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[实用新型]不良品标记结构-CN202022305492.9有效
发明人：杨超杰;吴挺 -专利权人：川臻精密机械（苏州）有限公司
申请日： 2020-10-16 - 公布日： 2021-06-15 - 主分类号： B41K3/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种不良品标记结构，包括有支架和台板，所述支架安装于台板上，其特征在于：所述支架上转动设有竖向布置的偏心轮，偏心轮配设有驱动手柄，所述偏心轮外圆上转动套设有轮套，轮套上设有径向布置的驱动臂本实用新型结构合理，标记方便快捷。
不良标记结构

[实用新型]不良地质引水隧洞结构-CN201721759276.3有效
发明人：孙晓磊;李向明;张蓉 -专利权人：中国水利水电第六工程局有限公司
申请日： 2017-12-16 - 公布日： 2018-07-27 - 主分类号： E21D11/10 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种不良地质引水隧洞结构，包括拱形的引水隧洞本体，还包括沿引水流向设置在引水隧洞外围的导管和沿引水隧洞本体轮廓按放射状布设的锚杆；沿引水隧洞本体轮廓设置有支护结构，所述支护结构包括沿引水隧洞本体喷射的混凝土喷涂层以及设置在所述混凝土喷涂层上的支护层本实用新型目的是提供一种不良地质引水隧洞结构，从而解决引水隧洞通过破碎或软弱岩层等不良地段时发生塌方事故的难题。
引水隧洞不良地质支护层本实用新型混凝土喷涂钢筋网片支护结构拱形钢架喷射放射状布设混凝土填充外围混凝土不良地段软弱岩层塌方事故削减装置导管锚杆匹配破碎外围引水

[实用新型]工程基础不良土改良结构-CN202122474058.8有效
发明人：陆章发;李日昌;罗吉智;庞赞龙;韦爱文 -专利权人：陆章发
申请日： 2021-10-14 - 公布日： 2022-02-15 - 主分类号： E02D3/12 文献下载
摘要：本实用新型提供工程基础不良土改良结构，涉及建筑工程技术领域，以解决改良土化学药剂与不良土混合充分性不佳的问题，包括机架；所述机架的左端连接于机械车辆上，机架的后端转动安装有一处按压辊；所述机架的底端转动安装有一处翻转架本实用新型通过搅拌构件配合驱动齿轮，使得搅拌叶轴对改良土化学药剂进行搅拌，提高改良土化学药剂混合的充分性，翻转架配合泵体使得改良土化学药剂经输料轴套通过翻转架上的犁形块输送至施工土地的内部，从而使得改良土化学药剂与施工不良土进行充分地混合
工程基础不良土改结构

[发明专利]半导体不良解析装置、不良解析方法、不良解析程序及不良解析系统-CN200680022712.7无效
发明人：武田雅裕;堀田和宏 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2006-06-20 - 公布日： 2008-06-25 - 主分类号： G01R31/302 文献下载
摘要：由至少取得半导体设备的图案图像(P1)的检测信息取得部(11)；取得布局图像(P3)的布局信息取得部(12)；对半导体设备的不良进行解析的不良解析部(13)；和将不良解析的信息显示在显示装置(40)上的解析画面显示控制部(14)构成不良解析装置(10)。由此，实现了能确实且高效地进行半导体设备的不良解析的半导体不良解析装置、解析方法、解析程序、及解析系统。
半导体不良解析装置方法程序系统

[发明专利]显示不良的维修方法-CN201610382226.1有效
发明人：郝金刚;尚建兴;张惠博 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司
申请日： 2016-06-01 - 公布日： 2019-07-23 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种显示不良的维修方法。该方法包括：检测出显示面板的显示不良；对所述显示不良的部分结构进行维修，以使显示不良的剩余结构的尺寸小于检验标准值。本发明提供的技术方案中，检测出显示面板的显示不良，对显示不良的部分结构进行维修以使显示不良的剩余结构的尺寸小于检验标准值，从而实现了将显示不良维修至客户可接受的程度。
显示不良维修方法

