专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果8869352个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]一种多线列时差扫描扩展采样亚图像配准方法-CN201410319202.2有效
  • 宋鹏飞;王世涛;金挺;董小萌 - 中国空间技术研究院
  • 2014-07-04 - 2017-03-15 - G06T7/00
  • 一种多线列时差扫描扩展采样亚图像配准方法,(1)构造多线列时差扫描探测装置;(2)多个线列探测对视场内同一位置场景先后成像,成像后立即转入步骤(3);每个线列探测按照步骤(1)中设置采样次数对应的采样间隔在扫描方向进行扫描成像,每次成像分别得到Nt组图像数据,立即转入步骤(3);(3)分别将各个线列探测的Nt组图像数据进行处理后形成一帧探测图像;(4)将每个线列探测对应得到的帧探测图像拼接得到两幅亚图像;(5)分别对两幅亚图像进行非均匀性校正;(6)以在先成像的亚图像为基准,将后成像的亚图像在扫描方向向前移动Lp行;(7)求取两幅图像的仿射变换系数,利用该系数完成两幅图像的匹配。
  • 一种多线列时差扫描扩展采样亚像元图像方法
  • [发明专利]可降低电学串扰的单光子探测阵列及制备方法-CN201910197797.1有效
  • 刘凯宝;杨晓红;王晖;何婷婷;李志鹏 - 中国科学院半导体研究所
  • 2019-03-15 - 2021-01-08 - H01L31/0216
  • 一种可降低电学串扰的单光子探测阵列及制备方法。该单光子探测阵列包括外延片和形成在外延片正面上的钝化层;其中,钝化层上设有若干P电极窗口和若干隔离区电极窗口,所述隔离区电极窗口位于相邻的两个所述P电极窗口之间;每个P电极窗口内均设有P电极,每个隔离区电极窗口内均设有隔离区电极;外延片上与所述钝化层相邻一侧形成有有源扩散区和扩散隔离区,其中有源扩散区与P电极相邻,扩散隔离区与隔离区电极相邻。本发明的单光子探测阵列可有效实现对近红外波段微弱光的探测,降低SPAD阵列之间的串扰,可完全避免电学串扰,实现SPAD阵列之间的高度隔离。
  • 降低电学光子探测器阵列制备方法
  • [发明专利]一种探测串音测试装置、其制作方法及串音测试方法-CN201710287481.2在审
  • 侯治锦;司俊杰;王巍;鲁正雄 - 中国空空导弹研究院
  • 2017-04-27 - 2017-10-20 - G01J5/00
  • 本发明提供了一种探测串音测试装置、其制作方法及串音测试方法,在基片上制作至少一个最小单元图形,所述最小单元图形包括中心探测单元和设置在中心探测单元周围的外围探测单元,外围探测单元为不透光,中心探测单元为透光;将制作好的探测串音测试装置放置在焦平面探测的前面,使中心探测单元与焦平面探测的光敏对准;采用黑体进行测试,根据各光敏的电压响应值计算焦平面探测的串音。本发明适用于小焦平面探测的串音,解决了传统小光点测试法不适用于小探测串音的难题,使用本发明测试探测的串音时,只有最单元图形的中心探测单元有响应,使探测串音很容易获得。
  • 一种探测器串音测试装置制作方法方法
  • [发明专利]一种非制冷红外探测-CN201110069273.8有效
  • 姜利军;刘海涛;潘峰;钱良山;池积光 - 浙江大立科技股份有限公司
  • 2011-03-21 - 2012-09-26 - G01J5/10
  • 本发明公开了一种非制冷红外探测,特别是一种微桥结构以及由上述微桥结构组成的二维焦平面阵列。微桥结构包含半导体衬底、制作于衬底之上的悬臂梁层次的微结构、制作于衬底之上的盲层次微结构、以及制作于盲及悬臂梁之上的层次微结构。上述的微桥结构中与盲立体集成在同一个位置的衬底之上,可以有效地避免目前非制冷探测中由于与盲分布在衬底上相隔较远的不同位置而处于不同温度梯度的缺点。利用上述微桥结构的焦平面探测可以实现像与盲的一一对应关系,这将有效地提高非制冷探测的背景校正功能,对于改善探测的性能有较大的帮助。
  • 一种制冷红外探测器

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top