专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]观察装置及观察方法-CN201180008273.5有效
  • 纪伊宏昭 - 株式会社尼康
  • 2011-01-28 - 2012-10-24 - G02B21/36
  • 本发明的目的在于高效率地观察观察区域内不规律地出现的特定物质。例示本发明的观察装置,包括:第一观察部件(53a、54、44、57),进行规定的观察区域(15)的延时拍摄;第一判别部件,基于所述第一观察部件取得的图像,判别在所述观察区域内是否出现了第一物质;第二观察部件(53a、53b、54、44、57),在所述观察区域内出现了所述第一物质的时刻,开始与该第一物质的出现部位相关的延时拍摄,基于所述第二观察部件的延时拍摄的拍摄频率高于基于所述第一观察部件的延时拍摄的拍摄频率
  • 观察装置方法
  • [发明专利]观察装置和观察方法-CN200880119597.4无效
  • 冈本裕昭 - 株式会社尼康
  • 2008-12-02 - 2010-11-17 - G01N21/956
  • 本发明提供一种观察装置和观察方法。本发明的观察装置包括能够部分地拍摄晶圆(10)的摄像部,利用通过使摄像部的摄像区域相对于晶圆(10)的圆周方向移动的同时拍摄多个晶圆(10)(顶端部13)的部分而得到的、多个摄像区域中的晶圆(10)的部分图像(A、A、…),进行晶圆(10)的表面观察,其中,具有:图像连接部,对多个部分图像(A、A、…),分别进行以使与晶圆(10)的圆周方向对应的方向上的压缩比大于与其垂直的方向的方式进行图像压缩的处理,并且在圆周方向上排列地彼此连接
  • 观察装置方法
  • [发明专利]观察装置、观察支援装置、观察支援方法以及程序-CN201380054191.3在审
  • 东条良;羽根润;藤田浩正 - 奥林巴斯株式会社
  • 2013-10-10 - 2015-06-24 - A61B1/00
  • 根据从纤维形状传感器(4)以及插入旋转检测部(5)输入的向被插入体(2)插入的插入部(31)的位移量信息,相对位置信息取得部(61)取得插入部的作为位置检测对象的部分相对于被插入体的相对位置信息。拍摄位置运算部(63)利用该相对位置和被插入体形状取得部(62)取得的被插入体的形状信息,对拍摄位置(P)进行运算,该拍摄位置(P)是拍摄部(34)拍摄的被插入体的区域即拍摄区域(83)、拍摄区域中的一部分的区域(84)、拍摄区域的中的一点这三者中的至少1个。显示运算部(64)基于加权指标参数对该拍摄位置(P)的加权信息进行运算,并基于该加权信息设定显示形式。输出部(65)将该显示形式和拍摄位置(P)作为显示信息而输出。
  • 观察装置支援方法以及程序
  • [发明专利]荧光观察系统、荧光观察装置以及荧光观察方法-CN201080012556.2有效
  • 石原康成 - 奥林巴斯株式会社
  • 2010-03-16 - 2012-02-15 - A61B1/00
  • 本发明提供一种荧光观察系统(1),其充分去除了残留于相除图像的对于距离和角度的依赖性利用定量性较高的荧光图像进行观察。荧光观察系统(1)具有:荧光观察装置(100);校正装置(101),其与荧光观察装置(100)连接,具有标准样本(30)和以能够变更的方式对该标准样本(30)设定荧光观察装置(100)的观察距离(D)和观察角度(θ)的观察状态设定机构(31、32);以及观察条件调节部(10),其根据所设定的观察距离(D)和观察角度(θ)以及通过荧光观察装置(100)对标准样本(30)进行摄影而获得的参照图像(G1)和荧光图像(G2),调节观察条件。
  • 荧光观察系统装置以及方法
  • [发明专利]观察装置及荧光观察装置-CN200580010176.4有效
  • 河野芳弘;清水敬之;祐川实;望月刚;本田进;林一博 - 奥林巴斯株式会社
  • 2005-03-29 - 2007-03-28 - G02B21/00
  • 本发明提供观察装置及荧光观察装置,所述观察装置及荧光观察装置为显微镜观察装置,该显微镜观察装置中,即使减小倍率,数值孔径也不会过小而可以以较高的分辨率得到图像,从而提高观察精度;所述显微镜观察装置具有:该光源将激发光或照明光照射到载置在载物台上的样品;物镜,该物镜与载物台对向配置,将来自样品的荧光或反射光聚光;成像透镜,该成像透镜使该物镜的样品上的像进行成像;摄像单元,该摄像单元对通过该成像透镜进行成像的样品上的像进行拍摄;该观察装置具有多个倍率不同的物镜
  • 观察装置荧光
  • [发明专利]观察支持装置、观察支持方法及观察支持系统-CN201510434981.5在审
  • 藤原成章 - 斯克林集团公司
  • 2015-07-22 - 2016-04-06 - G01N21/892
  • 本发明提供一种观察支持装置、观察支持方法及观察支持系统。观察支持方法包括:准备表示基材上的图案的图案图像,所述基材具有周期性地排列的多个组件、及将组件间加以连接的多个配线;受理将所述图案图像的表示所述图案的图案区域中的一个位置指定为指定位置的输入;将所述图案区域中与所述指定位置相连的区域特定为特定区域由此,能够使作业人员容易识别图案区域中与指定位置相连的区域,从而可适当支持作业人员对图案图像的观察
  • 观察支持装置方法支持系统

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