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[发明专利]磁钢阵列以及磁浮平面电机-CN201310752308.7有效
发明人：张霖;池峰;陈庆生;段素丙;刘小虎 -专利权人：上海微电子装备（集团）股份有限公司
申请日： 2013-12-31 - 公布日： 2018-07-20 - 主分类号： H02K41/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种磁钢阵列和磁浮平面电机，该磁钢阵列包括：一维海尔贝克磁钢阵列和二维海尔贝克磁钢阵列，所述一维海尔贝克磁钢阵列和二维海尔贝克磁钢阵列共同构成方形的磁钢阵列，所述二维海尔贝克磁钢阵列分设于该方形磁钢阵列一条对角线的两端位置处本发明的磁钢阵列采用了二维海尔贝克磁钢阵列与一维海尔贝克磁钢阵列相结合的方式，与同样尺寸的纯一维磁钢阵列相比，增大了磁浮平面电机的推力常数。
磁钢阵列以及平面电机

[实用新型]集成多通道波分复用器-CN201120163057.5有效
发明人：陈思乡;徐皓;刘卫卫;王斌 -专利权人：深圳新飞通光电子技术有限公司
申请日： 2011-05-20 - 公布日： 2011-11-23 - 主分类号： H04J14/02 文献下载
摘要：本实用新型揭露了一种集成多通道波分复用器，通过介质滤波片将复合光信号分离成至少两路光信号，包括第一一维光波导阵列、第二一维光波导阵列和第三一维光波导阵列，第一准直透镜阵列、第二准直透镜阵列和第三准直透镜阵列，以及一介质滤光片。第一一维光波导阵列、第一准直透镜阵列、介质滤光片、第二准直透镜阵列和第二一维光波导阵列顺序排列成直线。第一一维光波导阵列、第一准直透镜、介质滤光片、第三准直透镜和第三一维光波导阵列以介质滤光片处为转折点形成折角。第一一维光波导阵列、第二一维光波导阵列和第三一维光波导阵列具有多路光通道。
集成通道波分复用器

[发明专利]二维扫描变容管有源超表面天线罩-CN201811615073.6有效
发明人：吴锡东;戴少鹏;周金芳 -专利权人：浙江大学
申请日： 2018-12-28 - 公布日： 2021-06-04 - 主分类号： H01Q1/42 文献下载
摘要：本发明公开了一种二维扫描变容管有源超表面天线罩，包括二维扫描阵列及垫片；二维扫描阵列为多层变容管有源超表面，层间通过垫片分隔；二维扫描阵列由两个一维扫描阵列：x方向扫描阵列和y方向扫描阵列在z方向叠加而成，y方向作为入射波极化方向，z方向作为入射波传播方向，两个一维扫描阵列中变容管偏置线方向均为x方向。该天线罩通过改变二维扫描阵列中变容管的偏置电压来实现二维扫描，二维扫描阵列通过两组变容管有源超表面实现的一维扫描阵列实现二维扫描，两组一维扫描阵列的扫描方向相互正交，且在纵向叠加，利用此方法能有效降低大规模二维扫描阵列中超表面的工艺复杂度和实现成本
二维扫描变容管有源表面天线罩

[发明专利]对数据阵列进行编码-CN201911058443.5在审
发明人： J·C·克雷芒 -专利权人： ARM有限公司
申请日： 2019-11-01 - 公布日： 2020-05-12 - 主分类号： H04N19/85 文献下载
摘要：对数据阵列进行编码。一种对数据元阵列流中的数据元阵列进行编码的设备。所述设备包括对数据元阵列进行编码的编码电路。所述设备还包括根据数据值的二维阵列来生成数据值的两个一维阵列的处理电路。所述二维阵列中的数据值表示所述数据元阵列的特性。所述两个一维阵列中的数据值分别表示沿着所述二维阵列的两个维度的数据值。所述处理电路在工作上能够使用所述两个一维阵列来对所述二维阵列中的数据值进行近似，并且在对要编码的阵列流中的数据元阵列进行编码时，使用所述二维阵列中的近似的数据值。
数据阵列进行编码

