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[发明专利]待测样品处理方法、待测样品处理芯片及待测样品处理装置-CN201710139527.6在审
发明人：山胁幸也;田川礼人;中野毅 -专利权人：希森美康株式会社
申请日： 2017-03-09 - 公布日： 2017-11-17 - 主分类号： G01N33/50 文献下载
摘要：本发明涉及待测样品处理方法、待测样品处理芯片及待测样品处理装置。本发明旨在即使进行用于使用待测样品处理芯片执行数字检测的处理时，也不使流路结构或对象成分及稀释液的搬送控制复杂化地混合对象成分及稀释液。此待测样品处理方法使用有贮留部(172)及液滴形成流路(110)的待测样品处理芯片(100)，将待测样品中的对象成分(10)和用于在液滴(14)中以每1分子或每1个包含对象成分(10)的指定量的稀释液(
样品处理方法芯片装置

[发明专利]待测样品分析方法及待测样品分析装置-CN201610177898.9有效
发明人：久保卓也;岩永茂树 -专利权人：希森美康株式会社
申请日： 2016-03-25 - 公布日： 2019-01-18 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明涉及待测样品分析方法，其包括：对测定样品加热而使DNA发生变性的S14的处理工序，进行抑制自测定样品发生的自身荧光的脱色处理的S21的处理工序，使荧光染料结合于测定样品中的被检物质的S16、S17的处理工序，及向测定样品照射光而对自荧光染料发生的荧光进行摄像的S19的摄像工序。
样品分析方法装置

[发明专利]血液待测样品判断方法及装置以及血液待测样品分析装置-CN201610195900.5有效
发明人：熊野穰;松尾直彦;新井信夫;家子正裕 -专利权人：学校法人东日本学园;希森美康株式会社
申请日： 2016-03-31 - 公布日： 2019-08-02 - 主分类号： G01N21/17 文献下载
摘要：本发明提供血液待测样品的判断方法，其包括将被检血浆与正常血浆混合而调制混合血浆的工序，向上述混合血浆和凝固时间测定试剂混合而成的测定样品照射光，从上述测定样品取得关于光量的光学信息的工序，及基于从一个测定样品取得的光学信息
血液样品判断方法装置以及分析

[发明专利]一种提取用于透射电子显微镜的待测样品的方法-CN201910968721.4有效
发明人：谢超杰;高金德 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2019-10-12 - 公布日： 2022-03-04 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种提取用于透射电子显微镜的待测样品的方法，与现有技术区别在于，考虑到在提取待测样品过程中，可能会由于待测样品没有完全与基体刻蚀分离，导致玻璃针靠近待测样品并推拉待测样品时待测样品会弹出离刻蚀槽较远距离，此时在待测样品的位置附近再开设一刻蚀槽，并对待测样品施力以使待测样品可以落入刻蚀槽中。此时，待测样品的底部仅部分与刻蚀槽接触，再次对待测样品进行提取时，玻璃针在靠近待测样品后，由于玻璃针与待测样品之间的静电力远大于待测样品与刻蚀槽的静电力，玻璃针能轻松提取出待测样品。通过本发明提供的方法，可以提高TEM样品提取的成功率，减少了TEM样品的报废率。
一种提取用于透射电子显微镜样品方法

[发明专利]测温装置及热导率测试方法-CN202211232956.5在审
发明人：王郑;陈俊凯 -专利权人：佛山华智新材料有限公司
申请日： 2022-10-10 - 公布日： 2023-01-24 - 主分类号： G01N25/20 文献下载
摘要：测温装置包括：热源模块，用于给待测样品提供热源以及监测所述待测样品的实时温度，所述待测样品包括目标样品和等效样品；散热模块，用于给所述待测样品散热；其中，所述热源模块包括：供热单元及测温单元；所述供热单元用于给所述待测样品提供热源，所述测温单元用于监测所述待测样品的实时温度。本申请的测温装置，通过供热单元给待测样品提供热源，通过测温单元监测待测样品的实时温度，通过散热模块给待测样品散热，可获取待测样品的较为准确的实时温度数据。
测温装置热导率测试方法

