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[发明专利]一种基于正弦调制时域拟合的气体吸收率在线测量方法-CN201811095201.9在审
发明人：杜艳君;彭志敏;丁艳军 -专利权人：清华大学
申请日： 2018-09-19 - 公布日： 2019-01-25 - 主分类号： G01N21/39 文献下载
摘要：一种基于正弦调制时域拟合的气体吸收率在线测量方法，属于可调谐二极管激光吸收光谱(TDLAS)技术领域。该方法利用正弦信号对可调谐半导体激光器电流进行调制，实现激光器波长正弦调制的同时，确保入射光强激光强度(基线)具有明确表达式；通过将吸收率在频域和时域之间进行转换，结合明确的基线表达式，通过在时域上对透射激光强度进行拟合实现基线与气体吸收率的同步在线测量该方法操作简便，有效地解决了传统直接吸收法(三角或锯齿信号扫描)基线拟合受人为因素影响大、吸收率测量精度低、时间分辨率低、数据处理复杂等问题，预期可为谱线参数高精度标定、复杂工业现场中气体参数在线监测提供测量手段
吸收率基线拟合时域在线测量正弦调制可调谐半导体激光器激光吸收光谱可调谐二极管激光器波长时间分辨率吸收率测量复杂工业精度标定锯齿信号气体参数人为因素入射光强透射激光在线监测正弦信号数据处理吸收法有效地频域谱线调制激光测量扫描转换

[发明专利]基于随机Mulkums带模式的氧分子带平均吸收率计算方法-CN201510870759.X在审
发明人：张瑞;李晋华;王志斌;陈友华;张敏娟;陈媛媛;安永泉 -专利权人：中北大学
申请日： 2015-12-02 - 公布日： 2016-03-02 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明为一种基于随机Mulkums带模式的氧分子带平均吸收率计算方法；是一种基于氧分子吸收带的新型红外目标透过率理论计算模型，主要以大气中的氧分子为吸收介质，随机Mulkums带模式、无需知道被测目标先验知识、高速红外目标的带平均吸收率的计算方法；该方法根据HITRAN数据库，以当前的大气条件为基础，即可通过该理论模型高速实时获得被测目标的吸收率；首先依据HITRAN数据库计算氧气A带平均谱线间隔、平均谱线半宽度、平均谱线线强，然后通过当前大气参数和测量环境条件，计算被测目标传输路径上氧分子的柱密度；由公式得到被测目标在探测路径上氧气A带的带平均吸收率；本发明主要应用在计算红外目标透过率方面。
基于随机 mulkums 模式分子平均吸收率计算方法

[发明专利]一种高吸收率稀土镍酸盐材料的设计方法-CN202110181220.9在审
发明人：崔苑苑;高彦峰;刘肖;王赫 -专利权人：上海大学
申请日： 2021-02-09 - 公布日： 2021-06-22 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：本发明公开了一种高吸收率稀土镍酸盐材料的设计方法包括以下步骤：S1.正交相稀土镍酸盐掺杂模型的构建；S2.吸收率计算方法：对所述三维原子坐标文件进行结构优化，优化成为稳定结构的三维原子坐标文件；将所述稳定结构的三维原子坐标文件进行静态计算，得到所述稳定结构的三维原子坐标文件的最优化结构，通过自洽计算获得电荷密度文件，然后进行光学计算获取介电函数数据；通过所述介电函数数据与吸收率的相关性计算，得到吸收率。本发明明确了正交相稀土镍酸盐纯净相与掺杂相时的光学性质的区别，通过第一性原理计算对增强稀土镍酸盐的吸收率、调控稀土镍酸盐的金属绝缘体转变温度有重要意义，为光学器件的应用起到积极作用。
一种吸收率稀土镍酸盐材料设计方法

[发明专利]一种黑体腔光谱吸收率测量装置与方法-CN201810498224.8有效
发明人：庄新港;刘红博;刘红元;史学舜;张鹏举;刘长明;王恒飞 -专利权人：中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请日： 2018-05-23 - 公布日： 2020-03-10 - 主分类号： G01J1/56 文献下载
摘要：本发明公开了一种黑体腔光谱吸收率测量装置及方法。本发明采用LDLS激光驱动光源和单色仪代替激光器作为黑体腔光谱吸收率测量光源，可将传统测量方法单波长点下吸收率扩展到170nm‑2100nm宽谱带下的光谱吸收率；本发明采用Si/InGaAs陷阱探测器代替传统方法下的本发明利用黑体腔夹具和电控平移台搭建黑体腔光谱吸收率测量机械装置，可减小多次测量时黑体腔空间位置误差对测量结果的影响。
一种体腔光谱吸收率测量装置方法

