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[发明专利]探测器装置和射线检测设备-CN202111427640.7在审
发明人：赵博震;王钧效;翟兴亮;邹湘;李树伟;于昊;朱维彬;王雪 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2021-11-26 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G01T7/00 文献下载
摘要：本公开提供了一种探测器装置和射线检测设备，其可以应用于辐射检测技术领域。该探测器装置包括：探测器组件，用于接收射线源产生的射线，并生成模拟信号；模拟电路模块，用于接收模拟信号并转换成数字信号，模拟电路模块具有相对设置的第一表面和第二表面，第一表面的第一区域与探测器组件可拆卸连接，第二表面适于与探测器装置的目标安装位置连接；以及数字电路模块，用于接收来自模拟电路模块的数字信号，第一表面的第二区域与数字电路模块可拆卸连接。
探测器装置射线检测设备

[发明专利]面阵探测器、探测方法及相应的集装箱/车辆检查系统-CN202111422301.X在审
发明人：谈林霞;于昊;邹湘;朱维彬;王钧效 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2021-11-26 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：本公开提出一种面阵探测器、探测方法及相应的集装箱/车辆检查系统，涉及射线扫描领域。用于集装箱/车辆检查系统的面阵探测器包括：稀疏排列的多个探测器组件，其中的第一探测器组件与其他的第二探测器组件不同；底板，用于承载和安装所述多个探测器组件。从而，实现支持多种扫描模式的面阵探测器。
探测器探测方法相应集装箱车辆检查系统

[发明专利]束流分布专用探测装置和束流分布探测方法-CN202110625375.7在审
发明人：赵博震;郭云开;张战强;韦亮军;王雪;张文剑;李树伟;朱维彬;邹湘;于昊;李荐民 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2021-06-04 - 公布日： 2022-12-06 - 主分类号： G01T1/29 文献下载
摘要：本公开涉及一种束流分布专用探测装置和束流分布探测方法。该束流分布专用探测装置包括至少一个探测器模块，探测器模块包括线阵探测器和逻辑控制模组，其中，线阵探测器，被配置为根据逻辑控制模组的指示，采集束流数据；逻辑控制模组，被配置为对束流数据进行处理，根据处理后的束流数据判断束流状态是否满足预定要求；在束流状态不满足预定要求的情况下，对束流进行调整。本公开采用线阵探测器，使用方法简单，大大节省了调试时间。
分布专用探测装置方法

[发明专利]双能探测方法与装置-CN201810262091.4有效
发明人：李树伟;张清军;邹湘;赵博震;王钧效;朱维彬;王永强;张文剑 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2018-03-28 - 公布日： 2021-12-17 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本公开提供一种双能探测方法与装置。双能探测方法装置包括：X射线源，用于向被测物体发送X射线束；闪烁探测器，工作于积分模式，用于接收穿过所述被测物体的所述X射线束以生成第一电信号；切伦科夫探测器，位于所述闪烁探测器后方，工作于计数模式，用于接收穿过所述被测物体的所述X射线束以生成第二电信号；处理器，用于根据所述第一电信号以及所述第二电信号输出所述被测物体的图像、体积以及材质信息本公开提供的双能探测方法可以获得更清晰并包含更多信息的被测物体图像。
探测方法装置

[发明专利]射线检查系统及散射校正方法-CN202010253098.7在审
发明人：李树伟;张清军;邹湘;朱维彬;赵博震;李祥华;王钧效 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2020-04-02 - 公布日： 2021-10-26 - 主分类号： G01V5/00 文献下载
摘要：本公开涉及一种射线检查系统及散射校正方法。射线检查系统包括：射线源(1)，被配置为产生射线束流(10)；第一探测器阵列(2)，至少部分位于所述射线束流(10)的覆盖范围内；第二探测器阵列(3)，与所述第一探测器阵列(2)位于所述射线检查系统的检查对象(4)的同侧，且位于所述射线束流(10)的覆盖范围外，所述第二探测器阵列(3)被配置为接收所述射线束流(10)在透过所述检查对象(4)的过程中的散射信号；和处理器(5)，与所述第一探测器阵列(2)和所述第二探测器阵列(3)信号连接，被配置为根据所述散射信号对所述第一探测器阵列(2)的接收信号进行散射校正。
射线检查系统散射校正方法

[发明专利]用于闪烁体余辉的检测装置和方法-CN202010243019.4在审
发明人：王燕春;何会绍;邹湘;朱维彬;张清军;李元景 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2020-03-31 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本公开提供了一种用于闪烁体余辉的检测装置和方法。该检测装置包括：LED芯片光源，用于在被开启后发出紫外光，以及在被关断后不发出紫外光，其中，该紫外光照射在闪烁体上以使得该闪烁体发出光信号；光电探测器，用于接收闪烁体发出的光信号，并将该光信号转换为电信号；信号处理器，用于对电信号进行信号处理，以得到闪烁体的闪烁光强度；以及信息处理设备，用于从信号处理器接收闪烁光强度，并拟合得到该闪烁光强度随时间变化的曲线，并根据该曲线获得闪烁体的余辉特性参数。本公开实现了闪烁体余辉的便捷检测。
用于闪烁余辉检测装置方法

