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[发明专利]颜料、颜料的生产方法、颜料分散体和黄色调色剂-CN201010149854.8有效
发明人：丰田隆之;井上圭;新藤太一;谷泰;村井康亮;广濑雅史 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2010-04-16 - 公布日： 2010-10-20 - 主分类号： C09B67/20 文献下载
摘要：一种由下式表示的颜料，所述颜料具有CuKα特征X射线衍射谱图，所述CuKα特征X射线衍射谱图当θ表示布拉格角时具有：在2θ±0.20°等于10.0°的峰和在2θ±0.20°等于11.1°的峰，所述11.1
颜料生产方法散体黄色调色

[发明专利]一种粉末衍射择优取向参数确定方法-CN201510516202.6有效
发明人：王慎文;周建文;陈磊;蒲洪果 -专利权人：中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司河南油田分公司勘探开发研究院
申请日： 2015-08-20 - 公布日： 2017-11-28 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种粉末衍射择优取向参数确定方法，本发明以粉末样品定向压实时产生择优取向为模型，确定择优取向函数，利用所确定的函数计算每个晶面的择优取向函数值；然后根据每个晶面的择优取向函数值得到晶体结构的计算谱图；比较计算谱图与实际谱图之间的误差，调整所设定的择优取向分布参数，直至误差小于设定值或不再减小，以调整后的择优取向分布参数作为该晶体的择优取向分布参数；最后利用该分布参数计算得到的择优取向值即为本发明所要确定的择优取向本发明充分考虑了衍射强度与晶面取向分布概率成正比和受择优取向影响的总体衍射强度恒定个因素，所确定的择优取向函数更加符合粉末衍射的实际情况，所得到的择优取向也更加精准。
一种粉末衍射择优取向参数确定方法

[发明专利]一种X射线衍射矿物定量分析参比强度计算方法-CN202210392475.4在审
发明人：谭杰;王丽;周克明;严玉霞;邹春艳;罗涛;彭先;郝煦;许斌;张雁;邹梦文;张琳羚 -专利权人：中国石油天然气股份有限公司
申请日： 2022-04-14 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01N23/2055 文献下载
摘要：本发明公开了一种X射线衍射矿物定量分析参比强度计算方法，涉及油气勘探开发技术领域，本发明通过运用X射线衍射全谱拟合法，设计矿物初始晶体结构模型，构建X射线衍射理论衍射谱图，精修矿物晶体结构参数和峰形函数参数，拟合矿物百分含量，并运用标准(SY/T5163‑2018)《沉积岩中黏土矿物和常见非黏土矿物X射线衍射分析方法》矿物百分含量计算公式进行推导，反算出所需要的参比强度K值，以真正实现沉积岩、火成岩、变质岩三大岩类的X射线衍射矿物定量分析。
一种射线衍射矿物定量分析强度计算方法

[发明专利]一种富马酸卢帕替芬晶型B及其制备方法-CN201410289491.6有效
发明人：林童俊;吴晓华;辛军 -专利权人：福建省闽东力捷迅药业有限公司
申请日： 2014-06-26 - 公布日： 2017-08-25 - 主分类号： C07D409/14 文献下载
摘要：本发明涉及一种富马酸卢帕替芬晶型B，所述晶型B的X射线粉末衍射图的特征峰以2θ±0.2°表示位于5.9°、6.7°、8.0°、11.7°、12.0°、12.9°、14.5°、16.7°、17.2°、18.9°、19.7°、20.2°、22.3°、24.4°、25.9°、27.0°、28.8°、30.7°处；所述的衍射角2θ在(a)5.9°、(b)12.9°、(c)22.3°、(d)27.0°处为晶型B特有的特征峰；所述的衍射角2θ位于8.0°、12.0°、14.5°、16.7°、17.2°、18.9°、19.7°、20.2°、24.4°、25.9°处，显示具有谱线相对强度为30以上的X‑射线衍射谱线；所述晶型B
一种富马酸卢帕替芬新晶型及其制备方法

[发明专利]氯化镁－醇加合物、其制备方法以及从中获得的催化剂组分-CN98800687.1无效
发明人： M·萨彻蒂;G·戈沃尼;A·法伊特 -专利权人：蒙特尔技术有限公司
申请日： 1998-03-23 - 公布日： 1999-08-25 - 主分类号： C08F4/02 文献下载
摘要：本发明涉及MgCl2·mROH·nH2O加合物,式中R为C1－C10烷基,2≤m≤4.2和0≤n≤0.7,其X－射线衍射谱特征在于在2θ衍射角为5°—15°的范围内,三条主要衍射谱线存在于衍射角2θ为8.8±0.2°、9.4±0.2°和9.8±0.2°处,最强的衍射谱线在2θ=8.8±0.2°处,其它两条衍射谱线的强度至少是最强衍射谱线强度的0.2倍。
氯化镁醇加合物制备方法以及从中获得催化剂组分

