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[发明专利]一种高精密半导体激光器的快轴准直系统及其应用-CN202110601882.7在审
发明人：苏菲菲;秦华兵 -专利权人：山东华光光电子股份有限公司
申请日： 2021-05-31 - 公布日： 2022-12-16 - 主分类号： H01S5/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种高精密半导体激光器的快轴准直系统及其应用，属于半导体快轴准直技术领域。包括气浮平台、视觉系统、COS定位加电系统、高精度六轴运动控制系统和光束质量分析系统，气浮平台上设置有高精度六轴运动控制系统，高精度六轴运动控制系统一侧设置有COS定位加电系统，COS定位加电系统一侧设置有视觉系统，COS定位加电系统出光侧设置有光束质量分析系统。本发明通过光束质量分析系统和视觉系统实时控制调整准直透镜六个方向的位置，实现半导体激光器快轴准直的自动化，提高了准直精度，避免了人工操作，提高了生产效率。
一种精密半导体激光器快轴准直系统及其应用

[发明专利]基于横向剪切干涉的扩束准直系统波面像差检测方法-CN201110173912.5有效
发明人：李艳秋;汪海;刘克 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2011-06-24 - 公布日： 2011-12-28 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种基于横向剪切干涉的扩束准直系统波面像差检测方法，具体步骤为：步骤一、在扩束准直系统出射光束的光路上依次设置一维位相光栅和光电探测单元；步骤二、采集对应0、π/2、π、3π/2相移的x方向剪切干涉图dda0000071018770000013.GIF" wi="322" he="57" />和y方向剪切干涉图获取扩束准直系统的波面像差
基于横向剪切干涉扩束准直系统波面像差检测方法

[发明专利]大口径准直系统波前质量检测装置和方法-CN201110172884.5有效
发明人：李艳秋;王建峰;刘克 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2011-06-24 - 公布日： 2011-11-23 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种准直系统波前质量检测方法，以及一种适用于大口径准直系统波前质量检测装置。Stest与Smodal之差得到斜率Sleft；利用波前重构算法中的区域法，将Sleft代入区域法重构公式中求解各子孔径的离散点波前相位Wleft；将Wmodal和Wleft叠加得到波前相位，进而判定待测准直系统的光束质量
口径系统质量检测装置方法

[实用新型]一种激光清洗头-CN201821452857.7有效
发明人：焦俊科;茹浩磊;张文武 -专利权人：中国科学院宁波材料技术与工程研究所
申请日： 2018-09-06 - 公布日： 2019-04-23 - 主分类号： B08B7/00 文献下载
摘要：该激光清洗头包括激光准直系统、反射镜、能转动的扫描转镜、约束反射镜、聚焦镜以及具有激光射入端和激光射出端的主体结构；激光射入端具有安装斜面，反射镜固定在安装斜面上；激光准直系统与主体结构射入端垂直安装；主体结构侧壁固定高速电机，扫描转镜位于主体结构内部，并与高速电机的旋转轴连接；约束反射镜固定在主体结构内部，聚焦镜安装在激光射出端；激光准直系统射出的激光束经过反射镜进入主体结构，反射到扫描转镜上，经扫描转镜反射后进入约束反射镜
主体结构反射镜激光清洗扫描转镜激光准直系统聚焦镜激光射入本实用新型高速电机射出反射待清洗工件安装斜面垂直安装激光束射出端旋转轴侧壁转动聚焦

[发明专利]一种基于全息技术的双光路光学雨量计-CN201810397853.1在审
发明人：刘庆伟;楼宇丽;李重光;杨力 -专利权人：昆明理工大学
申请日： 2018-04-28 - 公布日： 2018-11-06 - 主分类号： G01W1/14 文献下载
摘要：本发明公开一种基于全息技术的双光路光学雨量计，包括半导体激光器Ⅰ、扩束准直系统Ⅰ、平行片光全息干板Ⅰ、上层采样区、线阵光电探测器Ⅰ、半导体激光器Ⅱ、扩束准直系统Ⅱ、平行片光全息干板Ⅱ、下层采样区、线阵光电探测器Ⅱ、计算机，本发明为减小单光路雨量计的测量误差，并增大雨量计的采样区间，在该光路系统的下方搭建第二套平行片光采样光路，该光路与其上方的采样光路对等，采样片光相互平行，传播方向相反，用全息再现法获得平行片状光束，不仅改善了采样光束质量，而且有利于整个检测仪器的小型化。
雨量计平行片半导体激光器扩束准直系统光电探测器采样光路全息干板全息技术采样区双光路线阵平行采样光束采样区间传播方向光路系统片状光束全息再现采样片单光路光路减小下层测量上层计算机检测

