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[发明专利]一种磁盘阵列IO分配系统及方法-CN201710852816.0有效
发明人：王志浩 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2017-09-19 - 公布日： 2021-01-29 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种磁盘阵列IO分配系统及方法，通过磁盘读写测试模块分别对磁盘阵列各个磁盘进行至少包括4K随机读写测试、4K连续读写测试、256K随机读写测试及256K连续读写测试的读写性能测试，得出测试结果，比较各个测试项的测试结果与相应预设值的大小，当测试项的测试结果小于预设值时，将测试项的测试结果反馈至管理模块；管理模块根据所接收到的测试项的测试结果，确定出磁盘是否存在读写性能缺陷，并规避给存在读写性能缺陷的磁盘分配与读写性能缺陷对应的读写IO，可见，本发明规避向出现某种或某些读写性能损耗的磁盘分配与读写性能损耗类别相应的读写IO，可以提高机械盘的使用效率和磁盘阵列的读写速度。
一种磁盘阵列 io 分配系统方法

[发明专利]存储器的测试方法、装置、设备及介质-CN202211037967.8在审
发明人：楚西坤 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-08-26 - 公布日： 2022-11-22 - 主分类号： G11C29/36 文献下载
摘要：本公开提供了一种存储器的测试方法、装置、设备及介质，涉及半导体技术领域。该方法包括：针对存储器中的测试存储阵列进行至少一次读写操作测试，其中，在每次读写操作测试中，执行如下步骤：获取本次读写操作测试所对应的读写时序图，其中，读写时序图为本次读写操作所对应的控制信号序列的时序图，各阶段中的预充电阶段的实际预充电时长为本次读写操作测试所对应的测试预充电时长；根据读写时序图和预设异常判定条件，确定本次读写操作测试的测试结果，测试结果用于表征存储器在测试预充电时长下是否发生因待机模式造成的读写异常根据本公开实施例，能够准确测试待机模式对存储器读写的影响。
存储器测试方法装置设备介质

[发明专利]RFID读写器测试方法及RFID读写器测试系统-CN202210181547.0在审
发明人：杨志强 -专利权人：深圳市鸿陆技术有限公司
申请日： 2022-02-25 - 公布日： 2022-06-10 - 主分类号： G06K7/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种RFID读写器测试方法及RFID读写器测试系统。RFID读写器测试方法包括：将测试装置与待测试的RFID读写器连接；获取所述RFID读写器的产品参数；根据所述产品参数控制所述测试装置对所述RFID读写器进行性能测试并得到测试数据；根据所述测试数据得到测试结果并对所述测试结果进行存储；其中，所述测试装置包括通信测试单元，所述通信测试单元包括串行测试单元、网络测试单元、RS485测试单元、GPIO测试单元和韦根测试单元。通过集成了通信测试单元的测试装置自动化测试RFID读写器的各个功能，无需人工操作，从而简化测试流程，提高测试效率。
rfid 读写测试方法系统

[实用新型]读写器测试装置-CN201520905119.3有效
发明人：王军辉 -专利权人：航天信息股份有限公司
申请日： 2015-11-13 - 公布日： 2016-04-06 - 主分类号： G06K17/00 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种读写器测试装置。该读写器测试装置包括控制装置、传动机构和用于容置卡片的承载机构；其中，控制装置用于与读写器电连接，承载机构置于读写器的上方且与传动机构电连接；控制装置还与传动机构电连接，用于接收读写器读取的卡片的信息，并根据所读取的卡片信息向传动机构发送驱动信号；传动机构接收驱动信号，并根据驱动信号调节承载机构与读写器之间的距离，以及控制承载机构转动。该读写器测试装置提高了测试精度和测试效率，便于优化读写器的功能，提高读写器开发效率，并且，该读写器测试装置可以自动对读写器进行测试，有效地节省了人力和时间；此外，该读写器测试装置结构简单，易于操作。
读写测试装置

[发明专利]一种基于hbase的读写混合测试工具-CN201710141075.5在审
发明人：赵明超;臧勇真;牛硕 -专利权人：郑州云海信息技术有限公司
申请日： 2017-03-10 - 公布日： 2017-07-07 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于hbase的读写混合测试工具，属于计算机软件应用的技术领域，该测试工具通过以下步骤来实现程序入口设置读写比例、线程数、测试表和测试数据量；线程池启动多线程；单个线程中按读写比例选择读或者写；测试完成后取回测试结果。本发明通过实现可配置的读写比例，实现读写混合测试，用户可以自主设置读写比例及测试规模，更好的实现混合场景下的性能测试。
一种基于 hbase 读写混合测试工具