[实用新型]基于复合针孔阵列和偏振阵列的装置-CN202121179855.7有效
发明人：樊为;范钧;赵百川;陈章达;曾丹;段正雨;裴茂胜;王瑞;陶豪作;韩顺怡 -专利权人：成都工业学院
申请日： 2021-05-30 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： G02B30/25 文献下载
摘要：本实用新型公开了基于复合针孔阵列和偏振阵列的装置，包括显示屏，偏振阵列I，偏振阵列II和复合针孔阵列；一维图像元透过对应的偏振阵列I中的偏振单元I、偏振阵列II中的偏振单元III以及一维针孔重建出一维3D图像，且不能透过与对应的一维针孔相邻的二维针孔；二维图像元透过对应的偏振阵列I中的偏振单元II、偏振阵列II中的偏振单元IV以及二维针孔重建出二维3D图像，且不能透过与对应的二维针孔相邻的一维针孔；一维3D图像与二维3D图像在观看区域合并成一个宽视角和高分辨率3D图像。
基于复合针孔阵列偏振装置

[发明专利]二维扫描变容管有源超表面薄透镜天线-CN201811616361.3有效
发明人：吴锡东;戴少鹏;周金芳 -专利权人：浙江大学
申请日： 2018-12-28 - 公布日： 2020-12-08 - 主分类号： H01Q19/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种二维扫描变容管有源超表面薄透镜天线，包括聚焦透镜、二维扫描阵列、垫片、支撑柱、喇叭天线和底座；二维扫描阵列为超表面；聚焦透镜为薄透镜；二维扫描阵列、聚焦透镜、支撑柱均通过垫片依次连接，喇叭天线固定在底座上；二维扫描阵列由两个一维扫描阵列：x方向和y方向扫描阵列在z方向叠加而成，y方向作为入射波极化方向，z方向作为透镜对称轴方向，两个一维扫描阵列的偏置线方向均为x方向。该天线通过改变变容管偏置电压实现二维扫描，扫描阵列通过两组一维扫描阵列实现二维扫描，两组一维扫描阵列的扫描方向相互正交，且在纵向叠加，利用此方法能有效降低大规模二维扫描阵列中超表面复杂度和成本。
二维扫描变容管有源表面透镜天线

[实用新型]基于复合针孔阵列和障壁阵列的装置-CN202121179868.4有效
发明人：樊为;范钧;赵百川;陈章达;曾丹;段正雨;裴茂胜;王瑞;陶豪作;韩顺怡 -专利权人：成都工业学院
申请日： 2021-05-30 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： G02B30/32 文献下载
摘要：本实用新型公开了基于复合针孔阵列和障壁阵列的装置，包括显示屏，障壁阵列和复合针孔阵列；障壁阵列放置于显示屏和复合针孔阵列之间；复合针孔阵列包含一维针孔和二维针孔；一维针孔位于复合针孔阵列的奇数列，二维针孔位于复合针孔阵列的偶数列；障壁阵列中的障壁设置在水平方向上相邻的两个图像元之间，用于分隔水平方向上相邻的两个图像元；障壁阵列中的障壁垂直于显示屏和复合针孔阵列；一维图像元透过对应的一维针孔，重建出一维3D图像，二维图像元透过对应的二维针孔，重建出二维3D图像；一维3D图像与二维3D图像在观看区域合并成一个宽视角和高分辨率3D图像。
基于复合针孔阵列装置

[发明专利]基于最小冗余的MIMO三维成像雷达稀疏阵列设计方法-CN201911323939.0在审
发明人：田卫明;杨文雨;胡程;曾涛 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2019-12-20 - 公布日： 2020-04-14 - 主分类号： G01S13/89 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于最小冗余的MIMO三维成像雷达稀疏阵列设计方法，首先根据方位向分辨率和俯仰向分辨率确定发射阵列长度和接收阵列长度；再根据发射阵列长度和接收阵列长度构造一维最小冗余稀疏收、发阵列；对一维最小冗余稀疏收、发阵列进行分割摆放得到二维MIMO稀疏矩型阵列；最后针对得到的二维MIMO稀疏矩型阵列进行遗传算法优化。使用本发明能够在成像性能和系统复杂度之间得到良好平衡的二维MIMO稀疏阵列——二维MIMO稀疏矩型阵列。
基于最小冗余 mimo 三维成像雷达稀疏阵列设计方法

