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[发明专利]一种光学系统杂散光线梯度仿真方法及仿真系统-CN202211206468.7在审
发明人：刘铭鑫;张新 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-09-30 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G06T15/06 文献下载
摘要：本申请提供的光学系统杂散光线梯度仿真方法及系统，对光线进行预处理，每条所述光线均由发出点和方向构成的线段组合而成，所述光线包含光线信息，所述光线信息包括光线梯度，追迹所述光线梯度最低的光线，并对所述最低光线的线段进行更新和收集，再将所述线段连成光线，通过GPU按照所述光线梯度由低到高遍历追迹所有光线，直到所有最大梯度值的光线追迹完成，对光线追迹进行分析实现杂散光线梯度仿真，实现GPU加速的梯度非序列光线追迹，速度更快，处理大规模光线追迹情况下
一种光学系统散光梯度仿真方法系统

[发明专利]分层式非序列光线追迹方法-CN202211214123.6在审
发明人：刘铭鑫;张新;胡铭钰;史广维;闫磊 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-09-30 - 公布日： 2023-01-13 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：本发明提供一种分层式非序列光线追迹方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、对光线系统中的光线进行追迹以获取光线信息，并对光线信息进行预处理。S2、对光学系统的表面属性进行分层并对每一层分别设置权重值和开关，以实现出射光线的生成和控制。S3、对入射光线在每一层的光线能量进行分配。S4、对入射光线进行分层式非序列追迹，并依据分层优先级分配GPU计算。S5、重复步骤S4，直到所有最大梯度值的光线追迹完成，光线追迹结束，得到非序列光线追迹结果并计算接收面内每个单元格内的照度，通过查询光线分层来源，最终实现光线来源分析。本发明具有路径分析方便、计算速度快、追迹过程易控制的优点。
分层序列光线方法

[发明专利]基于辐射传输模型的杂散辐射光线追迹方法及装置-CN202211295397.2在审
发明人：胡铭钰;张新;史广维;刘铭鑫;闫磊 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-10-21 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明一种基于辐射传输模型的杂散辐射光线追迹方法及装置，包括：在均匀温度场的元件范围内采用传统光线追迹方法；在非均匀温度场内采用辐射传输追迹方法，使用辐射传输模型计算微元面的能束传输过程；其中传统光线追迹与辐射传输追迹过程独立，每条光线的追迹过程独立，每个微元面的能束传输过程独立。本发明结合传统的非序列光线追迹方法，将热辐射传输过程与杂散光分析过程结合，在均匀温度场的元件范围内采用传统光线追迹方法，在非均匀温度场内引入辐射传递因子，采用辐射传输模型计算微元面的能束传输过程，热辐射杂散光集成分析仿真结果具有实时性和直观性
基于辐射传输模型光线方法装置

[发明专利]电光调制设备初始对准信息分析系统及方法-CN202310512311.5有效
发明人：张朋;王妍洁;王青伟;李琼;吴正容;陈宜稳;王洪刚;张银辉;蔡文炳;徐小琴 -专利权人：中国人民解放军63921部队
申请日： 2023-05-09 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G06T15/06 文献下载
摘要：电光调制设备初始对准信息分析系统包括：理论调制设备、实际调制设备以及对准信息处理器，其中，理论调制设备具体可以执行：获取待执行三维偏振光线追迹的光学元件组；根据光学元件的类型确定待使用的三维偏振追迹模型；基于待使用的三维偏振追迹模型确定待执行三维偏振光线追迹的光学元件组的三维偏振光线追迹结果；按照三维偏振光线追迹结果以及预先配置的探测器响应模型进行三维偏振光线追迹的可视化处理，并显示可视化处理的结果。本申请可以适用于三维场景下的偏振光线追迹处理，提高电光调制设备工作的准确性。
电光调制设备初始对准信息分析系统方法

[发明专利]非序列杂散光追迹方法-CN202211155304.6在审
发明人：张新;刘铭鑫;史广维 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-09-22 - 公布日： 2023-01-20 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种非序列杂散光追迹方法，包括：根据要追迹杂散光的光学系统，确定关注面；根据所述关注面，确定散射光线的重点采样投影区及重点采样立体角；根据重点采样投影区及重点采样立体角，生成重点采样光线，以完成所有光线的追迹本申请能够快速判断杂散光抑制量级，路径分析更方便，追迹时间更短，精度更高。
序列散光方法