[发明专利]探测器模块、探测器设备和检查设备-CN202010184731.1在审
发明人：赵博震;翟兴亮;李树伟;邹湘;朱维彬;谈林霞;张清军;李荐民 -专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请日： 2020-03-17 - 公布日： 2021-09-17 - 主分类号： G01V5/00 文献下载
摘要：本公开的实施例提供一种探测器模块、探测器设备、检查设备。探测器模块，包括：基板；安装在基板上的多个探测器元件，所述多个探测器元件的每一个以能够被调整位置和/或取向的方式安装在基板上，配置成将接收的射线转换为光信号或电信号；和采集和处理装置，固定设置在基板上用于处理来自多个探测器元件的每一个的光信号或电信号；其中，探测器模块还包括传输装置，所述传输装置配置成能够将多个探测器元件转换的光信号或电信号分别传输给所述采集和处理装置的同时，允许安装在基板上的多个探测器元件的每一个能够被单独调整位置和/或取向以便接收射线。
探测器模块设备检查

[发明专利]用于辐射检查的探测器及探测装置-CN201911363127.9在审
发明人：李树伟;张清军;邹湘;朱维彬;赵博震;王钧效 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2019-12-25 - 公布日： 2021-06-25 - 主分类号： G01T1/20 文献下载
摘要：本申请提供了一种用于辐射检查的探测器，包括：灵敏介质，被配置为与入射到探测器的入射光进行反应，从而产生高能辐射光和低能辐射光；高能光电转换器件，可以被配置为设置在所述灵敏介质的远离所述入射光的一端处，用于探测所述高能辐射光；以及，低能光电转换器件，可以被配置为设置在所述灵敏介质的靠近所述入射光的一端处，用于探测所述低能辐射光。
用于辐射检查探测器探测装置

[发明专利]用于制造闪烁体探测器的设备和方法-CN201910546489.5在审
发明人：赵博震;邹湘;李树伟;朱维彬;张清军;李荐民 -专利权人：清华大学;同方威视技术股份有限公司
申请日： 2019-06-21 - 公布日： 2020-12-22 - 主分类号： G01T1/202 文献下载
摘要：本发明公开一种用于制造闪烁体探测器的设备。闪烁体探测器包括：闪烁体；反射层，其在闪烁体的上方和侧方包围闪烁体；以及光探测器，其设置在闪烁体和反射层的下方，并且具有灵敏面和信号读出电路。所述设备包括：闪烁体工装，其适于夹持由反射层和闪烁体构成的组件；以及光探测器工装，其适于支撑所述光探测器。所述设备还包括光源(例如X光机)和位移装置，所述位移装置适于夹持闪烁体工装并且在动力的驱动下移动闪烁体工装，以使闪烁体的光输出面对准光探测器的灵敏面。本发明还公开一种使用所述设备制造闪烁体探测器的方法。通过采用上述技术方案，本发明实现了小尺寸闪烁体探测器中的闪烁体的光输出面与光探测器的灵敏面之间的精确对准。
用于制造闪烁探测器设备方法

[发明专利]光缆剥皮装置-CN201710599754.7有效
发明人：黎明;陈鹏;陈曲;杨卫东;彭林;朱维彬 -专利权人：德阳汇川科技有限公司
申请日： 2017-07-21 - 公布日： 2019-12-24 - 主分类号： G02B6/44 文献下载
摘要：本发明公开了一种光缆剥皮装置，包括机头，所述机头包括两个板面相对立设置的侧板、以及与所述两个侧板连接的顶板和底板；所述两个侧板上对应设有前刀头和后刀头，所述前刀头和后刀头上均设有刀片，所述前刀头和后刀头上的刀片位于两个侧板之间且刀片上的刀刃相向设置；所述顶板上设有上导轮组，底板上均设有下导轮组，所述上导轮组与下底轮组上均设有两组导轮，所述两组导轮分别分布于刀片的两侧，且上导轮组的两组导轮与下导轮组上的两组导轮对应位于一条直线上；所述光缆在上导轮组的两组导轮与下导轮组上的两组导轮之间移动。本发明可利用光缆生产设备进行机械牵引，其速度快，剥皮稳定，适用于光缆生产厂家对普通光缆进行批量剥皮。
光缆剥皮装置