[发明专利]一种RFID读写器性能测试方法、装置及存储介质-CN201811321427.6在审
发明人：林坤 -专利权人：锐捷网络股份有限公司
申请日： 2018-11-07 - 公布日： 2019-04-12 - 主分类号： G06K7/00 文献下载
摘要：本发明涉及通信技术领域，公开了一种RFID读写器性能测试方法、装置及存储介质，用于实现RFID读写器性能的自动化测试，以提升RFID读写器性能化测试的准确度和测试效率。所述方法包括：获取校准测试项，对待测试的RFID读写器进行校准测试；根据校准测试结果调整所述RFID读写器的可调功率增益；判断调整后的所述RFID读写器发送的射频信号的目标功率与实际功率之差是否小于阈值；若是，则选择其他测试项进行测试，直到所有测试项测试完毕。
校准测试测试存储介质性能测试测试项通信技术领域自动化测试准确度测试效率结果调整可调功率目标功率射频信号实际功率性能化发送

[发明专利]测试读写能力的方法和装置-CN201910040432.8有效
发明人：高芸;徐健 -专利权人：北京智愚嘉业软件科技有限公司
申请日： 2019-01-16 - 公布日： 2022-09-27 - 主分类号： G06F3/041 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种测试读写能力的方法和装置。该方法包括：获取被测试者的测试数据，其中，所述被测试者的测试数据为所述被测试者通过输入设备进行书写时的测试数据，所述测试数据包括至少一项读写能力指标的测试值；根据所述被测试者的测试数据，确定所述被测试者的读写能力本申请实施例的测试读写能力的方法和装置，能够提高读写能力测试的效率。
测试读写能力方法装置

[发明专利]一种全自动DRAM存储单元读写功能测试方法和系统-CN202210564072.3在审
发明人：陈焕君;牟炳叡;王自鑫;胡炳翔;杨锐佳 -专利权人：中山大学
申请日： 2022-05-23 - 公布日： 2022-07-29 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明涉及集成电路测试技术领域，提出一种全自动DRAM存储单元读写功能测试方法和系统，其中包括以下步骤：采集待测芯片的丝印图像，采用ResNet神经网络对所述丝印图像进行识别，得到丝印信息；根据所述丝印信息，从预设的数据库中读取与所述丝印信息匹配的读写功能测试方法，并将所述读写功能测试方法传输至ATE设备；将ATE设备与待测芯片电连接，所述ATE设备根据接收的读写功能测试方法对待测芯片进行读写功能测试。本发明实现DRAM存储单元读写功能测试工作的自动化，有效提高读写功能测试工作效率，同时保证较高的读写功能测试准确率。
一种全自动 dram 存储单元读写功能测试方法系统

[发明专利]硬盘可靠性诊断方法、装置、计算机设备和存储介质-CN202310142698.X在审
发明人：金冉;王佩 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2023-02-21 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G11C29/08 文献下载
摘要：所述方法包括：设置硬盘压测工具的配置文件中包括磁头蝶形路径除灰读写测试文件、共振路径写测试文件、变压读写测试文件；执行磁头蝶形路径除灰读写测试文件将灰尘颗粒带到硬盘的磁碟外侧；执行共振路径写测试文件使磁盘带动整机共振，在共振情况下对硬盘进行写测试；执行变压读写测试文件控制硬盘的读写压力动态变化，在读写压力动态变化情况下对硬盘进行读写测试；在执行测试文件过程中，循环抓取硬盘读写状态，并判断硬盘读写状态是否存在故障。
硬盘可靠性诊断方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]RFID读写器测试装置及RFID读写器测试方法-CN202210048457.4在审
发明人：杨志强 -专利权人：深圳市鸿陆技术有限公司
申请日： 2022-01-17 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G06K7/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种RFID读写器测试装置及RFID读写器测试方法。RFID读写器测试装置包括：基座、天线支架和测试面板，天线支架设置于基座的一端，天线支架用于固定待测试的RFID读写器的天线；测试面板设置于基座的另一端，测试面板包括至少一个测试板，每一测试板上设置有多个基准标签，多个基准标签等距排列，基准标签用于供RFID读写器进行多标签读取测试。本申请的RFID读写器测试装置至少具有如下有益效果：通过规范测试面板中基准标签的分布，能够使测试环境保持固定，提高测试结果的可对比性。
rfid 读写测试装置方法

