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[发明专利]空间偏振光消光比测量装置及方法-CN201410218391.4有效
发明人：陈帮;谢德权;杨奇 -专利权人：武汉邮电科学研究院
申请日： 2014-05-22 - 公布日： 2014-09-10 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种空间偏振光消光比测量装置及方法，涉及空间偏振光消光比测量领域，该测量装置包括光分路器、光功率测量系统、消光比测量系统、信号处理系统和数据接口显示系统，光分路器分别与光功率测量系统、消光比测量系统相连，光功率测量系统、消光比测量系统均与信号处理系统相连，信号处理系统与数据接口显示系统相连；消光比测量探头与消光比测量主机分离。本发明中测量装置的结构简单、成本低、测量结果稳定，既能测量空间偏振光消光比，又能测量光纤内的偏振光消光比。
空间偏振光测量装置方法

[发明专利]一种三维轮廓测量系统-CN201810850037.1有效
发明人：王昭;高建民;齐召帅;黄军辉;何曾范;邢超 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2018-07-28 - 公布日： 2019-10-11 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明一种三维轮廓测量系统，该测量系统包括工作台、控制器和数据处理及分析系统，以及设置在工作台上的结构光测量系统、顶尖与转台系统和三坐标测量系统；结构光测量系统用于高速测量工件的复杂曲面；三坐标测量系统用于测量工件的复杂精细部分，保证该部分高精度、可靠的测量数据的获取；该三坐标测量系统的测量数据还被用以建立工件的测量基准；顶尖与转台系统用以夹持及带动工件旋转，结合结构光测量系统，获取工件不同角度下的测量数据；最后，三坐标测量系统与结构光测量系统的测量数据进行坐标系统一本发明集成了三坐标测量系统的高精度、可靠的优点与结构光测量系统的高速测量等优点。
三坐标测量结构光测量系统测量数据测量系统三维轮廓测量高速测量转台系统光测量系统测量工件测量基准发明集成分析系统复杂曲面工件旋转结合结构三维轮廓数据处理控制器全型面工作台夹持精细保证统一

[发明专利]一种单目旋转结构光三维测量系统标定方法-CN202210959938.0有效
发明人：李肖;李伟;辛海军;陈兴佩;殷晓康;袁新安;周晶玉;陈怀远;冀全鑫;陈炳荣 -专利权人：中国石油大学（华东）;潍坊市特种设备检验研究院
申请日： 2022-08-11 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明属于油气装备检测技术领域，尤其涉及一种单目旋转结构光三维测量系统标定方法。一种单目旋转结构光三维测量系统标定方法，通过标定结构光平面从而获得振镜的真实旋转轴线，由此精确获得了相机与光平面簇之间的位置关系，从而消除了单目旋转结构光三维测量系统中装调误差对标定精度的影响，提高了系统的测量精度一种单目旋转结构光三维测量系统标定方法包括有搭建单目旋转结构光三维测量系统、标定结构光平面及振镜旋转轴线、计算单目旋转结构光三维测量系统的三维坐标等步骤特征。
一种旋转结构三维测量系统标定方法

[发明专利]一种结构光三维重建校正方法及装置-CN202011554503.5在审
发明人：吴易明;樊鹏格;姚震;聂永明;赵军丽;黄锦鹤 -专利权人：西安中科光电精密工程有限公司
申请日： 2020-12-24 - 公布日： 2021-03-30 - 主分类号： G06T17/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种结构光三维重建校正方法及装置，包括：结构光三维重建系统和标准球位置固定，结构光三维重建系统测量标准球，获得标准球面的测量点云；测量点云进行最小二乘拟合；在结构光三维重建系统的测量视场内移动结构光三维重建系统或者标准球，进行标准球的多次测量和拟合；将结构光三维重建系统的测量点坐标与理论点坐标作对比，分析其深度方向上误差面的分布规律并进行相应的曲面拟合，提取有效误差模型对测量点坐标进行修正。该方法对结构光三维扫描系统的测量结果进行直接校正，可直接对应测量任务，能实现测量精度的直接提升；无需分析复杂的结构光三维重建系统理论几何模型，校正方法原理简单，易于实现。
一种结构三维重建校正方法装置

[发明专利]一种轮对几何参数在线测量系统及其方法-CN201510080858.8有效
发明人：邵双运;冯其波;何洪涛 -专利权人：北京交通大学
申请日： 2015-02-13 - 公布日： 2017-10-13 - 主分类号： B61K9/12 文献下载
摘要：本发明提供一种轮对几何参数在线测量系统及其方法，系统包括至少一个测量单元，所述测量单元包括至少一组传感器组，每个所述传感器组包括第一结构光传感器和第二结构光传感器，所述第一结构光传感器为多线结构光传感器，所述第一结构光传感器设于所述轮对轨道的内侧，所述第二结构光传感器设于所述轮对轨道的外侧。通过本发明的测量系统，实现了对轮对几何参数的快速、精确的在线测量。
一种轮对几何参数在线测量系统及其方法