[发明专利]辐射探测装置、方法以及数据处理方法和处理器-CN201611143083.5有效
发明人：李元景;赵自然;李荐民;李玉兰;朱维彬;邹湘;张清军;宗春光;赵晓琳;李树伟;王钧效 -专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请日： 2016-12-08 - 公布日： 2019-10-11 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明提出一种辐射探测装置、方法以及数据处理方法和处理器，涉及辐射探测技术领域。其中，本发明的一种辐射探测装置包括：射线探测器；与射线探测器相连接的高速模数转化器ADC；和与高速ADC连接的数据处理器；其中，射线探测器把透射X射线与闪烁体作用后产生的光信号转化为电信号；高速ADC通过电信号波形采样获取波形数据；数据处理器根据波形数据确定单光子信号个数，进而确定采用积分信号和/或计数信号进行成像。这样的装置能够利用探测器的单光子探测能力根据波形数据确定单光子信号个数，进而判断采用波形数据的积分信号和/或计数信号进行成像，从而提高被测物体的辐射探测成像质量，提升系统的穿透力指标和物质分辨能力。
辐射探测装置方法以及数据处理处理器

[发明专利]双能探测器装置、系统及方法-CN201511017642.3有效
发明人：张清军;李元景;李树伟;赵自然;朱维彬;王均效;李建华 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2015-12-29 - 公布日： 2019-05-07 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本申请涉及双能探测装置、系统及方法，属于辐射检查领域。该装置包括：靠近射线源一侧的第一像素探测器阵列，用于探测相对低能的射线源光子；远离射线源一侧的第二像素探测器阵列，用于探测相对高能的射线源光子；其中第一像素探测器阵列包括多排第一像素探测器，其包括第一灵敏介质、第一光敏器件、用于射线源入射的第一入射面及与第一光敏器件耦合的第一窗口，第一入射面朝向射线源；第二像素探测器阵列包括单排第二像素探测器，其包括第二灵敏介质、第二光敏器件、第二入射面及与第二光敏器件耦合的第二窗口；每个第二像素探测器与其相应的多个第一像素探测器的像素面积相同。本公开能够同时兼顾物质有效原子序数的识别、提升空间分辨能力和增强对射线的有效探测。
探测器装置系统方法

[实用新型]探测器模块结构-CN201820684913.3有效
发明人：赵博震;王钧效;李树伟;邹湘;翟兴亮;张文剑;朱维彬;张清军;赵自然 -专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请日： 2018-05-09 - 公布日： 2018-12-25 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种探测器模块结构，包括：探测器组件，包括探测器和与探测器连接的信号输出连接件；数据采集电路板，包括板体和信号输入连接件，板体的第一表面具有信号输入区，信号输入连接件设置于信号输入区，信号输出连接件与信号输入连接件连接；第一封盖，贴合于板体的与第一表面相对的第二表面；探测器封罩，罩设于探测器组件和信号输入连接件外；第一连接件，连接探测器封罩、板体和第一封盖；和第一密封元件，设置于探测器封罩与第一表面之间，用于密封探测器封罩和信号输入区所形成的区域。本实用新型可以提高探测器模块结构的环境适应性能和使用寿命。
信号输入连接件探测器板体封罩探测器模块结构信号输入区第一表面本实用新型探测器组件信号输出连接件封盖数据采集电路板环境适应性能第一连接件连接探测器探测器连接第二表面密封元件使用寿命贴合罩设密封

[发明专利]X射线束流强度监控装置和X射线检查系统-CN201410851366.X有效
发明人：康克军;李树伟;张清军;李元景;李玉兰;赵自然;刘以农;刘耀红;朱维彬;赵晓琳;何会绍 -专利权人：清华大学;同方威视技术股份有限公司
申请日： 2014-12-31 - 公布日： 2018-12-11 - 主分类号： G01T1/29 文献下载
摘要：本发明公开了一种X射线束流强度监控装置和X射线检查系统。X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块，强度探测模块用于接受X射线束流的照射并发出探测信号，数据处理模块与强度探测模块耦合以接收探测信号并输出X射线束流强度监控信号，其中，X射线束流强度监控信号包括X射线束流的剂量监控信号和X射线束流的亮度校正信号。该X射线束流强度监控装置可以同时进行剂量监控和亮度监控，提升了X射线束流强度监控装置的使用效率。
射线强度监控装置检查系统

[发明专利]测量闪烁体灵敏度的方法、系统和设备-CN201511018469.9有效
发明人：李树伟;李元景;赵自然;张清军;赵博震;朱维彬;王均效;孙立风 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2015-12-29 - 公布日： 2018-11-30 - 主分类号： G01T7/00 文献下载
摘要：本申请涉及测量闪烁体灵敏度的方法、系统及设备，属于测量技术领域。该方法包括：将多个闪烁体单元排成闪烁体阵列，每个闪烁体单元具有窗口；用射线源从入射面照射所述闪烁体阵列从而使闪烁光从所述多个闪烁体单元的窗口发出；用成像装置对发出闪烁光的所述闪烁体阵列进行拍照，得到灰度图像，所述灰度图像的各个灰度值对应闪烁光强度，所述成像装置包括多个像素；根据所述多个闪烁体单元在所述灰度图像中的相应位置及所述相应位置处的灰度值的分别得到所述多个闪烁体单元的灵敏度。本公开采用相机批量测试多个闪烁体单元，能够提高生产效率和控制产品质量，且具备通用性。
测量闪烁灵敏度方法系统设备

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