专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]电迁移测试结构及方法-CN201910677450.7有效
  • 范庆言;曹巍;陈雷刚 - 上海华力微电子有限公司
  • 2019-07-25 - 2021-07-16 - H01L21/66
  • 本发明提供一种电迁移测试结构及方法,利用多晶硅加热器产生热量以提供对测试金属线进行电迁移测试的温度,并利用一热量传导结构将所述多晶硅加热器产生的热量传导到所述测试金属线的周围,以对所述测试金属线均匀加热与现有技术相比,由于所述热量传导结构能够高效传导所述多晶硅加热器产生的热量,且能够传导到所述测试金属线的周围,因此,所述测试金属线不同部位的受热温度均能够与目标加热温度一致。
  • 迁移测试结构方法
  • [发明专利]一种甩线电缆测试接触装置-CN200910208861.8无效
  • 杨正福;钟洪 - 贵州航天电器股份有限公司
  • 2009-10-29 - 2010-05-12 - G01R31/08
  • 一种甩线电缆测试接触装置,该测试接触装置由金属底座、一组金属插针、导线组成,所述金属插针两端为细小针尖形,紧密排列并固定于金属底座相应位置,导线一端芯线与金属底座4固定连接。使用时甩线电缆甩线端与插针接触,导线另一端连接专用测试设备进行测试测试接触装置可确保甩线电缆任一根或一束导线与专用测试设备可靠、快速连接,提高测试准确性。具有体积小、结构简单、方便实用的特点。
  • 一种电缆测试接触装置
  • [发明专利]通用型芯片失效分析的测试设备-CN201510919858.2有效
  • 刘攀超;董宁;刘泽华 - 华测蔚思博检测技术有限公司;华测检测认证集团股份有限公司
  • 2015-12-10 - 2023-05-26 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种通用型芯片失效分析的测试设备,其测试夹具包括底板、载板及夹板,底板中央设有金属凸起,载板设有通孔,通孔内壁均设有金属弹片,通孔内设有用于与被测芯片的引脚连接的连接件,连接件包括设于载板上表面的金属薄片及连接于金属薄片下的金属探针,金属探针套设有弹性部件,且弹性部件固定于通孔内壁,被测芯片置于载板上表面时,夹板轻压于被测芯片上,被测芯片的引脚压于金属薄片上,弹性部件一起被压缩,且金属探针与金属凸起电性连接,同时金属弹片被压缩;其测试装置包括测试机台及逻辑开关,测试机台通过逻辑开关对被测芯片输出测试信号。本发明是一种能够广泛适用于各种封装结构的芯片进行失效分析的测试设备。
  • 通用型芯片失效分析测试设备
  • [实用新型]通用型芯片失效分析的测试装置-CN201521029732.X有效
  • 刘攀超;董宁;刘泽华 - 华测检测认证集团股份有限公司
  • 2015-12-10 - 2016-08-17 - G01R31/28
  • 本实用新型公开了一种通用型芯片失效分析的测试装置,其测试夹具包括底板、载板及夹板,底板中央设有金属凸起,载板设有通孔,通孔内壁均设有金属弹片,通孔内设有用于与被测芯片的引脚连接的连接件,连接件包括设于载板上表面的金属薄片及连接于金属薄片下的金属探针,金属探针套设有弹性部件,且弹性部件固定于通孔内壁,被测芯片置于载板上表面时,夹板轻压于被测芯片上,被测芯片的引脚压于金属薄片上,弹性部件一起被压缩,且金属探针与金属凸起电性连接,同时金属弹片被压缩;其测试装置包括测试机台及逻辑开关,测试机台通过逻辑开关对被测芯片输出测试信号。本实用新型是一种能够广泛适用于各种封装结构的芯片进行失效分析的测试设备。
  • 通用型芯片失效分析测试装置
  • [实用新型]一种射频信号快速测试压接装置-CN202022161083.6有效
  • 成院波;李惠楠;魏信辉;董必勇;陈年南 - 昆山恩电开通信设备有限公司
  • 2020-09-27 - 2021-04-09 - G01R1/04
  • 本实用新型公开了一种射频信号快速测试压接装置,包括测试转接端、金属固定座、介质绝缘块、中心弹针、接地弹针,测试转接端位于金属固定座顶端;金属固定座上部侧面设置有紧固定位面,金属固定座中部设置有安装限位面,金属固定座底部各边设置导线避让槽,金属固定座底面中心设置有中心弹针,中心弹针与介质绝缘块连接,金属固定座底面各角设置有接地弹针。该实用新型在使用时,将网络测试板设置于金属固定座下方,然后对金属固定座的中心弹针、接地弹针在垂直方向上施加的压力与网络测试板上金属传输线、测试接地点弹性紧密接触,进而实现射频信号的导通。该压接装置操作便利、功能稳定、结构可靠、外型紧凑,特别适合于5G通信多通道射频信号的快速便携测试
