专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]可插拔光学模块和光学传输系统-CN201780078254.7有效
  • 油谷胜广 - 日本电气株式会社
  • 2017-08-01 - 2022-03-29 - H04B10/50
  • 驱动单元基于通过可插拔电连接器从光学通信装置输入的数据信号输出调制信号光学调制器输出通过基于调制信号调制从光源输出的光而生成的光信号。控制单元控制光学调制器的调制操作。控制单元将指示开始设置操作的驱动信号输出到光学通信装置。光学通信装置响应于驱动信号监视光学调制器的调制操作,并且基于监视结果执行校正数据信号的操作和/或将表示用于调制操作的控制设置的控制信号输出到控制单元的操作。当接收到控制信号时,控制单元基于控制信号控制光学调制器的调制操作。
  • 可插拔光学模块传输系统
  • [发明专利]触控显示装置-CN202210602196.6在审
  • 黄伟;马扬昭 - 武汉天马微电子有限公司
  • 2022-05-30 - 2022-09-13 - G06F3/041
  • 本申请公开了一种触控显示装置,包括:基板;显示层,位于基板的一侧,显示层包括阵列排布的发光元件;光学层,位于显示层背离基板的一侧,光学层包括第一光学部和第二光学部,第一光学部的折射率大于第二光学部的折射率;第二光学部在基板所在平面的正投影至少部分地围绕发光元件的正投影;第一光学部覆盖第二光学部;触控层,至少部分地位于光学层背离显示层的一侧,包括异层设置的触控信号线和桥接信号线,触控信号线和桥接信号线之间绝缘,触控信号线和桥接信号线在基板所在平面的正投影交叠;第二光学部覆盖触控信号线,桥接信号线位于第二光学部和第一光学部之间。
  • 显示装置
  • [发明专利]一种提高荧光收集率的显微镜成像系统及方法-CN201910713415.6在审
  • 不公告发明人 - 苏州溢博伦光电仪器有限公司
  • 2019-08-02 - 2020-09-29 - G02B27/28
  • 本发明涉及光学成像技术领域,具体为一种提高荧光收集率的显微镜成像系统及方法,该系统包括:准直透镜,用于准直来自激光输入光纤输出的激光并输出激光信号;多维扫描器,用于改变激光信号的入射角度使激光信号扫描实验样品,还用于区分激光信号和非线性光学信号,并根据非线性光学信号输出内部电信号;物镜,用于输出来自多维扫描器的激光信号使实验样品产生非线性光学信号,并输出非线性光学信号;外部光电检测器,用于收集实验样品产生的非线性光线信号,并输出外部电信号。采用本方案能够减少光学成像设备中的元件数量,缩小光学成像设备的体积,并获得提高荧光收集率,获得更好的光学成像效果。
  • 一种提高荧光收集显微镜成像系统方法
  • [发明专利]一种光学触摸屏及显示装置-CN201510121838.0有效
  • 谷晓芳 - 合肥鑫晟光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
  • 2015-03-19 - 2017-10-10 - G06F3/042
  • 本发明公开了一种光学触摸屏及显示装置,该光学触摸屏包括具有栅线、数据线和公共电极的阵列基板;还包括与数据线延伸方向相同的多条触控读取信号线、以及多个光学触控感测单元;其中,光学触控感测单元的第一控制端与第一栅线相连,第二控制端与第二栅线相连,输入端与公共电极相连,输出端与触控读取信号线相连;这样通过在光学触摸屏中设置光学触控感测单元,光学触控感测单元根据外界光照强度生成对应的光学触控信号,并将生成的光学触控信号通过触控读取信号线输出,进而根据光学触控信号确定光学触摸屏上发生触控的位置,从而实现光学触摸屏的光学触控检测。
  • 一种光学触摸屏显示装置
  • [发明专利]光学信息处理设备以及光学信息记录和再现方法-CN200610107421.X无效
  • 金近律 - 大宇电子株式会社
  • 2006-07-20 - 2007-12-12 - G11B7/0065
  • 提供了一种光学信息处理设备以及光学信息记录和再现方法。光学信息处理设备包括:光源;参考光束引导光学系统,其按多个复用角度将从所述光源发出的再现参考光束引导到其中记录有光学信息的光学信息存储介质;信号光束引导光学系统,其对再现信号光束进行引导,所述再现信号光束是沿与所述再现参考光束同轴的线并且沿所述再现参考光束的传播方向的相反方向从所述光学信息存储介质再现的,并且是在记录所述光学信息时使用的记录信号光束的相位共轭波;以及光学信息检测器,其对所述信号光束引导光学系统引导的所述再现信号光束进行检测。因此,可以降低制造成本,提高光学信息的复用密度,并使整个光学信息处理设备简化并小型化。
