专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]超声波诊断装置及其制造方法-CN201180005225.0有效
  • 马场达朗;桥本新一 - 株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社
  • 2011-12-16 - 2012-09-19 - A61B8/06
  • 在实施方式涉及的超声波诊断装置(100)中,设定部(17f)设定多个观测部位。距离判断部(17b)对所述多个观测部位中的至少一个观测部位在扫描线上的深度与规定的阈值进行比较。扫描切换部(17c)切换扫描方式,使得在所述至少一个观测部位在扫描线上的深度低于所述阈值的情况下进行第一扫描,在所述至少一个观测部位在扫描线上的深度超过所述阈值的情况下进行第二扫描,所述第一扫描是对所述多个观测部位的各个观测部位每进行1次收发就将观测部位加以更替地收发超声波,所述第二扫描是对所述多个观测部位中的至少一个观测部位多次收发超声波,并且对所述多个观测部位的各个观测部位更替地收发超声波。
  • 超声波诊断装置及其制造方法
  • [实用新型]电磁超声一体化探伤仪-CN201120274960.9有效
  • 刘培锋 - 南通欧能达检测仪器有限公司
  • 2011-08-01 - 2012-11-21 - G01N29/04
  • 专利公开了一种电磁超声一体化探伤仪,其包括电源智能控制系统和CPU控制系统,CPLD和FPGA电路、FLASH存储电路、DSP数据处理电路、双路模拟采集电路、USB输出控制电路、带电磁超声换能器的探头、放大器、扫描器、显示器;电源智能控制系统分别对CPU控制系统和电路进行总线供电。FLASH内部存储电路和DSP数据处理电路及USB输出控制电路相连接;双路模拟采集电路信号同时传输到DSP数据处理电路并通过USB输出控制电路处理缺陷波形和数据;带电磁超声换能器的探头通过放大器、扫描器和显示器连接,用户通过显示器选择带电磁超声换能器的探头所发射的超声波类型。
  • 电磁超声一体化探伤
  • [发明专利]一种超声扫描器件处理方法-CN201210459283.7无效
  • 杜泽明 - 苏州华碧微科检测技术有限公司
  • 2012-11-15 - 2013-02-13 - G01N1/28
  • 本发明提供了一种超声扫描器件处理方法,该方法包括以下步骤:A、使用粗砂纸打磨器件的表面,直至器件表面标记完全去除;B、使用细砂纸打磨器件的表面,直至器件表面平整、光滑;C、对器件表面进行抛光;D、将处理好的器件进行超声扫描本发明带来的有益效果是:本发明通过简单打磨、抛光工序,去除了器件表面的凹痕标记,从而避免了在超声扫描成像过程中阴影的产生,可以准确判断出器件内部的电路情况。本发明极大地提高了超声扫描试验判断的准确性。
  • 一种超声波扫描器件处理方法
  • [发明专利]一种基于超声扫描显微镜的内部微观缺陷检测方法-CN201410382771.1有效
  • 陈丹;徐金梧;肖会芳;黎敏;王善超;孙韵韵 - 北京科技大学
  • 2014-08-06 - 2014-11-05 - G01N29/06
  • 本发明公开了一种基于超声扫描显微镜的内部微观缺陷检测方法,其步骤包括:1)选用中低频超声换能器对整个样品进行分层X扫描;2)换用高频换能器并将其聚焦于感兴趣的局部缺陷处;3)局部C扫的数据闸门位置和宽度分别根据成像深度及单层成像厚度设定;4)通过局部C扫产生的A扫波形得到各扫查位置点的最大峰值Pmax,构成用于成像的象元矩阵P;5)通过生成象元矩阵P的不同灰度级的概率密度函数得到原灰度图像的直方图;6)对原直方图进行均衡化处理,并由均衡化直方图对应的各像素点的灰度值进行再次成像本发明提高了超声扫描显微镜C扫图像的成像精度,能够获得传统时域峰值成像方法难以获得的细节信息,更有利于微观缺陷的检测成像。
  • 一种基于超声扫描显微镜内部微观缺陷检测方法

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