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[实用新型]光学测试系统-CN202320385395.6有效
发明人：黄志雷;李丽;王莉 -专利权人：北京与光科技有限公司
申请日： 2023-02-27 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本实用新型提供一种光学测试系统，其中所述光学测试系统用于检测光谱芯片，其中所述光学测试系统包括光学检测装置和控制装置，其中所述控制装置与所述光学检测装置相电连接，由所述控制装置控制所述光学检测装置的工作状态，其中所述光学检测装置包括箱体和被设置于所述箱体的测试光源，其中所述测试光源被布置在所述箱体的内侧，且与待测光谱芯片相对设置，所述箱体用于作为所述测试光源的支撑结构，并为待测光谱芯片提供测试所需要的环境
光学测试系统

[发明专利]光学测试系统-CN202110110283.5在审
发明人：李洋;刘宾;贺凌波;黄林;戴付建;赵烈烽 -专利权人：浙江舜宇光学有限公司
申请日： 2021-01-27 - 公布日： 2022-07-29 - 主分类号： G02B13/24 文献下载
摘要：本申请公开了一种光学测试系统，其沿着光轴依序包括增距模块和光学镜头。增距模块包括一个或多个透镜。光学镜头沿着光轴由物侧至像侧依序包括：光阑；具有正光焦度的第一透镜，其物侧面为凸面，像侧面为凸面；具有负光焦度的第二透镜，其物侧面为凹面，像侧面为凹面；具有光焦度的第三透镜，其物侧面为凹面，像侧面为凸面
光学测试系统

[实用新型]光学测试系统-CN201921786506.4有效
发明人：吴栋颖;杨文献;赵宇坤;李雪飞;陆书龙 -专利权人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日： 2019-10-23 - 公布日： 2020-06-23 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本实用新型提供一种光学测试系统，包括激光器、电源、光路调节结构、样品承载结构、第一聚焦透镜、分光器及处理器，样品承载结构包括样品室和样品台，样品台设置于样品室中，样品台用于承载样品，光路调节结构、样品承载结构依次设置于激光器的出射光路上激光器、光路调节结构、样品承载结构、第一聚焦透镜、分光器及处理器用于对样品进行光致发光测试；电源、样品承载结构、第一聚焦透镜、分光器及处理器用于对样品进行电致发光测试，从而能够同时对样品进行光致发光测试和电致发光测试，提升了测试效率。
光学测试系统

[实用新型]光学测试系统-CN202120234189.6有效
发明人：李洋;刘宾;贺凌波;黄林;戴付建;赵烈烽 -专利权人：浙江舜宇光学有限公司
申请日： 2021-01-27 - 公布日： 2021-08-10 - 主分类号： G02B13/24 文献下载
摘要：本申请公开了一种光学测试系统，其沿着光轴依序包括增距模块和光学镜头。增距模块包括一个或多个透镜。光学镜头沿着光轴由物侧至像侧依序包括：光阑；具有正光焦度的第一透镜；具有负光焦度的第二透镜，其物侧面为凹面，像侧面为凹面；具有光焦度的第三透镜，其物侧面为凹面，像侧面为凸面；以及具有光焦度的第四透镜。
光学测试系统

[发明专利]一种含有光学消旋组件的光学系统的像质测试装置及方法-CN202011004257.6有效
发明人：李珂;焦燕;宋新明;李豪;韩放;王永亮 -专利权人：华中光电技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一七研究所）
申请日： 2020-09-22 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种含有光学消旋组件的光学系统的像质测试装置及方法，其像质测试装置包括准直光学系统、含有光学消旋组件的光学系统、像方接收系统，所述准直光学系统，用于产生含有光学消旋组件的光学系统的像质测试所需的准直目标光束；所述含有光学消旋组件的光学系统位于准直光学系统的出射光路上，用于对所述准直光学系统成像；所述像方接收系统位于含有光学消旋组件的光学系统的成像光路上，用于接收所述含有光学消旋组件的光学系统的出射像并对其进行MTF测试。本发明通过观察和计算出射像的偏差进行针对性调整，解决了含有光学消旋组件的光学系统的像质测试的问题，保证了系统像质测试精度。
一种含有光学组件光学系统测试装置方法

