专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]白光干涉系统用于分光光计中可变吸光长度测量的方法-CN200610200310.3无效
  • 孙长森;孙昱星;丁建华 - 大连理工大学
  • 2006-04-04 - 2007-10-03 - G01N21/31
  • 本发明属于化学分析仪器技术领域,涉及一种白光干涉系统用于分光光计中可变吸光长度测量的方法。其特征是分光光计测量待测液体时,为获取最优吸光值,普遍采用固定吸光长度、稀释待测液体浓度的方法中存在的问题。将迈克尔逊白光干涉系统用于分光光计中,通过预先设定最佳吸光值,控制样品的量来改变待测液体的吸光长度,再由测量到的待测液体上表面位置的变化量来计算吸光长度,完成对被测液体的定量分析的要求。本发明的效果和益处是将白光干涉系统用于分光光计中可变吸光长度的测量,其测量范围大、精度高,可以实现对液体吸光系数、或浓度的直接测量。
  • 白光干涉系统用于分光光度计可变长度测量方法
  • [发明专利]一种用于分光光计的最差标品剔除系统及剔除方法-CN202010502720.3在审
  • 孙杰 - 安徽皖仪科技股份有限公司
  • 2020-06-04 - 2020-11-13 - G01N21/31
  • 本发明公开了一种用于分光光计的最差标品剔除系统及剔除方法,最差标品剔除系统包括控制单元、吸光测量单元、数据存储及处理单元、显示单元。最差标品的剔除步骤为:吸光测量单元依次测量并发送多个已知浓度的标品的吸光;数据存储及处理单元获取并记录标品的吸光数据,并将多个标品的吸光与存储在数据存储及处理单元内的吸光‑浓度曲线进行比较,得到偏离吸光‑浓度曲线最远的吸光所对应的标品,并将偏离最远的标品标记出来;显示单元获取数据存储及处理单元经过处理的数据,并以图像将数据进行显示。本发明能够有效的将最差标品剔除,从而保证了在验证分光光计时的准确度,提高了分光光计后续的测量精度。
  • 一种用于分光光度计最差剔除系统方法
  • [发明专利]蚀刻液调合装置及蚀刻液浓度测定装置-CN200910133196.0有效
  • 中川俊元;佐藤寿邦 - 株式会社平间理化研究所
  • 2009-04-15 - 2009-10-28 - H01L21/00
  • 其具备:检测用纯水稀释调合槽内的蚀刻液而形成的稀释液的电导率的电导率计或检测蚀刻液的硝酸浓度的吸光计;检测蚀刻液的水分浓度的吸光计;检测蚀刻液的磷酸浓度的吸光计或密度计;根据检测硝酸浓度的电导率计的电导率值、检测水分浓度的吸光计的吸光值和检测磷酸浓度的吸光计的吸光值或密度计的密度值,利用多成分运算法运算蚀刻液的成分浓度的成分浓度运算机构;将单一酸原液、混酸原液及纯水的至少一种向调合槽中补给的补给机构
  • 蚀刻调合装置浓度测定
  • [发明专利]一种溶液中有色物质脱色率测定方法-CN201310583572.2在审
  • 蔡映杰;林丽娜 - 武汉纺织大学
  • 2013-11-19 - 2014-03-12 - G01N21/31
  • 种溶液中有色物质脱色率测定方法,包括如下步骤:A、测定脱色前有色物质溶液吸光积分计算波谱面积;B、测定脱色后有色物质溶液吸光积分计算波谱面积;C、计算脱色率;D、准确度检测。本发明利用吸光波谱面积测定脱色率,利用紫外-可见分光光计在400nm-780nm的可见光波长范围内测定脱色前有色物质的吸光,积分计算吸光波谱面积;利用紫外-可见分光光计在400nm-780nm的可见光波长范围内测定脱色后有色物质的吸光,积分计算吸光波谱面积;通过吸光波谱面积,计算出有色物质的脱色率。
  • 一种溶液有色物质脱色测定方法
  • [实用新型]一种原子吸收分离光度-CN202120081594.9有效
  • 姜昊;赵东明;周林辉;宋盼盼;姜法斌 - 浙江正诺检测科技有限公司
  • 2021-01-13 - 2021-09-14 - G01N21/31
  • 本实用新型提供一种原子吸收分离光度计。所述原子吸收分离光度计包括原子吸光计本体和取样管,所述取样管设置在所述原子吸光计本体上;底座,所述底座设置在所述原子吸光计本体的下方;四个升降机构,四个所述升降机构呈矩形阵列均设置在所述底座上,四个所述升降机构均和所述原子吸光计本体相连接;放置槽,所述放置槽开设在所述底座的顶部;烧杯,所述烧杯设置在所述放置槽内,所述烧杯位于所述取样管外;连接机构,所述连接机构设置在所述底座上。本实用新型提供的原子吸收分离光度计具有便于调节高度、能够对烧杯和取样管进行密封连接、减少检测误差的优点。
  • 一种原子吸收分离光度计
  • [发明专利]微芯片检查装置及其构成部件-CN200510125124.3无效
  • 野泽繁典;松本茂树 - 优志旺电机株式会社
  • 2005-11-18 - 2006-05-24 - G01N21/27
  • 一种微芯片检查装置,具备具有吸光测定部的微芯片,透过微芯片的吸光测定部的由光源放射的光在透射光受光部被接受,其特征在于,设有:孔径部,沿所述微芯片的吸光测定部的光轴方向直线状地延伸,并通过使从其一端射入的由光源放射的光从另一端射出而将其导入所述微芯片的该吸光测定部;入射光分割反射镜,配置于从孔径部的一端至吸光测定部的光路上,且使射入的光的一部分透射,使另一部分反射;以及反射光受光部,用于接受来自该反射镜的反射光。
  • 芯片检查装置及其构成部件

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