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[发明专利]基于线阵式CCD惯导基准棱镜失准角自适应测量方法-CN201610673251.5在审
发明人：李春权;周海;王勇;张力 -专利权人：湖北航天技术研究院总体设计所
申请日： 2016-08-11 - 公布日： 2016-11-23 - 主分类号： G01C25/00 文献下载
摘要：本发明提出的基于线阵式CCD惯导基准棱镜失准角自适应测量方法，由LED发射光源1、准直分划板2、线阵CCD接收器件3、分光棱镜4、准直物镜5、平面镜6构成的准直光路及CCD信号处理模块组成的测量系统，将准直回光信号转换为电信号，经信号处理后得到俯仰或水平方向的失准角。由于线阵CCD的采样行频高、像素多、感光面长，以其代替面阵CCD，可以提高自准直的测量频率，扩大测量范围，同时保证高测量精度。
基于阵式 ccd 基准棱镜失准自适应测量方法

[发明专利]复合制导系统初始姿态现场校准系统及方法-CN201410200305.7有效
发明人：崔桂利;冯伟利;王春喜;赵天承;王锴磊;魏小林;郭雨蓉;姜云翔 -专利权人：北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院
申请日： 2014-05-13 - 公布日： 2017-12-22 - 主分类号： G01C25/00 文献下载
摘要：该系统中第一光路系统的准直分划板A经过第一光路系统照射在捷联惯组基准棱体后，反射至线阵CCD器件A上；第二光路系统中的准直分划板B1和准直分划板B2经过第二光路系统照射在捷联惯组基准棱体后，分别反射至线阵CCD器件B1线阵CCD器件B2上；第三光路系统的准直分划板C经过第三光路系统照射在星敏感器基准棱体后，反射至线阵CCD器件C上；第四光路系统的准直分划板D1以及准直分划板D2经过第四光路系统后，分别反射至线阵CCD器件D1和线阵CCD器件D2上。
复合制导系统初始姿态现场校准方法

[发明专利]一种非接触式工件尺寸测量的方法及系统-CN202111081381.7在审
发明人：黄长明;韩海潮;周小芳;赵波;黄振芬;张凡;王凯雷 -专利权人：长治学院
申请日： 2021-09-15 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种非接触式工件尺寸测量的方法及系统，系统包括光纤耦合半导体激光器、光纤准直镜、线阵CCD、标准块/待测工件、调节套筒、CCD线阵面板、示波器、支杆/激光管夹持器、导轨、光纤、信号测试线，光纤耦合半导体激光器通过光纤与安装在导轨一侧的光纤准直镜相连接，导轨中部安装有调节套筒，调节套筒上安装有标准块/待测工件，导轨另一侧安装有线阵CCD，安装时，使得从光纤准直镜中由光纤耦合半导体激光器发出的激光与线阵CCD、标准块/待测工件保持在同一水平位置，线阵CCD与CCD线阵面板相连接，CCD线阵面板通过信号测试线与示波器相连接。本发明利用线阵CCD和示波器达到测量工件尺寸目的。
一种接触工件尺寸测量方法系统

[发明专利]一种半导体激光阵列合束装置-CN201710007891.7在审
发明人：肖伟;潘华东;廖新胜;杨松;周军 -专利权人：苏州长光华芯光电技术有限公司
申请日： 2017-01-05 - 公布日： 2017-03-22 - 主分类号： H01S5/40 文献下载
摘要：本发明公开了一种半导体激光阵列合束装置，包括激光器线阵阵列、快轴准直镜、慢轴准直镜、透镜、第一级光栅、反馈元件、反射合束镜与第二级光栅。激光器线阵阵列包括M个激光器线阵，每个激光器线阵包括多个激光单元；每个激光器线阵分别通过快轴准直镜准直后平行出射至慢轴准直镜对慢轴光斑进行准直，再采用透镜将每一激光单元的光束聚焦至第一级光栅上，形成一束激光束本发明可实现对多个激光线阵的光谱合束，其光束质量相当于单个激光单元，输出功率远超单个激光线阵的半导体激光光源。
一种半导体激光阵列束装

[实用新型]复合制导系统初始姿态现场校准系统-CN201420243230.6有效
发明人：崔桂利;冯伟利;王春喜;赵天承;王锴磊;魏小林;郭雨蓉;姜云翔 -专利权人：北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院
申请日： 2014-05-13 - 公布日： 2014-10-01 - 主分类号： G01C25/00 文献下载
摘要：该系统中第一光路系统的准直分划板A经过第一光路系统照射在捷联惯组基准棱体后，反射至线阵CCD器件A上；第二光路系统中的准直分划板B₁和准直分划板B₂经过第二光路系统照射在捷联惯组基准棱体后，分别反射至线阵CCD器件B₁线阵CCD器件B₂上；第三光路系统的准直分划板C经过第三光路系统照射在星敏感器基准棱体后，反射至线阵CCD器件C上；第四光路系统的准直分划板D₁以及准直分划板D₂经过第四光路系统后，分别反射至线阵CCD器件D₁和线阵CCD器件D₂上。
复合制导系统初始姿态现场校准

