专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种高通量扫描探针显微成像系统-CN202110383710.7在审
  • 黄博远;李江宇 - 南方科技大学
  • 2021-04-09 - 2021-06-11 - G01N21/84
  • 一种高通量扫描探针显微成像系统,包括:依次连接的波形发生器和成像装置,成像装置包括控制器和检测操作部分;波形发生器用于产生激励信号,激励信号为至少两个子波形按预设拼接顺序合成的信号;检测操作部分,用于将激励信号施加至待测目标的多个像素点以获得每个像素点对应的测试结果信号;控制器与检测操作部分和控制器连接,用于将从波形发生器接收的激励信号传输至检测操作部分,并从检测操作部分接受对应的测试结果信号,并基于测试结果信号和拼接顺序生成待测目标的测试结果。达到了一次扫描获得多维物性测试结果数据,提高扫描效率,提升测试结果数据的分辨率的效果。
  • 一种通量扫描探针显微成像系统
  • [实用新型]一种高通量扫描探针显微成像系统-CN202120725634.9有效
  • 黄博远;李江宇 - 南方科技大学
  • 2021-04-09 - 2022-03-08 - G01N21/84
  • 一种高通量扫描探针显微成像系统,包括:依次连接的波形发生器和成像装置,成像装置包括控制器和检测操作部分;波形发生器用于产生激励信号,激励信号为至少两个子波形按预设拼接顺序合成的信号;检测操作部分,用于将激励信号施加至待测目标的多个像素点以获得每个像素点对应的测试结果信号;控制器与检测操作部分和控制器连接,用于将从波形发生器接收的激励信号传输至检测操作部分,并从检测操作部分接受对应的测试结果信号,并基于测试结果信号和拼接顺序生成待测目标的测试结果。达到了一次扫描获得多维物性测试结果数据,提高扫描效率,提升测试结果数据的分辨率的效果。
  • 一种通量扫描探针显微成像系统
  • [发明专利]接口测试方法、装置、电子设备和存储介质-CN202310797764.7在审
  • 陈晨 - 苏州浪潮智能科技有限公司
  • 2023-06-30 - 2023-09-22 - G06F11/22
  • 本申请公开了一种接口测试方法、装置、电子设备和存储介质,其中方法包括:确定目标服务器中各个待测试接口的识别信息和接口控制类型;基于各个待测试接口的接口控制类型,确定各个待测试接口对应的测试信号;向各个待测试接口发送对应的测试信号,以使各个待测试接口基于所述测试信号生成各个待测试接口对应的测试响应信号;将各个待测试接口对应的测试响应信号与各个待测试接口对应的参考目标信号进行对比,生成各个待测试接口的测试结果;基于各个待测试接口的识别信息和测试结果,生成所述目标服务器的接口测试结果。本申请公开的方法和装置,提高了服务器中接口的测试效率。
  • 接口测试方法装置电子设备存储介质
  • [实用新型]打印机芯片测试系统-CN201020300907.7无效
  • 谢立功 - 珠海天威技术开发有限公司
  • 2010-01-18 - 2010-10-06 - G01R31/28
  • 本实用新型提供一种打印机芯片测试系统,包括微控制器以及与所述微控制器连接的电源控制电路、输入控制电路、结果显示电路和信号控制电路;所述信号控制电路与打印机连接,模拟打印机的开合并提取打印机检测芯片信号结果;所述输入控制电路与键盘或计算机连接,提供给控制测试的输入对象;所述电源控制电路与外部电源连接以提供电源;所述微控制器接收电源控制电路和输入控制电路的信号测试信号控制电路提取的结果并发送给结果显示电路;所述结果显示电路显示系统测试结果。本实用新型具有测试结果准确、快速测试、低成本的优点。
  • 打印机芯片测试系统
  • [发明专利]电路测试装置-CN200710090181.1无效
  • 滕贞勇;许丽娇;黄杰威;陈辉煌 - 普诚科技股份有限公司
  • 2007-04-16 - 2008-10-22 - G01R19/00
  • 本发明揭露一种电路测试装置,用来测试一待测试元件,该电路测试装置包含有一精确量测模块、一信号转换模块以及一微处理器。精确量测模块耦接于该待测试元件,用来提供一测试信号,并接收根据该测试信号所产生的一量测信号信号转换模块耦接于该精确量测模块,用以接收该量测信号,根据一预定方式对该量测信号进行信号转换,产生一信号量测结果。微处理器耦接于该精确量测模块以及该信号转换模块,用以根据该信号量测结果来决定该待测试元件的测试结果。本发明所述的电路测试装置,不但可以为使用者带来测试的方便性,更可以提升测试的速度,进一步提升测试效率。
  • 电路测试装置
  • [发明专利]ATE测试结果判断方法及ATE测试方法-CN201210325269.8有效
