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[实用新型]一种光组件光串扰测试装置-CN201921053918.7有效
发明人：高国祥;谢艺力;何伟强;肖爱长 -专利权人：广东瑞谷光网通信股份有限公司
申请日： 2019-07-05 - 公布日： 2019-12-31 - 主分类号： H04B10/079 文献下载
摘要：本实用新型提供一种光组件光串扰测试装置，包括测试大板和安装在测试大板上的PCBA夹具，所述测试大板包括测试布板区和贴片焊接在测试布板区上的芯片和电子元件，所述PCBA夹具包括夹具布板区，所述夹具布板区上贴片焊接有芯片和电子元件在PCBA夹具的芯片中预先写入待测光组件发射端的加电参数，这样在PCBA夹具上更换不同的待测光组件，再给测试大板上电时，PCBA夹具的芯片就能令不同的待测光组件的发射端加电参数始终保持为预先写入的加电参数，这样一旦接收端的加电参数不合乎要求，则就能确认是待测光组件的光串扰不合乎要求。
夹具测光组件布板测试大板加电芯片贴片焊接光串扰写入本实用新型测试装置发射端光组件发射上电

[发明专利]一种液晶面板显示驱动芯片的电性分析方法-CN201110229944.2无效
发明人：张涛 -专利权人：上海华碧检测技术有限公司
申请日： 2011-08-11 - 公布日： 2012-03-21 - 主分类号： G09G3/36 文献下载
摘要：本发明提供了一种液晶面板显示驱动芯片的电性分析方法，该方法包括以下步骤：A、分析液晶面板显示异常的表现方式，寻找加电方式的依据；B、研究液晶面板显示驱动芯片的各引脚的功能，确定需要进行电性判断的引脚；C、根据芯片的引脚布局图和PCB板的引线布局图，确定在开盖前的电性测量位置，测量开盖前的电性；D、开盖后，使用探针直接探测芯片的引脚，进行加电测量，得出开盖后的电性特征；E、开盖前后的异常电性对比，判断失效点在封装级还是在晶圆级本发明通过该种适合于液晶面板显示驱动芯片的电性分析方法，能够有效、合理地对开盖前后的电性特征进行比对，便于后续做出失效点是在封装级还是在晶圆级的判断。
一种液晶面板显示驱动芯片分析方法

[实用新型]光学芯片的探针装置-CN202222595191.3有效
发明人：郝自亮;曾令玥;胡慧璇;谢宇全 -专利权人：武汉锐科光纤激光技术股份有限公司
申请日： 2022-09-29 - 公布日： 2023-03-10 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光学芯片的探针装置，其中，上述光学芯片的探针装置包括：探针支架，加电探针和风冷散热部件，其中，风冷散热部件的风冷管道伸入探针支架中；加电探针包括固定部分和探针头部，固定部分固定在探针支架中采用上述技术方案，解决了相关技术中，光学芯片的探针装置散热效率较低等问题，实现了提升光学芯片的探针装置的散热效率的技术效果。
光学芯片探针装置

[实用新型]一种光模块盒芯片温度检测装置-CN201921036574.9有效
发明人：蔡其龚;朱争 -专利权人：红安县华利机械制造有限责任公司
申请日： 2019-07-04 - 公布日： 2020-02-25 - 主分类号： G01K13/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光模块盒芯片温度检测装置，一种光模块盒芯片温度检测装置，包括机体，所述机体的前侧设置有传送带，传送带的后侧设置有检测台，检测台上固定槽；所述固定槽的上方设置有加电装置，加电装置包括定位盒、下压气缸、下压杆和加电头，所述定位盒的上方设置有下压气缸；本光模块盒芯片温度检测装置，通过设置的传送带，实现了对光模块盒的自动上料功能；通过设置的定位盒和加电装置，实现了对光模块的固定、定位和自动加电的功能；通过顶出装置和下料装置，实现了自动下料功能；从而实现了光模块盒的上料、加电、检测和下料的自动化，使得使用更方便，检测效率更高，检测成本更低。
一种模块芯片温度检测装置

