专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果729870个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]堆浸复垦土壤重构方法和应用-CN202110760094.2在审
  • 祝怡斌;钟瑞林;陈斌;陈国梁;鞠丽萍;陈玉福;李青;陈谦;刘子齐 - 矿冶科技集团有限公司;赣州稀土矿业有限公司
  • 2021-07-06 - 2021-08-27 - B09C1/08
  • 本发明提供了一种堆浸复垦土壤重构方法和应用,涉及生态修复技术领域。该复垦土壤重构方法通过先将堆浸渣加入黏土类物质进行增粘处理,然后加入碱性调节剂进行碱性调节,再加入有机肥进行营养调节,将处理后的堆浸渣与秸秆堆垛熟化,从而得到复垦土壤;上述方法可实现堆浸渣到复垦土壤的转化,有效减少了堆浸渣的存储量同时减轻其对环境的危害,且所制得的复垦土壤富含多种营养成分,适耕性良好,适宜作物生长;且该方法仅需原位进行,操作简单,为堆浸的生态修复提供了良好的思路。本发明还提供了上述堆浸复垦土壤重构方法的应用,鉴于上述堆浸复垦土壤重构方法所具有的优势,使得其在堆浸生态修复领域具有良好的应用前景。
  • 堆浸场复垦土壤方法应用
  • [发明专利]基于U-net框架的边缘海高时空分辨率次表层温度重构方法-CN202210439952.8在审
  • 徐青;谢华荣;殷晓斌 - 中国海洋大学
  • 2022-04-25 - 2022-09-27 - G06F30/27
  • 本发明属于海洋信息技术领域,公开了基于U‑net框架的边缘海高时空分辨率次表层温度重构方法:收集高时空分辨率的海面温度、海平面高度异常和海面风卫星遥感数据和海洋温度剖面数据,并依据海面风数据,计算得到海面风应力旋度确定目标边缘海海域的空间范围以及训练组、验证组和测试组中样本的时间范围,并对海洋表面数据和温度剖面数据进行预处理;搭建注意力U‑net框架,将训练组的海洋表面数据作为输入,相应的温度剖面作为真值,完成边缘海高时空分辨率的次表层温度重构模型的训练;将测试组的海洋表面数据输入确定的模型中,得到重构的边缘海高时空分辨率次表层温度。本发明克服了具有复杂动力过程的边缘海水下温度重构精度低的难题。
  • 基于net框架边缘海时空分辨率表层温度场方法
  • [发明专利]一种基于周向导波时域逆散射法的圆环缺陷重构方法-CN202211542116.9在审
  • 王彬;周海洋;钱智;钱征华 - 南京航空航天大学
  • 2022-12-02 - 2023-05-09 - G01N29/44
  • 本发明提供了一种基于周向导波时域逆散射法的圆环缺陷重构方法,包括如下步骤:S1:求解无缺陷圆环入射波;具体为:通过商业有限元软件进行仿真得到入射波,或通过模态展开方法,先求得每一阶模态的分量,再将所有模态叠加得到入射波;S2:求解无缺陷圆环时域格林函数;具体为:将载荷设为脉冲激励,通过模态展开方法,得到时域格林函数;S3:重构圆环内缺陷;具体为:推导出时域散射波的边界积分方程,引入波恩近似,以入射近似代替总,在边界积分方程中以圆环中材料的改变量为未知数,采集散射位移,解出未知数,从而重构缺陷的位置和形状。本发明在获得散射位移后,可以直接求解出圆环中缺陷的准确位置和具体形状。
  • 一种基于导波时域散射圆环缺陷方法
  • [发明专利]一种微球内表面缺陷测量方法-CN202010335374.4有效
  • 马骏;淳秋垒;李建欣;朱日宏;魏聪;刘戴明 - 南京理工大学
  • 2020-04-24 - 2023-03-28 - G01N21/88
  • 本发明公开了一种微球内表面缺陷测量方法,获取微球外表面测试光与参考光的干涉强度图,微球内表面测试光和参考光的干涉强度图以及参考光的光强分布图;获得外表面干涉光和内表面干涉光的复振幅分布;引入虚拟透镜进行复振幅重构获得重构后的外表面干涉光和内表面干涉光的复振幅分布;将外表面测试光的复振幅转化成透射光重构复振幅;获得消去调制后的内表面重构复振幅;根据衍射距离,采用逆向衍射计算获取衍射面复振幅分布,确定内表面缺陷相位信息。
  • 一种微球内表面缺陷测量方法

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top