[发明专利]投影及纹影二合一光学测试系统-CN201811138868.2有效
发明人：麦绿波 -专利权人：中国兵器工业标准化研究所
申请日： 2018-09-28 - 公布日： 2019-12-24 - 主分类号： G01M11/04 文献下载
摘要：本发明涉及投影及纹影二合一光学测试系统，涉及投影及纹影光学测试技术领域。本发明在一套测试系统中，通过应用两个透镜移动的光学特性组合，分别形成投影望远光学系统和纹影照相光学系统，实现了一套光学系统装置具有投影光学系统和纹影光学两种功能。本发明使需要应用两种不同光学原理建立的两种光学测试功能的装置在一个装置中实现，大大节省了测试装置的设计和制造费用，同时增加测试装置的功能，方便了测试工作的开展，节省了测试设备的放置空间。
纹影投影光学测试系统测试装置二合一光学测试技术光学系统装置投影光学系统望远光学系统照相光学系统设计和制造测试设备测试系统放置空间光学测试光学特性光学原理透镜移动应用测试

[发明专利]一种显示器光学测试系统及测试方法-CN201510219247.7有效
发明人：滕万鹏 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2015-04-30 - 公布日： 2017-12-08 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种显示器光学测试系统及测试方法，涉及光学测试领域，能够准确方便的调整光学测试仪与曲面显示器之间的垂直度，减小曲面显示器的光学测试误差。所述显示器光学测试系统，包括调节支架和显示器支架，显示器支架用于支撑待测试显示器，调节支架上设有光学测试仪，光学测试仪上设有激光测距仪，调节支架可带动光学测试仪水平旋转，激光测距仪的出光方向与光学测试仪的出光方向平行本发明实施例用于显示器的光学测试。
一种显示器光学测试系统方法

[发明专利]有限远共轭成像系统的测试方法和装置-CN202310993170.3在审
发明人：严峻;李枭宁;沈栋辉;李增 -专利权人：浙江荷湖科技有限公司
申请日： 2023-08-09 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及光学成像测试技术，公开了有限远共轭成像系统的测试方法和装置，包括成像单元、外接光学系统、测试单元和主控制端；其外接光学系统位于成像单元和测试单元中间；外接光学系统依据成像单元的成像条件确定所需的光源，并将所需的光源传送至主控制端，主控制端依据光源确定测试单元的光阑孔大小及测试单元与外接光学系统的距离；依据测试单元的光阑孔大小及测试单元与外接光学系统的距离对测试单元进行调节，从而形成测试的图像。本发明通过实现和显微镜一样的出光对有限远共轭成像系统进行成像，并对生成的图像进行测试，不需要依赖显微镜，且自动调节出光NA值和自动对焦；其成本低，测试效果好，操作简单。
有限共轭成像系统测试方法装置

[发明专利]一种空间带电粒子辐照效应的光学系统地面加速试验方法-CN202211687312.5在审
发明人：郭宝辉;王英男;李尧尧;王亮;田雪;贾苏洋;杨光 -专利权人：北京遥感设备研究所;中国人民解放军63921部队
申请日： 2022-12-27 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提出了一种空间带电粒子辐照效应的光学系统地面加速试验方法，包括如下步骤：在暗室中对参试光学系统进行探测能力测试；将辐照前的参试光学系统进行整机测试；遮挡参试光学系统的背面，并将参试光学系统放入辐射室进行辐射；持续进行辐射，直到辐射剂量与时间乘积等效于预设的空间辐照总剂量；将辐照后的参试光学系统进行整机测试；在暗室中对参试光学系统进行探测能力测试；对比辐照前后的测试数据，得到参试光学系统的下降幅度。该方法能够在地面通过测试在短时间均匀辐射后光学系统透过率和探测能力下降的比例，从而验证光学系统在空间环境下长时间工作下空间带电粒子辐照对其所造成的影响。
一种空间带电粒子辐照效应光学系统地面加速试验方法

[实用新型]光学系统测试设备-CN01258936.5无效
发明人：林吉宗;庞则辉 -专利权人：力捷电脑股份有限公司
申请日： 2001-08-30 - 公布日： 2002-08-14 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：一种光学系统测试设备,应用于测试一光学扫描仪中的光学系统。该设备包括一基座、一平台、一控制电路板、一数据排线、一马达、一传动组件、一皮带轮、一惰轮、一滑杆、一测试图表,该设备利用光学扫描仪原始的基本架构、电路系统、传动及动力系统,设计一接近实际操作环境的测试平台,零件取得容易且测试结果可靠度高。又于光学系统组装至光学扫描仪前便进行测试,可缩短工时及降低生产测试成本。
光学系统测试设备