[实用新型]一种用于药剂成分检测的紫外吸收光谱仪样品放置装置-CN202022390959.4有效
发明人：范玉佳 -专利权人：深圳市欣妍生物技术有限公司
申请日： 2020-10-23 - 公布日： 2021-06-22 - 主分类号： G01N21/33 文献下载
摘要：本实用新型涉及紫外吸收光谱应用领域，具体提供了一种用于药剂成分检测的紫外吸收光谱仪样品放置装置，包括平移台、标准样品腔室、待测样品腔室，标准样品腔室和待测样品腔室置于平移台上，标准样品腔室与待测样品腔室连接，标准样品腔室内设有标准样品，待测样品腔室用以盛放待测药剂样品，待测样品腔室的顶部设有待测样品腔室开口。应用时，首先紫外光穿过标准样品腔室，测量标准样品腔室的吸收；然后调节平移台，紫外光穿过待测样品腔室，测量待测样品腔室的吸收，最后对比两结果，得出待测样品腔室中待测药剂样品的吸收光谱。本实用新型将标准样品腔室和待测样品腔室集成在一起，测试方便，提高了实验效率。
一种用于药剂成分检测紫外吸收光谱仪样品放置装置

[实用新型]一种具有对比效果的药剂成分检测样品池-CN202022390956.0有效
发明人：范玉佳 -专利权人：深圳市欣妍生物技术有限公司
申请日： 2020-10-23 - 公布日： 2021-06-22 - 主分类号： G01N21/33 文献下载
摘要：本实用新型涉及药剂成分检测领域，具体提供了一种具有对比效果的药剂成分检测样品池，包括标准样品腔室和待测样品腔室，在标准样品腔室和待测样品腔室之间设有隔板，标准样品腔室用以盛放标准样品，待测样品腔室用以盛放待测药剂样品，待测样品腔室的顶部设有待测样品腔室开口，标准样品腔室的侧壁、待测样品腔室的侧壁、隔板的材料为石英。应用时，紫外光同时穿过标准样品腔室和待测样品腔室，由于标准样品腔室中的样品与待测样品腔室中的药剂样品不同，根据紫外吸收光谱与标准样品紫外吸收光谱的差异，确定待测样品腔室内待测药剂成分。本实用新型省略了更换样品池或更换样品池中样品的步骤，操作步骤少，效率高。
一种具有对比效果药剂成分检测样品

[发明专利]一种提高特征X射线强度值的测试方法-CN202011406792.4在审
发明人：杨水源;崔继强;蒋少涌;张若曦 -专利权人：中国地质大学（武汉）
申请日： 2020-12-04 - 公布日： 2021-04-30 - 主分类号： G01N23/2252 文献下载
摘要：本发明公开了一种提高特征X射线强度值的测试方法，包括：利用电子探针不同波谱仪上的多个分光晶体，形成待测元素的测试系统，同时测试同一个待测元素；获取标准样品中待测元素的总净计数；获取待测样品中待测元素的总净计数；根据标准样品中待测元素的总净计数、待测样品中待测元素的总净计数与标准样品中待测元素的浓度计算待测样品中待测元素的浓度；根据待测样品中待测元素在各个分光晶体上的背景强度，获取待测样品中待测元素的总背景强度，进而计算待测元素的检测限。本发明可以提高Iunk值，降低测试的检测限，或者在不改变Iunk值的前提下降低测试电流避免造成待测样品被破坏而发生元素迁移的现象
一种提高特征射线强度测试方法