[发明专利]金属部件的加热方法、接合方法以及金属部件的加热装置-CN201610896351.4有效
发明人：长滨贵也;椎叶好一;井本吉纪 -专利权人：株式会社捷太格特
申请日： 2016-10-14 - 公布日： 2021-02-19 - 主分类号： B23K20/00 文献下载
摘要：加热方法具备氧化膜形成工序以及加热工序，氧化膜的膜厚(α)设定于第一范围(Ar1)，在氧化膜的膜厚与具有周期性的吸收率的关系中，第一范围包含与氧化膜(OM)的膜厚超过零而吸收率首次作为极大值出现的第一极大值(a)对应的第一极大膜厚(A)、以及与在第一极大值(a)之后吸收率再次作为极大值出现的第二极大值(b)对应的第二极大膜厚(B)，且第一范围(Ar1)比第二极小膜厚(BB)小，第二极小膜厚是与在第二极大值(b)和与在第二极大值(b)之后吸收率再次作为极大值出现的第三极大值(c)之间吸收率作为极小值出现的第二极小值(bb)对应的膜厚。
金属部件加热方法接合以及装置

[发明专利]一种基于太赫兹时域光谱仪的镜片缺陷的检测方法-CN201410170968.9无效
发明人：张文涛;周龙;胡放荣;熊显名;朱志斌;朱保华;汪杰君;蒋曲博 -专利权人：桂林电子科技大学
申请日： 2014-04-25 - 公布日： 2014-07-16 - 主分类号： G01N21/958 文献下载
摘要：本发明为一种基于太赫兹时域光谱仪的镜片缺陷的检测方法，利用太赫兹时域光谱仪对镜片进行逐行扫描，获得镜片每个扫描点的反射系数S₁₁和透射系数S₂₁，由此计算得到各个扫描点的吸收率，分析各点吸收率，吸收率与正常不同的点为镜片缺陷点，所测镜片最大曲率为0.011/mm，镜片厚度为2～6mm。比较各点吸收率，与正常吸收率的差值大于设定值δ的扫描点，判断为缺陷点，本发明能够准确地检测镜片的微小的缺陷并且定位，检出率高，检测快捷，不受检测人员经验和状态的影响。
一种基于赫兹时域光谱仪镜片缺陷检测方法

[发明专利]溶质已知的单组份水溶液的浓度测定方法-CN200810022616.3无效
发明人：刘明春 -专利权人：刘明春
申请日： 2008-07-16 - 公布日： 2008-12-24 - 主分类号： G01N21/33 文献下载
摘要：本发明公开了一种溶质已知的单组份水溶液的浓度测定方法，它包括：a.查找待测溶液中所知溶质的紫外光最大吸收率的波长，然后根据该波长选择合适型号的紫外可见光分光光度计；b.精确配制待测溶液中所知溶质的3份或3份以上浓度各异的水溶液；c.用步骤a选择的紫外可见光分光光度计测定步骤b所配制溶液在步骤a所知波长位置的紫外光吸收率；d.将步骤b所配制的溶液浓度、步骤c所测得的紫外光吸收率使用origin软件建立标准曲线并拟合出计算公式；e.用步骤a选择的紫外可见光分光光度计测量待测溶液在步骤a所知波长位置的吸收率；f.将步骤e所测得的吸收率代入步骤d所拟合出的计算公式内，计算出待测溶液的浓度。
溶质已知单组份水溶液浓度测定方法

[发明专利]铝表面电沉积制备低吸收率与高半球发射率氧化膜的方法-CN201610828244.8在审
发明人：陈东初;倪磊;常萌蕾;魏红阳 -专利权人：佛山科学技术学院
申请日： 2016-09-18 - 公布日： 2017-02-22 - 主分类号： C25D11/08 文献下载
摘要：本发明涉及一种铝合金表面热控涂层的超声脉冲电沉积制备方法，具体涉及一种铝合金表面制备低比值太阳吸收率/半球发射率复合氧化膜的制备方法。本发明的制备方法按以下步骤实现：一、铝合金表面前处理；二、铝合金阳极氧化；三、将氧化后的铝合金进行超声脉冲电沉积二氧化硅溶胶；然后用蒸馏水清洗铝合金表面并干燥，即在铝合金表面得到低吸收率高发射率的热控涂层，涂层的太阳吸收率在0.10‑0.20之间，半球发射率在0.80‑0.95之间，是性能优良的低太阳吸收率和高半球发射率的热控涂层。
表面沉积制备吸收率半球发射氧化方法

[发明专利]一种功率控制方法、终端及计算机可读存储介质-CN202011524559.6在审
发明人：张立振 -专利权人：努比亚技术有限公司
申请日： 2020-12-22 - 公布日： 2021-05-07 - 主分类号： H04W52/04 文献下载
摘要：终端及计算机可读存储介质，该方法通过获取用户与终端之间的位置关系；根据位置关系判断出对用户辐射影响最大的至少一个目标天线；在终端进行通信时，使目标天线的射频功率强度小于其他天线的射频功率强度，解决了控制电磁波能量比吸收率时通信质量明显下降的问题，实现了在减小电磁波能量比吸收率时，减小通信质量的下降程度的效果，本发明还公开了一种设备及计算机可读存储介质，通过实施上述方案，解决了控制电磁波能量比吸收率时通信质量明显下降的问题，实现了在减小电磁波能量比吸收率时
一种功率控制方法终端计算机可读存储介质

