351.7在审
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雷述宇
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广微科技集团有限公司
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2014-12-25
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2015-06-03
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G01J5/00
- 本发明提供一种非制冷红外焦平面阵列非均匀性校正的方法。所述方法包括：a、对非制冷红外焦平面阵列上的每个像元在两个目标温度下进行两次测试，得到第一和第二目标温度下每个像元的输出电压；b、分别对所述第一和第二目标温度下所有像元的输出电压求平均值。c、根据所述平均值，分别计算各像元在第一和第二目标温度下的输出电压值与该温度下所有像元的输出电压平均值的输出电压差异量；d、依次对各像元在第一和第二目标温度下得到的两个输出电压差异量进行运算，得到各像元所需的电压调节量；e、根据所述各像元的电压调节量在查找表中查询所需DAC偏移量；f、用所述的DAC偏移量对各像元的输出进行校正，完成对整个阵列非均匀性校正。
- 制冷红外平面阵列均匀校正方法装置
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