[发明专利]一种光发射器件制造过程中芯片工作温度对比方法-CN202110223538.9有效
发明人：李杨;廖传武;李志超;李浩凡;黄芙蓉 -专利权人：辽宁优迅科技有限公司
申请日： 2021-03-01 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： G01J9/00 文献下载
摘要：本发明提供一种光发射器件制造过程中芯片工作温度对比方法，一、采用带控温的加电仪表对光发射器件的不带电驱动芯片进行加电控温，用光纤将芯片发光传到波长计探测波长；二、使用直流稳压电源配合软件对光发射器件的带电驱动芯片进行加电控温，使光芯片发光，用光纤将芯片发光先传到分波器再用波长计分别探测各通道波长；三、将上述两种方法得出的光芯片的波长对应出光芯片的实际温度，并进行实际工作温度的对比；四、当使用直流稳压电源配合软件对光发射器件的带电驱动芯片进行加电控温时，对比每多开一个通道光芯片的工作实际温度。旨在探测不同控温设备和同时给器件内不同数量芯片加电芯片工作时的实际温度。
一种发射器件制造过程芯片工作温度对比方法

[发明专利]一种激光器芯片老化和LIV测试检测方法、系统-CN202011038287.9在审
发明人：张华;薛银飞;黄河 -专利权人：上海菲莱测试技术有限公司
申请日： 2020-09-28 - 公布日： 2020-11-03 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种激光器芯片老化和LIV测试的检测方法、系统，处理器根据上位机指示进行老化和LIV测试;处理器通过控制热沉及加热模块给芯片载具加热，直到温度稳定在预先设定的温度值，处理器再对每一颗芯片进行加电，回读加载在芯片上的电流值和电压值及光功率值；在进行LIV测试流程时，对加电控制和电流电压监控模块采用的加电方式是步进式扫描，并间隔固定的时间回读加载在芯片上的电流值和电压值及激光器芯片的光功率值，处理器将获取的值通过通讯接口发送给上位机；上位机显示所获取的信息；本发明能提高激光器芯片检测效率、减少占地资源并能实现设备的复用率。
一种激光器芯片老化 liv 测试检测方法系统

[发明专利]一种用于观测细胞迁移的大序列芯片及其制作和使用方法-CN201811545044.7在审
发明人：陈健;卫元晨;邢艳荣;陈德勇;王军波 -专利权人：中国科学院电子学研究所
申请日： 2018-12-17 - 公布日： 2019-04-09 - 主分类号： C12M1/34 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于观测细胞迁移的大序列芯片，包括：加电部分，依次包括负电极底座、负电极阵列、绝缘层以及正电极，其中，负电极阵列包括多个加电小柱；芯片部分，依次包括小室层、SiO₂镀膜层、正电极层以及基底，其中，小室层为多孔板状结构，在多孔板的每一孔的中心，SiO₂镀膜层设有通孔，通孔贯通至正电极层，在硫醇溶液中浸泡芯片，以使通孔内的正电极层表面生成PEG膜另外本发明还提供了一种大序列芯片的制作和使用方法。通过将芯片部分的电极一体化使得键合在其上的每一小室中的电压相同，通过加电小柱后每一小室中的去硫醇化效果相同，减少实验误差，同时芯片电极不局限于金或铂，凡是能导电且能和硫醇反应的材料均可作为芯片电极。
芯片正电极层负电极加电通孔细胞迁移芯片电极镀膜层小室小柱绝缘层观测多孔板状结构硫醇溶液实验误差电极多孔板硫醇化正电极导电基底键合硫醇底座制作浸泡贯通一体化局限