[发明专利]用于毛细管电泳的多毛细管光学检测系统-CN202080068364.7在审
发明人：王少宏 -专利权人：生命技术公司
申请日： 2020-08-06 - 公布日： 2022-05-06 - 主分类号： G01N27/447 文献下载
摘要：所述光学检测系统包含紫外(UV)源和吸收率测量光路。所述光路包含第一多个光学元件，所述第一多个光学元件包含第一光纤阵列和其它元件。所述第一多个光学元件被布置成从由所述UV源发射的UV光束获得多个相应UV子光束，并且至少部分地使用所述第一光纤阵列将所述相应UV子光束引导通过多个毛细管中的相应毛细管并引导到吸收率检测器，所述吸收率检测器被定位成检测相应信号以用于获得对应于所述相应毛细管的相应UV吸收率测量。
用于毛细管电泳光学检测系统

[发明专利]比吸收率调节电路、方法和通信设备-CN202210294451.5在审
发明人：彭博 -专利权人： OPPO广东移动通信有限公司
申请日： 2022-03-24 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： H04B1/40 文献下载
摘要：本申请涉及一种比吸收率调节电路，包括：收发模块，用于支持对发往天线的发射信号的发射处理，以及支持对来自天线的反射信号的接收处理；耦合模块，分别与收发模块、天线连接，用于对反射信号进行功率耦合，并输出第一耦合信号，用于经收发模块接收第一耦合信号，并根据第一耦合信号获取反射信号反射功率，以及根据反射功率和预设映射关系调节收发模块输出的发射信号的发射功率以调节反射信号的反射功率，其中，调节后的反射功率对应的平均比吸收率小于标准参考值，可以更加精准的调节平均比吸收率，以确保在预设采样周期内的时间平均比吸收率满足法规要求。
吸收率调节电路方法通信设备

[发明专利]一种具有选择性光谱特性聚乙烯膜及其制备方法和应用-CN202210323256.0在审
发明人：高建树;邵磊山;刘洋;杨啸;李静静;杜子明 -专利权人：中国石油化工股份有限公司
申请日： 2022-03-29 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： C08J9/26 文献下载
摘要：本发明的聚乙烯膜具有选择性光谱发射率和选择性光谱反射率；在太阳光波段，聚乙烯膜的光谱反射率高，光谱吸收率低，平均吸收率为0.25；在大气窗口波段1‑13μm，聚乙烯膜的光谱吸收率(发射率)高，平均吸收率
一种具有选择性光谱特性聚乙烯及其制备方法应用

[发明专利]射频收发装置-CN201410277497.1有效
发明人：吴翊逢;张政伟;张惟善;李佳典 -专利权人：启碁科技股份有限公司
申请日： 2014-06-19 - 公布日： 2017-11-21 - 主分类号： H01Q1/00 文献下载
摘要：该射频收发装置可降低特定吸收率，该射频收发装置包括一天线，该天线包括一辐射组件及一接地组件，该辐射组件在一第一平面上大致沿一第一方向延伸；以及一特定吸收率抑制单元，该特定吸收率抑制单元在该第一平面上大致沿该第一方向并沿该天线的该辐射组件的一边缘延伸，且与该辐射组件的该边缘相距一间距，用来降低该天线的特定吸收率。
射频收发装置

[发明专利]X射线发生装置-CN201580075523.5有效
发明人：宫冈明宽 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2015-02-05 - 公布日： 2020-03-20 - 主分类号： G21K5/02 文献下载
摘要：在由靶材(2)和X射线照射窗(1)构成的靶材层叠结构体(3)的电子束(B)的照射区域内，设置有朝向电子束(B)的照射方向的X射线吸收率局部地低的X射线低吸收率部位(3a)，由此抑制通过将电子束(B)照射到靶材(2)上而产生的X射线中的、来自X射线低吸收率部位(3a)以外的部位的X射线向外部辐射，并与电子束(B)的照射区域的大小无关地获得与X射线低吸收率部位(3a)的大小相应的大小的X射线焦点。
射线发生装置

[发明专利]基于比吸收率计算的微波消融消融灶快速模拟方法及系统-CN201910878726.8有效
发明人：陈仁栋;王守超 -专利权人：浙江德尚韵兴医疗科技有限公司
申请日： 2019-09-17 - 公布日： 2022-07-12 - 主分类号： G16H50/50 文献下载
摘要：本发明涉及微波消融技术，旨在提供一种基于比吸收率计算的微波消融消融灶快速模拟方法及系统。该种基于比吸收率计算的微波消融消融灶的快速模拟方法包括过程：微波消融中若干特征点的温度检测；特征点位置比吸收率SAR计算；比吸收率SAR分布的优化拟合；利用简化的生物传热方程对消融灶快速模拟。
基于吸收率计算微波消融快速模拟方法系统