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[发明专利]一种存储芯片的性能检测方法和系统-CN202011077380.0在审
发明人：吴佳;李礼;苗诗君;邢培栋;张旗;余云 -专利权人：上海威固信息技术股份有限公司
申请日： 2020-10-10 - 公布日： 2021-01-01 - 主分类号： G11C29/50 文献下载
摘要：本发明提供一种存储芯片的性能检测方法和系统，其中，方法包括：步骤S1：获取存储芯片的标识信息；步骤S2：基于标识信息确定检测方案；步骤S3：基于检测方案对存储芯片进行性能检测，输出性能检测报告；其中，标识信息包括：材质、型号、容量、存储速度、工作温度、响应时间其中一种或多种结合。本发明的存储芯片的性能检测方法，根据存储芯片的标识信息采用针对的检测方案，实现全方位的性能检测。
一种存储芯片性能检测方法系统

[发明专利]存储芯片和参数产生方法-CN201410166627.4有效
发明人：刘卫臣 -专利权人：珠海艾派克微电子有限公司
申请日： 2014-04-23 - 公布日： 2014-07-30 - 主分类号： B41J29/393 文献下载
摘要：本发明提供了一种存储芯片和参数产生方法。该存储芯片包括接口单元和参数产生模块，通过对接收到的指令进行处理，并产生计算结果，然后将产生的计算结果发送给打印成像设备。由于这些参数由存储芯片根据参数产生程序或者指令处理规则和指令产生，兼容厂商或者原装厂商无需在存储芯片中存储完整的特定的参数，也能够避免竞争对手直接读取存储芯片而获得这些特定的参数，从而保护了数据。
存储芯片参数产生方法

[发明专利]存储系统及其错误校正方法-CN201711328380.1有效
发明人：李圣恩;权正贤;赵上球 -专利权人：爱思开海力士有限公司
申请日： 2017-12-13 - 公布日： 2021-08-03 - 主分类号： G06F11/10 文献下载
摘要：一种存储系统的错误校正方法包括：从多个存储芯片读取数据和错误校正码；基于错误校正码来校正数据的错误；判断在校正数据错误中是否发生误校正；当发生误校正时将多个存储芯片之中的一个存储芯片指定为Chip‑kill式存储芯片；考虑到指定的Chip‑kill式存储芯片而基于错误校正码来重新校正数据的错误；以及重新判断在重新校正数据错误中是否发生误校正。
存储系统及其错误校正方法

[实用新型]显示装置及其智能终端-CN202121184515.3有效
发明人：梁丕振;夏群兵;胡海军;朱道林 -专利权人：深圳市爱协生科技有限公司
申请日： 2021-05-28 - 公布日： 2022-03-22 - 主分类号： G06F3/041 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种显示装置，包括显示面板、存储芯片和显示驱动芯片，其中，所述显示面板包括第一区域和第二区域，所述第一区域为显示区域；所述存储芯片和所述显示驱动芯片通信连接，且所述存储芯片和所述显示驱动芯片压合在所述第二区域；所述存储芯片，用于存储显示数据所述显示驱动芯片，用于对显示面板的显示区域进行驱动显示。
显示装置及其智能终端

[发明专利]一种用于非易失性存储芯片的自毁微系统及其自毁方法-CN201510184443.5有效
发明人：娄文忠;丁旭冉;赵越;刘鹏 -专利权人：娄文忠;丁旭冉;赵越;刘鹏
申请日： 2015-04-17 - 公布日： 2017-05-24 - 主分类号： B09B3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于非易失性存储芯片的自毁微系统及其自毁方法。本发明的自毁微系统包括封装体、微型发火芯片、存储芯片和自毁决策芯片；将存储芯片与微型发火芯片封装在一个封装体内，并且在存储芯片处于正常状态时，微型安全解保单元将微型换能元短路，保证微型换能元不发火；当自毁决策芯片判断系统需要存储芯片自毁时通过解保控制端向微型安全解保单元发出解保指令，将与微型换能元的一对发火电极并联的微型安全解保单元断开，之后，发火控制端向微型换能元发出发火信号，微型换能元发热引起封装外壳开始发生自持燃烧甚至爆轰，直到整个封装体燃烧完毕，使存储芯片发生不修复的物理损伤，实现存储芯片中信息的不可恢复地销毁。
一种用于非易失性存储芯片自毁系统及其方法