[发明专利]微流控系统、细菌分离方法、计算机设备及可读存储介质-CN202011045938.7在审
发明人：孙波;王璞;洪维礼;蓝路;李锐 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2020-09-29 - 公布日： 2021-02-02 - 主分类号： C12M1/36 文献下载
摘要：所述微流控系统包括：微流控芯片、加样装置、旋转伸缩装置以及控制装置。所述加样装置用于将液体加入所述微流控芯片内。所述液体包括细菌混合样品、质谱裂解液或重悬液。所述旋转伸缩装置与所述加样装置固定连接。所述控制装置分别与所述加样装置和所述旋转伸缩装置电连接。所述控制装置用于通过所述旋转伸缩装置控制所述加样装置沿所述旋转伸缩装置的轴向做旋转和伸缩运动，以使所述加样装置将所述液体加入所述微流控芯片内。所述控制装置还用于控制所述加样装置加入所述微流控芯片内的加样量。
微流控系统细菌分离方法计算机设备可读存储介质

[实用新型]一种加粉盒-CN201921297455.9有效
发明人：周露露;张凯 -专利权人：佛山普瑞威尔科技有限公司
申请日： 2019-08-12 - 公布日： 2020-03-24 - 主分类号： G03G15/08 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种加粉盒，属于加粉盒领域。一种加粉盒，包括粉桶，所述粉桶出粉端连接有用于与打印机电连接的芯片，所述粉桶下端连接有下盖，所述粉桶中滑动密封连接有活塞，所述活塞上端固定连接有推杆，所述粉桶下端连接有接触铁片，所述接触铁片下端与所述的芯片相连，所述粉桶下端滑动连接有顶针；本实用新型顶针通过接触铁片的作用使得芯片断开与打印机的电连接，打印机停止加粉，断开电连接，有效的避免了粉盒的损坏，确保了回收利用率，降低成本；当需要进行加粉时，通过推杆将活塞拉动到上端，圆锥型密封塞脱离圆锥型开口，从而使得加粉管导通，实现加粉，无需拆卸上盖，减少操作步骤，能够快速的进行加粉，效率高。
一种粉盒

[发明专利]一种晶圆测试平台及其检测方法-CN202310483823.3在审
发明人：吕晨虹;盖涂泉;麻凯;李文格;王成坤;杨祎琪 -专利权人：河北圣昊光电科技有限公司
申请日： 2023-04-28 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种晶圆测试平台及其检测方法，晶圆测试平台，包括：承载盘；相机机构，用于校准所述晶圆的位置；芯片角度调整机构，用于调整所述晶圆的水平方向角度；芯片位置调整机构，用于调整所述晶圆的水平位置；探针组件，所述探针组件上设有至少两根探针；所述探针组件用于对所述晶圆上的多个芯片进行同时检测，用于在所述晶圆上的多个芯片加电后测试芯片的暗场IV曲线；光纤测试机构，通过光纤发出的标准光束入射到芯片光敏面上，加电测试芯片光场数据。通过上述晶圆测试平台可以实现晶圆上多个芯片一同检测，解决现有的晶圆检测效率低的问题。
一种测试平台及其检测方法

[实用新型]呼吸机湿化液定量装置-CN201922498240.X有效
发明人：方园;陈岚 -专利权人：金华市中心医院
申请日： 2019-12-31 - 公布日： 2020-10-16 - 主分类号： A61M16/16 文献下载
摘要：本实用新型包括加液袋、计量控制器和连接管，加液袋中装有湿化液或护理液体，加液袋通过连接管与湿化罐的进水口连通，形成加液管路，计量控制器设在连接管上，对加液袋中流出加入湿化罐的液体进行计量并根据需要控制加液管路的连通与关闭状态，所述的计量控制器包括计量部、自动开关和控制芯片，其中控制芯片分别与计量部、自动开关电连接，计量部用于设定滴加液体量并对液体滴加量进行计量，当计量部测定的液体滴加量达到设定值时，发送电信号至控制芯片，控制芯片控制自动开关2b闭合，切断加液管路，停止湿化液的滴加。
呼吸机湿化液定量装置

