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[实用新型]ITO导电玻璃/薄膜的光学检测系统-CN201620167409.7有效
发明人：童建 -专利权人：昆山慕藤光精密光学仪器有限公司
申请日： 2016-03-04 - 公布日： 2016-07-27 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种ITO导电玻璃/薄膜的光学检测系统，包括相机、安装在相机上的镜头、设置于镜头下方的光源组件，镜头选用可见光镜头，光源组件包括一作为光源的发光紫外线LED灯珠、一定位于发光紫外线LED灯珠光路前端并用于将发光紫外线LED灯珠发出的光束变成平行光的准直透镜、一定位于准直透镜光路前端并用于将准直透镜发出的平行光分离至特定方向的分光镜，准直透镜的中心轴线与镜头的中心轴线相互垂直，分光镜的镜面与准直透镜的中心轴线、及分光镜的镜面与镜头的中心轴线均呈45度夹角；该光学检测系统能使光线沿指定方向传播，不发生漫反射，提高了对光线的利用率，还有效避免了因产生多余光线而对ITO导电玻璃/薄膜检测造成不必要影响。
ito 导电玻璃薄膜光学检测系统

[实用新型]一种大口径单层薄膜厚度全场检测装置-CN201020169940.0无效
发明人：苏俊宏;杨利红;徐均琪;梁海锋;惠迎雪;朱昌;田爱玲 -专利权人：西安工业大学
申请日： 2010-04-23 - 公布日： 2010-11-24 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种大口径单层薄膜厚度全场检测装置。本实用新型要克服现有技术中不能反映整个膜层的厚度分布情况和使用要求高的问题。提供一种大口径单层薄膜厚度全场检测装置，包括光源系统，干涉系统、CCD图像捕获系统和样品移动控制系统，干涉系统包括消模器、扩束器、准直镜、成像物镜、分光镜、补偿镜、参考反射镜、PZT调节器、PZT驱动和可控样品台，CCD图像捕获系统包括CCD摄像机、图像捕获器和计算机；光源系统、消模器和扩束器依次设置在第一光轴上，CCD摄像机、成像物镜、第二分光镜、补偿镜、参考反射镜和PZT调节器依次设置在与第一光轴平行的第二光轴上，反射镜、第二分光镜和样品台还依次位于垂直于第一光轴的第三光轴上。
一种口径单层薄膜厚度全场检测装置

[发明专利]一种铁磁薄膜的力热磁耦合行为的检测装置及方法-CN200910237138.2有效
发明人：冯雪;董雪林;黄克智 -专利权人：清华大学
申请日： 2009-11-06 - 公布日： 2010-05-12 - 主分类号： G01N21/45 文献下载
摘要：一种铁磁薄膜的力热磁耦合行为的检测装置及方法，属于工程材料、结构形变及力学实验技术领域。该装置包括铁磁薄膜非均匀应力测量光路，薄膜磁滞回线测量光路，亥姆霍兹线圈及其电源，试件加热台，热电偶，力加载结构和调节支架。薄膜非均匀应力测量光路包括激光器、扩束镜、分光镜、反光镜、光栅、透镜、过滤屏、CCD相机；薄膜磁滞回线测量光路包括激光器、扩束镜、反光镜、起偏镜、检偏镜、光电检测器。该方法利用亥姆霍兹线圈为铁磁薄膜提供均匀磁场，利用试件加热台对薄膜进行加热，利用力加载结构对薄膜进行力加载，利用剪切干涉测量薄膜表面的非均匀曲率，由曲率得到薄膜中的应力，利用铁磁薄膜表面的磁光克尔效应测量薄膜的磁滞回线
一种薄膜力热磁耦合行为检测装置方法

[实用新型]一种铁磁薄膜的力热磁耦合行为的检测装置-CN200920246828.X无效
发明人：冯雪;董雪林;黄克智 -专利权人：清华大学
申请日： 2009-11-06 - 公布日： 2010-08-25 - 主分类号： G01L1/24 文献下载
摘要：一种铁磁薄膜的力热磁耦合行为的检测装置，属于工程材料、结构形变及力学实验技术领域。该装置包括铁磁薄膜非均匀应力测量光路，薄膜磁滞回线测量光路，亥姆霍兹线圈及其电源，试件加热台，热电偶，力加载结构和调节支架。薄膜非均匀应力测量光路包括激光器、扩束镜、分光镜、反光镜、光栅、透镜、过滤屏、CCD相机；薄膜磁滞回线测量光路包括激光器、扩束镜、反光镜、起偏镜、检偏镜、光电检测器。该方法利用亥姆霍兹线圈为铁磁薄膜提供均匀磁场，利用试件加热台对薄膜进行加热，利用力加载结构对薄膜进行力加载，利用剪切干涉测量薄膜表面的非均匀曲率，由曲率得到薄膜中的应力，利用铁磁薄膜表面的磁光克尔效应测量薄膜的磁滞回线
一种薄膜力热磁耦合行为检测装置

