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[实用新型]光学玻璃光学均匀性的测量装置-CN201320587523.1有效
发明人：孙元成;宋学富;张晓强;王慧;杜秀蓉;刘铸熠 -专利权人：中国建筑材料科学研究总院
申请日： 2013-09-23 - 公布日： 2014-02-26 - 主分类号： G01N21/45 文献下载
摘要：本实用新型是关于光学玻璃光学均匀性的测量装置，属于光学玻璃检测领域，所述光学玻璃由应力导致折射率不同，所述测量装置，包括：光源组件，用于提供偏振光；干涉色形成组件，用于使发生双折射的所述偏振光形成干涉色本实用新型的测量装置，通过利用光学玻璃双折射形成的干涉色图像，得到各像素点的折射率差值，从而获得光学玻璃的光学均匀性，该装置所用器件为较常用的光学器件，简单易得且成本低廉；测量时无需对光学玻璃表面进行特殊处理
光学玻璃光学均匀测量装置

[实用新型]晶体光学均匀性的检测装置-CN201720855524.8有效
发明人：井旭 -专利权人：济南快谱光电技术有限公司
申请日： 2017-07-14 - 公布日： 2018-01-12 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种晶体光学均匀性的检测装置。
晶体光学均匀检测装置

[发明专利]具有光学均匀性的多层膜-CN00816647.1无效
发明人： J·O·埃姆斯兰德 -专利权人： 3M创新有限公司
申请日： 2000-01-27 - 公布日： 2003-03-12 - 主分类号： G09F13/04 文献下载
摘要：光学均匀性是背面照明应用中特别需要的一个特征，例如信息亭、广告等。因此，至少两个着色层的组合产生了一种光学均匀性更好的多层膜。
具有光学均匀多层

[发明专利]光学材料折射率均匀性的评价方法-CN201811218909.9有效
发明人：麦绿波;杨静;胡向平;徐光以;王蕾 -专利权人：中国兵器工业标准化研究所
申请日： 2018-10-19 - 公布日： 2020-06-30 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及光学材料折射率均匀性的评价方法，涉及光学材料折射率均匀性评价技术领域。本发明建立了光学材料折射率均匀性缺陷与其使用影响的密切联系，提出了光学材料折射率均匀性新的评价概念、指标及其不确定度关系，并建立了这种评价关系的数学计算方法，基于所提出的数学计算方法设计了一种新的光学材料折射率均匀性的评价方法本发明的光学材料折射率均匀性的评价方法既能真实反映光学材料使用时折射率均匀性对光学系统成像的影响，也能反映光学材料工艺技术对光学材料折射率均匀性的影响，可为光学材料均匀性的测试提供合理的评价指标和方法，也可为高成像质量的光学系统设计提供更可靠的折射率均匀性指标。
光学材料折射率均匀评价方法

[发明专利]基于多尺度频域滤波的红外图像光学非均匀性校正方法-CN202210748609.1在审
发明人：朱金华;常婧璇;邵先军;姜凯华;李科;卢雪;王少华;李特;王振国;陶瑞祥;曹俊平 -专利权人：天津津航技术物理研究所;国网浙江省电力有限公司电力科学研究院
申请日： 2022-06-29 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本申请提供有基于多尺度频域滤波的红外图像光学非均匀性校正方法，本方法分别对第二图像信息进行不同尺度地低通滤波处理，得到第三图像信息集合和第五图像信息集合，再对第三图像信息集合和第五图像信息集合共同加权变换处理，得到光学非均匀性图像信息。以光学非均匀性图像信息校正二图像信息，得到去光学非均匀性图像信息。再以去光学非均匀性图像信息，以及去光学非均匀性图像信息中图像像素值的最大值和最小值，计算得到去光学非均匀性整形图像信息。本申请所提供的红外图像光学非均匀性校正方法，在多尺度频域滤波处理下，可以有效提升红外图像的显示效果，抑制光学非均匀性的影响，同时提高细节的对比度，提升红外图像的表现力。
基于尺度滤波红外图像光学均匀校正方法