[实用新型]贴片式存储芯片-CN201922502816.5有效
发明人：黄燕平 -专利权人：广东嘉泰智能技术有限公司
申请日： 2019-12-31 - 公布日： 2020-08-07 - 主分类号： G06K19/077 文献下载
摘要：本申请涉及一种贴片式存储芯片，包括：芯片主体，设置在所述芯片主体侧边的SDIO管脚，其中SDIO管脚至少包括八个SDIO数据接口管脚，现有技术中的贴片式存储芯片通常只具有单个SDIO数据接口管脚或四个SDIO数据接口管脚，SDIO数据接口管脚的数量决定贴片式存储芯片的读写带宽，本申请中，将贴片式存储芯片SDIO管脚中SDIO数据接口管脚的数量扩展到8个，相较于现有技术中单个SDIO数据接口管脚的贴片式存储芯片带宽扩展了8倍，相较于现有技术中4个SDIO数据接口管脚的贴片式存储芯片带宽扩展了2倍。
贴片式存储芯片

[实用新型]一种基于FPGA可扩展的NANDFLASH存储芯片阵列控制器-CN201720235609.6有效
发明人：周磊;陶莉 -专利权人：扬州大学
申请日： 2017-03-06 - 公布日： 2017-10-13 - 主分类号： G06F13/16 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种基于FPGA可扩展的NAND FLASH存储芯片阵列控制器。本实用新型由主机控制模块和NAND FLASH存储芯片控制器模块组成，以单个NAND FLASH存储芯片控制器为核心，并行操作多片NAND FLASH存储芯片，避免了多个控制器所产生的同步问题，同时加入了双缓冲和流水线技术，提高数据的存取速率，完成对NAND FLASH存储芯片阵列的操作，实现了对高速大容量数据的存储。本实用新型高了数据存取速度，实现对NAND FLASH存储芯片阵列的控制。
一种基于 fpga 扩展 nandflash 存储芯片阵列控制器

[实用新型]带有RFID电子标签的货柜-CN201120130939.1无效
发明人：邵锋 -专利权人：华东师范大学附属杨行中学
申请日： 2011-04-28 - 公布日： 2011-12-21 - 主分类号： B65D90/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及货运存储设备领域，具体为一种带有RFID电子标签的货柜；它包括货柜，其特征是：还包括存储芯片、天线、天线基板、直流电源；所述天线基板铺设于货柜外表面、天线封装于天线基板内；存储芯片、直流电源均设于货柜内；天线与存储芯片连接，存储芯片与直流电源连接；天线与存储芯片之间、存储芯片与直流电源之间呈电路导通状态。
带有 rfid 电子标签货柜

[发明专利]一种存储芯片启动程序检测方法和装置-CN201611110793.8在审
发明人：冯颖俏 -专利权人：北京京存技术有限公司
申请日： 2016-12-06 - 公布日： 2018-06-12 - 主分类号： G06F11/14 文献下载
摘要：本发明公开了一种存储芯片启动程序检测方法及装置。该方法包括：通过测试软件将主启动程序和备份启动程序，分别写入待测试存储芯片的相应物理存储空间；根据所述主启动程序的物理存储空间，将经过存储芯片写入过程修改的主启动程序写入数据读出；对所述主启动程序写入数据进行修改，以形成阻止所述主启动程序运行的错误；将修改后的主启动程序写入数据回写入相应的物理存储空间；运行所述待测试存储芯片，以验证所述待测试存储芯片的备份启动程序是否正常运行。通过本发明的技术方案，能够对存储芯片中备份启动程序的可用性进行有效检测。
存储芯片主启动程序写入数据物理存储空间备份启动启动程序测试写入方法和装置测试软件程序运行写入过程有效检测可用性检测读出验证

[发明专利]一种嵌入芯片的有机基板晶圆上集成结构-CN202310221871.5在审
发明人：王刚;明雪飞;袁渊;汤文学;王成迁 -专利权人：中国电子科技集团公司第五十八研究所
申请日： 2023-03-09 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： H01L23/50 文献下载
摘要：本发明公开一种嵌入芯片的有机基板晶圆上集成结构，属于集成电路封装领域，通过将多个存储芯片嵌入有机基板晶圆内部，将计算芯片和配套的存储芯片面对面安装，通过电镀铜柱阵列将两种芯片的焊盘连接，与配套的计算芯片实现垂直互连，缩短了计算芯片与其多个配套存储芯片的互连路径，降低了芯片间的信号延迟，提高计算‑存储芯片间的传输信号质量和最大传输速率，进而将大量计算芯片、存储芯片和辅助芯片在一个晶圆上集成，实现芯片数量大、信号延迟低
一种嵌入芯片有机基板晶圆上集成结构