[实用新型]基于复合阶梯渐变孔径针孔阵列和偏振阵列的装置-CN202121314172.8有效
发明人：樊为;范钧;赵百川;陈章达;曾丹;段正雨;裴茂胜;王瑞;陶豪作;韩顺怡 -专利权人：成都工业学院
申请日： 2021-06-14 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： G02B30/32 文献下载
摘要：本实用新型公开了基于复合阶梯渐变孔径针孔阵列和偏振阵列的装置，包括显示屏、偏振阵列I，偏振阵列II和复合阶梯渐变孔径针孔阵列；一维图像元透过对应的偏振阵列I中的偏振单元I、偏振阵列II中的偏振单元I以及一维针孔重建一维3D图像，且不能透过与对应的一维针孔水平和垂直方向上相邻的二维针孔；二维图像元透过对应的偏振阵列I中的偏振单元II、偏振阵列II中的偏振单元II以及二维针孔重建二维3D图像，且不能透过与对应的二维针孔水平和垂直方向上相邻的一维针孔；一维3D图像与二维3D图像在观看区域合并成一个宽视角3D图像。
基于复合阶梯渐变孔径针孔阵列偏振装置

[实用新型]基于复合渐变节距针孔阵列和偏振阵列的装置-CN202121276881.1有效
发明人：樊为;范钧;陈章达;赵百川;曾丹;彭尧;李炫;段正雨;裴茂胜;王瑞;陶豪作 -专利权人：成都工业学院
申请日： 2021-06-09 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： G02B30/25 文献下载
摘要：本实用新型公开了基于复合渐变节距针孔阵列和偏振阵列的装置，包括显示屏、偏振阵列I，偏振阵列II和复合渐变节距针孔阵列；位于复合渐变节距针孔阵列同一列的一维针孔和二维针孔的水平节距均相同；一维图像元透过对应的偏振阵列I中的偏振单元I、偏振阵列II中的偏振单元I以及一维针孔重建一维3D图像，且不能透过与对应的一维针孔水平和垂直方向上相邻的二维针孔；二维图像元透过对应的偏振阵列I中的偏振单元II、偏振阵列II中的偏振单元II以及二维针孔重建二维3D图像，且不能透过与对应的二维针孔水平和垂直方向上相邻的一维针孔；一维3D图像与二维3D图像在观看区域合并成一个宽视角3D图像。
基于复合渐变针孔阵列偏振装置

[发明专利]二维扫描变容管有源超表面带孔介质透镜天线-CN201811616363.2有效
发明人：吴锡东;戴少鹏;周金芳 -专利权人：浙江大学
申请日： 2018-12-28 - 公布日： 2021-01-08 - 主分类号： H01Q23/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种二维扫描变容管有源超表面带孔介质透镜天线，包括聚焦透镜、二维扫描阵列、垫片、支撑柱、喇叭天线和底座；二维扫描阵列为超表面；聚焦透镜为带孔介质透镜；二维扫描阵列、聚焦透镜、支撑柱均通过垫片依次连接，喇叭天线固定在底座上；二维扫描阵列由两个一维扫描阵列：x方向和y方向扫描阵列在z方向叠加而成，y方向作为入射波极化方向，z方向作为透镜对称轴方向，两个一维扫描阵列中变容管的偏置线方向均为x方向。该天线通过改变变容管的偏置电压实现二维扫描。扫描阵列通过两组一维扫描阵列实现二维扫描，两组一维扫描阵列的扫描方向正交，且在纵向叠加，利用此方法能有效降低大规模二维扫描阵列中超表面复杂度和成本。
二维扫描变容管有源表面介质透镜天线

