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[发明专利]测量方法-CN201880024727.X有效
发明人： N·潘迪;廉晋;S·U·雷曼;M·J·J·贾克 -专利权人： ASML荷兰有限公司
申请日： 2018-03-15 - 公布日： 2022-01-11 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：公开了用于测量在衬底上形成的多个结构的方法和设备。在一种布置中，方法包括从第一测量过程获取数据。第一测量过程包括单独地测量多个结构中的每个结构以测量结构的第一特性。第二测量过程被用于测量多个结构中的每个结构的第二特性。第二测量过程包括利用具有辐射特性的辐射照射每个结构，辐射特性是使用针对该结构所测量的第一特性针对该结构单独地被选择的。
测量方法

[发明专利]借助于图像处理系统测量和检查对象的方法-CN200910008798.3有效
发明人：托马斯·施内肯布格尔 -专利权人：西门子电子集成系统有限责任两合公司
申请日： 2009-09-04 - 公布日： 2010-05-19 - 主分类号： H05K13/04 文献下载
摘要：借助图像处理系统测量和检查对象、特别是自动装配机中电子元件的方法。为待测量的对象生成几何模型，通过该模型，对象的外部表现形式借助特征组、例如角、棱、引线或引线列、插头、定心销的数量和/或位置等描述。除了几何模型外，限定测量过程，其中该测量过程包括至少两个测量步骤。每个测量步骤涉及对象的至少一个拍摄图像和对象的至少一个特征组。可选地，测量过程的一个测量步骤也可涉及至少一个之前的测量步骤的至少一个结果。因为对象的测量和检查过程通过测量过程进而与几何模型分开描述，所以能以简单方式限定复杂的测量过程，由该过程在必要时也可访问之前的测量步骤的结果。由此在测量对象、特别是元件时可快速和灵活地适应新的要求。
借助于图像处理系统测量检查对象方法

[发明专利]调节NB-IOT的测量过程的方法和节点-CN201680078448.2有效
发明人： S·坦加拉萨;M·卡兹米 -专利权人：瑞典爱立信有限公司
申请日： 2016-10-11 - 公布日： 2021-04-13 - 主分类号： H04L1/00 文献下载
摘要：该方法包括获得(504)与将要由节点测量的第一小区(415B)的操作模式相关的信息。该方法包括基于所获得的与第一小区的操作模式相关的信息从多个可能的测量过程中选择(508)测量过程，其中所选择的测量过程的一个或多个测量参数适于第一小区的操作模式。该方法包括使用所选择的测量过程来执行(512)第一小区中的一个或多个测量。
调节 nb iot 测量过程方法节点

[发明专利]一种高精度气密性检测设备的检测方法-CN201711323645.9在审
发明人：张远海;熊宇;廖鸿飞;梁奇峰;左红英;郭艳平;张晟轩 -专利权人：中山火炬职业技术学院
申请日： 2017-12-13 - 公布日： 2018-06-12 - 主分类号： G01M3/32 文献下载
摘要：该检测方法在测量过程中使用补偿值对测量过程影响测量结果的误差进行补偿，使得测量结果更加准确。综上所述，一种高精度气密性检测设备及检测方法的优点在于：本方案通过在测量过程中使用补偿值对测量过程影响测量结果的误差进行补偿，使得测量结果更加准确。
气密性检测设备测量过程检测影响测量结果

[发明专利]5G新无线电波束改进过程-CN202010029157.2在审
发明人：唐嘉;王蓓蓓;张大伟;孙海童;J·O·赛贝尼;赵鹏凯;王萍;曾威;李旸;季竺 -专利权人：苹果公司
申请日： 2020-01-10 - 公布日： 2020-07-17 - 主分类号： H04W72/04 文献下载
摘要：本公开涉及5G新无线电波束改进过程。公开了一种用于无线设备执行实现UE请求波束质量测量过程的机制的方法的装置、系统和方法。用户装置设备可被配置为执行方法，该方法包括将执行用于下行链路接收的波束质量测量过程的请求(例如，P3过程)传输至基站/网络实体，从基站接收执行波束质量测量过程的指令，以及将波束质量测量过程的结果传输至基站执行波束质量测量过程的指令可包括波束质量测量的调度表。
无线电波束改进过程

[发明专利]注射成形机的异常监视方法-CN200710148936.9有效
发明人：加藤利美;箱田隆;宮崎正树 -专利权人：日精树脂工业株式会社
申请日： 2007-09-12 - 公布日： 2008-03-19 - 主分类号： B29C45/76 文献下载
摘要：在监视包含通过正向旋转在尖端安装有逆流防止阀2的螺钉3执行测量的主测量过程Sa和在该主测量过程Sa结束后执行用于关闭所述逆流防止阀2的后测量处理Sb的后测量过程的测量过程中的异常的过程中，在所述后测量处理Sb结束后，所述螺钉3处于可自由旋转的状态并向前移动的注射过程Si被执行，所述螺钉3从该注射过程Si的开始的旋转量Rd被检测，并且，如果检测的旋转量Rd至少超过预先设定量Rs，那么异常处理(S9)被执行
注射成形异常监视方法