  • 一种射频信号快速测试装置
  • [实用新型]一种经时击穿测试结构-CN202021108276.9有效
  • 王志强 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2020-06-15 - 2021-02-19 - H01L21/66
  • 本实用新型提供一种经时击穿测试结构,用于测试不同温度下金属间介质层的经时击穿参数,包括:测试模块和加热模块,测试模块位于加热模块上,测试模块用于测试金属间介质层的经时击穿参数,加热模块用于对测试模块加热,测试模块的第一端连接第一电压,测试模块的第二端连接第二电压,第一电压大于第二电压。这样,在经时击穿测试结构内部设置加热模块,加热模块直接对测试模块进行加热,减小热量散失,同时通过调节加热模块的温度调节测试模块的温度,能够更为精确的控制测试模块的温度,进行不同温度下金属间介质层的经时击穿测试,提高金属间介质层的经时击穿测试精度。
  • 一种击穿测试结构
  • [实用新型]一种便携式手指灵活感统训练仪-CN201921883776.7有效
  • 陈景帅;付浩 - 青岛瑞阳心语心理学应用技术发展有限公司
  • 2019-11-04 - 2020-09-15 - A61B5/16
  • 本实用新型涉及一种便携式手指灵活感统训练仪,其包括壳体、显示屏、测试组件,测试组件包括一支金属测试笔、三组盲孔测试槽和三条直线测试槽;每组盲孔测试槽包括八个呈圆周阵列状布设和一个位于圆周中央的测试盲孔,从左至右,三组盲孔测试槽上的测试盲孔孔径依次缩小;直线测试槽呈长槽状,从左至右,三条直线测试槽的槽宽依次缩小;盲孔测试槽和直线测试槽均于槽底设有第一电极金属片,盲孔测试槽和直线测试槽均于槽壁设有第二电极金属片,第一电极金属片和第二电极金属片之间绝缘。本便携式手指灵活感统训练仪能够利用测试实时显示数据结果,进而对动作稳定性进行综合测试评估,使得测试结果对于动作稳定性状态的反应更为准确。
  • 一种便携式手指灵活训练
  • [发明专利]一种测试结构及测试方法-CN201911099814.4在审
  • 高志虎 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2019-11-12 - 2020-05-05 - H01L21/66
  • 本发明提供一种测试结构及测试方法,该测试结构包括设置于晶圆切割道上的第一、第二测试焊盘及并联连接于第一、第二测试焊盘之间的第一、第二电路,其中,第一电路包括第一开关元件与第一待测试金属层,第二电路包括第二开关元件与第二待测试金属层,第一、第二待测试金属层位于晶圆的不同层,且当第一开关元件导通时,第二开关元件关断,当第二开关元件导通时,第一开关元件关断。本发明通过改进电路设计,使得位于不同层的第一、第二待测试金属层的电阻测试可以使用同一对测试焊盘实现,也就是用同样的切割道面积可以测两层金属层的电阻,从而节约空间;通过测试焊盘之间的正负电压控制即可实现不同金属层电阻测试的切换
  • 一种测试结构方法
  • [实用新型]测试工装-CN202222912411.0有效
  • 罗亚秋;庄移发 - 惠州亿纬动力电池有限公司
  • 2022-11-02 - 2023-05-05 - G01R1/04
  • 本实用新型涉及电池技术领域,公开一种测试工装,包括第一定位组件、第二定位组件和测试组件,第一定位组件和第二定位组件可围设形成能够容纳电芯的测试空间。第一定位组件包括相对设置的两个第一定位件,第一定位件包括第一定位件本体和镶嵌金属块,第一定位件本体由绝缘材质制成,镶嵌金属块凸设于第一定位件本体上,且镶嵌金属块上设置有测试连接孔,因此测试组件的一端抵接电芯,另一端即可通过紧固件与测试连接孔可拆卸连接,以使测试组件固定于镶嵌金属块上。将测试组件连接于凸设的镶嵌金属块上,可便于测试组件散热,避免测试数据差异,提高电芯测试结果的准确性,而且将测试组件与镶嵌金属块固定,还可提高测试组件的连接稳定性。
  • 测试工装

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