专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种万向夹头调节座-CN202020564977.7有效
  • 何完成;朱峥嵘;张庞庞;陈林生;朱华 - 昆山胜泽光电科技有限公司
  • 2020-04-16 - 2020-12-01 - B25B11/00
  • 一种万向夹头调节座,包括底座和设置在所述底座上可左右调节的转臂,所述底座下方设有用于在滑台上移动的滑块,所述转臂的端部设有夹头,所述夹头内设有光纤,所述转臂上设有过孔,所述光纤通过过孔接入所述夹头内,所述夹头内部还装有用于调节光束焦点的透镜,本实施例的有益效果是:其结构简单,设计合理,提供了一种用于在线光学反射膜厚测量的测头夹持、调节装置,目的是调整测头相对于被测膜面的位置及角度来保证测量的精度,本结构既保证了测量所需的调节精度,又能适应各类使用场合,具有广阔的应用前景。
  • 一种万向夹头调节
  • [实用新型]一种台式膜厚测量装置-CN202020577177.9有效
  • 何完成;朱峥嵘;张庞庞;陈林生;朱华 - 昆山胜泽光电科技有限公司
  • 2020-04-17 - 2020-09-22 - G01B11/06
  • 一种台式膜厚测量装置,包括盒体、十字移动平台、硅片托盘、遮光罩、测头、微分调节器、光纤、悬臂、电源输入口、信号输出口;十字移动平台移动式地安装在盒体顶面,硅片托盘固定在十字移动平台上;测头通过悬臂安装并配有微分调节器,其位于硅片托盘上方,测头上安装遮光罩;悬臂底部固定连接于盒体的一侧,并设有电源输入口和信号输出口。本装置用于离线膜厚测量,适用于生产线的采样测量控制及精密涂膜的实验室研究等,多参数可调,能适应不同样品的测量。
  • 一种台式测量装置
  • [实用新型]一种可移动的光学反射膜厚测量装置-CN202020589851.5有效
  • 何完成;朱峥嵘;张庞庞;陈林生;朱华;王威 - 昆山胜泽光电科技有限公司
  • 2020-04-20 - 2020-09-18 - G01B11/06
  • 本实用新型涉及一种可移动的光学反射膜厚测量装置,包括主机箱体,所述主机箱体的上端面设置有显示屏结构,所述主机箱体的长度侧面设置有两条中心对称的垂直导轨结构,两条所述垂直导轨结构的中间位置设置有垂直调节丝杆结构,两条所述垂直导轨结构和所述垂直调节丝杆结构远离所述主机箱体的端面上横向的设置有水平导轨结构,所述水平导轨结构远离所述主机箱体的侧面上设置有伸出导杆结构,所述伸出导杆结构通过若干个移动块结构与所述水平导轨结构相连接,所述伸出导杆结构的末端设置有测头结构,所述伸出导杆结构远离所述测头结构的一端设置有角度调节手轮结构,所述水平导轨结构远离所述测头结构的一侧设置有水平伸出调节手轮结构。
  • 一种移动光学反射测量装置
  • [发明专利]测量AR减反膜厚度和折射率的装置-CN201310210421.2在审
  • 朱峥嵘;埃德加·吉尼奥;赵连芳 - 昆山胜泽光电科技有限公司
  • 2013-05-31 - 2014-12-17 - G01B11/06
  • 本发明公开了一种测量AR减反膜厚度和折射率的装置,包括至少两个光源和一个计算装置,以及对应每个光源的光学系统、光线接收器和光谱分析装置,所述每个光源的光线通过对应的光学系统以大于0度且小于90度的倾斜角照射至AR减反膜膜面同一侧的同一点,且反射后的光线被对应的光线接收器接收,所述每个光线接收器通过光路或光纤连接对应的光谱分析装置,且每个光谱分析装置均通过数据线连接计算装置,本发明的AR减反膜测量装置具有结构简单,测量速度快,测量准确的特点。与椭偏仪相比,本装置无活动部件,所以运行的可靠性很高,同时信号采集速度也很高,所以可以用于在线测量。
  • 测量ar减反膜厚度折射率装置
  • [实用新型]玻璃在线颜色及反射率的测量系统-CN201420101258.6有效
  • 赵连芳;埃德加·吉尼奥;朱峥嵘 - 昆山胜泽光电科技有限公司
  • 2014-03-07 - 2014-07-30 - G01N21/25