[发明专利]一种样品制备工艺方法-CN201910862932.X在审
发明人：张敬蕊;胡庆利;赵乃胜;周志超;谢新艳;张海燕;武甲;沈洁 -专利权人：北京首钢股份有限公司
申请日： 2019-09-12 - 公布日： 2019-12-20 - 主分类号： G01N23/2202 文献下载
摘要：本发明提供一种样品制备工艺方法，包括：将具有表面缺陷的钢材进行切割，形成待测样品；根据待测样品的尺寸对辅助钢材进行切割，形成辅助样品，辅助样品的厚度为1～2mm，辅助样品及待测样品的平直度保持一致；利用双面铜导电胶将待测样品及辅助样品粘结，形成组合样品，双面铜导电胶与待测样品的待磨制边的距离为2～3mm；对组合样品进行缠绕固定，缠绕固定后，待测样品与辅助样品之间的缝隙为0.05～0.15mm；利用磨抛机对所述缠绕固定后的组合样品的待检测面进行打磨，磨制完成后，拆掉辅助样品；对磨制后的待测样品进行超声波清洗、烘干；对待测样品的待检测面进行清洁后，标记待检测面的缺陷。
待测样品缠绕固定组合样品磨制导电胶检测面切割钢材样品制备工艺超声波清洗表面缺陷磨抛机平直度烘干粘结打磨检测清洁

[发明专利]一种样品残余应力检测方法-CN202210388989.2在审
发明人：黄旭刚;李志年;孙磊;饶晓方 -专利权人：西北稀有金属材料研究院宁夏有限公司
申请日： 2022-04-14 - 公布日： 2022-06-24 - 主分类号： G01L5/00 文献下载
摘要：本发明给出了一种样品残余应力检测方法，包括：在待测样品上确定多个待测点并进行标记；从多个待测点中选取一个待测点为待测基准点；将待测样品放置在样品调节支架上，通过样品调节支架，以获取探测器在待测基准点的样品残余应力检测过程中的第一探测角和第一探测焦距；根据待测基准点以及其它待测点，确定各个其它待测点的角度补偿值和焦距补偿值，以得到探测器在各个其它待测点的样品残余应力检测过程中的第二探测角和第二探测焦距；采用第二探测角和第二探测焦距，对待测样品上的各个待测点的样品残余应力进行连续检测本发明能够实现复杂外形的待测样品的残余应力的连续检测，检测效率高，且操作简单。
一种样品残余应力检测方法

[实用新型]电阻率测量装置-CN201720746134.7有效
发明人：李志勇;郑权;王丽红;闫冬成;李俊锋;张广涛 -专利权人：东旭科技集团有限公司;东旭集团有限公司
申请日： 2017-06-23 - 公布日： 2018-01-02 - 主分类号： G01R27/14 文献下载
摘要：该装置包括加热炉、夹紧装置、电阻测量单元和处理单元；夹紧装置，用于从待测样品的两侧夹紧待测样品，以使待测样品固定于加热炉内；电阻测量单元，包括双单电桥测量电路、双臂电桥测量电路和开关，待测样品分别接入双单电桥测量电路和双臂电桥测量电路；开关具有第一工作位和第二工作位，当其位于第一工作位时，利用双单电桥测量电路获取待测样品的阻值，当其位于第二工作位时，利用双臂电桥测量电路获取待测样品的阻值；处理单元用于根据待测样品的阻值以及待测样品与夹紧装置之间的接触面积、待测样品的长度来确定待测样品的电阻率。由此，可以快速、准确地获知待测样品的电阻率，且容易操作。
电阻率测量装置

