专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]仪表装置及使用其的校准方法-CN201710017182.7有效
  • 赵士春;董立军;刘宝琦 - 北京康斯特仪表科技股份有限公司
  • 2017-01-10 - 2023-10-24 - G01D18/00
  • 本发明的仪表装置包括:物理输入输出单元,其能够输入和输出至少一个第一物理物理测量单元;物理配置单元,其通过运算,从至少一个第一物理的值生成至少一个第二物理的值,或者从至少一个第二物理的值生成至少一个第一物理的值;显示单元;人机交互单元;存储单元;以及控制单元,其进行控制,使得在要测量物理为第二物理并且不需要仪表装置生成并输出至少一个第一物理的标准值来实现该测量的情况下,执行第一模式,在要测量物理为第二物理并且需要仪表装置生成并输出至少一个第一物理的标准值来实现该测量的情况下
  • 仪表装置使用校准方法
  • [发明专利]物理测量装置以及物理测量方法-CN201380006837.0有效
  • 北浦崇弘;御子柴宪彦 - 旭化成微电子株式会社
  • 2013-01-16 - 2014-10-01 - G01D3/028
  • 本发明涉及一种响应性好且能够高效地去除从物理信号输出装置输出的信号所包含的噪声成分来进行高精度的物理测量物理测量装置以及物理测量方法。本发明的物理测量装置(20)根据从物理信号输出装置(21)输出的基于物理的信号来测量物理。校正信号输出部(33)根据在某个测定时刻得到的基于物理的信号、在测定时刻之前得到的校正信号以及滤波器系数来输出新的校正信号。大小关系判定部(31)判定基于物理的信号与在测定时刻之前得到的校正信号的大小关系。第一滤波器系数输出部(32)基于多个上述大小关系来输出第一滤波器系数。
  • 物理量测量装置以及测量方法
  • [发明专利]物理获取方法、装置、电子设备及存储介质-CN202310537728.7有效
  • 王兵;王绪暾;闻浩诚 - 清华大学
  • 2023-05-12 - 2023-09-19 - G16C20/10
  • 本申请公开了一种物理获取方法、装置、电子设备及存储介质,本申请预先训练了物理信息模型,物理信息模型是基于输入样本和输出样本进行模型训练得到的,输入样本为观测位置的时空坐标,输出样本为在观测位置观测到的观测物理物理信息模型针对观测位置的时空坐标输出第一预测量和第二预测量,第一预测量为在观测位置能够被观测的物理,第二预测量为在观测位置处与化学反应相关的物理,第一预测量和第二预测量用于根据观测物理物理信息模型进行训练,由此得到的物理信息模型能够根据目标位置的时空坐标,输出在目标位置能够被观测到的物理和在目标位置处与化学反应相关的物理
  • 物理量获取方法装置电子设备存储介质
  • [发明专利]确定传感器读数计算公式系数的方法及测量物理的方法-CN201910847014.X有效
  • 赖一鹏;翟西斌;于治楼 - 山东浪潮科学研究院有限公司
  • 2019-09-09 - 2023-07-21 - G06F17/15
  • 本发明公开了一种确定传感器读数计算公式系数的方法及测量物理的方法,属于物理测量领域,要解决的技术问题为如何提供一种简化方法确定传感器读数计算公式系数。其方法通过将其中至少一个系数取值0的方式减少系数以得到简化后读数计算公式,基于物理的实际值与AD转换器的最大测量值之间的对比关系、构建简化后读数计算公式中参数与物理测量值之间的关系式,并选取物理测量值代入所述关系式以求解对应的系数测量方法包括:通过确定传感器读数计算公式的方法计算所述读数计算公式的系数;通过所述线性传感器测量待测物理,得到AD转换后的数字量;将所述数字量代入所述读数计算公式,得到所述待测物理的实际测量值。
  • 确定传感器读数计算公式系数方法测量物理量
  • [发明专利]物理测量装置及物理测量方法-CN201110448002.3有效
  • 林圣人 - 东京毅力科创株式会社
  • 2011-12-23 - 2012-07-11 - G01K7/16
  • 本发明确切地测量在温度变化的氛围中处理被处理体时的物理物理测量装置(90)设置在玻璃基板G的表面。物理测量装置(90)包含:测量电路(91);温度传感器(92),其电阻值根据玻璃基板G的温度变化而变化;第一布线(93),其将测量电路(91)与温度传感器(92)连接;虚拟传感器(94),其具有预先规定的电阻值,且电阻值相对于玻璃基板G的温度变化的变化比温度传感器(92)的电阻值相对于玻璃基板G的温度变化的变化小;及第二布线(95),其将测量电路(91)与虚拟传感器(94)连接。第一布线(93)的电阻值相对于玻璃基板G的温度变化的变化与第二布线(95)的电阻值相对于玻璃基板G的温度变化的变化的比率为固定。
  • 物理量测量装置测量方法
  • [发明专利]一种温湿度数据采集方法-CN201310522775.0无效
  • 张清波;李荣正;戴国银 - 上海工程技术大学
  • 2013-10-29 - 2014-01-22 - G01D21/02
  • 本发明公开了一种温湿度数据采集方法,基于相接的单片机和温湿度传感器,包括下列步骤:对所述温湿度传感器进行复位;发送测量温度指令;进行温度测量,得到温度数据;将温度数据转换为温度物理;发送测量湿度指令;进行湿度测量,得到湿度数据;将湿度数据为湿度物理,并对湿度物理进行修正;所述温湿度传感器将得到的温度物理和修正后的湿度物理传给所述单片机。本发明能简单有效地实现传感器复位,同时,根据温、湿度间的关系提高湿度测量的准确性。
  • 一种温湿度数据采集方法

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