专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种放射源辐射在线监测装置-CN201921214628.6有效
  • 张连杰;花锋;贺东胜;刘洋;杜金健;刘萍萍 - 西安中核核仪器有限公司
  • 2019-07-30 - 2020-04-24 - G01T1/24
  • 本实用新型公开了一种放射源辐射在线监测装置,包括控制箱、辐射剂量探测以及用于探测盛放有放射源的放射源安全罐位置变化的位移感应辐射剂量探测内设置有微控制以及均与微控制连接且用于探测低能量辐射的低能辐射剂量探测和用于探测高能量辐射的高能辐射剂量探测,低能辐射剂量探测和高能辐射剂量探测均通过电压比较电路与微控制连接。本实用新型利用位移感应检测放射源位置,一旦放射源位置有改变,则触发位移感应,同时利用辐射剂量探测探测放射源所处环境辐射能量,辐射剂量探测内设置低能辐射剂量探测和高能辐射剂量探测,可实现宽量程辐射探测
  • 一种放射源辐射在线监测装置
  • [实用新型]表面污染测量仪-CN202021688188.0有效
  • 郑永男;张小彬 - 北京海阳博创科技股份有限公司
  • 2020-08-13 - 2021-02-05 - G01T1/208
  • 本申请涉及一种表面污染测量仪,包括辐射探测、固定件及数据采集系统;辐射探测的个数为多个,多个辐射探测在同一平面内设置,一同组成探测组;固定件整体固定探测组;每个辐射探测均与数据采集系统通信连接;数据采集系统适用于整合处理每个辐射探测的数据,定位辐射源的位置。将多个辐射探测通过固定件牢固的置于同一平面内,进行模块式整合,拼接成探测组,增加该设备的探测面积,更利于扩展。每个辐射探测通过数据线将数据独立传输给数据采集系统,数据采集系统结合各个探测给出灵敏面积内辐射水平及其分布,便于本领域测试人员快速地得出辐射源所处的位置及辐射大致强度。
  • 表面污染测量仪
  • [发明专利]空间辐射探测装置及方法-CN202011348454.X有效
  • 屈卫卫;杨梦梦;周光明 - 苏州大学
  • 2020-11-26 - 2022-12-16 - G01T1/202
  • 本发明公开了空间辐射探测装置及方法,包括Si‑CLLB探测和控制模块;Si‑CLLB探测包括沿辐射粒子入射方向依次设置的Si探测和CLLB晶体探测,Si探测和CLLB晶体探测耦合,CLLB晶体探测包括CLLB晶体及硅光电倍增管;控制模块设于Si‑CLLB探测上,CLLB晶体探测在不同辐射粒子的情况下输出不同快慢成分的信号波形,控制模块用于对CLLB晶体探测的输出信号进行脉冲信号处理,区分辐射粒子并获得辐射粒子的能量及通量本发明采用Si探测和CLLB晶体探测耦合形成Si‑CLLB探测,CLLB晶体的能量分辨率较高,能够达到5~6%,显著提高了辐射粒子的甄别能力,集成粒子区分以及能量、通量测量多功能为一体,能够对带电粒子、γ射线以及中子进行复合式测量,满足不同粒子的探测需求。
  • 空间辐射探测装置方法
  • [发明专利]用于低温透射测温的探测-CN201710625449.0有效
  • 塞缪尔·C·豪厄尔斯 - 应用材料公司
  • 2017-07-27 - 2022-04-26 - G01J5/00
  • 一种处理基板的装置和方法包括:探测歧管,所述探测歧管用以探测来自腔室主体中的处理区附近的辐射辐射探测,所述辐射探测光耦合至所述探测歧管;和光谱多陷波滤波。处理基板的装置和方法包括:探测来自腔室主体中的基板的发射表面的透射辐射;将所探测辐射的至少一个光谱带传递至光探测;以及分析在至少一个光谱带中的所探测辐射以确定基板的推断温度。
  • 用于低温透射测温探测器
  • [发明专利]气体传感的温度补偿-CN201580020053.2有效
  • E·P·格雷蒂 - 皇家飞利浦有限公司
  • 2015-04-02 - 2019-07-23 - G01N21/3504
  • 采用辐射源(20)和辐射传感(30)的目标气体传感包括参考辐射探测(31)、目标辐射探测(32)、温度传感(34)、温度控制(35)、以及目标气体探测处理(37)。在操作中,辐射源(20)控制辐射(RAD)传播通过由气道(10)所容纳的气体混合物(GM)至辐射传感(30)。参考辐射探测(31)生成参考探测信号(RD),所述参考探测信号指示辐射的参考波长(λREF)的被测幅值,并且目标辐射探测(32)生成目标探测信号(TD),所述目标探测信号指示辐射的目标波长温度传感(34)感测辐射探测(31,32)的温度,其中,温度控制(35)相对于经调节的探测温度(TREG)调节辐射探测(31,32)的加热。目标气体探测处理(37)根据吸收光谱响应比率(SRRA)和温度补偿(TPC)来测量气体混合物(GM)样本中的目标气体浓度。
  • 气体传感器温度补偿
  • [发明专利]辐射探测抗核辐射性能的评测方法和系统-CN202110633351.6有效
  • 曹洪龙;屈卫卫;周光明;刘学观 - 苏州大学
  • 2021-06-07 - 2022-12-02 - G01T1/02
  • 本发明公开了一种核辐射探测抗核辐射性能的评测方法和系统,方法包括:模拟核辐射环境,总控服务控制核辐射源的开关,核辐射探测检测所处环境中的实时剂量率数据并发送给总控服务;开启核辐射源,获取核辐射探测处的核辐射剂量率R1,总控服务每隔时间T读取核辐射探测的实时剂量率数据,直到核辐射探测的工作状态不正常时得到经过的T的个数N,核辐射探测的最大抗核辐射剂量为Rmax=N系统包括总控服务、核辐射屏蔽室、通信协议转换、稳压电源、核辐射源、核辐射探测和核辐射源控制系统。本发明在实际探测前评测Rmax,方便实际探测时操作控制,提高探测准确性、避免损坏造成探测数据丢失。
  • 核辐射探测器性能评测方法系统

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