[发明专利]探针型检测仪,使用这种检测仪的集成电路检测方法以及集成电路无效
| 申请号： | 98107946.6 | 申请日： | 1995-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN1214546A | 公开（公告）日： | 1999-04-21 |
| 发明（设计）人： | 大野利雄 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号： | H01L23/48 | 分类号： | H01L23/48 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 范本国 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种集成电路,其上具有许多涂覆有焊料层的引线,这些引线是从集成电路封装的侧面伸出来的,并平行于集成电路的上表面的平面线性延伸,然后向下弯曲,并且每一条所说的引线在其底部线性延伸部分的焊料涂层上,通过接触或类似的方法形成有一个凹部。 | ||
| 搜索关键词： | 探针 检测 使用 这种 集成电路 方法 以及 | ||
【主权项】：
1．一种集成电路，其上具有许多涂复有焊料层的引线，这些引线是从集成电路封装的侧面伸出来的，并平行于集成电路的上表面的平面线性延伸，然后向下弯曲，并且每一条所说的引线在其底部线性延伸部分的焊料涂层上，通过接触或类似的方法形成有一个凹部。
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