[发明专利]键帽结构组装不良测试机-CN201810262493.4在审
发明人：刘利刚;谭志辉;黄得力 -专利权人：昆山鸿志犀自动化机电设备有限公司
申请日： 2018-03-28 - 公布日： 2018-07-20 - 主分类号： G01M13/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种键帽结构组装不良测试机，包括X轴向移动装置以及检测头组件，所述检测头组件通过连接装置安装在所述X轴向移动装置上，在所述驱动装置作用下沿水平方向移动，所述检测头组件包括压力传感器以及与其相连的检测头本发明结构紧凑、测试效率高、准确性高以及适用范围广的特点。
检测头组件移动装置键帽结构测试机检测头组装水平方向移动压力传感器测试效率连接装置驱动装置头顶面键帽坡面下沿行进检测

[实用新型]键帽结构组装不良测试机-CN201820431954.1有效
发明人：刘利刚;谭志辉;黄得力 -专利权人：昆山鸿志犀自动化机电设备有限公司
申请日： 2018-03-28 - 公布日： 2018-12-21 - 主分类号： G01M13/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种键帽结构组装不良测试机，包括X轴向移动装置以及检测头组件，所述检测头组件通过连接装置安装在所述X轴向移动装置上，在所述驱动装置作用下沿水平方向移动，所述检测头组件包括压力传感器以及与其相连的检测头本实用新型结构紧凑、测试效率高、准确性高以及适用范围广的特点。
检测头组件移动装置本实用新型键帽结构测试机检测头组装水平方向移动压力传感器测试效率连接装置驱动装置头顶面键帽坡面下沿行进检测

[实用新型]LCD的开路不良在线监测结构-CN201520591534.6有效
发明人：杨锦喜 -专利权人：龙川耀宇科技有限公司
申请日： 2015-08-08 - 公布日： 2015-12-30 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种LCD的开路不良在线监测结构，该结构包括LCD掩膜版和万用表，LCD掩膜版的留边区域设有多组测试线路，每组测试线路均包括多个沿xy两个方向的S形线路单元，每组测试线路的首尾两端及每相邻两个
lcd 开路不良在线监测结构

[实用新型]一种不良镜头拆解结构-CN201620083813.6有效
发明人：吴志良;罗仁杨;连东旭;裴孝强 -专利权人：福建福光股份有限公司
申请日： 2016-01-28 - 公布日： 2016-07-13 - 主分类号： G02B7/02 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种不良镜头拆解结构，其特征在于：包括用于将镜片与镜筒的熔着面切断的拆解头，所述拆解头的末端为锋利的楔形面，所述拆解头的内部设置有用于压镜片的压块，所述压块与拆解头之间经弹性元件驱动进行竖向的往复挤压镜片运动该不良镜头拆解结构结构简单，能够解决不良镜筒拆解难的困扰，解决拆完不良镜筒镜片报废的困扰，镜片报损率低，镜片与镜筒的熔着面切断，镜片只要轻轻就可以敲出来。
一种不良镜头拆解结构

[实用新型]一种不良地基处理结构-CN201920862792.1有效
发明人：孙盼;刘佑祥;王泽希;郭运;刘海涛;赵鹏飞;龙晓东;郑珠光;蒋善超;王发玲;张亮;陈凯;程莹;罗春雨;吴彪;张婵娟;王晓毅 -专利权人：中南勘察设计院集团有限公司
申请日： 2019-06-10 - 公布日： 2020-08-07 - 主分类号： E02D27/12 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种不良地基处理结构，包括：加筋垫层(1)和地基加固体(2)；加筋垫层(1)包括上层砂石垫层(1.1.1)、加筋网(1.2)和下层砂石垫层(1.1.2)；加筋网(1.2)位于上层砂石垫层和下层砂石垫层之间；地基加固体(2)包括第一旋喷桩体(2.1)、第二旋喷桩体(2.2)和注浆增强体(2.3)；加筋垫层(1)水平布置，地基加固体(2)竖向布置；对于易产生较大不均匀沉降的不良地基，可针对不同地基情况选择不同的加固体组合，调节地基加固体的刚度；并在地基加固体顶部水平布置加筋垫层，对不良地基进行处理，以便进行建筑建筑物。
一种不良地基处理结构