[发明专利]一种双光路X射线无损检测装置-CN201210596427.3无效
发明人：韩晓耕;张勇;田文文;段辉 -专利权人：天津欣维检测技术有限公司
申请日： 2012-12-27 - 公布日： 2014-07-02 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明提供一种双光路X射线无损检测装置，包括放射源、前准直器、测量台、被测工件、后准直器、线阵探测器、康普顿探测器、保护外壳以及控制系统，其中前准直器为无散射狭缝，后准直器为高分辨率的多平行束准直器。测量时，通过控制系统控制测量台进行圆周方向步进转动和竖直方向的移动，放射源、前准直器、后准直器、线阵探测器、康普顿探测器的中心延长线均指向被测工件上的检测部位；所述后准直器设于康普顿探测器和线阵探测器前端以排除杂散射线
一种双光路射线无损检测装置

[实用新型]一种双光路X射线无损检测装置-CN201220754700.6有效
发明人：韩晓耕;张勇;田文文;段辉 -专利权人：天津欣维检测技术有限公司
申请日： 2012-12-27 - 公布日： 2013-06-26 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本实用新型提供一种双光路X射线无损检测装置，包括放射源、前准直器、测量台、被测工件、后准直器、线阵探测器、康普顿探测器、保护外壳以及控制系统，其中前准直器为无散射狭缝，后准直器为高分辨率的多平行束准直器测量时，通过控制系统控制测量台进行圆周方向步进转动和竖直方向的移动，放射源、前准直器、后准直器、线阵探测器、康普顿探测器的中心延长线均指向被测工件上的检测部位；所述后准直器设于康普顿探测器和线阵探测器前端以排除杂散射线
一种双光路射线无损检测装置

[发明专利]一种激光二极管线阵/面阵的光束整形系统-CN201410014563.6有效
发明人：刘楚;赵正一;黄永亮;张贺;王海军 -专利权人：中国联合网络通信集团有限公司
申请日： 2014-01-13 - 公布日： 2014-04-23 - 主分类号： G02B27/09 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种激光二极管线阵/面阵的光束整形系统，可实现大功率激光二极管线阵/面阵的高效耦合输出、结构简单、易于生产；所述光束整形系统包括位于激光二极管线阵/面阵的光输出端的准直透镜、位于所述准直透镜的光输出端的光束整形器、与所述光束整形器的光输出端相连的光束积分器、以及与所述光束积分器的光输出端相连的耦合光纤；其中，所述准直透镜用于将线阵/面阵的激光进行快轴准直；所述光束整形器用于将准直后的光束整形重排；所述光束积分器用于将整形重排后的光束聚焦；所述耦合光纤用于将聚焦后的光束输出；用于大功率激光二极管线阵/面阵的耦合输出。
一种激光二极管线光束整形系统

[发明专利]一种基于旋转线阵显示像源的大视场视景系统-CN201911372291.6在审
发明人：屠晓伟;杨建明;杨庆华;何伟康 -专利权人：上海大学
申请日： 2019-12-27 - 公布日： 2020-05-08 - 主分类号： G09F9/37 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于旋转线阵显示像素的大视场显示系统。它包括线阵显示像素，球面准直镜；所述线阵显示像素通过旋转，产生环状曲面屏幕。球面准直镜位于环状曲面屏幕下方一定位置，球面准直镜能够将曲面屏幕上的图像经过准直之后反射到人眼，在人眼处呈现无限远的虚像。本发明可以用于飞行模拟器中虚像显示系统，能够增大亮度和视场角，同时减小体积。
一种基于旋转显示视场系统

[发明专利]一种激光准直调校装置-CN200910310300.9无效
发明人：孙建华;李宁;何先灯 -专利权人：西安华科光电有限公司
申请日： 2009-11-24 - 公布日： 2011-05-25 - 主分类号： G02B27/30 文献下载
摘要：本发明一种激光准直调校装置，该装置包括用于产生激光的准直激光发生器、用于将准直激光发生器发射的激光投射给线阵CCD图像传感器的激光半透半反棱镜、数字处理单元和计算机，所述线阵CCD图像传感器通过数字处理单元
一种激光调校装置

