专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]数据解调方法以及磁数据解调装置-CN201510133146.8有效
  • 中嶋茂雄;东贺津久;矶野阳市 - 日本电产三协株式会社
  • 2015-03-25 - 2018-02-27 - G11B5/02
  • 本发明提供一种无论记录于前同步码或后同步码的磁数据的位数等如何,都能够将记录于磁信息记录介质的有效数据部的磁数据解调至最后的磁数据解调方法以及磁数据解调装置。在该解调方法中,若在规定时间内没有检测出磁数据的读取信号的峰值,则产生虚拟峰值且将虚拟间隙存储于数据存储部,将存储的虚拟间隙作为第n个判定用间隙,并将在产生虚拟峰值时存储于数据存储部的第m个判定用间隙作为第m‑1个判定用间隙,确定备用数据列,并生成解调数据生成用数据,并且直到生成与最终的间隙对应的解调数据生成用数据为止,产生虚拟峰值且将虚拟间隙存储于数据存储部,确定备用数据列,并生成解调数据生成用数据
  • 数据解调方法以及装置
  • [发明专利]波形间隙填充-CN201910979647.6在审
  • A·J·海森 - 计算系统有限公司
  • 2019-10-15 - 2020-10-27 - G06F30/20
  • 本文提供一种用于填充振动数据集中的由缺失振动数据形成的间隙的方法。选定间隙的第一侧上的参考波形以及间隙的相对第二侧上的相邻波形。确定间隙是否在振动数据的一部分中。其中,当间隙存在于其频率基本呈线性变化的振动数据的一部分中时,将解析方法应用于该参考波形和该相邻波形中的至少一个以逼近在间隙中缺失的振动数据;当间隙存在于其频率基本呈指数变化的振动数据的一部分中时,将数值方法应用于该参考波形和该相邻波形中的至少一个以逼近在间隙中缺失的振动数据;当间隙存在于其频率基本呈稳定状态的振动数据的一部分中时,复制该参考波形和该相邻波形中的至少一个以逼近在间隙中缺失的振动数据。将逼近的振动数据呈现给用户。
  • 波形间隙填充
  • [发明专利]磁性数据解调方法以及磁性数据解调装置-CN201210258394.1有效
  • 中岛茂雄;矶野阳市;东贺津久 - 日本电产三协株式会社
  • 2012-07-24 - 2013-01-30 - G11B5/02
  • 本发明提供一种即使在磁性信息记录介质的移动速度的变化较大等情况下,也能够适当地对磁性数据进行解调的磁性数据解调方法。在该解调方法中,根据来自磁头的读取信号的峰值间隔即间隙,产生用于生成解调数据的多个备用数据列。备用数据列由根据间隙而确定的多位的第1单独数据来构成。在生成备用数据列时,确定用于判别第一单独数据的“0”、“1”的基准间隙,向预先存储好的模板分配该基准间隙,对于每一个位组合且位组合的每一位,比较判定用间隙和分配给模板的基准间隙,根据该比较结果,确定与备用数据列相当的位组合,将该确定的位组合作为备用数据列。
  • 磁性数据解调方法以及装置
  • [发明专利]光学式间隙测定装置及光学式间隙测定方法-CN202210573256.6在审
  • 衣笠静一郎;古谷雅 - 阿自倍尔株式会社
  • 2022-05-24 - 2022-11-25 - G01B11/14
  • 本发明提供一种能够准确且简单地测定测定对象物的间隙宽度的光学式间隙测定装置及光学式间隙测定方法。用于测定在作为测量对象物的两根辊(101、102)之间形成的间隙(d)的宽度的光学式间隙测定装置(100),具备:投光部(10),其朝向包含间隙(d)的测量对象物投射矩形光束;受光部(20),其相对于间隙配置在与投光部(10)相同的一侧,接收来自测量对象物的反射光;以及间隙计算部,其基于从受光部(20)输出的受光数据来计算间隙的宽度,间隙计算部基于与相对较小的光量对应的受光数据即第一受光数据和与相对较大的光量对应的受光数据即第二受光数据之比,计算间隙(d)的宽度。
  • 光学间隙测定装置方法
  • [发明专利]连接器配合间隙的性能测试装置及性能数据系统-CN202111199869.X在审
  • 毕煜;易毕;张馨丹;任永会 - 中兴通讯股份有限公司
  • 2021-10-14 - 2023-04-18 - G01R31/66
  • 本发明公开了一种连接器配合间隙的性能测试装置及性能数据系统,其中,性能测试装置包括配合间隙调控装置,用于调整两块测试板之间的连接器配合间隙,配合间隙调控装置包括框架和三维定位机构,用于调整两块测试板之间的位移量从而得到两块测试板的连接器配合间隙数据;测试分析装置,用于向两块测试板发送性能测试指令,还用于接收两块测试板根据性能测试指令返回的性能数据,以及接收两块测试板的电路板类型和连接器配合间隙数据。本发明实施例通过测试分析装置测试连接器在不同配合间隙情况下,测试板之间进行数据传输的性能数据,从而得到不同测试板、不同配合间隙下对应的性能数据,为后续的性能分析提供相关的测试数据
  • 连接器配合间隙性能测试装置数据系统

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