[发明专利]使用空间参考信号进行路径损耗确定-CN202080039933.5在审
发明人： J.H.余;周彦;K.韦努戈帕尔;白天阳;J.李;T.罗 -专利权人：高通股份有限公司
申请日： 2020-05-27 - 公布日： 2022-01-04 - 主分类号： H04W52/14 文献下载
摘要：用户设备(UE)可以向基站发送指示UE支持使用空间参考信号来进行信道性能测量过程的配置信号。UE可以从基站接收激活空间参考信号用于信道性能测量过程的激活信号。UE可以至少部分地基于激活信号而使用由基站发送的空间参考信号来执行信道性能测量过程，其中信道性能测量过程包括对信道的路径损耗估计。UE可以至少部分地基于信道性能测量过程的结果而选择用于向基站的上行链路发送的发送功率。UE可以至少部分地基于该发送功率执行向基站的上行链路发送。
使用空间参考信号进行路径损耗确定

[发明专利]基于FPGA的半导体管特性实时测量控制器-CN201010018207.3无效
发明人：肖铁军;赵蕙;纪勇 -专利权人：江苏大学
申请日： 2010-01-19 - 公布日： 2010-07-28 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：基于FPGA的半导体管特性实时测量控制器，包括：微处理器接口模块、测量电路接口模块、测量过程控制模块、测量参数寄存器组模块、测量激励发生模块、波形切割模块和测量结果缓存模块；FPGA测量控制器通过微处理器接口模块与微处理器端总线连接；FPGA测量控制器通过测量电路接口模块与外部测量电路端总线连接。测量参数寄存器组模块用于存储测量控制器测量参数以及表示当前测量状态；测量激励发生模块产生测量电路要求测量控制器输出的与测量过程步调一致的数字激励信号；波形切割模块用于测量定时时序控制；测量结果缓存模块保存测量电路的测量结果；测量过程控制模块协调各模块以及测量电路的工作，控制整个测量过程的有序进行。
基于 fpga 半导体特性实时测量控制器

[发明专利]表面性状测量设备的部件程序生成装置-CN201710157687.3有效
发明人：古贺哲哉;小岛司 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2017-03-16 - 公布日： 2020-11-06 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明涉及一种表面性状测量设备的部件程序生成装置。部件程序生成装置包括：CAD数据存储器，其存储工件的CAD数据；测量条件设定器，其接收用户进行的输入操作并设定测量过程；以及部件程序生成器，其将测量条件设定器设定的测量过程转换成部件程序语言。测量条件设定器为用户提供能够以编辑语言编辑测量过程的窗口以及设置用于设定测量过程的命令作为图标的命令图标作为图形用户界面。
表面性状测量设备部件程序生成装置

[发明专利]表面性状测量设备的控制方法-CN201710158144.3有效
发明人：古贺哲哉;小岛司 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2017-03-16 - 公布日： 2021-08-24 - 主分类号： G05B19/401 文献下载
摘要：本发明涉及一种表面性状测量设备的控制方法。部件程序生成装置包括：CAD数据存储器，其存储工件的CAD数据；测量条件设定器，其接收用户进行的输入操作并设定测量过程；以及部件程序生成器，其将测量条件设定器设定的测量过程转换成部件程序语言。测量条件设定器为用户提供能够以编辑语言编辑测量过程的窗口以及设置用于设定测量过程的命令作为图标的命令图标作为图形用户界面。
表面性状测量设备控制方法

[发明专利]一种数据传输方法以及相关设备-CN201510624685.1有效
发明人：刘鹍鹏;周永行 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2015-09-25 - 公布日： 2021-08-20 - 主分类号： H04W24/02 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种数据传输方法以及相关设备，所述数据传输方法包括：用户设备根据测量进程的类型确定测量过程和反馈的信道状态信息CSI类型，所述测量进程的类型包括对测量信号的导频和测量干扰的导频的定义，不同类型的测量进程对应的测量过程和/或反馈的信道状态信息CSI的类型不同；所述用户设备根据已确定的所述测量过程和/或反馈的CSI的类型进行测量和反馈。用户设备能够根据不同的测量进程的类型，确定不同的测量过程和反馈的信道状态信息CSI类型，从而用户根据能够向基站反馈更为准确的下行信道信息，可提升基站与用户设备之间数据传输的性能。
一种数据传输方法以及相关设备

