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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]一种X射线发射系统及检测系统-CN202010812954.8在审
发明人：王骞;王新奎;郑振吉 -专利权人：上海瑞示电子科技有限公司
申请日： 2020-08-13 - 公布日： 2020-12-04 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明涉及一种X射线发射系统及检测系统，属于X射线检测技术领域。其中检测系统包括：舱体和第一探测器阵列，舱体内设有用于发射一束主射线和一束旁束射线的X射线源、用于限定主射线辐射的范围的准直器和用于采集旁束射线的辐射强度的旁束射线强度检测装置；主射线与旁束射线设置夹角；旁束射线强度检测装置测得的旁束射线的辐射强度作为补偿量修正经过待检测物的主射线的辐射强度。本发明对旁束射线的检测不会削弱主射线的辐射强度；减少旁束射线对环境的泄漏；并且旁束射线、主射线在不同角度上的辐射强度分布相同，旁束射线、主射线受到加速器工况波动的影响相同，因此利用旁束射线的辐射强度对主射线强度修正的更加准确
一种射线发射系统检测

[实用新型]X射线发射系统及检测系统-CN202021688598.5有效
发明人：王骞;王新奎;郑振吉 -专利权人：上海瑞示电子科技有限公司
申请日： 2020-08-13 - 公布日： 2021-03-23 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种X射线发射系统及检测系统，属于X射线检测技术领域。检测系统包括：舱体和第一探测器阵列，舱体内设有用于发射一束主射线和一束旁束射线的X射线源、用于限定主射线辐射的范围的准直器和用于采集旁束射线的辐射强度的旁束射线强度检测装置；主射线与旁束射线设置夹角；旁束射线强度检测装置测得的旁束射线的辐射强度作为补偿量修正经过待检测物的主射线的辐射强度本实用新型对旁束射线的检测不会削弱主射线的辐射强度；减少旁束射线对环境的泄漏；并且旁束射线、主射线在不同角度上的辐射强度分布相同，旁束射线、主射线受到加速器工况波动的影响相同，因此利用旁束射线的辐射强度对主射线强度修正的更加准确
射线发射系统检测

[实用新型]CT扫描系统-CN202023070703.1有效
发明人：夏清伟 -专利权人：上海工物高技术产业发展有限公司
申请日： 2020-12-18 - 公布日： 2021-12-03 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：CT扫描系统包括：第一射线发生装置，用于生成第一射线束，第一射线束具有第一能量；第二射线发生装置，用于生成第二射线束，第二射线束具有第二能量，第二能量大于第一能量；共用探测装置，设置于第一射线发生装置和第二射线发生装置的射线束出射方向，用于接收第一射线束和第二射线束，并生成第一射线束的第一投影数据和第二射线束的第二投影数据；第一射线发生装置、第二射线发生装置与共用探测装置之间设置有扫描区域，第一射线发生装置和第二射线发生装置沿纵贯扫描区域的方向间隔设置
ct 扫描系统

[发明专利]透视扫描设备-CN201810445465.6在审
发明人：陈志强;吴万龙;赵自然;丁富华;桑斌;郑志敏;阮明 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2018-05-10 - 公布日： 2018-08-28 - 主分类号： G01V5/00 文献下载
摘要：一种透视扫描设备，包括：双扇束X射线源，用于向其同侧发射平行或共面的张角为α的第一X射线扇形束和张角为β的第二X射线扇形束，所述第一X射线扇形束和第二X射线扇形束用于透射扫描被测目标，在与两者平行的平面内的投影拼合为张角为α+β的扇形；以及探测器，设置在双扇束X射线源的所述第一X射线扇形束和第二X射线扇形束的出射侧，接收所述第一X射线扇形束和第二X射线扇形束。
张角扫描设备双扇平行透视被测目标透射扫描探测器出射拼合同侧投影发射

[实用新型]透视扫描设备-CN201820699479.6有效
发明人：陈志强;吴万龙;赵自然;丁富华;桑斌;郑志敏;阮明 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2018-05-10 - 公布日： 2018-12-04 - 主分类号： G01V5/00 文献下载
摘要：一种透视扫描设备，包括：双扇束X射线源，用于向其同侧发射平行或共面的张角为α的第一X射线扇形束和张角为β的第二X射线扇形束，所述第一X射线扇形束和第二X射线扇形束用于透射扫描被测目标，在与两者平行的平面内的投影拼合为张角为α+β的扇形；以及探测器，设置在双扇束X射线源的所述第一X射线扇形束和第二X射线扇形束的出射侧，接收所述第一X射线扇形束和第二X射线扇形束。
张角扫描设备双扇平行透视被测目标透射扫描探测器出射拼合同侧投影发射