[发明专利]一种测试路由器存储功能的方法及装置-CN201810710259.3在审
发明人：刘玉敏 -专利权人：四川斐讯信息技术有限公司
申请日： 2018-07-02 - 公布日： 2019-03-22 - 主分类号： H04L12/26 文献下载
摘要：本发明公开一种测试路由器存储功能的方法及装置，涉及路由器技术领域，本申请提供的测试路由器存储功能的方法，应用于测试设备，测试设备与路由器建立通信连接；执行自动化读写测试脚本，以通过路由器对存储设备进行读写测试；生成所述读写测试的测试结果。测试设备通过路由器与存储设备之间进行数据读写测试；只需在测试设备上运行自动化读写测试脚本即可使测试设备自动完成测试过程，测试操作非常的简便，测试效率高，无需人工干预，测试所需人力成本低。
测试设备读写测试测试路由器存储功能存储设备路由器脚本自动化测试路由器技术路由器建立测试操作测试过程测试效率人工干预人力成本数据读写通信连接自动完成申请应用

[发明专利]轨道交通AFC系统的读写器的测试方法及系统-CN201811185570.7在审
发明人：王子强;蔡佳妮;董晓婷;瞿斌;周晓;徐高峻;龚炯;林龙;温彤 -专利权人：上海申通地铁集团有限公司
申请日： 2018-10-11 - 公布日： 2020-04-21 - 主分类号： G06K7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种轨道交通AFC系统的读写器的测试方法及系统，测试方法包括：根据轨道交通AFC系统的各种车票的票种票制，制定读写器的测试案例，包括功能项、测试场景及预期输出；制定读写器的测试流程，包括测试案例的操作步骤；根据测试案例及测试流程编制测试程序；运行所述测试程序，根据测试案例的描述，分步骤执行测试流程，预先设置测试条件，控制读写器执行相应的票务操作；获取读写器的操作执行结果以得到测试输出，并确认测试输出与所述测试案例中的预期输出是否一致，并记录测试结果。本发明能够对轨道交通AFC系统的读写器进行自动化测试，通过测试程序自动执行测试案例，减少测试人员的操作时间，提高了测试效率。
轨道交通 afc 系统读写测试方法

[发明专利]SRAM读写跟踪电路及方法、字线电压调制装置、系统及方法-CN201811569850.8有效
发明人：张一平 -专利权人：成都海光集成电路设计有限公司
申请日： 2018-12-21 - 公布日： 2020-12-01 - 主分类号： G11C16/08 文献下载
摘要：本发明提供SRAM读写跟踪电路及方法、字线电压调制装置、系统及方法。SRAM字线电压调制装置包括：SRAM读写跟踪电路，其包括用于进行读测试和写测试的一个以上的测试用SRAM单元；以及字线电压调制电路，在测试模式下，所述字线电压调制电路生成一个以上测试用字线电压，并输出到所述SRAM读写跟踪电路，所述SRAM读写跟踪电路在每个所述测试用字线电压下分别进行读测试和写测试，并按照每个测试用字线电压输出表示所述测试用SRAM单元的读测试和写测试成功与否的测试结果，在普通读写模式下，所述字线电压调制电路根据所述SRAM读写跟踪电路的测试结果来生成调制字线电压。
sram 读写跟踪电路方法电压调制装置系统

[发明专利]一种RFID读写器读写计时的测试装置及方法-CN201711351312.7有效
发明人：柳军国;刘建亮;刘辰飞 -专利权人：神思电子技术股份有限公司
申请日： 2017-12-15 - 公布日： 2021-01-01 - 主分类号： G06K7/00 文献下载
摘要：本发明公开一种RFID读写器读写计时的测试装置及方法，所述装置包括轮卡单元、采集单元和处理单元，采用测试装置进行RFID读写器读写计时的测试，避免了手动刷卡、秒表计时造成计时不精确的问题，并且装置可重复进行读写该装置会引入误差约0.05秒~0.1秒，精度可达0.1秒，满足读写器读写计时测试需求。
一种 rfid 读写计时测试装置方法

[发明专利]一种基于FPGA平台的DDR读写仲裁及测试方法-CN202110021571.3在审
发明人：魏朝飞 -专利权人：济南浪潮高新科技投资发展有限公司
申请日： 2021-01-08 - 公布日： 2022-07-15 - 主分类号： G06F13/16 文献下载
摘要：一种基于FPGA平台的DDR读写仲裁及测试方法，测试码流生成模块可以高效的完成对DDR读写仲裁模块的前期测试。通过的DDR读写仲裁模块在后期实际应用中，实现了预期的功能，未出现DDR读写数据异常，为大数据量的访存需求提供了保障，加快了产品开发进度。该基于FPGA的DDR读写仲裁模块，可以支持多通道访问DDR，并且支持读写通道的后期扩展，解决了某些应用需要多通道访问内存的需求，同时测试模块高效的完成了对DDR读写仲裁模块的前期测试。
一种基于 fpga 平台 ddr 读写仲裁测试方法

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