[发明专利]一种测量晶粒尺寸的方法-CN201811241087.6有效
发明人：刘兆月;王现辉;陈继冬;李瑞凤;王超;刘云霞;柳振方 -专利权人：首钢智新迁安电磁材料有限公司;北京首钢股份有限公司
申请日： 2018-10-24 - 公布日： 2021-07-20 - 主分类号： G01N23/203 文献下载
摘要：本发明公开了一种测量晶粒尺寸的方法，包括切割待测硅钢样品，将待测硅钢样品待测面进行机械研磨和抛光，去除因制样导致的应力变形区；用千分尺测量待测硅钢样品的实际厚度；将待测硅钢样品固定在70°预倾斜样品台的xy平面上，并保证待测硅钢样品与所述样品台的导电性；将待测硅钢样品放入扫描电镜样品室中，设置电镜的倾转补偿角为70°；调节电镜参数，在电镜扫描模式下测量待测硅钢样品第一厚度；微调倾转补偿角，测量待测硅钢样品第二厚度，使第二厚度与实际厚度数值之差小于20μm；对样品待测面进行EBSD检测，获得EBSD测量数据；对测量数据进行降噪处理后、计算晶粒尺寸、筛选数据、输出结果。
一种测量晶粒尺寸方法

[发明专利]一种滑轨多参数测量方法以及测量装置-CN201910578191.2有效
发明人：易俊;陈韦兆;曾亚光;韩定安;王茗祎;周月霞;张尚贤;冯俊键 -专利权人：佛山科学技术学院
申请日： 2019-06-28 - 公布日： 2023-04-25 - 主分类号： G06T7/155 文献下载
摘要：本发明公开了一种滑轨多参数测量方法以及测量装置，测量方法包括驱动待测样品移动，采集待测样品移动过程中的多个样品图像；将样品图像中所存在的图像孤立点滤除；采用区域生长算法对样品图像进行图像分割操作，将待测图片中的样品区域提取出来，形成多个待测图像；采用拼接算法对待测图像执行图像拼接操作，获取待测样品的整体图像；基于点拼接处理，根据所述整体图像，计算待测样品的各项参数。本发明通过拼接算法实现多个待测图像的拼接操作，将多个待测图像拼接在一起形成一个包含有整个待测样品的整体图像，之后基于点拼接计算待测样品的各项参数，整个计算过程计算量低，参数检测精度高。
一种滑轨参数测量方法以及测量装置

[发明专利]一种测定白酒中总酸总酯含量及鉴别白酒质量等级的方法-CN201911247221.8有效
发明人：林珂;王志强;程妍昕;于岚;张睿挺 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2019-12-09 - 公布日： 2021-08-06 - 主分类号： G01N21/65 文献下载
摘要：一种测定白酒中总酸总酯含量及鉴别白酒质量等级的方法，步骤如下：采集待测样品及与待测样品的酒精度对应同等体积分数的乙醇‑水溶液的拉曼光谱；用待测样品的拉曼光谱减去乙醇‑水溶液的拉曼光谱得到待测样品的差谱；分别对待测样品的差谱的C＝O伸缩振动峰及待测样品的拉曼光谱的C‑C‑O对称伸缩振动峰进行积分；计算待测样品差谱的C＝O伸缩振动峰积分值与待测样品拉曼光谱的C‑C‑O对称伸缩振动峰的积分值的比值；根据检测公式计算待测样品的总酸总酯浓度将计算结果和待测样品的质量等级对应的总酸总酯最低含量比较，即可判断出待测样品的质量是否符合质量等级要求。本发明不需样品预处理，操作简单，检测成本低，可实现无损检测。
一种测定白酒中总酸总酯含量鉴别质量等级方法

[发明专利]基于3ω法的薄层材料间接触热阻的测试方法-CN201410245721.9有效
发明人：宣益民;李强;麻景峰 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2014-06-04 - 公布日： 2014-09-10 - 主分类号： G01N25/20 文献下载
摘要：本发明提供一种基于3ω法的薄层材料间接触热阻的测试方法，所述的测试方法是采用3ω法分别测量待测样品对和对比样品的总热阻，然后通过作差计算得到接触热阻。所述的测量方法为：第一待测样品和第三待测样品叠加放置构成接触热阻待测样品对；第二待测样品作为对比对象；用压力加载装置调整待测样品对之间的接触压力大小；将电压测试单元与待测样品表面的加热测温金属线相连，并测量待测样品对和第二待测样品的总热阻
基于薄层材料间接触热阻测试方法

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