[发明专利]全谱精修测定β-磷酸三钙中羟基磷灰石含量的方法-CN201910627367.9有效
发明人：饶群力 -专利权人：上海交通大学
申请日： 2019-07-12 - 公布日： 2022-02-25 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：一种全谱精修测定β‑磷酸三钙中羟基磷灰石含量的方法，通过将混有HA的β‑TCP样品进行X射线衍射测量得到高分辨率衍射谱，以β‑TCP晶体和HA晶体的原子空间结构为模板构造晶胞参数和晶体结构模型，再以结构模型为约束条件对高分辨率衍射谱中的每一个衍射峰在全谱范围进行β‑TCP中的杂质定性检测和HA全谱拟合定量检测。本发明基于对样品物相组成的正确分析以及对物相组分构建合理的晶体结构，再以衍射谱图上的全部衍射峰作为考量对象，综合考察被测样品中每一个物相衍射花样的整体状况，通过Rietvelt方法进行数据处理的一种高精度定量方法
全谱精修测定磷酸三钙中羟基磷灰石含量方法

[发明专利]甲氨基阿维菌素B2a苯甲酸盐晶体、非晶体及其制备方法-CN202111454671.1在审
发明人：史秀肖;田学芳;范立攀;侯红欣;贾成国 -专利权人：河北威远生物化工有限公司
申请日： 2021-12-01 - 公布日： 2022-01-11 - 主分类号： C07H17/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种甲氨基阿维菌素B2a苯甲酸盐的无定型晶体、A晶型及其制备方法，属于农药技术领域，无定型晶体用2θ±0.2°衍射角表示的X‑射线粉末衍射谱图与图1峰型基本一致，A晶型用2θ±0.2°衍射角表示的X‑射线粉末衍射谱图与附图2峰型基本一致。
氨基菌素 b2a 苯甲酸晶体非晶体及其制备方法

[发明专利]测定SAPO-11分子筛相对结晶度的方法-CN201510257328.6有效
发明人：李瑞峰;王磊;李瑞 -专利权人：中国石油天然气股份有限公司
申请日： 2015-05-19 - 公布日： 2019-04-05 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：一种测定SAPO‑11分子筛相对结晶度的方法，包括如下步骤：a、样品的前处理：经过研磨、过筛、焙烧活化和控温恒湿吸水四个步骤制备得到待测标准试样和待测工业试样；b、粉末X射线衍射仪工作条件的确定：启动粉末X射线衍射仪后，选用NIST硅粉，核查测角仪的角度重现性为±0.0001°，整机稳定度为≤0.1％，根据待测工业试样X射线衍射谱图中最弱衍射峰衍射信号的信噪比S/N＞10，确定衍射仪电压、电流、发散狭缝、发散高度限制狭缝、防散射狭缝、接收狭缝、滤光片或单色器的参数，获得试样的最佳粉末X射线衍射谱图；c、测定；d、计算，用外标法计算待测工业样品的相对结晶度。
测定 sapo 11 分子筛相对结晶度方法

[发明专利]极紫外光刻掩模衍射谱的快速仿真方法-CN202111392142.3在审
发明人：胡少博;李思坤;唐明;王向朝;张子南 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2021-11-19 - 公布日： 2022-03-04 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：一种极紫外光刻掩模衍射谱快速仿真方法，将掩模整体看作一个多层膜结构，划分为有吸收层覆盖区域和无吸收层覆盖区域。在斜入射情况下，基于等效膜层法计算两种区域膜层复反射系数，采用基尔霍夫近似计算掩模衍射谱。本发明方法可以快速仿真极紫外光刻掩模衍射谱，提高了斜入射情况下衍射谱的仿真精度。
紫外光刻衍射快速仿真方法