[发明专利]射线的限束调节装置、限束调节方法与成像装置-CN201210307020.4无效
发明人：李扬;邹凤 -专利权人：北京东方惠尔图像技术有限公司
申请日： 2012-08-24 - 公布日： 2012-11-21 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种射线的限束调节装置、限束调节方法与成像装置。射线的限束调节装置包括：限束元件；限束调节单元与限束元件连接，用于调节限束元件的开度；距离测量单元，用于测量射线源与射线接收装置之间的距离；控制单元与距离测量单元和限束调节单元连接，用于根据射线源与射线接收装置之间的距离、限束元件与射线源之间的距离及射线接收装置的预定接收区域之间的几何及位置关系，确定限束元件的目标开度，并控制限束调节单元将限束元件的开度调节到目标开度。本发明在射线源与射线接收装置之间设置开度可以自动调节的用于限制多余射线的限束元件，从而达到有效地屏蔽多余的射线的目的。
射线调节装置方法成像

[发明专利]X射线束流强度监控装置和X射线检查系统-CN201410851366.X有效
发明人：康克军;李树伟;张清军;李元景;李玉兰;赵自然;刘以农;刘耀红;朱维彬;赵晓琳;何会绍 -专利权人：清华大学;同方威视技术股份有限公司
申请日： 2014-12-31 - 公布日： 2018-12-11 - 主分类号： G01T1/29 文献下载
摘要：本发明公开了一种X射线束流强度监控装置和X射线检查系统。X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块，强度探测模块用于接受X射线束流的照射并发出探测信号，数据处理模块与强度探测模块耦合以接收探测信号并输出X射线束流强度监控信号，其中，X射线束流强度监控信号包括X射线束流的剂量监控信号和X射线束流的亮度校正信号。该X射线束流强度监控装置可以同时进行剂量监控和亮度监控，提升了X射线束流强度监控装置的使用效率。
射线强度监控装置检查系统

[发明专利]CT扫描系统及CT扫描数据处理方法-CN202011507778.3在审
发明人：夏清伟 -专利权人：上海工物高技术产业发展有限公司
申请日： 2020-12-18 - 公布日： 2021-03-09 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：系统包括：第一射线发生装置，用于生成第一射线束，第一射线束具有第一能量；第二射线发生装置，用于生成第二射线束，第二射线束具有第二能量，第二能量大于第一能量；共用探测装置，设置于第一射线发生装置和第二射线发生装置的射线束出射方向，用于接收第一射线束和第二射线束，并生成第一射线束的第一投影数据和第二射线束的第二投影数据；第一射线发生装置、第二射线发生装置与共用探测装置之间设置有扫描区域，第一射线发生装置和第二射线发生装置沿纵贯扫描区域的方向间隔设置
ct 扫描系统数据处理方法

[发明专利]用于干涉测量确定距离的装置-CN201210317094.6有效
发明人：沃尔夫冈·霍尔扎普费尔 -专利权人：约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司
申请日： 2012-08-30 - 公布日： 2013-03-13 - 主分类号： G01B11/14 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于两个尽可能平行布置的板之间的干涉测量的距离确定的装置，装置具有光源、至少一个射束分配元件、至少一个反射器元件和检测单元。光源的射线束入射在第一板上的射束分配元件上被分配为基准射线束和测量射线束。测量射线束入射在第二板的反射器元件上经历第一逆反射。基准射线束穿过第一偏转元件，测量射线束穿过第二偏转元件；两个射线束穿过所属的逆向反射器，测量射线束穿过第三偏转元件，基准射线束穿过第四偏转元件。偏转元件对穿过的射线束分别施加偏转作用。基准射线束在第一板上反射，测量射线束在第二板的反射器元件上经历第二逆反射，因此两个射线束同线地、沿检测单元的方向干涉地传播，产生多个相位移的距离信号。
用于干涉测量确定距离装置

[实用新型]X射线束流强度监控装置和X射线检查系统-CN201420867215.9有效
发明人：康克军;李树伟;张清军;李元景;李玉兰;赵自然;刘以农;刘耀红;朱维彬;赵晓琳;何会绍 -专利权人：清华大学;同方威视技术股份有限公司
申请日： 2014-12-31 - 公布日： 2015-07-01 - 主分类号： G01T1/29 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种X射线束流强度监控装置和X射线检查系统。X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块，强度探测模块用于接受X射线束流的照射并发出探测信号，数据处理模块与强度探测模块耦合以接收探测信号并输出X射线束流强度监控信号，其中，X射线束流强度监控信号包括X射线束流的剂量监控信号和X射线束流的亮度校正信号。该X射线束流强度监控装置可以同时进行剂量监控和亮度监控，提升了X射线束流强度监控装置的使用效率。
射线强度监控装置检查系统