[实用新型]一种堆叠式存储芯片的分布存储器-CN202020323509.0有效
发明人：裴少华 -专利权人：兰州学博电子新技术有限责任公司
申请日： 2020-03-16 - 公布日： 2020-07-17 - 主分类号： G11B33/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种堆叠式存储芯片的分布存储器，属于存储器技术领域，包括存储器本体，所述存储器本体的下表面上对称设置有两个微型电机，两个微型电机分别与散热组件和传动组件相连接；所述传动组件包括主动轮和从动轮，所述主动轮上固定设置有若干个数据接口，从动轮上固定设置有若干个与数据接口相匹配的存储芯片，其有益效果在于：通过利用通风管和散热风扇的相互配合来对多个存储芯片同时进行散热，能够有效防止现有分布存储器由于散热结构差而导致存储芯片损坏的问题，有助于提高存储芯片的使用寿命，为设备的长时间使用提供了保障，同时通过利用微型电机来带动存储芯片和数据接口进行转动，能够有效实现存储芯片的分区存储，操作简单。
一种堆叠存储芯片分布存储器

[发明专利]一种过载检测保护方法、装置、电路及电子设备-CN202111668258.5在审
发明人：高游 -专利权人：联想（北京）有限公司
申请日： 2021-12-31 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G11C16/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种一次性可编程存储芯片的过载检测保护方法、装置、电路及电子设备，该方法首先检测电子设备的一次性可编程存储芯片的输出电流，并在输出电流大于第一设定电流的情况下，发出芯片异常预警信息，其中，第一设定电流大于一次性可编程存储芯片的工作电流阈值并且小于一次性可编程存储芯片的熔断电流由此，相对于只能在输出电流超过熔断电流的情况下直接关机的一次性可编程存储芯片，本方案能够在一次性可编程存储芯片的输出电流达到熔断电流之前，有效识别超限的电流异常问题，实现了提前对一次性可编程存储芯片进行预警，以使得应用该一次性可编程存储芯片数据的系统提前做好数据保护等功能。
一种过载检测保护方法装置电路电子设备

[发明专利]存储芯片读写装置及方法-CN200710029902.8无效
发明人：刘占锋 -专利权人：佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司
申请日： 2007-08-27 - 公布日： 2009-03-04 - 主分类号： G11C29/00 文献下载
摘要：一种存储芯片读写装置，其连接到存储芯片测试控制端和被测存储芯片，本装置包括：一应用控制程序，其设置于该存储芯片测试控制端；此应用控制程序设有一读写模块，可读、写该被测存储芯片内数据；一读取监测模块，可监测到被测芯片中程序是否有被读取；另有一读写接口，其电性连接到该存储芯片测试控制端和该被测存储芯片之间；该读写接口内设一微处理器，此微处理器有一侦测与转换模块，此模块可侦测到端口的连通，同时可实现接口间信号的转换；一信号接收与发送模块设置于该微处理器，读写接口可通过此模块与该应用控制程序信号互通；应用控制程序可控制读写接口读写该被测存储芯片数据，利用读取到的信息进行错误分析，可提高测试维修效率。
存储芯片读写装置方法

[实用新型]一种存储芯片检测装置-CN201220101630.4有效
发明人：李佳峻;涂治兵;温建云 -专利权人：四川九洲电器集团有限责任公司
申请日： 2012-03-19 - 公布日： 2012-11-21 - 主分类号： G11C29/52 文献下载
摘要：本实用新型涉及存储芯片，尤其是一种从不同读写速度下检测存储芯片存储功能是否正常的存储芯片检测装置。本实用新型针对高密度封装、高集成度的存储芯片在产品研发、生产过程中，时常出现不合格品，或因批次、产地不同的芯片因某些技术参数差异而影响使用的现象，设计了一种在不同工作时钟下存储芯片的存储是否满足使用要求，从而避免了将不合格芯片焊接在电路板上后由此引产生的人力物力损失。本实用新型包括微处理芯片、存储检测装置、时钟开关控制装置，所述微处理芯片分别与存储检查装置、时钟开关控制装置连接，所述存储装置包括至少一个检测装置，所述检测装置与微处理芯片连接。本实用新型主要应用于存储芯片检测领域。
一种存储芯片检测装置

[实用新型]一种视频监控数据存储装置-CN202120689662.X有效
发明人：赵敏 -专利权人：安徽悦利贞智控科技有限公司
申请日： 2021-04-06 - 公布日： 2021-12-07 - 主分类号： H04N5/76 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种视频监控数据存储装置，包括壳体，所述壳体一侧开口处设置有封盖，所述封盖与壳体卡扣连接，所述壳体内部设置有存储芯片，所述存储芯片一端设置有连接口。本实用新型通过外界撞击导致整个壳体产生振动时，振动通过挡块传输到限位杆上，通过限位杆传输到活动块上，经过活动块传输到连接绳，连接绳本身的传导性能差，且整个挤压装置在存储芯片表面晃动时，存储芯片与滑块配合，利用第二弹簧吸收挤压装置晃动产生的压力以及从而连接绳减小的撞击力度，从而避免存储芯片受到损伤，避免撞击或掉落地面导致存储芯片本身受到损伤，且壳体与封盖配合，也能够对存储芯片进行保护。
一种视频监控数据存储装置