[发明专利]一种升降式的多视角三维轮廓测量系统及工作方法-CN202110456000.2在审
发明人：王昭;黄军辉;李子君;高建民;段琼琼;邢超;祁苗伟 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2021-04-26 - 公布日： 2021-09-03 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种升降式的多视角三维轮廓测量系统及工作方法，本发明的结构光测量系统以三角测量原理为基础，由结构光测头沿不同角度分布于工件周围，且每台结构光测头相对整个测量系统的各自位置固定并精确已知，该测量系统由升降系统带动工件上下移动结构光测头测量工件不同视角的三维轮廓数据。每台结构光测头由至少一台相机和一台投影仪组成，通过投影结构光图案到工件并拍摄，经过后处理分析，得到工件表面三维轮廓。依靠快速的投影拍摄技术，结合精确的标定参数，可以实现工件表面高速、较高精度的测量。
一种升降视角三维轮廓测量系统工作方法

[发明专利]基于远心相机模型的线结构光测量方法、装置及测量设备-CN202111411985.3在审
发明人：刘少丽;王桢杰;张文雄;戚慧志 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2021-11-25 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： G01B11/22 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于远心相机模型的线结构光测量方法、装置及测量设备，所述方法包括：对目标测量系统进行标定，确定所述目标测量系统的待标定参数；其中，所述目标测量系统利用远心相机模型构建；所述待标定参数包括所述目标测量系统中远心相机的内参数、外参数，以及光平面法向量；通过所述远心相机，采集待测物体在所述目标测量系统中的第一光条图像；根据所述待标定参数和所述第一光条图像，确定所述目标测量系统的光平面与所述待测物体表面交线处两个空间点之间的相对三维坐标上述方案，解决了现有技术难以实现应用远心镜头进行线结构光微细测量的问题。
基于相机模型结构测量方法装置测量设备

[发明专利]一种用于SERF原子惯性测量装置激光双稳频光路系统-CN201910034846.X有效
发明人：翟跃阳;李秀飞;宁晓琳;全伟;房建成 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2019-01-15 - 公布日： 2021-01-19 - 主分类号： H01S3/137 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于SERF原子惯性测量装置激光双稳频光路系统，该双稳频光路系统对SERF惯性测量装置的抽运激光器及检测激光器进行同时频率锁定，为实现SERF高精度测量提供高频率稳定度的双激光光源，该系统主要包括抽运激光稳频光路结构、频率稳定度传递光路结构、和检测激光稳频光路结构和拍频检测光路结构几部分。抽运激光稳频光路结构用于对SERF惯性测量装置抽运光进行频率锁定；频率稳定度传递光路用于将抽运光的频率稳定度传递给检测激光；检测激光稳频光路系统用于对SERF惯性测量装置检测激光进行频率锁定；拍频检测系统用于对检测激光的频率稳定度进行检测本发明光路布局合理，结构紧凑，安装调节方便，实验操作简单。
一种用于 serf 原子惯性测量装置激光双稳频光路系统

[发明专利]一种客观验光仪的光学系统-CN98107168.6无效
发明人：朱林泉;刘增禄;赵剡;郭庭麟 -专利权人：华北工学院
申请日： 1998-03-30 - 公布日： 2000-08-09 - 主分类号： A61B3/103 文献下载
摘要：本发明涉及一种客观验光仪的光学系统，它属于测量人眼屈光不正程度的光学系统。该光学系统包括投影光路、测量光路、固视系统和被测眼定位监示系统。投影光路与测量光路分别为独立的光路，解决了同光路设计中形成杂光噪声的现象。因此本发明具有有效降低了杂光噪声，保证了测量结果的准确性，结构简单、工艺性好等优点。
一种客观验光光学系统

[发明专利]外场多束线结构光视觉测量系统的快速标定方法-CN201510481747.8有效
发明人：刘峰;王向军;吴凡路;董清亮;高超 -专利权人：天津大学
申请日： 2015-08-07 - 公布日： 2017-07-11 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明属于机器视觉测量技术领域。为提供一种外场多束线结构光视觉测量系统的快速标定方法及装置，用于在外场非合作条件下的多束线结构光视觉测量系统快速标定。为此，本发明采取的技术方案是，外场多束线结构光视觉测量系统的快速标定方法，激光发射装置发出的多束线结构光投射到各自标定板上，测量相机只需拍摄一幅图片即可实现快速标定，建立测量相机与各激光面的物像关系，完成视觉测量系统测量基准的构建；其中，快速标定具体步骤式，首先采用张氏标定法提前标定测量相机的内参，而外参标定过程分为三个步骤。本发明主要应用于机器视觉测量。
外场多束线结构视觉测量系统快速标定方法

