专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基于可调谐激光外差探测的拉曼光谱检测方法及装置-CN202310181268.9在审
  • 鞠有伦;高天雯;姜晓帆 - 哈尔滨工业大学
  • 2023-03-01 - 2023-07-11 - G01N21/65
  • 本发明适用于光学领域,提供了基于可调谐激光外差探测的拉曼光谱检测方法及装置,本发明采用可调谐外差探测法检测光谱,通过激发光源照射样本获得带有特征信息的拉曼散射信号,另一台皮米量级连续可调谐激光光源发射本振光;拉曼散射光通过准直透镜及合束器与可调谐本振光合束,将合束后的激光照射到探测器上进行光拍频得到外差中频信号,通过采集卡进行采集,再将采集后的数据分别进行时频转换,再各频率点的强度模值加和,最后对不同频率即不同波长的下的强度值绘制成图即为样本的拉曼光谱本发明中通过设定本振光调谐波长精度来调节特征光谱精度,通过调节本振光大小放大拍频信号强度从而放大特征峰强度,得到更加精确的样本光谱
  • 基于调谐激光外差探测光谱检测方法装置
  • [发明专利]基于高光谱成像的机器学习细胞分类方法及装置-CN202110246544.6在审
  • 李炫祯;陈天润;程清越;张德龙 - 浙江大学
  • 2021-03-05 - 2021-07-02 - G06K9/00
  • 本发明公开了一种基于高光谱成像的机器学习细胞分类方法及装置,包括:对细胞进行高光谱成像,获得尺寸为S×M×N的三维细胞高光谱图像,其中,S表示不同波数,每个波数对应的大小为M×N的二维图像,二维图像中每一个像素的强度表示对应波数下的信号强度,每个像素在不同波数下的信号强度组合能反映像素对应物质的化学特性;对细胞高光谱图像进行预处理和细胞分割后,获取细胞图像块;利用机器学习模型对细胞图像块进行分类,获得细胞分类结果。通过高光谱成像获得包含化学信息和二维图像信息的细胞高光谱图像,基于细胞高光谱图像进行细胞分类,实现自动高速、高精度活体单细胞的分类。
  • 基于光谱成像机器学习细胞分类方法装置
  • [发明专利]一种按摩效果检测器、检测方法及按摩设备-CN201310493182.6有效
  • 金雷;汪震 - 深圳先进技术研究院
  • 2013-10-18 - 2014-01-29 - A61B5/00
  • 本发明适用于医疗器械领域,提供了一种按摩效果检测器,包括:红外信号采集装置,用于接收被检测部位产生的红外光信号,记录所述红外光信号所对应的光谱数据;控制装置,用于接收所述红外信号采集装置所记录的光谱数据,根据记录的光谱数据得到按摩效果的检测结果。根据记录的光谱数据,由控制装置可对光谱数据进行对照分析,根据光谱数据的变化得到按摩效果的检测结果,从而可以用具体的数值来衡量按摩强度的量化值,能够更为科学的为用户完成按摩控制。
  • 一种按摩效果检测器检测方法设备
  • [发明专利]实时调节通孔刻蚀形貌的刻蚀方法及半导体刻蚀设备-CN202111258274.7在审
  • 国唯唯 - 北京北方华创微电子装备有限公司
  • 2021-10-27 - 2022-03-01 - H01L21/3065
  • 本发明公开了一种实时调节通孔刻蚀形貌的刻蚀方法及半导体刻蚀设备,方法,包括:步骤1:基于预设的工艺配方对工艺腔室内的晶片进行通孔刻蚀工艺;步骤2:采集工艺腔室内反应气体等离子体辉光放电产生的OES光谱,实时获取OES光谱中特定元素发光波长对应的光谱信号强度,并计算光谱信号强度的斜率;步骤3:若当前时刻斜率位于对应的基准斜率范围之内,则继续刻蚀工艺,若当前时刻斜率位于对应的基准斜率范围之外,则调整特定工艺参数,使下一时刻所述特定元素发光波长对应的光谱信号强度的斜率位于下一时刻对应的基准斜率范围之内;步骤4:重复步骤2‑3直至完成通孔刻蚀工艺。
  • 实时调节刻蚀形貌方法半导体设备
  • [发明专利]一种简化的芯片键合强度测量装置及方法-CN201710198144.6有效
  • 江俊峰;刘铁根;刘琨;王双;张伟航 - 天津大学
  • 2017-03-29 - 2020-07-31 - G01N19/04
  • 本发明提出一种简化的芯片键合强度测量装置及方法,简化的芯片键合强度测量装置包括待测芯片、玻璃毛细管、传输光纤、压力接头、压力入口、底座、密封圈、外壳、密封胶。本发明提出的芯片键合强度测量方法包括以下步骤:第1、使用压力源对所述片键合强度测量装置施加适当的初始压力,并记录此时的光谱信息;第2、选择合适的加压步长,提高压力源对键合强度测量装置施加的压力值;第3、将压力源施加的压力值降为0,观察光谱仪显示是否仍有干涉信号;若仍有信号,重复第2步直到降下压力后光谱仪干涉信号消失;若无信号,则上一步中施加的压力值即为待测芯片键合后可承受的最大压力值,直接反映了芯片的键合强度
  • 一种简化芯片强度测量装置方法
  • [发明专利]多层光谱调制光谱-CN201980051244.3在审
  • 郑锐韬;J.阿奇巴尔德 - AMS有限公司
  • 2019-07-30 - 2021-03-23 - G01J3/02
  • 一种系统包括第一光谱调制器、第二光谱调制器、光导、光电探测器和电子控制设备。第一光谱调制器接收样本光,并根据第一光谱响应图案调制样本光以产生第一调制光。第二光谱调制器经由光导接收来自第一光谱调制器的第一调制光,根据第二光谱响应图案调制第一调制光以产生第二调制光,并将第二调制光透射到光电探测器。光电探测器测量入射到光电探测器上的第二调制光的强度,并生成与第二调制光的强度对应的一个或多个信号。电子控制设备基于该一个或多个信号确定样本光的光谱分布。
  • 多层光谱调制光谱仪
  • [发明专利]基于数据处理的水产品品质评价方法及系统-CN202310934328.X在审
  • 郑银地;郑武畅 - 广东海昌沅国通食材有限公司
  • 2023-07-28 - 2023-09-05 - G06F18/10
  • 获得原始光谱信号经验模态分解时第一个分量信号和第一个残差信号,确定信号段,获得均值信号,根据信号段中残差信号与均值信号的斜率获得模态混叠概率,筛选出目标信号段,根据每个目标信号段的分解程度和极值点密度获得模态混叠程度,构建目标函数,根据目标函数在噪声迭代过程中的迭代结果筛选最优加噪强度,根据最优加噪强度对原始光谱信号进行加噪,重新进行经验模态分解并重组,获得高质量的光谱信号以及评价结果。本发明消除了经验模态分解过程中的模态混叠问题,获得去噪效果更好的高质量的光谱信号,提高了水产品品质评价结果的可信度。
  • 基于数据处理水产品品质评价方法系统

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