[发明专利]一种薄膜应力在线测试系统-CN200910224059.8无效
发明人：王华清;冷健;卢维强;张楠;薛唯 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2010-03-26 - 公布日： 2010-08-04 - 主分类号： G01N21/17 文献下载
摘要：本发明涉及一种薄膜应力在线测试系统，属于物理领域里的光学分领域。该系统包括镀膜机、应力仪、晶控仪和计算机；在所测量样品镀膜开始前，先将计算机的数据采集与处理模块初始化并设定阈值。当外部高亮度光源发出的光从应力仪的光纤入射经分光棱镜分光，通过物镜后垂直入射到样品表面，平行光被测量样品表面反射后，再经中继透镜转换成平行光，然后经哈特曼透镜阵列成像到CMOS接收器感光面，通过调节外部光源同时计算机开始对应力仪和晶控仪的数据进行采集，实现对薄膜应力变化的实时跟踪，绘制出薄膜应力随膜厚的变化曲线。
一种薄膜应力在线测试系统

[实用新型]一种渐变色膜加工用辅助治具-CN202222271382.4有效
发明人：谢志 -专利权人：广东启辰光电科技有限公司
申请日： 2022-08-26 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： C23C14/22 文献下载
摘要：所述第一底板和所述第一安装板呈第一预定角度连接，所述第一安装板和所述第二安装板呈第二预定角度连接，所第二安装板和所述第二底板呈第三预定角度连接，所述第一底板和所述第二底板在同一水平面上，在加工前，先将薄膜固定在第一安装板和第二安装板上，然后将渐变色膜加工用辅助治具安装到光学镀膜设备上，通过光学镀膜设备旋转本治具，同时通过光学镀膜设备的喷嘴喷射光学氧化物，离喷嘴远的薄膜部分光学氧化物喷射的薄，离喷嘴近的薄膜部分光学氧化物喷射的厚，以此形成渐变色膜
一种渐变色膜加工用辅助

[发明专利]发光按键-CN202110509430.6在审
发明人：古佑铨 -专利权人：淮安达方电子有限公司;达方电子股份有限公司
申请日： 2021-05-11 - 公布日： 2022-11-11 - 主分类号： H01H13/705 文献下载
摘要：本发明关于一种发光按键，包含底板、薄膜开关层、键帽、升降机构、发光装置以及遮光层。薄膜开关层设置于底板上。升降机构设置于底板与键帽之间。键帽的裙边与薄膜开关层之间具有间隙。发光装置置于底板的通孔内。遮光层被覆于薄膜开关层上，并用以遮挡发光装置所发射的光线且射向键帽的裙边与薄膜开关层之间的间隙的部分光线。本发明的发光按键藉由形成遮光层以及遮光层与发光装置的相对位置，让发光装置所发射的光线不会从键帽与薄膜开关层之间的间隙泄漏。
发光按键

[实用新型]一种多面扫描成像结构、显微镜及显微探头-CN201921258068.4有效
发明人：不公告发明人 -专利权人：苏州溢博伦光电仪器有限公司
申请日： 2019-08-05 - 公布日： 2020-03-20 - 主分类号： G02B27/28 文献下载
摘要：本实用新型涉及光电检测和光学成像技术领域，具体公开了一种多面扫描成像结构，包括扫描器和物镜，扫描器包括驱动器和多个扫描组件，多个扫描组件沿周向设置在驱动器上；扫描组件包括依次固定连接的光电检测器、超薄片、滤光薄膜和表层薄膜，光电检测器固定在驱动器上，表层薄膜为偏振分光薄膜或二向色镜薄膜；物镜位于表层薄膜与被检测物体之间，并可收集被检测物体中激发的发射光。
一种多面扫描成像结构显微镜显微探头

[发明专利]一种双渐进镜片及其制备方法-CN202110856309.0在审
发明人：杨敏男;罗红敏;吴富章 -专利权人：厦门美澜光电科技有限公司
申请日： 2021-07-28 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： G02C7/06 文献下载
摘要：本发明涉及一种双渐进镜片及其制备方法，双渐进镜片包括基片，以眼睛的上方为上，则所述基片的外表面设置位于上方的渐进高反射薄膜层和位于下方的外增透薄膜层，所述渐进高反射薄膜层的下边缘与所述外增透薄膜层的上边缘重合，所述基片的内表面设置内增透薄膜层，其中，所述渐进高反射薄膜层包含11层膜层，所述外增透薄膜层和所述内增透薄膜层皆包括7层膜层。本发明通过渐进高反射薄膜层和增透薄膜层配合，利用光学薄膜的反射及增透原理，镜片上方反射大部分的强光和散射光，减轻这部分光源对视线物体的干扰，镜片下方增加透视率，从而提升可视物体的清晰度。
一种渐进镜片及其制备方法