[发明专利]光刻投影物镜热效应评估方法-CN201510754931.5在审
发明人：于新峰;倪明阳;李显凌;张巍;隋永新;杨怀江 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2015-11-09 - 公布日： 2016-02-03 - 主分类号： G01N25/00 文献下载
摘要：该方法为：采用有限元方法或有限体积法进行热仿真，输出物镜中每片透镜上的各个网格节点的空间坐标以及各个网格节点的温度值；获取每条追迹光线在每片透镜入射表面和出射表面的坐标及在出射光瞳上的坐标，得到原始光学系统每条追迹光线的光程差；根据每条追迹光线的实际传播路径和每片透镜的温度分布，采用数值积分方法计算得到每条追迹光线由透镜折射率变化引入的光程差；将每条追迹光线由透镜折射率变化引入的光程差叠加到原始光学系统相对应的追迹光线的光程差中
光刻投影物镜热效应评估方法

[发明专利]主观人眼象差测量方法及其测量装置-CN00123571.0无效
发明人：贺吉苍 -专利权人：贺际明
申请日： 2000-08-22 - 公布日： 2002-03-06 - 主分类号： A61B3/00 文献下载
摘要：本发明提供一种主观人眼象差测量方法和装置,主要包括光线追迹、光迹测定以及瞳孔监视三光路。其中追迹光线的入瞳位置由与瞳孔面共轭的阵列光源控制,而光迹登记则由与眼底共轭的显示屏上视标完成。根据本发明中光线追迹和光迹登记分离的原理,该测量装置中光路光程缩短,亮度增强,从而解决光源亮度不足的问题,同时保证测量精度不变。该装置的结构更为简单,调试更为方便,稳定性更好并可节约成本。
主观象差测量方法及其测量装置

[实用新型]主观人眼象差测量装置-CN00245568.4无效
发明人：贺吉苍 -专利权人：贺际明
申请日： 2000-08-22 - 公布日： 2001-07-11 - 主分类号： A61B3/10 文献下载
摘要：本实用新型提供一种主观人眼象差测量装置,主要包括光线追迹、光迹测定以及瞳孔监视三光路。其中追迹光线的入瞳位置由与瞳孔面共轭的阵列光源控制,而光迹登记则由与眼底共轭的显示屏上视标完成。根据本实用新型中光线追迹和光迹登记分离的原理,该测量装置中光路光程缩短,亮度增强,从而解决光源亮度不足的问题,同时保证测量精度不变。该装置的结构更为简单,调试更为方便,稳定性更好并可节约成本。
主观象差测量装置

[发明专利]一种光线在变折射率平板侧窗中的传输方法-CN201510505150.2有效
发明人：范志刚;薛文慧;王惠;党凡阳;陈守谦;翟金龙;邱成波;张旺 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2015-08-17 - 公布日： 2018-02-06 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种光线在变折射率平板侧窗中的传输方法，其步骤如下一、飞行器平板侧窗外表面光线追迹；二、飞行器平板侧窗内部光线追迹；三、飞行器平板侧窗内表面光线追迹。本发明解决了在变折射率分布的平板侧窗中光线追迹的问题，为后续采用编程实现变折射率平板侧窗中光传输仿真提供了一种算法。本发明所提出方法可以对由ANSYS分析得到的海量侧窗热响应数据进行转化，可以实现任意光线追迹点处折射率与折射率梯度的计算。本发明在实际应用时，可以灵活做出变动，实现光线在任意形状光学窗口中的光传输仿真。
一种光线折射率平板中的传输方法

[发明专利]光场成像系统的自由视点重建方法-CN201710390088.6在审
发明人：不公告发明人 -专利权人：上海盟云移软网络科技股份有限公司
申请日： 2017-05-27 - 公布日： 2019-01-18 - 主分类号： H04N13/282 文献下载
摘要：本发明提出的光场成像系统的自由视点重建方法，涉及光场成像技术领域，具体步驟为；步骤1：设定重建参数，主要指显示面板、微透镜阵列和视点的相对位置以及微透镜的焦距和重建图像的分辨率；步骤2：通过光线追迹计算重建面像素与单元图像中像素的映射关系(一对一的映射关系)，追迹过程为逆向追迹，追迹的光线是：从小孔相机小孔射向相机像面上像素的光线，经过逆向追迹直致追迹到显示面板上的某像素，此时显示面板的像素与小孔相机像面上的像素的映射关键性就得以建立；
像素追迹重建光场成像显示面板映射关系自由视点相机分辨率小孔光线追迹计算微透镜阵列单元图像重建图像焦距微透镜映射一对一视点