[实用新型]光学玻璃均匀性测试装置-CN200820056376.4无效
发明人：张宝安;朱宝钤 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2008-03-19 - 公布日： 2008-12-31 - 主分类号： G01N21/958 文献下载
摘要：一种光学玻璃均匀性测试装置，该装置包括干涉仪数据采集系统和待测光学玻璃调配系统，干涉仪和数据采集系统，由激光器、分束器、扩束物镜、成像物镜、CCD相机和图像采集处理器组成，待测光学玻璃调配系统，包括一液槽，在该液槽内依次置放托板、花岗岩平板、升降网和待测光学玻璃，该液槽设有排液阀和注液阀，其内装有折射率匹配液，该液槽通过管道、注液阀与盛有折射率匹配液的液罐相通，所述的液槽置于倾斜调整机构上，该倾斜调整机构置于防振台上本实用新型能直接测量表面不进行预加工的光学玻璃的均匀性，是光学玻璃折射率均匀性的绝对测量，该测试装置可以达到4×10^－7精度。
光学玻璃均匀测试装置

[发明专利]液晶模组光学均匀性调节方法及系统-CN201611271320.6有效
发明人：任兴业;严方红;刘建军 -专利权人：深圳TCL数字技术有限公司
申请日： 2016-12-30 - 公布日： 2020-11-03 - 主分类号： G02F1/13357 文献下载
摘要：本发明公开了一种液晶模组光学均匀性调节方法，液晶模组包括面对设置的LED光源矩阵和光学膜片，以及设于光学膜片的背离LED光源矩阵一侧的液晶显示屏，光学膜片的背离LED光源矩阵的一侧为出光侧，液晶模组光学均匀性调节方法包括如下步骤：获取光学膜片上每个面光源区的亮度值；根据每个面光源区的亮度值，确定每个LED光源的第一亮度补偿系数；根据每个LED光源的第一亮度补偿系数，调节光学膜片上每个面光源区的亮度，以均衡液晶模组的光学均匀性。本发明还提供了一种液晶模组光学均匀性调节系统。本发明的技术方案旨在提高液晶显示屏的光学均匀性。
液晶模组光学均匀调节方法系统

[发明专利]红外光学材料均匀性测试的温度影响评估和控制方法-CN201811219048.6有效
发明人：麦绿波 -专利权人：中国兵器工业标准化研究所
申请日： 2018-10-19 - 公布日： 2020-03-10 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及红外光学材料均匀性测试的温度影响评估和控制方法，涉及红外光学材料均匀性测试技术领域。本发明基于对红外光学材料折射率均匀性测试期间试样局部小的温度变化对测试结果精度影响的发现，建立了红外光学材料折射率测试精度要求和不同红外光学材料温度变化对折射率影响对应的测试室环境温度控制的二维数值表格关系，并建立了相关计算公式进行数值计算和填表，提供了红外光学材料均匀性测试的温度影响评估和控制方法，建立了红外光学材料均匀性测试的温度影响评估和控制方法的技术解决方案，能够为红外光学材料均匀性测试精度的保证提供温度控制的准确指导
红外光学材料均匀测试温度影响评估控制方法

[发明专利]光学玻璃光学均匀性测试装置及其测试方法-CN200910303855.0有效
发明人：毛露路;胡熔;田丰贵;吴志强;许国珍;张晓刚 -专利权人：成都光明光电股份有限公司
申请日： 2009-06-30 - 公布日： 2009-11-25 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种成本较低的在光学均匀性测试中可以判断光波畸变方向的装置。光学玻璃光学均匀性测试装置，包括菲索干涉仪，在所述菲索干涉仪上的透反镜和反射镜之间放置方向判别标样。本发明直接在现有的菲索干涉仪上的透反镜和反射镜之间放置方向判别标样，整个装置简单、维护方便、成本较低，并且测试方法非常方便，本发明装置特别适合于对大块光学玻璃的测试。
光学玻璃光学均匀测试装置及其方法

[实用新型]一种光学玻璃光学均匀性的测量装置-CN202222377415.3有效
发明人：商华龙;李涛;陈红杰 -专利权人：湖北光锐鑫光电科技有限公司
申请日： 2022-09-07 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： G01N21/958 文献下载
摘要：本实用新型涉及光学玻璃检测技术领域，尤其是一种光学玻璃光学均匀性的测量装置，包括底座、光源发生器、接收器、控制组件，所述光源发生器与所述接收器均安装在所述底座的顶部两侧，所述控制组件安装在所述底座的一侧上
一种光学玻璃光学均匀测量装置