[发明专利]用于CT系统的限束器-CN201210580454.1有效
发明人：王斌;潘贤军;董加勤;于壮飞;谢强 -专利权人：通用电气公司
申请日： 2012-12-28 - 公布日： 2019-10-01 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明的名称为用于CT系统的限束器，其提供了一种用于CT系统的限束器，其由x射线吸收材料制成，并且限束器包括：成像开口，其具有第一宽度以通过第一x射线束，其中第一x射线束用于x射线成像；及追踪开口，其具有第二宽度以通过第二x射线束，其中第二x射线束用于x射线束追踪。通过本发明，能够对现有技术中的一个或多个方面进行提高，从而在射线束追踪时降低射线束干扰，或增加追踪范围，或改善追踪灵敏度差，或增强抗噪能力，等。
用于 ct 系统限束器

[发明专利]微束X射线治疗谱仪、多毛细管X射线聚束系统及方法-CN201010605826.2有效
发明人：刘志国;孙天希;袁灏;刘鹤贺 -专利权人：北京师范大学
申请日： 2010-12-23 - 公布日： 2011-04-06 - 主分类号： A61N5/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种微束X射线治疗谱仪，包括：X射线光源、多毛细管X射线聚束系统；X射线光源位于多毛细管X射线聚束系统的入口端；多毛细管X射线聚束系统由多根单通道玻璃毛细管排列组成；其中，多毛细管X射线聚束系统的入口端接收X射线光源发出的X射线，会聚后从出口端射出，形成X射线微束系列。本发明还公开一种多毛细管X射线聚束系统及方法，该系统包括：350～500万根单通道玻璃毛细管。因此，本发明可通过普通X射线光源获得符合要求的X射线微束系列，且不需要另外添加低能X射线过滤器，使微束X射线治疗谱仪的结构紧凑，使用方便。
微束射线治疗毛细管系统方法

[实用新型]微束X射线治疗谱仪、多毛细管X射线聚束系统-CN201020679330.5无效
发明人：刘志国;孙天希;袁灏;刘鹤贺 -专利权人：北京师范大学
申请日： 2010-12-23 - 公布日： 2011-08-03 - 主分类号： A61N5/10 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种微束X射线治疗谱仪，包括：X射线光源、多毛细管X射线聚束系统；X射线光源位于多毛细管X射线聚束系统的入口端；多毛细管X射线聚束系统由多根单通道玻璃毛细管排列组成；其中，多毛细管X射线聚束系统的入口端接收X射线光源发出的X射线，会聚后从出口端射出，形成X射线微束系列。本实用新型还公开一种多毛细管X射线聚束系统，该系统包括：350～500万根单通道玻璃毛细管。因此，本实用新型可通过普通X射线光源获得符合要求的X射线微束系列，且不需要另外添加低能X射线过滤器，使微束X射线治疗谱仪的结构紧凑，使用方便。
微束射线治疗毛细管系统

[发明专利]X射线检查系统-CN201410851416.4有效
发明人：李树伟;张清军;康克军;李元景;李玉兰;赵自然;刘以农;刘耀红;朱维彬;赵晓琳;何会绍 -专利权人：清华大学;同方威视技术股份有限公司
申请日： 2014-12-31 - 公布日： 2018-01-23 - 主分类号： G01N23/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种X射线检查系统，包括X射线发射装置、探测器阵列和X射线束流强度监控装置，X射线发射装置发出的X射线束流包括照射于探测器阵列上的工作束流和照射于探测器阵列之外的冗余束流，X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块，强度探测模块设置于X射线发射装置和探测器阵列之间以接受冗余束流的照射并发出探测信号，数据处理模块与强度探测模块耦合以接收探测信号并输出X射线束流强度监控信号。该X射线检查系统的强度探测模块利用的是X射线束流的冗余束流，强度探测模块基本不受X射线发射装置和被检物体的影响，从而可使X射线束流强度的监控结果更加准确可靠。
射线检查系统

[实用新型]X射线检查系统-CN201420867184.7有效
发明人：李树伟;张清军;康克军;李元景;李玉兰;赵自然;刘以农;刘耀红;朱维彬;赵晓琳;何会绍 -专利权人：清华大学;同方威视技术股份有限公司
申请日： 2014-12-31 - 公布日： 2015-07-01 - 主分类号： G01N23/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种X射线检查系统，包括X射线发射装置、探测器阵列和X射线束流强度监控装置，X射线发射装置发出的X射线束流包括照射于探测器阵列上的工作束流和照射于探测器阵列之外的冗余束流，X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块，强度探测模块设置于X射线发射装置和探测器阵列之间以接受冗余束流的照射并发出探测信号，数据处理模块与强度探测模块耦合以接收探测信号并输出X射线束流强度监控信号。该X射线检查系统的强度探测模块利用的是X射线束流的冗余束流，强度探测模块基本不受X射线发射装置和被检物体的影响，从而可使X射线束流强度的监控结果更加准确可靠。
射线检查系统

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