[实用新型]GaN-HEMT功放管栅极漏极加电时序保护偏置电路-CN201720804521.1有效
发明人：陶涛 -专利权人：南京朴与诚电子科技有限公司
申请日： 2017-07-05 - 公布日： 2018-06-22 - 主分类号： G05F1/56 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种GaN‑HEMT功放管栅极漏极加电时序保护偏置电路，包括栅极漏极加电时序保护模块、栅极正负压转换模块、电压调节模块和电压跟随器；栅极正负压转换模块通过负压稳压芯片将输入正电压转换为负电压，并通过RC电路进行滤波；负压稳压芯片的REG管脚为栅极提供提供TTL高电平信号，REG管脚的输出信号通过NPN三极管、N沟道MOSFET和P沟道MOSFET对漏压加电进行控制；当栅极电源负压输出不正常时，REG给出高电平，P沟道MOSFET关断，漏极不上电；栅极电源负压输出正常时，REG管脚给出低电平，P沟道MOSFET导通，漏极上电。本实用新型具有技术简单，结构简洁，易于单芯片集成和占用面积小的优势；显著提高了相关应用中微波、毫米放大器件的保护能力，应用领域广泛。
漏极负压加电本实用新型功放管栅极偏置电路时序保护稳压芯片栅极电源转换模块正负压管脚上电电压调节模块时序保护模块单芯片集成电压跟随器输入正电压输出保护能力放大器件输出信号低电平负电压高电平导通关断滤波微波占用转换应用

[实用新型]一种可实现激光芯片批量老化的模块组件-CN202320194367.6有效
发明人：徐广立 -专利权人：韦斯泰科技（深圳）有限公司
申请日： 2023-02-13 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种可实现激光芯片批量老化的模块组件，属于激光芯片老化技术领域，包括固定板和设置在固定板上方的活动板，活动板的下表面安装有若干个加电压块，放置槽内设置有芯片主体；该可实现激光芯片批量老化的模块组件，通过设置卡块和加电压块，芯片主体的放置槽与加电压块设置的数量一致，且芯片主体的放置槽和加电压块一一对应，在使用时，操作人员将芯片主体放在放置槽内，利用弹簧和卡块作用对芯片主体的两侧进行卡紧，通过设置的加电压块将芯片主体锁紧固定，安装好后，并加电对芯片主体进行老化处理，本装置设置若干个放置槽，能够实现一次同时老化若干个芯片主体，提高老化效率高，降低人工成本。
一种实现激光芯片批量老化模块组件

[发明专利]一种阵列式探针组件、测试台及测试机-CN202310530912.9在审
发明人：杜海洋;伊力夏提.伊克木;祁佩恩;张唯伟;张焕德 -专利权人：河北圣昊光电科技有限公司
申请日： 2023-05-11 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种阵列式探针组件，包括：框架；加电条，设于所述框架上，所述加电条的测试端适于与Bar条的待测试端接触，在测试状态下，所述加电条通电后与沿待测试Bar条贴合接触，对同一Bar条上的各颗芯片同时进行检测，本发明要解决普通探针无法同时对同一Bar条上的每颗芯片进行测试的缺陷，从而提供一种阵列式探针组件、测试台及测试机。
一种阵列探针组件测试

[实用新型]一种超辐射发光二极管组件手动预耦合测试装置-CN202123056900.2有效
发明人：何威威;张润;吕小威;李同宁;游毓麒 -专利权人：武汉英飞华科技有限公司
申请日： 2021-12-08 - 公布日： 2022-01-07 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型提出了一种超辐射发光二极管组件手动预耦合测试装置，涉及超辐射发光二极管组件预耦合测试装置的技术领域，包括透镜准直光纤、限位夹具、探针和工作台，所述透镜准直光纤、限位夹具和探针安装在工作台上，限位夹具用于对需要测试的芯片进行固定，并与芯片导电接触，探针用于与芯片的金电极接触，以实现芯片的加电，透镜准直光纤用于将固定在限位夹具上的芯片加电时芯片管芯的出光耦合进入光功率计和光谱分析仪内。解决了现有技术中的测试装置结构复杂，造价过高，且操作麻烦，测试成本高，测试效率低，以及使用夹具导致芯片表面划伤及破损的问题。
一种辐射发光二极管组件手动耦合测试装置