  • 光学信息处理设备以及信息记录再现方法
  • [发明专利]光学检测装置的性能确认方法及其使用的标准试剂-CN200780028990.8有效
  • 平井光春;细见敏也;吉永由纪 - 爱科来株式会社
  • 2007-12-25 - 2009-08-05 - G01N33/53
  • 提供可对包括光学检测单元和温度控制单元的光学检测装置简单且可靠地确认一些性能、即光学信号的检测以及温度控制是否正确进行的方法。通过下述方法对具备检测待测物的光学信号光学检测单元、控制待测物温度的温度控制单元的光学检测装置,确认光学信号的检测性能以及温度控制性能。首先,准备包含光学信号强度和Tm值为已知的核酸序列及其互补链的标准样品,通过上述温度控制单元使上述标准样品的温度上升或下降,而且通过上述检测单元测定上述标准样品的光学信号强度。另一方面,由伴随温度变化的上述光学信号强度的变化来确定上述标准样品的融解温度。分别对测得的上述标准样品的光学信号强度和上述标准样品的已知的光学信号强度、以及所确定的上述标准样品的融解温度和上述标准样品的已知的融解温度进行比较,来确认上述检测单元的光学信号的检测性能以及上述温度控制单元的温度控制性能是否正确
  • 光学检测装置性能确认方法及其使用标准试剂
  • [发明专利]基于光学频率梳的下变频装置及下变频方法-CN202110065558.8有效
  • 于文琦;赵泽平;李金野;戴双兴;刘建国 - 中国科学院半导体研究所
  • 2021-01-18 - 2023-07-21 - H04B10/54
  • 本公开提供一种基于光学频率梳的下变频装置及下变频方法,该装置包括:第一光学频率梳模块和第二光学频率梳模块,第一光学频率梳模块和第二光学频率梳模块分别用于输出第一光学频率梳和第二光学频率梳;强度调制器,用于接收微波信号和第二光学频率梳,并将微波信号调制到第二光学频率梳上,以输出第一光载波;合束器,用于将第一光学频率梳和第一光载波合成一路光信号,以输出第二光载波;光电探测器,用于接收第二光载波,并将微波信号从第二光载波中解调出来,并根据解调出来的信号获取第一信号;可调谐滤波器,用于根据第一信号进行信道选择和切换,以输出变频后的信号
  • 基于光学频率变频装置方法
  • [发明专利]用于扫描式测量距物体的距离的装置和方法-CN202180038052.6在审
  • V·戴维登科 - 司康纳光电子有限公司
  • 2021-05-04 - 2023-01-31 - G01S7/481
  • 本发明涉及一种用于扫描式测量距物体(12)的距离的装置(14),该装置具有光源(16),该光源产生具有在时间上变化的频率的光学输出信号。至S34),借助这些光学开关可以将光学输出信号选择性地分配到不同的光学波导(W11至W14)。经由自由空间耦合器(FSC11至FSC14)将光学输出信号耦合输出到自由空间中并且将在物体(12)上反射的光学输出信号作为光学测量信号耦合输入到波导中。探测器(D1至D4)检测光学测量信号与由光源(16)产生的光学输出信号的叠加。环形器(C1至C4)将由光源(16)提供的光学输出信号引导至分配矩阵(M1至M4),并且将来自分配矩阵(M1至M4)的光学测量信号引导至探测器(D1至D4)。
  • 用于扫描测量物体距离装置方法
  • [发明专利]光学指纹感测装置以及光学指纹感测方法-CN202110545906.1在审
  • 陈季廷 - 联詠科技股份有限公司
  • 2021-05-19 - 2021-11-26 - G06K9/00
  • 一种光学指纹感测装置以及光学指纹感测方法,光学指纹感测装置包含多个光学感测像素、多个光学阻隔像素以及读取电路。光学感测像素各自包含第一光电探测器用以感测通过光路径的光线,光学感测像素用以产生多个感测信号光学阻隔像素各自包含第二光电探测器,光线被阻隔不进入第二光电探测器,光学阻隔像素用以产生多个追踪信号。读取电路用以根据感测信号以及追踪信号之间的差距产生输出信号。上述产生的追踪信号可以用来补偿感测信号当中所带有的环境因素,可使进行指纹辨识具有较高精准度并且可在各种不同的环境条件下使用。
  • 光学指纹装置以及方法

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