[发明专利]一种盐酸美利曲辛晶型A及其制备方法-CN201610738945.2在审
发明人：郝超;王国海;陈亮;张桂森 -专利权人：江苏恩华药业股份有限公司
申请日： 2016-08-26 - 公布日： 2018-03-09 - 主分类号： C07C209/84 文献下载
摘要：本发明提供一种盐酸美利曲辛的新晶型A，晶型A以2θ±0.2°衍射角表示的X‑射线粉末衍射谱图在10.467，11.361，11.812，13.895，15.785,16.602,17.419,18.696,21.133,21.691
一种盐酸美利曲辛晶型及其制备方法

[发明专利]一种盐酸美利曲辛晶型A及其制备方法-CN202111463830.4在审
发明人：郝超;王国海;陈亮;张桂森 -专利权人：江苏恩华药业股份有限公司
申请日： 2016-08-26 - 公布日： 2022-02-18 - 主分类号： C07C211/31 文献下载
摘要：本发明提供一种盐酸美利曲辛的新晶型A，晶型A以2θ±0.2°衍射角表示的X‑射线粉末衍射谱图在10.467，11.361，11.812，13.895，15.785,16.602,17.419,18.696,21.133,21.691
一种盐酸美利曲辛晶型及其制备方法

[发明专利]极紫外光刻无缺陷掩模衍射谱快速严格仿真方法-CN201310534000.5有效
发明人：刘晓雷;李思坤;王向朝;步扬 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2013-10-31 - 公布日： 2014-03-05 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：一种极紫外光刻无缺陷掩模衍射谱快速严格仿真方法，采用等效膜层法由上至下逐层计算膜层复反射系数得到整个多层膜的复反射系数，首先通过吸收层薄掩模模型计算掩模吸收层衍射谱，然后经过多层膜反射，最后再次通过吸收层薄掩模模型，得到极紫外光刻无缺陷掩模衍射谱。本发明方法可以快速准确的仿真极紫外光刻无缺陷掩模衍射谱。
紫外光刻缺陷衍射快速严格仿真方法

[发明专利]氯化镁-醇加合物、其制备方法以及从中获得的催化剂组分-CN201110025485.6有效
发明人： M·萨彻蒂;G·戈沃尼;A·法伊特 -专利权人：巴塞尔聚烯烃意大利有限公司
申请日： 1998-03-23 - 公布日： 2011-06-15 - 主分类号： C07F3/02 文献下载
摘要：具体地，本发明涉及MgCl2·mROH·nH2O加合物，式中R为C1-C10烷基，2≤m≤4.2和0≤n≤0.7，其X-射线衍射谱特征在于：在2θ衍射角为5°-15°的范围内，三条主要衍射谱线存在于衍射角2θ为8.8±0.2°、9.4±0.2°和9.8±0.2°处，最强的衍射谱线在2θ＝8.8±0.2°处，其它两条衍射谱线的强度至少是最强衍射谱线强度的0.2倍。
氯化镁醇加合物制备方法以及从中获得催化剂组分

[发明专利]一种二维衍射谱压缩存储方法-CN201810711102.2有效
发明人：陈凯;朱文欣 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2018-07-02 - 公布日： 2020-10-27 - 主分类号： G06F16/174 文献下载
摘要：本发明涉及一种二维衍射谱压缩存储方法，包括以下步骤：在衍射实验所设定的扫描区域中选取采样点，统计采样点对应的二维衍射谱上的平均衍射峰的个数；采用并行计算的方式，通过分块压缩存储对该扫描区域中所收集的二维衍射谱进行压缩存储本发明采用的压缩存储方法压缩存储速度快、无损存储，能够实现对体量庞大的衍射谱数据进行压缩存储，以节约实验室运营成本。
一种二维衍射压缩存储方法

[发明专利]一种宽频谱范围与高光谱分辨的X射线聚焦检测系统-CN202310321906.2在审
发明人：施军;王峰;江月;杨国洪;韦敏习;杨祖华;肖沙里 -专利权人：重庆大学;中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2023-03-29 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本发明公开一种宽频谱范围与高光谱分辨的X射线聚焦检测系统，用于对光源发出的X射线衍射后进行检测，包括衍射晶体以及检测器，所述衍射晶体表面具有衍射面，所述衍射面能够将所述光源发射并辐射至衍射面的X射线全部衍射后被检测器检测；本发明从源头上解决传统平面晶体X射线收集效率低、柱面或锥面晶体X射线谱分辨率低、球面晶体测谱范围窄的技术问题，使其同时具备高谱分辨率、高收集效率、宽测谱范围的特点，从而实现X射线在多个能点的聚焦测谱功能
一种宽频范围光谱分辨射线聚焦检测系统