专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种圆传动机械臂校准用测试片-CN202020138029.7有效
  • 田晓玲 - 芯恩(青岛)集成电路有限公司
  • 2020-01-21 - 2020-10-27 - B25J19/00
  • 本实用新型提供了一种圆传动机械臂校准用测试片,用于机台中若干机械臂的相对位置关系的校准,若干机械臂标准的相对位置关系能够根据机台型号确定,测试片为板状结构,规格与传送圆一致,且由透明材料制成;测试片上标记有若干标准圆,标准圆位于测试片的顶面和/或底面;标准圆与机械臂相对应,用于确定机械臂与测试片的相对位置;若干标准圆的相对位置关系与若干机械臂标准的相对位置关系相对应。这种测试片可以对机械臂相对位置进行精准校准,提高了精确度和提高操作效率,并且还可以替代圆对机械臂进行校准,减少了圆破碎的风险。
  • 一种传动机械校准测试
  • [发明专利]一种圆周转装置及圆周转方法-CN201811622408.7有效
  • 刘纯君 - 上海福赛特机器人有限公司
  • 2018-12-28 - 2020-12-11 - H01L21/677
  • 本发明公开了一种圆周转装置和圆周转方法。圆周转装置包括圆盒载置台,圆盘载置台,第一中转台,第二中转台,三个搬运机构以及控制单元。第一中转台包括用于识别并调整圆的边位置的圆寻边器;第二中转台包括用于识别并调整圆盘的承载部的边位置的圆盘寻边器。控制单元控制三个搬运机构分别在圆盒载置台和圆寻边器之间、圆寻边器和圆盘寻边器之间、以及圆盘寻边器和圆盘载置台之间传递圆,以高效地将圆从圆盒载置台搬运至圆盘载置台,或从圆盘载置台搬运至圆盒载置台
  • 一种圆周装置方法
  • [发明专利]一种圆加工机的二次整设备-CN202011542823.9在审
  • 林斌发 - 林斌发
  • 2020-12-24 - 2021-03-16 - H01L21/67
  • 本发明公开了一种圆加工机的二次整设备,其结构包括气缸、支撑顶板、加工台、整平装置、放置架,气缸固定安装在支撑顶板顶部中端,支撑顶板底面与加工台顶部相焊接,将压磨装置下端移动到与圆片上端面进行抵触,抵触装置在导向框内部进行上升,这时找平板与圆片上端面进行抵触,接着启动电机,找平板对圆上端面进行整,伸缩软管进行收缩,这时将整过程中产生的颗粒残留物从吸附嘴内部吸入进入到找平板内部,避免颗粒残留物停留在圆片上端面上,通过刮板下端的倒圆角与圆片外侧端进行抵触,从而使得刮板外移,刮板与圆片外侧端面进行抵触贴合,通过转动盘进行转动,从而使得刮板对圆片外侧端面的颗粒残留物进行清除。
  • 一种加工二次设备
  • [实用新型]一种平面度检定装置用平面-CN202120723558.8有效
  • 王建冰 - 王建冰
  • 2021-04-09 - 2021-09-17 - G01B11/30
  • 本实用新型公开了一种平面度检定装置用平面,包括安装环、晶体套、固定杆、紧固结构、卡接结构和保护外壳,所述安装环呈圆弧形板状结构,所述安装环上铰接安装有圆环状的晶体套,所述晶体套上嵌设安装有平面本体该平面度检定装置用平面,设计合理,能对平面进行很好的保护,避免出现损坏,适合推广使用。
  • 一种平面检定装置
  • [发明专利]一种采用统计过程控制圆加工的方法-CN202210357701.5在审
  • 孙俊杰;付斌 - 江苏道达智能科技有限公司
  • 2022-04-06 - 2022-07-22 - G06Q10/06
  • 本发明公开了一种采用统计过程控制圆加工的方法,包括统计过程控制单元、数据库和反馈单元,统计过程控制单元具有数据处理模块和判断模块,统计过程控制单元读取数据库内的数据,先将加工工艺数据以及标准圆设计参数;然后进行划分匹配同时制定调整规则;接着通过判断模块将检测数据与圆设计参数进行判断比较,比较结果按照符合程度分为接近标准、符合标准和不良,根据接近标准、符合标准和不良的比较结果进行反馈,需要调整则将圆设计参数对应加工工艺数据根据调整规则进行调整本发明通过统计过程控制保证圆加工品质。
  • 一种采用统计过程控制加工方法
  • [发明专利]LED芯片光电数据的分行修正方法-CN202310320043.7在审
  • 彭超;黄胜蓝;谈健 - 湘能华磊光电股份有限公司
  • 2023-03-29 - 2023-06-27 - H01L21/66
  • 本发明提供了一种LED芯片光电数据的分行修正方法,包括以下步骤:选取圆中某一晶粒为原点,并建立直角坐标系,通过测试机测得圆的光电数据,抽取圆中横坐标相同的一列的晶粒的晶粒作为试样,通过标准机测得试样的标准光电数据,选取测试机测得的对应晶粒的光电数据作为非标准光电数据;沿试样中晶粒的纵坐标将整个圆分行,通过试样中晶粒的标准光电数据和非标准光电数据,得到所有行的误差集;通过误差集分行修正测试机测得的整个圆的光电数据
  • led芯片光电数据分行修正方法
  • [发明专利]太鼓环减薄方法-CN202210302216.8在审
  • 黄威 - 淄博绿能芯创电子科技有限公司
  • 2022-03-25 - 2022-07-01 - H01L21/308
  • 本发明提供了一种太鼓环减薄方法,步骤包括:在圆上涂上一层光刻胶或硬掩膜;区分出圆主区域和圆无效区域;刻蚀圆主区域,保留圆无效区域,将两个区域分为不通厚度区域;在圆主区域镀上氧化层,刻蚀圆主区域;检查刻蚀后的圆主区域厚度,如果厚度不满足超薄片标准,重复步骤四、步骤五直到厚度超薄片标准。本发明可以增加圆减薄后的支撑效果,达到更高的减薄效果,减小了圆损伤层以及圆的应力对后续工艺的影响。
  • 太鼓环减薄方法
  • [发明专利]一种针对背缺陷的检测方法-CN202111437022.0在审
  • 周健刚 - 上海华力集成电路制造有限公司
  • 2021-11-30 - 2022-03-04 - G06T7/00
  • 本发明公开了一种针对背缺陷的检测方法,包括得到每一层工艺结束后的标准背图像和待检测背图像,并对两者分区块化处理形成标准区块和待检测区块;在基于常规检测方法对待检测区块判定的基础上,再次将常规检测方法判定的正常区块与相应的标准区块对比,最终形成待检测区块是否正常的判定结果,提高了检测的准确性,形成的缺陷示意图形与待检测背图像也更一致,对后续背缺陷的统计工作更有利。
  • 一种针对缺陷检测方法

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