专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种板进料工装-CN202220318103.2有效
  • 周超 - 成都庭丰生物制品有限公司
  • 2022-02-17 - 2022-06-14 - B65G47/82
  • 一种板进料工装,包括输送机构及启闭机构,输送机构用于板的进料推送,启闭机构设于输送机构的一侧,用于输送机构一侧的限位及板放置时的启闭控制,本实用新型通过输送机构及启闭机构方便进行板的自动推送上料操作,提高了上料的自动化程度,提高了板上料的效率,同时还方便进行堆叠后的板的放置操作,输送机构能够自动地进行单个板的自动推送操作,从而提高了板推送时的效率,启闭机构的设置方便进行板的放置,同时当板在输送时,能对板进行限位,从而确保板推送的稳定性,具有较强的实用性。
  • 一种目检板进料工装
  • [发明专利]自动方法-CN200610030806.0有效
  • 吴文彬 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2006-09-04 - 2008-03-12 - G01R31/00
  • 一种自动方法,包括:获得晶片良率测试图像;将晶片良率测试图像转化为自动工具可接受的文件格式;对已转换文件格式的晶片良率测试图像进行选择性自动;获得自动图像。采用本发明提供的自动方法,在晶片良率测试与自动及人工之间建立数据链接,提高了检测效率,增强了检测数据的可靠性;应用本发明提供的自动方法可根据实际要求对晶片内任意芯片进行自动,可避免无效检测
  • 自动方法
  • [实用新型]晶圆缺陷装置-CN201020130281.X有效
  • 蔡金玉;王承惠;苏旸;俞洁妮 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2010-03-12 - 2010-12-15 - G01N21/892
  • 本实用新型公开了一种晶圆缺陷装置,其包括宏观机构和微观机构,所述晶圆通过传送机构分别送到宏观机构和微观机构进行检查,其特征在于,所述宏观机构的平台上设有用于检测晶圆的微观结构的光学元件本实用新型晶圆缺陷装置,通过设置在宏观机构的平台上的光学元件,检测人员可以观察到晶圆的环状缺陷、圈状缺陷以及边缘缺陷,从而弥补了现有的晶圆缺陷装置的微观机构无法检测上述缺陷的不足,因而,
  • 缺陷装置
  • [实用新型]一种印字检测装置-CN202220866169.5有效
  • 吴世和;穆云飞 - 南京矽邦半导体有限公司
  • 2022-04-15 - 2022-08-09 - G01B5/00
  • 本实用新型公开了一种电子产品标记、检测技术领域的印字检测装置,旨在解决现有技术中在进行印字检测需切割,影响生产效率等问题,其包括底座和套板,所述底座上设有用于放置产品的凹槽,所述凹槽四周布设有多个用于固定套板的定位针,所述套板的侧边布设有定位孔,所述定位孔与定位针位置相对应,所述套板上还设有多个可目视产品印字位置的开窗,所述套板和底座相适配,使得套板的开窗对准所述底座的凹槽。
  • 一种检测装置
  • [发明专利]晶圆自动系统及自动方法-CN201610006715.7在审
  • 高海林;张学良 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
  • 2016-01-06 - 2017-07-14 - G01D21/02
  • 本发明提供一种晶圆自动系统及自动方法,包括获取模块,适于获取参考晶圆的光学图像及待晶圆的电性测试图;分区模块,适于将参考晶圆的光学图像分为多个面积相等的分区区域,并对各分区区域内的芯片进行编号;叠图模块,适于将编号后的参考晶圆的光学图像与待晶圆的电性测试图叠加;芯片选定模块,适于在待晶圆的电性测试图对应于参考晶圆的光学图像的各个分区区域内按照编号顺序选择需要抽检数量的合格芯片进行本发明的晶圆自动系统及自动方法可实现自动分区及配置芯片,整个操作简便,且操作精确度高;且在自动配置芯片时,可以自动跳过电性不合格的芯片,大大缩短了配置时间,提高了工作效率。
