[发明专利]用于集成电路的超低失效率分析方法、装置和计算设备在审
| 申请号： | 202310911737.8 | 申请日： | 2023-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN116953478A | 公开（公告）日： | 2023-10-27 |
| 发明（设计）人： | 潘仲豪 | 申请（专利权）人： | 上海超捷芯软科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京清大紫荆知识产权代理有限公司 11718 | 代理人： | 赵然 |
| 地址： | 201306 上海市浦东新区中国（上*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明的实施方式提供了一种用于集成电路的超低失效率分析方法、装置和计算设备。该方法包括：确定压扩因子总集合；每一压扩因子分别对应一个失效样本数量；根据预设失效阈值将压扩因子总集合拆分为第一压扩因子集合和第二压扩因子集合；确定第二压扩因子集合中每一第二压扩因子对应的采样点总数量；根据各个采样点总数量以及各个第二失效样本数量，确定第二压扩因子集合中各个第二压扩因子分别对应的压扩区间；根据第一压扩因子集合、第二压扩因子集合以及各个第二压扩因子分别对应的压扩区间，通过凸优化算法确定待估计集成电路的实际失效率。本发明能够在采样得到的失效样本数目极小的情况下，对大规模集成电路的超低失效率进行准确的估计。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 集成电路 失效 分析 方法 装置 计算 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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