[实用新型]一种基于全息技术的双光路光学雨量计-CN201820625496.5有效
发明人：刘庆伟;楼宇丽;李重光;杨力 -专利权人：昆明理工大学
申请日： 2018-04-28 - 公布日： 2019-01-11 - 主分类号： G01W1/14 文献下载
摘要：本实用新型公开一种基于全息技术的双光路光学雨量计，包括半导体激光器Ⅰ、扩束准直系统Ⅰ、平行片光全息干板Ⅰ、上层采样区、线阵光电探测器Ⅰ、半导体激光器Ⅱ、扩束准直系统Ⅱ、平行片光全息干板Ⅱ、下层采样区、线阵光电探测器Ⅱ、计算机，本实用新型为减小单光路雨量计的测量误差，并增大雨量计的采样区间，在该光路系统的下方搭建第二套平行片光采样光路，该光路与其上方的采样光路对等，采样片光相互平行，传播方向相反，用全息再现法获得平行片状光束，不仅改善了采样光束质量，而且有利于整个检测仪器的小型化。
雨量计平行片半导体激光器扩束准直系统本实用新型光电探测器采样光路全息干板全息技术采样区双光路线阵平行采样光束采样区间传播方向光路系统片状光束全息再现采样片单光路光路减小下层测量上层计算机检测

[发明专利]红外激光匀光照明探测系统-CN201510418936.0在审
发明人：范志刚;陈婷;薛文慧;陈守谦;张旺 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2015-07-16 - 公布日： 2015-10-21 - 主分类号： G01S17/89 文献下载
摘要：本发明公开了一种红外激光匀光照明探测系统，其由红外激光整形照明器和红外激光探测器构成，红外激光整形照明器由激光扩束准直系统、微透镜阵列组和后置扩束系统构成，激光光源输出的脉冲激光束经过激光扩束准直系统后压缩发散角，形成近似平行光束，通过微透镜阵列组，对非均匀分布光束进行微分再积分的过程，在远场能够形成均匀照明效果，后置扩束系统能够缩小照明区域面积，作为探测信号在远场工作距离处形成一定形状的均匀照明截面，由探测目标反射探测信号所形成的探测回波被红外激光探测器接收应用本系统在远场对目标截面进行照明能达到90％以上的均匀度，并对2°视场范围内的回波进行探测成像，成像质量良好。
红外激光照明探测系统

[发明专利]一种光束准直系统-CN89100937.X无效
发明人：让·保罗·嗄法德;罗伯特·哈维莱特;格内维耶夫·查巴西尔;贾克斯·格里法顿 -专利权人：法码通公司
申请日： 1989-02-28 - 公布日： 1989-09-13 - 主分类号： G05D3/12 文献下载
摘要：本发明的准直系统比如打算用于用红外辐射和焊接头在与核反应堆有关的蒸汽发生器的水箱里的热交换器管内进行修理焊。用两个由马达驱动的固定在靠近该水箱入口的称为“发送部分的光偏转器和在被处理管入口处由移动装置承载的称为接收部分把能源光束传到被处理管的轴。该能源光束由可见光束同轴地包围住，通过后向反射器和接收部分带的自动准直镜以及通过发送部分带的探测器用该可见光建立和维持该发送部分和该接收部分之间的光学联系。
一种光束系统

[发明专利]一种瞄具零位的检测装置和检测方法-CN202211149111.X在审
发明人：孙林;杨晓萍;唐左平;马健美;钱伟 -专利权人：无锡市星迪仪器有限公司
申请日： 2022-09-21 - 公布日： 2022-12-20 - 主分类号： F41G1/54 文献下载
摘要：本发明涉及枪械零位检测技术领域，具体公开了一种瞄具零位的检测装置，包括定位指示系统、第一光学准直系统、第二光学准直系统和工控机，定位指示系统插入到被测武器的发射管中，且定位指示系统的中心轴与发射管的中心轴一致，被测武器的瞄具设置在发射管的上方，瞄具和定位指示系统的同一侧分别设置有第一光学准直系统与第二光学准直系统，第一光学准直系统与第二光学准直系统的光轴一致，第二光学准直系统与工控机电连接。
一种零位检测装置方法

[发明专利]一种自准直系统-CN201811036660.X在审
发明人：马臻;李奇炘;丁蛟腾;许亮;易红伟;吴璀罡 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所;中国科学院大学
申请日： 2018-09-06 - 公布日： 2019-02-26 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：本发明涉及光学精密测量技术领域，针对现有自准直仪分辨率与测量精度低的不足，提供一种自准直系统。自准直系统包括面阵CCD探测器，以及沿水平光轴从左至右依次设置的激光光源、二维指示光栅、分束镜、物镜和反射镜；激光光源发射的光束照亮指示光栅，光束经分束镜分束，再经物镜准直后照射到反射镜上；经反射镜折返回并透过物镜的光束再经分束镜反射至面阵
面阵CCD探测器自准直系统反射镜分束镜物镜激光光源指示光栅光学精密测量莫尔条纹水平光轴依次设置自准直仪分辨率二维分束反射成像照射照亮测量发射返回