  • 曲芳;赵伟;孙国强;赵厚鑫;陆晔;刘岩;翁雷 - 无锡江南计算技术研究所
  • 2012-09-05 - 2012-11-21 - G01R31/28
  • 本发明提供了一种ATE测试结果判断方法及ATE测试方法。根据本发明的基于读取信号输出状态的ATE测试结果判断方法包括:第一步骤:启动测试;第二步骤:执行特定信号预期输出修改;第三步骤:执行测试输出信号的波形与预期波形的比较;第四步骤:记录特定信号的失效节拍;第五步骤:对记录的失效测试数据进行处理;第六步骤:获取特定信号预期码流;第七步骤:将特定信号的码流信息与预期码流进行比较;第八步骤:将其它的输出信号的输出波形与预期波形进行比较。ATE测试结果判断方法还包括第九步骤:根据特定信号输出码流与预期码流的比较结果、以及其它信号输出波形与预期波形的比较结果,得到详细的测试分类信息输出。
  • ate测试结果判断方法
  • [发明专利]EVM测试装置及其测试方法-CN202111073341.8在审
  • 张宙远 - 芯朴科技(上海)有限公司
  • 2021-09-14 - 2021-12-10 - H04B17/00
  • 本申请公开了一种EVM测试装置及其测试方法,该装置包括信号源、波形发生器、功率放大器和频谱仪。信号源用于输出射频的测试信号。波形发生器用于输出动态同步信号到功率放大器、信号源和频谱仪,动态同步信号的脉冲周期取决于测试信号信号宽度、预定保护时延和动态占空比。功率放大器用于接收测试信号并进行放大输出。频谱仪用于接收功率放大器的输出信号并进行解调计算以获得EVM测试结果。动态同步信号分别根据测试信号的周期开启和关闭,或保持开启,分别获得动态EVM测试结果和静态EVM测试结果
  • evm测试装置及其方法
  • [发明专利]一种自动化测试信息生成装置及方法-CN201610919171.3在审
  • 朱博;张新玲 - 郑州云海信息技术有限公司
  • 2016-10-21 - 2017-03-15 - G06F11/36
  • 本发明提供了一种自动化测试信息生成装置及方法,包括用例获取单元、测试执行单元及异常捕捉单元,其中,所述用例获取单元,用于获取被测对象的至少一个测试用例;其中,每个测试用例,包括至少一个测试步骤,及每个测试步骤对应的标准预期结果;所述测试执行单元,用于执行当前测试用例的当前测试步骤,生成目标结果,判断目标结果与所述当前测试步骤对应的标准预期结果是否相同,如果不同,则输出测试失败信号;所述异常捕捉单元,用于实时检测所述测试执行单元输出的测试失败信号,当检测到所述测试失败信号时,获取所述测试失败信号对应的所述当前测试步骤测试失败的原因。本发明能够生成自动化测试中用例失败的具体原因。
  • 一种自动化测试信息生成装置方法
  • [发明专利]电池测试设备的可程式逻辑控制装置-CN201610065888.6在审
  • 王耀南;彭信远;吕伟峰;陈赐鸿 - 致茂电子(苏州)有限公司
  • 2016-02-01 - 2017-08-08 - G01R31/36
  • 本发明公开一种电池测试设备的可程式逻辑控制装置,其具有第一控制模组、第二控制模组及记忆模组。第一控制模组接收伺服器传送的测试信息,并依据测试信息产生控制信号及启动信号测试信息包含指定量测仪器执行测试程序以及待测电池的目标位置。控制信号用以决定量测仪器与待测电池的电性连接。第二控制模组依据启动信号,产生测试信号以控制量测仪器开始执行测试程序。第二控制模组接收量测仪器对待测电池执行测试程序后产生的测试结果,并对测试结果进行数值转换。记忆模组储存经过数值转换后的测试结果,由第一控制模组将测试结果传送至伺服器。
  • 电池测试设备程式逻辑控制装置
  • [实用新型]测试装置-CN201020003847.2有效
  • 杨庆文;余建国;纪乐宇;陈晓光;杨世扬 - 名硕电脑(苏州)有限公司;和硕联合科技股份有限公司
  • 2010-01-12 - 2010-11-24 - G06F11/22
  • 本实用新型提供一种测试装置,用于测试无功能芯片的转接卡。转接卡具有待测接口和输出接口。测试装置包括控制元件和转档元件。控制元件电性连接转接卡。控制元件发出测试信号至待测接口,并从输出接口接收输出信号。控制元件判断输出信号测试信号是否一致,据此产生测试结果。转档元件电性连接控制元件以接收测试结果并提供转档信息。本实用新型优点是:通过判断输出信号测试信号是否一致从而测试无功能芯片的转接卡的待测接口是否良好,相较于先前技术,本实用新型提供的测试装置测试工时短、操作简单,并且转档元件对测试结果可实现自动转档,使用者通过转档信息即可知道测试结果
  • 测试装置

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