  • 本实用新型公开了一种玻璃在线颜色及反射率的测量系统,包括测量光源、光学分析器以及参考光片,所述测量光源发出的光照射在测量样品上后反射至光学分析器内,所述参考光片可水平旋转置于测量样品的上方,且参考光片旋转后位于测量光源发出的光所经过的光路上,并反射测量光源发出的光至光学分析器内,本实用新型的玻璃测量系统可以在任何测量位置进行光参考片的选取,尤其是当需要需要在测量位置取参考光以增加测量精度时,且该系统结构简单,安装使用方便,通过这种测量系统进行玻璃表面颜色及亮度测量时,测量精度高,效率快。
  • 玻璃在线颜色反射率测量系统
  • [实用新型]测量AR减反膜厚度和折射率的装置-CN201320307355.6有效
  • 朱峥嵘;埃德加·吉尼奥;赵连芳 - 昆山胜泽光电科技有限公司
  • 2013-05-31 - 2013-11-06 - G01B11/06
  • 本实用新型公开了一种测量AR减反膜厚度和折射率的装置,包括至少两个光源和一个计算装置,以及对应每个光源的光学系统、光线接收器和光谱分析装置,所述每个光源的光线通过对应的光学系统以大于0度且小于90度的倾斜角照射至AR减反膜膜面同一侧的同一点,且反射后的光线被对应的光线接收器接收,所述每个光线接收器通过光路或光纤连接对应的光谱分析装置,且每个光谱分析装置均通过数据线连接计算装置,本实用新型的AR减反膜测量装置具有结构简单,测量速度快,测量准确的特点。与椭偏仪相比,本装置无活动部件,所以运行的可靠性很高,同时信号采集速度也很高,所以可以用于在线测量。
  • 测量ar减反膜厚度折射率装置
  • [发明专利]非等间距DQPSK耦合干涉信号解调方法-CN201210326782.9有效
  • 王欢 - 昆山胜泽光电科技有限公司
  • 2012-09-06 - 2012-12-19 - H04L27/227
  • 本发明公开了一种非等间距DQPSK耦合干涉信号解调方法,包括以下步骤:(1)将DPSK信号经过Coupler(耦合器)进行分路,分成两个不同强度的DPSK光信号;(2)双平行调制器中的上、下两个MZM(马赫增得调制器)与步骤(1)中的Coupler(耦合器)连接,对上、下路的DPSK光信号进行调制,下路的MZM(马赫增得调制器)后连接设置一90度相位移器;(3)将上、下路的DPSK光信号通过另一Coupler(耦合器)相互耦合干涉后得到DQPSK光信号;(4)将相互耦合干涉后的DQPSK光信号经过一个单元码的延迟后进入PD(光子探测器),获取数据信号,本发明将DPSK信号进入双平行调制器之前就分成两路不同强度的光信号,得到的DQPSK数据信号各码元之间是非等间距的,就可以轻易区分调节的结果,同时只需要用一个DI和PD即可实现解调。
  • 间距dqpsk耦合干涉信号解调方法
  • [实用新型]多类型玻璃瑕疵检测装置-CN201220144442.X有效
  • 朱峥嵘;埃德加·吉尼奥 - 昆山胜泽光电科技有限公司
  • 2012-04-09 - 2012-10-31 - G01N21/958
  • 本实用新型公开了一种多类型玻璃瑕疵检测装置,其装置包括一显像屏,显示玻璃表面的物质或者瑕疵;一透镜;一第一分光镜,导出部分光源;一第二分光镜,将部分导出的光源引射到显像屏;第一反光镜和第二反光镜,用于反射导出的部分光源。所述显像屏、透镜、第二分光镜和第一分光镜依次设于主光轴上,所述两片反光镜位于主光轴一侧,本实用新型只采用一个单独的成像系统就可以包含成像技术和影相技术的双方面的好处和特点,同时,这个装置还有检测不同中玻璃瑕疵,节约成本,增加效益的好处。
  • 类型玻璃瑕疵检测装置
  • [发明专利]多类型玻璃瑕疵检测装置及检测方法-CN201210100519.8无效
  • 朱峥嵘;埃德加·吉尼奥 - 昆山胜泽光电科技有限公司
  • 2012-04-09 - 2012-07-25 - G01N21/958
  • 本发明公开了一种多类型玻璃瑕疵检测装置及检测方法,其装置包括一显像屏,显示玻璃表面的物质或者瑕疵;一透镜;一第一分光镜,导出部分光源;一第二分光镜,将部分导出的光源引射到显像屏;第一反光镜和第二反光镜,用于反射导出的部分光源。所述显像屏、透镜、第二分光镜和第一分光镜依次设于主光轴上,所述两片反光镜位于主光轴一侧,本发明只采用一个单独的成像系统就可以包含成像技术和影相技术的双方面的好处和特点,同时,这个装置还有检测不同中玻璃瑕疵,节约成本,增加效益的好处。
  • 类型玻璃瑕疵检测装置方法

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