[发明专利]一种基于光线追迹仿真模型的氢同位素固体光场重构方法-CN202110246318.8有效
发明人：刘东;彭韶婧;王凯;陈楠;代飞 -专利权人：浙江大学
申请日： 2021-03-05 - 公布日： 2022-04-29 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于光线追迹仿真模型的氢同位素固体光场重构方法，包括：(1)利用建模软件建立样品室仿真模型，然后导入光线追迹软件，对材料特性、光源特性进行设定，进行光线追迹；(2)将微球样品的氢同位素冰层按照高度角进行区域划分；(3)在光线追迹软件得到微球样品的冰层的入射光线表格，按照氢同位素固体光场重构算法，计算出微球样品的冰层各个子区域的体加热率分布。
一种基于光线仿真模型氢同位素固体光场重构方法

[发明专利]几何光学光线追迹仿真微粒衍射图方法-CN201410727208.3有效
发明人：撒昱;冯远明;胡新华 -专利权人：天津大学
申请日： 2014-12-03 - 公布日： 2015-03-25 - 主分类号： G06T17/00 文献下载
摘要：一种几何光学光线追迹仿真微粒衍射图方法：1)通过远场散射光场生成光源光线，具体有获得远场散射光场，将矩阵元S₁₁投影到显微系统入射面x＝x₀，得到散射光场光强分布图，组成光线追迹的光源；对所有通过衍射成像流式细胞仪显微成像系统成像的点(y,z)建立光线；2)依据菲涅耳折射定律对每一条生成的光线进行追迹计算；3)完成所有光线的追迹计算后，得到光线和成像面的相交点，相交点的分布密度图即是所仿真的衍射图本发明把微粒的远场散射场处理成几何光学所需的光源，利用光线追迹计算显微光学系统衍射成像，可以避免对结构复杂的显微光学成像系统的相干衍射光场计算，可以对各种复杂的光学成像系统实现衍射图像计算，图形显示界面极为方便
几何光学光线仿真微粒衍射方法

[发明专利]一种点扩散函数计算方法及系统-CN202211258682.7在审
发明人：张新;叶昊坤;王灵杰;于亚琼 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-10-14 - 公布日： 2022-12-16 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：本申请提供的点扩散函数计算方法及系统，通过构建光学分析模型，获取所述光学分析模型中像面交点，获取所述光学分析模型指定视场下边缘光线与最后一个光学表面的交点作为追迹网格的边界，建立光线追迹网格点，根据所述像面交点及网格点进行反向光线追迹获得光瞳函数，相比于传统方法需要寻找入瞳边界、涉及复杂逻辑过程相比，本申请将避免涉及复杂的入瞳、出瞳及其边界确定流程，直接根据表面口径计算光线追迹边界，计算流程更接近真实物理过程，实施复杂度低，稳定性好；通过逆向光线追迹
一种扩散函数计算方法系统

[发明专利]光学鼠标-CN201010291574.0有效
发明人：朱济群 -专利权人：凌阳创新科技股份有限公司
申请日： 2010-09-21 - 公布日： 2011-01-19 - 主分类号： G06F3/033 文献下载
摘要：导光机构具有一集光面、单一反射面与一出光面，导引光源的光线经由折射、反射与折射的三次界面作用，进而入射至追迹表面，用以减少过多的界面接触而损耗的光学功率，并可增加光线入射至追迹表面的夹角，其中，出光面上可设置微透镜矩阵作为光扩散器，以改进光线入射至追迹表面的光学特性与分布。
光学鼠标

[发明专利]利用调制平移变换的Harvey散射模型进行散射光线追迹的方法-CN202210900539.7在审
发明人：袁群;伦旭磊;高志山;朱丹;许宁晏;乔文佑 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2022-07-28 - 公布日： 2022-10-11 - 主分类号： G06T15/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种利用调制平移变换的Harvey散射模型进行散射光线追迹的方法，首先根据入射光线方向确定抽样区域调制参数，之后将描述Harvey散射模型的双向反射分布函数BRDF改写为积分存在解析解的调制函数，在此基础上构造散射光线追迹概率模型对天顶角与方位角进行模拟采样，将采样点坐标转换为二次方向余弦坐标系中的坐标后作平移变化，通过限制条件筛选出有效样本，最终确定散射光线方向余弦。散射光线能量可通过BRDF、散射光线数量与入射光线能量求解。本发明通过抽样区域调制参数将BRDF改写为积分存在解析解的调制函数，解决了难以构建散射光线追迹概率模型的问题，同时避免了坐标平移导致的能量损失，最终可以实现Harvey散射模型散射光线追迹。
利用调制平移变换 harvey 散射模型进行光线方法

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