  • 自动系统方法
  • [实用新型]一种板推送装置-CN202220796445.5有效
  • 周毅 - 成都庭丰生物制品有限公司
  • 2022-04-08 - 2022-07-19 - B65G47/82
  • 本实用新型公开了一种板推送装置,包括推送平台、四个限位架和转移机构。限位架通过螺钉连接推送平台,四个限位架矩阵设置,围成限位区,限位区内用于堆叠板;推送平台一端设有推送机构,用于将板从限位区推出去,限位架底部沿板推动方向设有通槽;转移机构设于滑轨上,转移机构用于转移板可以自动将板移动至预设位置。
  • 一种目检板推送装置
  • [实用新型]一种光伏组件系统-CN202021014217.5有效
  • 张洋洋 - 上扬软件(上海)有限公司
  • 2020-06-05 - 2020-11-24 - G05B19/418
  • 本实用新型公开一种光伏组件系统,包括控制CPU、IO设备单元、流水线单元、条码扫描单元和报警指示单元;流水线单元的输送通道上设有工位,工位上设有结果通知按钮;控制CPU通过IO设备单元与流水线单元、条码扫描单元等连接通信,实现控制流水线的组件传输动作、获取组件位置信号、获取到达条码扫描单元安装位置处的光伏组件条码扫描信息、获取结果信号以及控制报警指示单元中指示灯亮起。本实用新型系统可用作光伏组件流水线结构,能够支持光伏组件较高程度自动化自检流程的实现,减少人力投入,提升效率,为信息化生产提供支持。
  • 一种组件系统
  • [发明专利]一种晶圆出货检验方法-CN201410141119.0有效
  • 吴爱国;吴波;张学良 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2014-04-09 - 2018-05-01 - G01R31/26
  • 本发明公开了一种晶圆出货检验的方法,通过基于电性测试的芯片生成晶圆图表,并将该晶圆图表划分为若干个面积相等的区域;于每个所述区域中均设定一起始芯片,并以该起始芯片图形为起点对位于相应区域中的芯片依次进行编号;在将所述的晶圆图表与待测晶圆叠加,于每个所述区域中,以所述起始芯片图形为起点,并按照芯片编号顺序依次对位于该区域中的芯片进行工艺,进而实现晶圆的自动均匀分区并设定所需的芯片,还可跳过无需的芯片,以提高待测晶圆的效率和准确性,减少人力浪费,进一步的提高机台的利用率,节约了生产成本。
  • 一种出货检验方法
  • [发明专利]装置-CN201710317403.2有效
  • 孙超;冯晨丽;刘源 - 上海新昇半导体科技有限公司
  • 2017-05-05 - 2021-04-06 - G01N21/95
  • 本发明提供一种装置,包括:腔室,所述腔室上设有透明观测窗口,所述透明观测窗口包括透明基板及覆盖于所述透明基板内表面的增透膜;夹持装置,位于所述腔室内,适于夹持待检测晶圆,并带动所述待检测晶圆以任意角度旋转;光源,位于所述腔室内,且位于所述夹持装置远离所述透明观测窗口的一侧,适于提供照射至所述待检测晶圆表面的观测光;其中,所述增透膜适于对所述观测光增透。本发明的装置通过在透明观测窗口内侧设置对观测光增透的增透膜,可以避免透明观测窗口在观测光下对晶圆及金属件的反光,不会在待检测晶圆表面形成容易导致误判的投影,从而有效避免误判,提高的准确性。
  • 装置
  • [发明专利]自动方法-CN200910198551.2无效
  • 黄臣;赵庆国 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2009-11-10 - 2011-05-11 - G01N21/84
  • 本发明揭示了一种自动方法,该自动方法包括:获取待检测晶片的电性测试图像;对所述电性测试图像划分区域;对所述电性测试图像的各区域内电性测试合格的芯片进行选择性自动。本发明仅对电性测试图像的各区域内电性测试合格的芯片进行自动,而避免对电性测试不合格的芯片进行重复检测,充分利用了自动工具的产能,提高了检测效率。
  • 自动方法

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