[发明专利]一种XLPE电缆绝缘检测装置及其抗电磁干扰方法-CN201610679809.0有效
发明人：李化;孙浩飞;刘毅;张钦;林福昌;饶建东 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2016-08-17 - 公布日： 2019-05-03 - 主分类号： G01R31/12 文献下载
摘要：本发明公开了一种XLPE电缆绝缘检测装置及其抗电磁干扰方法，当XLPE电缆悬浮测量时，通过将XLPE电缆置入法拉第笼，实现了电场屏蔽；使用缠绕有低阻屏蔽线的导线作为测量导线，实现了磁场屏蔽；通过低阻屏蔽环，实现测量过程中的沿面泄露干扰。当激励信号源悬浮时，通过将激励源置入法拉第笼的金属外壳中，实现测量过程中的电场屏蔽，使用缠绕有低阻屏蔽线的导线作为测量导线，实现测量过程中的磁场屏蔽；通过低阻屏蔽环，实现测量过程中的沿面泄露干扰。本发明解决了当前XLPE电缆极化‑去极化电流不同接线方式的测量过程中，由于电场干扰，磁场干扰以及沿面泄露对极化‑去极化电流造成的影响问题，提高了XLPE电缆极化‑去极化电流测量的准确性。
测量过程低阻去极化极化绝缘检测装置泄露抗电磁干扰磁场屏蔽电场屏蔽法拉第笼屏蔽环屏蔽线置入缠绕测量激励信号源磁场干扰电场干扰电流测量接线方式金属外壳悬浮测量影响问题激励源悬浮

[实用新型]用于测量过程流体的流量的设备-CN201420403143.2有效
发明人：格雷戈里·罗伯特·斯特罗姆;保罗·蒂莫西·迪根;奥伦瓦德麦劳拉·彼得·迪保-阿扎伊;艾伦·凯姆普耐尔 -专利权人：迪特里奇标准公司
申请日： 2014-07-21 - 公布日： 2015-05-13 - 主分类号： G01F15/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于测量过程流体的流量的设备(102)，所述设备包括细长套筒(110)，所述细长套筒提供穿过该细长套筒的套筒式导管，所述套筒式导管适于与过程管道(104)对准以接收过程流体流。测量仪主体(112)由细长套筒承载并容纳穿过该测量仪主体的套筒式导管。测量仪主体(112)包括从套筒式导管延伸到测量仪主体(112)外的流量测量部件开口(144)。流量部件(170)被构造成放置在测量仪主体(112)的流量测量部件开口(144)中。托架(150)被构造成可移除地安装到测量仪主体(112)并通过流量测量部件开口(144)将流量测量部件(170)连接到套筒式导管。流量测量传送器(116)连接到流量测量部件(170)以根据过程流体与流量测量部件(170)之间的相互作用测量过程流体的流量。
用于测量过程流体流量设备

[实用新型]用于测量过程流体的流量的系统-CN201120371932.9有效
发明人：大卫·L·韦尔斯;约翰·P·米勒;安德鲁·J·科乐森斯基 -专利权人：罗斯蒙德公司
申请日： 2011-09-27 - 公布日： 2012-08-22 - 主分类号： G01F1/36 文献下载
摘要：本申请涉及基于差压的流量测量。一种用于在工业过程中测量过程流体的流量的系统，该过程流体通过工业过程中的过程管道中设置的流量限制元件，包括过程管道中的流量限制元件。第一差压变送器被配置为：测量响应于过程流体的流量的所述流量限制元件上的第一差压。第二差压变送器被配置为：测量所述流量限制元件上所述过程流体中的第二差压。电路基于第一差压和第二差压来执行诊断。
用于测量过程流体流量系统

[发明专利]用于运行流量测量仪的方法和流量测量仪-CN201710485967.7有效
发明人： M.达布罗夫斯基;H.布罗克豪斯 -专利权人：克洛纳测量技术有限公司
申请日： 2017-06-23 - 公布日： 2021-04-09 - 主分类号： G01F25/00 文献下载
摘要：描述并示出用于运行用于执行多个时间上受限的测量过程的流量测量仪的方法，其中流量测量仪有至少一个诊断单元、计数器单元和有至少一个存储器的存储单元，其中计数器单元至少确定流体在测量过程中穿过流量测量仪的总体积，并且其中计数器单元在时间上受限的测量过程期间运行，其中诊断单元识别流量测量仪的至少一个有故障或者无故障的状态。任务（说明用于运行流量测量仪的方法，它确保在各个测量过程中确定的测量值的特别高的可靠性）以下述方式解决：诊断单元基于状态产生至少一个状态信号；状态信号传送至存储单元并且存储在存储单元的存储器中；如果多个状态信号被传送，则这些状态信号累积地至少在测量过程期间存储在存储单元的存储器中。
用于运行流量测量仪方法