[发明专利]一种高分辨率的线阵CCD直读型光谱仪-CN201610832973.0有效
发明人：万助军;颜世佳;占爽;冯冬;罗志祥 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2016-09-19 - 公布日： 2018-01-30 - 主分类号： G01J3/42 文献下载
摘要：本发明提供了一种高分辨率的线阵CCD直读型光谱仪，包括入射模块、准直镜、光栅、聚焦镜和线阵CCD芯片；准直镜设置在入射模块的出射光路上，光栅设置在所述准直镜的出射光路上，聚焦镜设置在光栅的出射光路上，线阵CCD芯片设置在所述聚焦镜的出射光路上；入射模块用于将光谱仪的工作波段分割为数个子波段，并控制每次只有一个子波段的光束出射；准直镜用于将所述入射模块的出射光准直后以不同倾角入射在光栅上，以不同倾角入射的不同子波段的光束的中心波长具有相同的衍射角，经所述光栅反射的光再经所述聚焦镜后投射在线阵CCD芯片上。
一种高分辨率 ccd 直读光谱仪

[发明专利]便于光开关的光谱仪-CN201811403023.1在审
发明人：苑高强;刘民玉 -专利权人：高利通科技（深圳）有限公司
申请日： 2018-11-23 - 公布日： 2020-06-02 - 主分类号： G01J3/12 文献下载
摘要：本发明公开了一种便于光开关的光谱仪，包括设置在外壳内的狭缝组件、光通道控制组件、准直镜、光栅、成像镜、线阵光电探测器；所述狭缝组件，用于将被测光通过其中的狭缝导入并投射到准直镜；所述光通道控制组件，用于通过开启或关闭其中的光开关控制通过狭缝后的被测光能否投射到准直镜；所述准直镜，用于将所述被测光准直反射到光栅；所述光栅，用于将所述被测光衍射到成像镜；所述成像镜，用于将所述衍射后的被测光聚焦到线阵光电探测器；所述线阵光电探测器，用于接收所述衍射后的被测光而获得相应的光谱
便于开关光谱仪

[实用新型]一种便于光开关的光谱仪-CN201821936385.2有效
发明人：苑高强;刘民玉 -专利权人：高利通科技（深圳）有限公司
申请日： 2018-11-23 - 公布日： 2019-09-17 - 主分类号： G01J3/12 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种便于光开关的光谱仪，包括设置在外壳内的狭缝组件、光通道控制组件、准直镜、光栅、成像镜、线阵光电探测器；所述狭缝组件，用于将被测光通过其中的狭缝导入并投射到准直镜；所述光通道控制组件，用于通过开启或关闭其中的光开关控制通过狭缝后的被测光能否投射到准直镜；所述准直镜，用于将所述被测光准直反射到光栅；所述光栅，用于将所述被测光衍射到成像镜；所述成像镜，用于将所述衍射后的被测光聚焦到线阵光电探测器；所述线阵光电探测器，用于接收所述衍射后的被测光而获得相应的光谱。
测光准直镜光电探测器光栅成像镜光开关狭缝线阵衍射本实用新型光谱仪控制组件狭缝组件光通道投射光开关控制光纤光谱仪有效地控制外部光光谱准直反射臃肿装配聚焦

[发明专利]一种基于射线辐射成像系统的无损检测装置-CN202111627866.1在审
发明人：李建 -专利权人：华清核测科技（苏州）有限公司
申请日： 2021-12-28 - 公布日： 2022-04-08 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于射线辐射成像系统的无损检测装置，包括基座、设置在基座上的两个立柱和载物台，一个立柱上设置有线阵探测器单元，另一立柱上设置有射线源，两安装座均可上下滑动安装在所述立柱上；所述线阵探测器单元包括座板、滑板、线阵探测器、后准直器，线阵探测器和后准直器均固定安装在滑板上，后准直器上设置有射线准直通道，射线准直通道的宽度为探测器射线入射窗口宽度的N分之一，滑板可滑动安装在座板上，滑板每次的滑动距离为射线入射窗口宽度的本发明利用后准直器缩小了探测器射线入射窗口接收射线的宽度，提高了辐射成像的分辨率，在现有技术难以减小探测器窗口宽度的情况下，为提高射线辐射成像系统的分辨率开创了一条新的技术路径。
一种基于射线辐射成像系统无损检测装置

[发明专利]一种线阵MicroLED扫描AR设备-CN202310154631.8有效
发明人：孙寒;孙雷 -专利权人：北京数字光芯集成电路设计有限公司
申请日： 2023-02-23 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G02B27/01 文献下载
摘要：本发明涉及一种线阵Micro LED扫描AR设备，包括：线阵像素输出单元，用于基于一帧图像数据输出连续的多帧列图像数据，用于基于一扫描周期信号控制线阵像素数据的输出时间间隔；线阵发光单元，用于接收一列图像数据，按照列像素对应产生多束发光光束；准直光学线阵，对所述线阵发光单元发出的多束发光光束进行准直；周期性运动反射元件，对所述准直后的条形光束反射到在预定角度范围内进行扫描；调焦成像镜头组，将所述预定方向的多束光束经过调焦后照射到成像出射单元本发明的设备由于采用了线阵发光单元结构，芯片像素少，芯片面积小，因此，总体体积小，而且芯片良品率高，能有效降低成本。
一种 microled 扫描 ar 设备

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