[发明专利]一种真空镀膜机行星转动夹具上球面光学元件镀膜均匀性修正挡板的设计方法-CN201210241071.1有效
发明人：柳存定;李斌成;孔明东;郭春 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2012-07-12 - 公布日： 2012-10-17 - 主分类号： C23C14/24 文献下载
摘要：一种真空镀膜机行星转动夹具上球面光学元件镀膜均匀性修正挡板的设计方法，通过建立真空环境中的镀膜模型，研究行星转动夹具上平面或球面光学元件镀膜后薄膜厚度分布。通过将行星转动夹具中光学元件的镀膜过程等效成简单转动夹具中的镀膜过程，设计行星转动夹具中镀膜均匀性修正挡板的初始形状。利用计算机优化修正挡板弧长放大倍数直至薄膜厚度均匀性达到最优结果，获得球面光学元件薄膜厚度均匀性修正挡板的实际形状。本发明可以实现大口径、大口径/曲率半径比的球面光学元件薄膜厚度均匀性的控制，从而获得大口径、大口径/曲率半径比的球面光学元件多层膜光谱特征的均匀性。
一种真空镀膜行星转动夹具球面光学元件镀膜均匀修正挡板设计方法

[发明专利]热界面均匀性检测系统及方法-CN201310284547.4有效
发明人：刘刚;唐晓军;赵鸿;王超;刘洋;刘磊;王钢 -专利权人：中国电子科技集团公司第十一研究所
申请日： 2013-07-08 - 公布日： 2013-10-23 - 主分类号： G01K11/30 文献下载
摘要：本发明公开了一种热界面均匀性检测系统及方法，该系统包括：光源、光学检测设备、设置在所述光源和所述光学检测设备之间的光学介质，和光学介质以及待检测热界面相连接的高温均温器和低温均温器，为高温均温器和低温均温器提供加热和制冷的对应高温源和低温源；本发明通过在光源和光学检测设备之间设置一个光学介质，利用光学介质对温度的敏感特性来反映光学介质内的温度场均匀性，进一步反映和光学介质相连接的待检测热界面的均匀性，从而提供了一种热界面均匀性的检测方法。
界面均匀检测系统方法

[发明专利]基于光学衍射的薄膜均匀性检测系统-CN202110955603.7在审
发明人：董俊;马冬;何俊明;马凡;徐盼盼;姜铭坤;黄小文 -专利权人：中国科学院合肥物质科学研究院;安徽中科德技智能科技有限公司
申请日： 2021-08-19 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于光学衍射的薄膜均匀性检测系统，包括成像单元、采集单元、处理单元、存储单元、控制单元；所述成像单元用于产生衍射光条纹图像，依次包括光源、滤光片和滚筒，光源发出光线经过滤光片来进行光源光强和波长调节，再经过滚筒和安放在载物台上的滚轮之间缝隙得到衍射光条纹图像；所述采集单元包括载物台和多个线阵相机，用于采集所述条纹图像，并进行多相机标定；所述处理单元用于采用预设的薄膜均匀性检测模型对所述条纹图像进行识别，检测所述条纹图像是否发生畸变，从而实现薄膜均匀一致性判别。本发明能够更加高效地对柔性薄膜均匀性进行检测。
基于光学衍射薄膜均匀检测系统

[发明专利]基于光学干涉的薄膜均匀性检测系统-CN202110956746.X在审
发明人：董俊;马冬;何俊明;马凡;徐盼盼;姜铭坤;黄小文 -专利权人：中国科学院合肥物质科学研究院;安徽中科德技智能科技有限公司
申请日： 2021-08-19 - 公布日： 2021-12-03 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于光学干涉的薄膜均匀性检测系统，包括成像单元、采集单元、处理单元、存储单元、控制单元；所述成像单元用于产生均匀照明的平行偏振光经薄膜上下表面反射后，通过透镜阵列形成干涉条纹在线阵相机干涉成像；所述采集单元包括载物台、线阵相机，用于采集所述薄膜干涉图像；所述处理单元用于采用预设的薄膜均匀性检测模型对所述薄膜干涉图像进行识别，检测所述薄膜干涉图像是否发生畸变，从而实现薄膜均匀一致性判别。本发明能够解决现有采集表面反光薄膜图像孤立噪声点多的问题，实现透明薄膜的表面及内部均匀性检测。
基于光学干涉薄膜均匀检测系统

[发明专利]干涉测量光学材料均匀性的方法-CN201210406066.1有效
发明人：栾竹;刘世杰;吴福林;成倩;白云波 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2012-10-22 - 公布日： 2013-02-13 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：一种干涉测量光学材料均匀性的方法，将光学材料加工成前后表面具有一定的夹角α的样品，利用干涉仪通过五次波面测量，然后计算得到样品的光学均匀性，为绝对测量结果。
干涉测量光学材料均匀方法

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