[发明专利]激光脉冲拉伸装置-CN201310371256.9有效
发明人：王莹;曾爱军;朱玲琳;黄惠杰 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2013-08-22 - 公布日： 2013-12-04 - 主分类号： H01S3/00 文献下载
摘要：一种激光脉冲拉伸装置，特征在于其构成包括偏振分光器、第一反射直角棱镜和第二反射直角棱镜，所述的第一反射直角棱镜位于所述的偏振分光器的透射方向或反射方向，所述的第二反射直角棱镜位于所述的偏振分光器的反射方向或透射方向，第一反射直角棱镜和第二反射直角棱镜的主截面与入射面成45度角，反射面均镀有相位延迟薄膜，每个反射直角棱镜两反射面的相位延迟量之和为180度。
激光脉冲拉伸装置

[发明专利]薄膜涂布的粉末、涂料组合物和涂布材料-CN02828934.X无效
发明人：中塚胜人;新子贵史;星野希宣;伊藤贵裕;岸本章;小仓慎一 -专利权人：日铁矿业株式会社;中塚胜人
申请日： 2002-03-14 - 公布日： 2005-06-15 - 主分类号： C09C3/06 文献下载
摘要：本发明提供发出鲜艳和深颜色的薄膜涂布粉末、涂料组合物和涂布材料。该薄膜涂布粉末在基物颗粒表面上具有涂膜，其具有的分光光度特性在于，通过测量来自薄膜涂布粉末垂直反射光的反射光谱当在380至780nm之间的400nm处的长度(波长定义宽度L)与在垂直轴中100％反射度的高度
薄膜粉末涂料组合材料

[发明专利]一种多点分布式光纤声波建筑楼体裂缝检测系统-CN201710501713.X在审
发明人：刘宗豪;张茜;张扬 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2017-06-27 - 公布日： 2017-10-20 - 主分类号： G01M5/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种多点分布式光纤声波建筑楼体裂缝检测系统，包括激光发射器、分光器、环形器、振动声波检测探头、相位检测器、数据采集卡、信号处理主机和传输光纤；其中激光发射器通过传输光纤与分光器相连，分光器通过传输光纤连接多个环形器的发射的激光经分光器得到多路连续光，经环形器的1端口、2端口传输至振动声波检测探头，其上的石墨烯薄膜会对接收的光以及振动声波进行反射，信号处理主机通过对比正常反射光的相位变化，从而实时检测建筑楼体是否产生裂缝
一种多点分布式光纤声波建筑裂缝检测系统

[发明专利]一种薄膜散热性能测定方法及其装置-CN202211186376.7在审
发明人：杨艳;沈鸿烈 -专利权人：南京航空航天大学
申请日： 2022-09-27 - 公布日： 2022-12-27 - 主分类号： G01N25/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种薄膜散热性能测定方法及其装置。其特征在于：该装置包括半导体激光器，分光镜，激光功率计，铜箔，红外热像仪，基底，散热薄膜。然后使用红外热像仪同时对多个散热薄膜温度值进行测量。该方法实现了同时对多个散热薄膜的散热性能进行测定，提高了加热系统的稳定性，且加热效率高、可控性较好。
一种薄膜散热性能测定方法及其装置

[发明专利]光干涉式显示面板及其制造方法-CN03100294.3有效
发明人：林文坚 -专利权人：元太科技工业股份有限公司
申请日： 2003-01-09 - 公布日： 2004-07-28 - 主分类号： G02F1/1335 文献下载
摘要：一种光干涉式显示面板的制造方法，此方法于透明基板上形成图案化的支撑层，再依序于透明基板与支撑层上形成第一电极层与光学薄膜。接着，于光学薄膜上形成牺牲材料层，再以支撑层为罩幕进行背面曝光制作工艺以图案化牺牲材料层。然后，去除部分图案化的牺牲材料层至露出支撑层上方的光学薄膜以形成牺牲层，再于相邻的支撑层间的牺牲层上与部分光学薄膜上形成第二电极层，最后再去除牺牲层。
干涉显示面板及其制造方法

[发明专利]一种高显色性量子点荧光粉薄膜及其制备方法-CN201710546651.4有效
发明人：孙鹏;梁非非;郭海清 -专利权人：北京北达聚邦科技有限公司
申请日： 2017-07-06 - 公布日： 2019-11-22 - 主分类号： B32B37/12 文献下载
摘要：本发明涉及一种高显色性量子点荧光粉薄膜的制备方法，以PET膜为基材，涂覆包含红、蓝绿单色量子点以及黄色稀土荧光粉的复合胶体，通过复合胶体的配制、薄膜涂布、覆膜压合、固化成型制备得到量子点荧光粉薄膜。本发明通过对各组分光谱的光学参数与组分之间的配比进行优化，得到的量子点荧光粉薄膜具有较高的显色性，显色指数可达到95以上，且色温处于理想太阳光范围内，适用于全光谱LED照明领域。
一种显色性量子荧光粉薄膜及其制备方法