[发明专利]发光二极管阵列-CN200880104047.5无效
发明人： S·J·比尔休詹;G·哈伯斯 -专利权人：皇家飞利浦电子股份有限公司;飞利浦拉米尔德斯照明设备有限责任公司
申请日： 2008-08-22 - 公布日： 2010-09-01 - 主分类号： F21K7/00 文献下载
摘要：一维发光二极管(LED)(102)阵列(100)被配置成将LED彼此紧邻地(例如150μm或者更小)放置并且紧邻衬底边缘(107)地(例如150μm或者更小)放置LED的至少一个侧面。由于LED靠近衬底的边缘，因而可以并排地将多个一维阵列接合在一起以形成二维阵列(160)，其中来自邻近的一维阵列的LED被靠近地放置在一起。通过最小化相同一维阵列与邻近一维阵列上的LED之间的间隙，改善了器件的亮度，从而使得器件适合用于高辐射度的应用。而且，使用一定数量的一维阵列以形成更大的二维阵列相对于常规的单片二维阵列提高了成品率。
发光二极管阵列

[发明专利]一种二维光纤阵列的测试方法-CN201811638679.1在审
发明人：谢燕;万祥;童严;时尧成;戴道锌 -专利权人：苏州天步光电技术有限公司
申请日： 2018-12-29 - 公布日： 2019-04-05 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种二维光纤阵列的测试方法，具体步骤包括：A、测试出非二维光纤阵列辅助测试结构的光学损耗M1；B、使用六维高精度调节架与插回损测试仪将非二维光纤阵列辅助测试结构与二维光纤阵列进行对准测试，得出光纤阵列的组合光学损耗M2；C、将上述步骤得出的光学损耗M2减去M1可计算出其中的二维光纤阵列的损耗M3，根据M3值的大小范围来判断二维光纤阵列是否满足使用要求，达到二维光纤阵列在应用前的性能判别要求。通过上述方式，本发明二维光纤阵列的测试方法可适用于各种型号规格的二维光纤阵列测试，能够有效检测二维光纤阵列光学损耗，提前筛选二维光纤阵列的数据范围，减少应用过程中的耦合时间及匹配误差，提高耦合效率。
二维光纤阵列测试光学损耗辅助测试高精度调节对准测试光纤阵列匹配误差性能判别应用过程有效检测组合光学耦合效率测试仪耦合减去六维筛选应用

[发明专利]一种三维微透镜阵列的制备方法-CN202011553217.7在审
发明人：许剑锋;唐家璇;孙权权;沈丽峰;兰洁;陈肖;焦威 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2020-12-24 - 公布日： 2021-04-09 - 主分类号： G02B3/00 文献下载
摘要：本发明属于三维微透镜阵列制造相关技术领域，其公开了一种三维微透镜阵列的制备方法，该方法包括：对金属基板进行加工得到三维微透镜阵列的模具；在制备三维微透镜阵列的材料表面制备预设厚度的压印胶，并采用模具对压印胶进行压制固化得到压印胶材质的三维微透镜阵列；采用干法刻蚀对压印胶材质的三维微透镜阵列进行刻蚀直至在制备三维微透镜阵列的材料上得到完整的三维微透镜阵列。本申请首先制备出与待制备的三维微透镜阵列相匹配的模具，然后利用该模具压制出与三维微透镜阵列形状相同的模型，最后对该模型进行干法刻蚀即可获得三维微透镜阵列，操作简单，所用设备简单易得，并且可以批量化制备，
一种三维透镜阵列制备方法

[发明专利]二维码阵列标签检测方法及存储装置-CN202011386800.3有效
发明人：霍伟祺 -专利权人：广东嘉腾机器人自动化有限公司
申请日： 2020-12-01 - 公布日： 2022-05-10 - 主分类号： G05D1/02 文献下载
摘要：本发明提供一种二维码阵列标签检测方法，包括以下步骤：AGV拍摄二维码阵列标签图像；选取二维码阵列标签图像中的两个二维码，并对两个二维码进行运算；得出偏差线D；根据两个二维码的编号数据，以及设定的二维码阵列标签的布局规律，得出偏差线D相对于二维码阵列标签的坐标系的相对位姿关系；计算偏差线D相对AGV坐标系的相对位姿关系；计算二维码阵列标签图像相对AGV的位姿关系。与现有技术相比，本发明的一种二维码阵列标签检测方法，根据二维码阵列标签中的两个二维码得出偏差线D以供AGV判定二维码阵列标签与其的相对关系。
二维码阵列标签检测方法存储装置

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