专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]ETL的测试方法、装置和电子设备-CN202210956013.0在审
  • 宋远芳 - 中银金融科技有限公司
  • 2022-08-10 - 2022-11-08 - G06F11/36
  • 本发明提供一种ETL的测试方法、装置和电子设备,涉及软件测试技术领域。该ETL的测试方法包括:在对待测试ETL进行测试时,通过调用并运行待测试ETL的测试内容对应的测试脚本,得到测试结果;其中,测试内容包括数据抽取、数据转换或者数据载入中的至少一种;测试脚本中包括测试测试ETL所采用的测试数据和测试内容的相关测试指令;并基于测试结果对待测试ETL进行自动化测试,实现了对ETL的自动化测试,解决了人工测试过程中抽查覆盖度不够及测试人员能力不足的问题,从而有效地提高了ETL的测试效率。
  • etl测试方法装置电子设备
  • [发明专利]一种测试方法、测试装置及存储介质-CN202210003917.1在审
  • 郭旭 - 北京小米移动软件有限公司
  • 2022-01-04 - 2023-07-14 - G06F11/22
  • 本公开是关于一种测试方法、测试装置及存储介质。测试方法应用于测试服务器,包括:响应于确定监测到测试触发信号,获取测试配置文件;基于测试配置文件,向云端发送测试请求,测试请求中包括测试配置文件;从云端获取匹配测试配置文件的测试模型以及测试数据;确定执行测试的终端,并获取终端配置信息;基于终端配置信息,确定终端执行测试测试配置信息以及测试执行文件;发送测试模型、测试数据、测试配置信息以及测试执行文件至终端,从终端处获取测试信息。通过本公开可以实现测试的自动化,并降低维护成本。
  • 一种测试方法装置存储介质
  • [发明专利]消除静电的测试方法-CN201510046151.5有效
  • 柯明道;庄哲豪 - 晶焱科技股份有限公司
  • 2015-01-29 - 2018-03-23 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种消除静电的测试方法,其利用一测试设备进行,该测试设备包含一测试器与一平台。首先,执行至少一测试流程,在测试流程中,测试设备上产生有静电电荷。在测试流程中,测试器接触并测试位于平台的一测试区域上的至少一测试集成电路(IC)。接着,将测试集成电路移离测试器与测试区域。结束测试流程后,移动接地的一导电装置至测试区域,使测试器接触导电装置,以释放静电电荷至接地端。接着,将导电装置移离测试器与测试区域。最后,返回至测试流程,以测试下一测试集成电路。
  • 消除静电测试方法
  • [发明专利]一种线圈设备测试方法及装置-CN201410370011.9在审
  • 孟驰宇;张磊;贾永杰;闫志红 - 北京铁路信号有限公司
  • 2014-07-30 - 2014-11-05 - G01R15/12
  • 本发明实施例提供一种线圈设备测试方法及装置,所述方法包括:选定待测试的线圈设备,预置测试策略;将测试设备组初始化,根据所述测试策略从所述测试设备组中选定测试仪器,利用选定的测试仪器对待测试线圈进行测试;所述装置包括:测试设备组,所述测试设备组中包括多个测试仪器;上位机,用于选定待测试的线圈设备,预置测试策略,将测试设备组初始化;利用选定的测试仪器对待测试线圈进行测试控制电路模块,用于根据所述测试策略从所述测试设备组中选定测试仪器
  • 一种线圈设备测试方法装置
  • [发明专利]SPI-NAND的测试方法和装置-CN201711284157.1在审
  • 庄开锋 - 北京兆易创新科技股份有限公司
  • 2017-12-07 - 2018-05-01 - G06F11/22
  • 本发明公开了一种SPI‑NAND的测试方法和装置。本发明SPI‑NAND的测试方法,包括接收测试指令,所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数,所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的;根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI‑NAND进行测试,其中,以所述测试参数作为所述测试代码的入参,所述测试代码是预先根据所述测试案例生成的;根据所述测试代码的运行结果输出测试结果。本发明实现对SPI‑NAND的多测试案例的灵活组合,提高测试效率。
  • spinand测试方法装置
  • [发明专利]终端设备的测试方法和测试装置-CN202210012351.9在审
  • 李文姣 - 荣耀终端有限公司
  • 2022-01-07 - 2022-02-11 - G06F11/36
  • 本申请提供了一种终端设备的测试方法和测试装置,可以提高测试效率。该方法包括:确定目标测试用例和目标测试版本;判断待测试终端的系统版本是否与目标测试版本相同;确定目标测试版本对应的测试结果的存储路径;在待测试终端的系统版本与目标测试版本相同的情况下,向待测试终端发送测试指令,测试指令用于指示待测试终端执行目标测试用例;接收来自待测试终端对目标测试用例的测试结果;按照存储路径,存储待测试终端对目标测试用例的测试结果。
  • 终端设备测试方法装置

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