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[实用新型]长度测量中违背阿贝原则产生误差的平行尺补偿装置-CN01240467.5无效
发明人：徐昌杰;董威;权贵秦;刘缠牢 -专利权人：西安工业学院
申请日： 2001-05-31 - 公布日： 2002-03-13 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种长度测量中违背阿贝原则产生误差的平行尺补偿装置,由一个带导轨的底座,可运动的工作台、标准尺与标准尺配合的游标或读数对准器、补偿尺、与补偿尺相配合的游标或读数对准器构成,补偿尺与标准尺平行安置,当用单平行补偿尺时可以对长度测量中一维情况下违背阿贝原则时产生的误差进行补偿,当用双平行补偿尺时可以对长度测量中二维情况下违背阿贝原则时产生的误差进行补偿,可以提高测量精度或降低导轨精度。
长度测量违背原则产生误差平行补偿装置

[发明专利]基于阿贝原则的精密测量教学仪器-CN201711044522.1有效
发明人：樊宏;胡鹏浩;胡毅;于长伟 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2017-10-31 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明涉及教学器具领域，具体涉及一种基于阿贝原则的精密测量教学仪器，包括基座，所述基座上设有X向导轨，X向导轨上安装有沿其滑动的X向滑块，X向滑块上安装有第一读数头和第二读数头，基座台面上对称的设有第一光栅尺本发明本发明充分体现和验证了经典阿贝误差、瞄准臂误差和导向面误差，为学生对阿贝原则的特点和性质的充分理解提供了有效帮助。
基于原则精密测量教学仪器

[实用新型]基于阿贝原则的精密测量教学仪器-CN201721427471.6有效
发明人：樊宏;胡鹏浩;胡毅;于长伟 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2017-10-31 - 公布日： 2018-05-25 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及教学器具领域，具体涉及一种基于阿贝原则的精密测量教学仪器，包括基座，所述基座上设有X向导轨，X向导轨上安装有沿其滑动的X向滑块，X向滑块上安装有第一读数头和第二读数头，基座台面上对称的设有第一光栅尺本实用新型本实用新型充分体现和验证了经典阿贝误差、瞄准臂误差和导向面误差，为学生对阿贝原则的特点和性质的充分理解提供了有效帮助。
本实用新型阿贝原则光栅尺教学仪器精密测量滑动读数头阿贝误差教学器具导向面基座台瞄准臂对称验证学生帮助

[发明专利]基于阿贝原则和布莱恩原则的晶圆面形预测模型建立方法-CN202211131563.5在审
发明人：蔡引娣;高英豪;付卿;尹科迪;朱祥龙;康仁科 -专利权人：大连理工大学
申请日： 2022-09-16 - 公布日： 2023-04-25 - 主分类号： G05B19/404 文献下载
摘要：本发明属于数控机床加工技术领域，提供了基于阿贝原则和布莱恩原则的晶圆面形预测模型建立方法，该方法基于精密测量原理‑阿贝原则和布莱恩原则探究由几何误差测量过程中测量位置带来的测量误差对晶圆面形精度的影响，
基于原则布莱恩晶圆面形预测模型建立方法

[发明专利]一种消除阿贝误差的大长度激光干涉测量系统-CN201410449884.9有效
发明人：李建双;赫明钊;缪东晶;李连福;邓向瑞;汪涛 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2014-09-04 - 公布日： 2017-02-15 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明公开一种无阿贝误差的激光干涉测长系统。该系统由3路独立的激光干涉测长系统和高精度长导轨构成。利用3路呈任意三角形放置的独立激光测长系统，可以构造一路起点在初始平面内任意位置的等效测量光路，由于其与待测仪器同光路，消除了不满足阿贝原则引起的测量不确定度。
一种消除误差长度激光干涉测量系统

[实用新型]阿贝高精度电子数显卡尺-CN94225042.7无效
发明人：叶洪源 -专利权人：叶洪源
申请日： 1994-01-08 - 公布日： 1995-03-22 - 主分类号： G01B7/02 文献下载
摘要：阿贝高精度电子数显卡尺是对现有电子数显卡尺的改进，它包括栅尺、框尺、尺架和液晶显示屏，其特征是在机械结构上作为测量标准量的栅尺及框尺与工件的被测量在同一直线上，遵循了阿贝测长原则，该栅尺可以是容栅的，可以是磁栅的
高精度电子显卡

