[发明专利]一种基于探针对准晶圆的双倍率光学系统在审

专利信息
申请号: 202311182266.8 申请日: 2023-09-14
公开(公告)号: CN116931236A 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 曲贺盟;管海军;王超;张继真;谢晓麟 申请(专利权)人: 长春长光智欧科技有限公司
主分类号: G02B13/00 分类号: G02B13/00;G02B17/08;H01L21/66
代理公司: 吉林国科惠智知识产权代理事务所(普通合伙) 22222 代理人: 吴金华
地址: 130000 吉林省长春市*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 一种基于探针对准晶圆的双倍率光学系统。属于光学成像晶圆检测技术领域,具体涉及基于探针对准晶圆的双倍率光学系统。其解决了目前市场上存在的探针相机放大倍率低、数值孔径较小,达到了工程要求而降低了光学性能的问题。所述系统包括物方、高倍成像系统、低倍成像系统Ⅰ和像面,光束从物方射入后,分别经过高倍成像系统和低倍成像系统Ⅰ后射入像面;所述高倍成像系统包括第一透镜组、第二透镜组、反射镜、分光装置和滤光片,所述低倍成像系统Ⅰ包括第三透镜组、第四透镜组、分光棱镜和滤光片。本发明可以应用于半导体晶圆中晶格的电学性能测试技术领域。
搜索关键词: 一种 基于 探针 对准 双倍 光学系统
【主权项】:
暂无信息
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