[发明专利]准直超透镜及设计方法、基于准直超透镜的准直系统-CN202310881304.2在审
发明人：刘爽;胡敬佩;杨增辉;曾爱军;黄惠杰 -专利权人：上海镭望光学科技有限公司
申请日： 2023-07-18 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： G02B1/00 文献下载
摘要：准直超透镜及设计方法、基于准直超透镜的准直系统，其中，基于准直超透镜的准直系统，包括：VCSEL阵列和准直超透镜阵列；VCSEL阵列包括若干个VCSEL单元；准直超透镜阵列包括若干个准直超透镜，若干个准直超透镜与若干个VCSEL单元一一对应设置，对VCSEL单元的发射光束进行准直；准直超透镜由不同半径的非晶硅圆柱排布组成，其中，各非晶硅圆柱的半径根据准直超透镜各位置的位置相位来确定，以使不同半径的非晶硅圆柱根据准直超透镜的位置相位分布来排布通过采用特定相位分布的准直超透镜设计方法来突破传统曲率半径加工的限制，通过特定半径尺寸非晶硅圆柱的排布代替传统光学凸透镜的曲面分布，基于高精度的微纳加工工艺，提高准直性能。
准直超透镜设计方法基于系统

[发明专利]一种多通道全光法极弱磁场检测装置-CN202210161325.2在审
发明人：王冠学;王宇;康翔宇;李月;李仔艳;孙晓婕;陈珂羽;高秀敏 -专利权人：上海理工大学
申请日： 2022-02-22 - 公布日： 2022-05-24 - 主分类号： G01R33/032 文献下载
摘要：本发明公开了一种多通道全光法极弱磁场检测装置，包括激光器和设置在光路上的扩束准直系统、分光棱镜、空间光调制器、光学4F系统、碱金属原子气室、CCD相机和光电探测器阵列，激光器发射780nm激光，经过扩束准直系统进行准直，通过分光棱镜后入射到空间光调制器，经过相位调制后携带特殊波前信息的光束经过4F系统，CCD相机把光学影像转化为数字信号，测得其光斑的偏振分布，通过光电探测器阵列把光信号转变为电信号测得其光场强度，从而可计算出磁场强度，本发明将矢量光场调控与碱金属原子气室结合在一起；当本发明作为探测光束应用于原子磁强计系统时，可以实现原子磁强计多通道磁场测量。
一种通道全光法极弱磁场检测装置

[发明专利]基于光敏探测阵列的小孔衍射光斑中心轴定位装置及方法-CN202210826492.4在审
发明人：高芬;张通;张金鹏;吴汪瑞 -专利权人：西安工业大学
申请日： 2022-07-14 - 公布日： 2022-10-18 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明装置包括沿光的传输路径分立设置的激光器，扩束准直系统，会聚透镜，小孔衍射板，光敏探测阵列，点状激光器；其中，激光器出射的光束经过扩束准直系统的扩束后，变为第一光束；第一光束通过会聚透镜入射至小孔衍射板的衍射小孔后发生衍射
基于光敏探测阵列小孔衍射光斑心轴定位装置方法

[实用新型]光学准直系统和激光测距仪-CN202021898758.9有效
发明人：张欢欢;侴智;郑以磊;黄杰峰 -专利权人：深圳市迈测科技股份有限公司
申请日： 2020-09-02 - 公布日： 2021-07-09 - 主分类号： G01S7/481 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种光学准直系统和激光测距仪。所述光学准直系统通过在镜筒的腔室设置有光阑，且所述光阑的透光孔为锥形孔，所述锥形孔的第一开口与所述激光发射器的出光口相对，所述锥形孔与所述镜筒的腔室贯通。所述锥形孔通过改变所述激光光束的传播路径，将从第一开口进入的所述激光光束完全通过所述第二开口，从而避免所述激光光束中部分光线照射至所述镜筒的内壁而产生杂散光。
光学系统激光测距仪

[发明专利]具有固有像散半导体激光器的新型理想非球面准直系统-CN201810821298.0在审
发明人：杨华军;江萍;曹彪 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2018-07-24 - 公布日： 2018-12-07 - 主分类号： G02B27/30 文献下载
摘要：本发明属于光通信技术领域，具体为具有固有像散半导体激光器的新型理想非球面准直系统。该光学系统由理想非球面准直平凸透镜和三棱镜组两部分构成，设计方法基于三维矢量折射理论。理想非球面准直平凸透镜将具有固有像散的半导体激光器出射的非对称发散特性的椭圆截面高斯光束进行高精度准直，能达到出射光束发散角精确为零度的理想准直效果。再利用三棱镜组将椭圆横截面的高精度准直光束整形为横截面为圆形的高精度准直光束。本发明有助于在半导体激光器发射源具有固有象散情况下提高光通信系统中的发射精度。
半导体激光器非球面准直固有像散平凸透镜三棱镜组准直光束准直系统光通信技术领域光通信系统椭圆横截面出射光束发散特性高斯光束光学系统三维矢量椭圆截面零度发散角发射源非对称再利用整形出射象散折射发射

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