[发明专利]一种基于多瞄准装置的复合坐标测量系统-CN201610737241.3有效
发明人：钱丰;孙玉玖;武文彬;唐志锋;何磊 -专利权人：中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
申请日： 2016-08-26 - 公布日： 2018-03-30 - 主分类号： G01B21/00 文献下载
摘要：采用由嵌入式控制系统、机械运动系统、激光干涉仪、电感测微仪、可调整工作台组合成的符合阿贝原则的一维高精度接触式坐标测量系统以及由嵌入式控制系统、三坐标测量机、机械运动系统、激光干涉仪、光电显微镜、可调整工作台组合成的符合阿贝原则的一维高精度非接触式坐标测量系统
一种基于瞄准装置复合坐标测量系统

[发明专利]基于激光干涉可消除阿贝误差的步距规校准方法及系统-CN202010072403.2有效
发明人：任国营 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2020-01-21 - 公布日： 2021-11-30 - 主分类号： G01B5/02 文献下载
摘要：本发明主要涉及长度测量技术领域，提供了一种基于激光干涉可消除阿贝误差的步距规校准系统，包括：在空间上可形成任意三棱柱形的3路激光干涉光路，和设置于空间内并与3路激光干涉光路平行的用于波长补偿的第四激光干涉光路激光器发射的激光光束一部分经分光镜后反射到干涉镜作为参考信号，一部分被投射到反射镜反射后入位于干涉镜内形成测量信号，被测步距规发生位移时，通过测量信号和参考信号并根据测量模型计算得到被测步距规的消除了阿贝误差的位移值，将3路激光光路合成到被测步距规测量线上的测量模型，无论步距规安装在坐标测量机测量平台的任何位置，都可以非常方便地实现基于阿贝原则的激光干涉法步距规测量精度。
基于激光干涉消除误差步距规校准方法系统

[发明专利]光学镜片组-CN201611254134.1有效
发明人：樊大正;谢振锋;殷焱煊 -专利权人：玉晶光电（厦门）有限公司
申请日： 2016-12-30 - 公布日： 2019-06-25 - 主分类号： G02B13/00 文献下载
摘要：第一透镜的阿贝系数υ1、第三透镜的阿贝系数υ3、第四透镜的阿贝系数υ4、第五透镜的阿贝系数υ5、第六透镜的阿贝系数υ6与第七透镜的阿贝系数υ7满足5≦5υ1‑(υ3+υ4+υ5+υ6+υ7)。
光学镜片

[发明专利]核查装置和分析核查装置测量结果不确定度的方法-CN202311163620.2在审
发明人：黄志阳;冯飞;贾琦;祝静;王培源;邰中奎;邹飞;吴家伟 -专利权人：中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所
申请日： 2023-09-11 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：从激光器的发射端起依次设置有安装于基座的线性干涉镜组件、线性反射镜、调节转台和头座，所述线性反射镜通过三维调整附件安装于尾座，该尾座固定安装于基座；被测件安装于所述调节转台；所述头座安装有测头，优选的，所述测头为阿贝测头；该装置符合阿贝原则的同时,根据被测长度的大小,调整激光器和测量组件的安装位置,减小环境参数对核查标准装置光程的影响,提高测量准确度。
核查装置分析测量结果不确定方法