[实用新型]一种不良地基处理结构-CN202022289132.4有效
发明人：柴小磊;陈辰;程海林;黄肇健;陈金永 -专利权人：中国建筑第八工程局有限公司
申请日： 2020-10-14 - 公布日： 2021-09-17 - 主分类号： E01C19/48 文献下载
摘要：本实用新型属于地基处理技术领域，尤其为一种不良地基处理结构，包括滑动横板支架，所述滑动横板支架的底端外侧固定连接有电动调节支架，所述电动调节支架的一端外侧固定连接有电机支架，所述电机支架的一端内侧固定连接有驱动电机
一种不良地基处理结构

[实用新型]低不良USB3.1端子结构-CN202022090401.4有效
发明人：谭达兴 -专利权人：东莞高端精密电子股份有限公司
申请日： 2020-09-22 - 公布日： 2021-04-13 - 主分类号： H01R13/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种低不良USB 3.1端子结构，包括第一插板端子排、第二插板端子排、贴板端子排、第一胶芯和第二胶芯，所述第一插板端子排和第二插板端子排嵌装于第二胶芯内，所述贴板端子排嵌装于第一胶芯内，
不良 usb3 端子结构

[发明专利]半导体不良分析装置、不良分析方法、以及不良分析程序-CN200680054977.5无效
发明人：真岛敏幸;嶋瀬朗;寺田浩敏;堀田和宏 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2006-10-23 - 公布日： 2009-06-24 - 主分类号： G01R31/311 文献下载
摘要：由取得半导体器件的不良观察图像(P2)的检查信息取得部(11)、取得布图信息的布图信息取得部(12)、进行不良分析的不良分析部(13)构成不良分析装置(10)。不良分析部(13)，使用由多个层的每一层中的配线图案的图案数据组记述半导体器件的多个配线的构成的配线信息，将多个配线中通过分析区域的配线作为不良的候补配线而抽出，并且，在候补配线的抽出中，通过进行使用图案数据组的配线图案的等电位追踪由此，实现了能够可靠且高效地进行使用不良观察图像的半导体器件的不良的分析的半导体不良分析装置、不良分析方法、以及不良分析程序。
半导体不良分析装置方法以及程序

[发明专利]半导体不良分析装置、不良分析方法、以及不良分析程序-CN200680054964.8无效
发明人：真岛敏幸;嶋瀬朗;寺田浩敏;堀田和宏 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2006-10-23 - 公布日： 2009-07-15 - 主分类号： G01R31/311 文献下载
摘要：由取得半导体器件的不良观察图像(P2)的检查信息取得部(11)、取得布图信息的布图信息取得部(12)、以及对半导体器件的不良进行分析的不良分析部(13)构成不良分析装置(10)。不良分析部(13)具有分析区域设定部，该分析区域设定部通过比较不良观察图像中的亮度分布和规定的亮度临界值，从而抽出起因于不良的反应区域，并对应于反应区域而设定用于半导体器件的不良分析的分析区域。由此，实现了一种能够可靠且高效地进行使用不良观察图像的半导体器件的不良的分析的半导体不良分析装置、不良分析方法、以及不良分析程序。
半导体不良分析装置方法以及程序

[发明专利]半导体不良分析装置、不良分析方法、以及不良分析程序-CN200680054968.6无效
发明人：真岛敏幸;嶋瀬朗;寺田浩敏;堀田和宏 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2006-10-23 - 公布日： 2009-06-17 - 主分类号： G01R31/311 文献下载
摘要：由取得半导体器件的不良观察图像(P2)的检查信息取得部(11)、取得布图信息的布图信息取得部(12)、进行不良分析的不良分析部(13)构成不良分析装置(10)。不良分析部(13)抽出半导体器件的多个网路中通过从不良观察图像设定的多个分析区域的至少1个的候补网路、以及该候补网路通过分析区域的通过次数，选择通过次数最多的候补网路，以作为第1不良网路，并且，着眼于第1不良网路未通过的分析区域，进行第2不良网路的选择。由此，实现了能够可靠且高效地进行使用不良观察图像的半导体器件的不良的分析的半导体不良分析装置、不良分析方法、以及不良分析程序。
半导体不良分析装置方法以及程序

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