[发明专利]光学触控模块的检测系统及其自动检测方法-CN201210170325.5在审
发明人：张立勋;陈裕彦;黄博亮;郑凯中 -专利权人：纬创资通股份有限公司
申请日： 2012-05-29 - 公布日： 2013-11-13 - 主分类号： G06F3/042 文献下载
摘要：本发明为一种光学触控模块的检测系统及其自动检测方法。检测系统用以测试光学式触控模块的光学撷取模块。检测系统包括控制模块、第一测试件、第二测试件及旋转夹具。控制模块电性连接光学撷取模块。第一测试件及第二测试件用以放置于接触面上以供光学撷取模块撷取得第一测试讯号及第二测试讯号。旋转夹具电性连接于控制模块并用以连接至光学撷取模块，其中控制模块判断光学撷取模块撷取的影像讯号中是否同时具有第一测试讯号及第二测试讯号。若否，则控制模块控制旋转夹具以转动光学撷取模块以调整撷取方向。
光学模块检测系统及其自动检测方法

[发明专利]一种光学类跟瞄单机半物理闭环测试系统及方法-CN202210523120.4在审
发明人：李同顺;刘礼城;卢山;刘昌昊;龚思进;朱文山;徐晨;王焕杰 -专利权人：上海航天控制技术研究所
申请日： 2022-05-13 - 公布日： 2022-09-02 - 主分类号： G05B17/02 文献下载
摘要：一种光学类跟瞄单机半物理闭环测试系统及方法，测试系统的组成包括：光学类跟瞄单机、星载控制计算机、动力学仿真机、光学类跟瞄单机模拟器、模拟数管计算机、遥测显示终端计算机、数据库及电源。测试方法的步骤包括：半物理闭环测试系统搭建、地面设备及星载控制计算机运行、光学类跟瞄单机输出测量数据、光学类跟瞄单机测量数据接入半物理闭环测试系统和光学类跟瞄单机闭环半物理测试方法性能评估。本发明利用光学类跟瞄单机模拟器，对内部算法的功能进行有效性的验证，此外，将单机数据通过该套半物理闭环测试系统接入控制系统闭环，对单机与控制系统的匹配性及控制系统的性能及鲁棒性进行充分的测试，可用于在轨服务任务地面半物理闭环测试
一种光学单机物理闭环测试系统方法

[实用新型]多探头OLED光学参数测试系统-CN201320165229.1有效
发明人：张光浩 -专利权人：四川虹视显示技术有限公司
申请日： 2013-04-03 - 公布日： 2013-10-16 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种多探头OLED光学参数测试系统，该测试系统能够实现对多件被测OLED样品同时进行测试，并且准确性高。该系统包括光学参数测试单元和OLED驱动单元，所述光学参数测试单元包括色彩分析仪、至少两个测试探头以及多探头扩展板，所述多探头扩展板用于连接色彩分析仪和测试探头，所述OLED驱动单元用于驱动OLED被测件，所述测试探头与色彩分析仪连接，测试探头用于采集OLED被测件的光学参数信息并且将光学参数信息传输到色彩分析仪。多探头OLED光学参数测试系统实现了同时对多个OLED被测件的光学参数的信息采集，并且通过增加测试控制单元对测试探头的控制，排除了人为因素造成的误差，保证了采集数据的准确性，提高了检测系统的精确度。
探头 oled 光学参数测试系统

[发明专利]用于检测光学性能的装置及方法、光学性能检测方法、电子设备-CN202110539160.3在审
发明人：张葵阳;何超 -专利权人：上海微觅医疗器械有限公司
申请日： 2021-05-18 - 公布日： 2022-11-22 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本说明书实施例公开了一种用于检测光学性能的装置及方法、光学性能检测方法、电子设备。所述用于检测成像系统光学性能的装置包括：测试板，所述测试板上设置有至少一组测试图案；移动部件，用于使所述测试板相对成像系统移动，以使所述测试板上的每组测试图案与所述成像系统中镜头的检测点对齐；图像采集设备，用于采集所述成像系统针对所述测试图案在对齐后的成像所形成的图像数据，所述图像数据用于检测所述成像系统的光学性能。本说明书实施例可以实现对成像系统的光学性能进行检测。
用于检测光学性能装置方法电子设备

[实用新型]LED前测机-CN201220471203.5有效
发明人：王智勇 -专利权人：昆山琉明光电有限公司
申请日： 2012-09-14 - 公布日： 2013-04-17 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种LED前测机，包括装载治具、移动底座、测试探针、控制系统、光学信号接收头以及光学测试仪，所述装载治具固定于所述移动底座上，所述测试探针能够插置与所述装载治具中，所述光学信号接收头置于所述装载治具上方，所述光学测试仪与所述光学信号接收头相连，所述控制系统控制所述移动底座以及测试探针的运动。所述测试探针在所述控制系统的控制下对位于所述装载治具中的LED进行测试，LED的光学特性通过所述光学信号接收头传递至所述光学测试仪，根据所述光学测试仪中分析显示的测试结果对点胶步骤中点胶量的多少以及硅胶与荧光粉的比例进行调整
led 前测机

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