[发明专利]基于两维阿贝误差和瞬时运动中心的机床误差建模方法-CN201610016215.1有效
发明人：杨洪涛;喻曹丰;费业泰;吴天凤;查小娜 -专利权人：安徽理工大学
申请日： 2016-01-07 - 公布日： 2018-10-02 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于两维阿贝误差和瞬时运动中心的机床误差建模方法，涉及机床误差补偿技术领域，包括分析堆栈式工作台X、Y轴导轨系统的偏摆瞬心、俯仰瞬心、滚转瞬心，分析Z轴导轨系统的偏摆瞬心、俯仰瞬心、滚转瞬心，建立其对应的偏摆—阿贝误差、俯仰—阿贝误差、滚转—阿贝误差模型；本发明能够分析各运动方向导轨系统的偏摆瞬心、俯仰瞬心和滚转瞬心，建立其对应的偏摆—阿贝误差、俯仰—阿贝误差和滚转—阿贝误差模型。利用多体系统动力学理论综合考虑光栅测量系统的零点漂移误差、示值误差和导轨系统阿贝误差建立数控机床综合误差模型，为下一步的误差补偿工作提供基础，从而有效提高数控机床加工精度。
基于两维阿贝误差瞬时运动中心机床建模方法

[发明专利]微悬臂梁弹性常数的溯源标定装置及溯源方法-CN201310557061.3有效
发明人：李艳宁;文莉;吴森;陈治;多伦雷丹特;胡小唐 -专利权人：天津大学
申请日： 2013-11-11 - 公布日： 2014-03-05 - 主分类号： G01L25/00 文献下载
摘要：该装置将偏振差分干涉仪的测量光束在微悬臂梁自由端的上表面形成的微光斑与纳米天平上的力加载杆对微悬臂梁自由端的下表面加载时的力加载点完全重合并与重力方向一致，使得阿贝臂为零，遵守了位移测量的阿贝原则，避免了阿贝误差的产生
悬臂梁弹性常数溯源标定装置方法

[发明专利]透镜和透镜数组-CN201010561694.8有效
发明人：陈彦杰;程士哲;陈静怡 -专利权人：景传光电股份有限公司
申请日： 2010-11-18 - 公布日： 2012-05-23 - 主分类号： G02B3/02 文献下载
摘要：本发明揭示一种阿贝棱镜式透镜与透镜数组。此透镜包括：设置在阿贝棱镜的一前表面上的前透镜；设置在阿贝棱镜的一后表面上的后透镜；一前底部反射表面；一后底部反射表面；一左顶部反射表面；以及一右顶部反射表面。一孔径盖，设置在阿贝棱镜的前表面上，以及一视场盖，设置在阿贝棱镜的后表面上。孔径盖包含围绕非球形前透镜的孔径孔。视场盖包含围绕非球形后透镜的视场孔。光线进入阿贝棱镜，从前底部反射表面反射，从左顶部反射表面反射，从右顶部反射表面反射，从后底部反射表面反射，以及从阿贝棱镜的后透镜射出。
透镜数组

[实用新型]一种双色成型透镜-CN202222972534.3有效
发明人：江程;佘俊;南基学 -专利权人：广东烨嘉光电科技股份有限公司
申请日： 2022-11-08 - 公布日： 2023-03-21 - 主分类号： G02B7/02 文献下载
摘要：本实用新型公开一种双色成型透镜，包括双色注塑一体成型的透镜本体，所述透镜本体包括低折射率高阿贝数凸透镜材料层和高折射率低阿贝数凹透镜材料层，所述高折射率低阿贝数凹透镜材料层靠向所述低折射率高阿贝数凸透镜材料层的一侧面靠近边缘处环设有供所述低折射率高阿贝数凸透镜材料层嵌入的法兰嵌合槽；所述透镜本体包括低折射率高阿贝数凸透镜材料层和高折射率低阿贝数凹透镜材料层之间的贴合连接面处形成有橘皮状散射层。
一种成型透镜

[发明专利]光学镜头-CN201210426911.1有效
发明人：张国文 -专利权人：玉晶光电（厦门）有限公司
申请日： 2012-10-31 - 公布日： 2013-06-05 - 主分类号： G02B13/00 文献下载
摘要：该第一透镜单元的阿贝数(abbenumber)大于该第二透镜单元的阿贝数且相对差值大于20。该第二透镜单元的阿贝数相对于该第三透镜单元的阿贝数的差的绝对值介于0至5之间。该第三透镜单元的阿贝数小于该第四透镜单元的阿贝数且相对差值大于20。该第四透镜单元的阿贝数相对于该第五透镜单元的阿贝数的差的绝对值介于0至5之间。本发明主要用于电子产品的光学摄像领域。
光学镜头

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