[发明专利]玻璃在线颜色及反射率的测量系统及其测量方法-CN201410081233.9无效
发明人：赵连芳;埃德加·吉尼奥;朱峥嵘 -专利权人：昆山胜泽光电科技有限公司
申请日： 2014-03-07 - 公布日： 2014-06-11 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：本发明公开了一种玻璃在线颜色及反射率的测量系统及其测量方法，包括测量光源、光学分析器以及参考光片，所述测量光源发出的光照射在测量样品上后反射至光学分析器内，所述参考光片可水平旋转置于测量样品的上方，且参考光片旋转后位于测量光源发出的光所经过的光路上，并反射测量光源发出的光至光学分析器内，本发明的玻璃测量系统可以在任何测量位置进行光参考片的选取，尤其是当需要需要在测量位置取参考光以增加测量精度时，且该系统结构简单，安装使用方便，通过这种测量系统进行玻璃表面颜色及亮度测量时，测量精度高，效率快。
玻璃在线颜色反射率测量系统及其测量方法

[发明专利]一种基于双相机测量系统及结构光传感器的实时在线测量方法-CN201610676502.5有效
发明人：李彦辉;王河伟;孙世杰;范钦红;冯鹏飞 -专利权人：郑州辰维科技股份有限公司
申请日： 2016-08-16 - 公布日： 2019-01-11 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于双相机测量系统及结构光传感器的实时在线测量方法，将双相机测量系统与结构光传感器组合使用，将结构光传感器固定在一个测量标定板上，在测量标定板的上面粘贴摄影测量编码标志，在线测量之前，标定出测量标定板上的摄影测量编码标志在结构光传感器坐标系下的三维坐标，将这些摄影测量编码标志作为标定数据实现三维数据的拼接；在系统标定的基础上实现在线测量，测量标定板每移动一个位置，双相机测量系统通过测量标定板上的摄影测量编码标志点，将结构光传感器采集的二维方向的坐标数据转换成三维方向的坐标数据即可；本发明具有测量效率高，速度快，测量准确，有效用于各种产品外形尺寸的在线检测，具有很强的实际应用价值。
一种基于相机测量结构传感器实时在线测量方法

[实用新型]玻璃在线颜色及反射率的测量系统-CN201420101258.6有效
发明人：赵连芳;埃德加·吉尼奥;朱峥嵘 -专利权人：昆山胜泽光电科技有限公司
申请日： 2014-03-07 - 公布日： 2014-07-30 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种玻璃在线颜色及反射率的测量系统，包括测量光源、光学分析器以及参考光片，所述测量光源发出的光照射在测量样品上后反射至光学分析器内，所述参考光片可水平旋转置于测量样品的上方，且参考光片旋转后位于测量光源发出的光所经过的光路上，并反射测量光源发出的光至光学分析器内，本实用新型的玻璃测量系统可以在任何测量位置进行光参考片的选取，尤其是当需要需要在测量位置取参考光以增加测量精度时，且该系统结构简单，安装使用方便，通过这种测量系统进行玻璃表面颜色及亮度测量时，测量精度高，效率快。
玻璃在线颜色反射率测量系统

[发明专利]一种同视机-CN202010780061.X有效
发明人：王旻舒;布娟;刘敬 -专利权人：北京大学第三医院（北京大学第三临床医学院）
申请日： 2020-08-05 - 公布日： 2022-02-08 - 主分类号： A61B3/08 文献下载
摘要：本发明涉及一种同视机，包括具有光路系统的结构；光路系统包括显示光路系统或/和测量光路系统。本技术方案的同视机利用光学组件对正交偏振显示器的显示图像形成测量图像，光学组件对待测的左眼和右眼分别形成显示光路，并将红外光源发出的红外光形成测量光路，实现主觉斜视度测量和他觉斜视度测量，并通过红外偏振相机对检测者的眼球进行图像采集并计算，解决现有同视机结构体积大/需要手动机械调节，且操作费时费力和定位不精准的问题，提高对人眼检测的测量精度。
一种

[发明专利]用于测量机床中工具的测量系统-CN201711002284.8有效
发明人： M·克鲁格;A·希尔德布兰德;N·莫斯奇 -专利权人：德国波龙科技有限公司
申请日： 2017-10-24 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： B23Q17/22 文献下载
摘要：一种非接触测量式测量系统，具有用于确定机床中工具的位置或者旋转工具的最长刃口的非接触测量式测量设备，所述测量设备具有光发送器部和光接收器部。光阻挡系统由所述光发送器部和所述光接收器部形成，所述光发送器部和所述光接收器部中的每个都与所述测量设备的基本上U形支持结构的腿部结合。与所述测量设备结合的流体喷吹设备被设置用于清洁待测量的工具，和/或密封空气供给部被设置在被设计为光阻挡测量系统的所述测量设备的测量光束的区域中，和/或保护/或封闭设备被设置在被设计为光阻挡测量系统的所述测量设备的所述光发送器部和/或所述光接收器部处。
用于测量机床工具系统

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