[发明专利]一种Yulong810A芯片PLL的ATE测试方法、装置和存储介质在审
| 申请号： | 202211097091.6 | 申请日： | 2022-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN116312717A | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 颜军;赵厉;黄仕林;韩俊 | 申请（专利权）人： | 珠海欧比特宇航科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 黄英杰 |
| 地址： | 519000 广东省珠*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种Yulong810A芯片PLL的ATE测试方法、装置和存储介质，包括：获取Yulong810A芯片设计代码的PLL的测试代码；将所述测试代码进行Modelsim仿真并生成仿真文件；将所述仿真文件转为测试向量；将所述Yulong810A芯片与ATE测试机台进行连接；获取所述Yulong810A芯片PLL的ATE测试程序；根据所述ATE测试程序和Yulong810A详细规范设定工作条件，对PLL进行测试。本发明提供的测试方法通过将功能pattern加载到ATE测试机台上，对Yulong810A芯片PLL进行测试，可以及时发现Yulong810A芯片PLL的异常现象，能准确验证Yulong810A芯片PLL功能特性，大大提高了芯片的测试效率，降低了测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 yulong810a 芯片 pll ate 测试 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于珠海欧比特宇航科技股份有限公司，未经珠海欧比特宇航科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202211097091.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种工业实时数据库系统及其数据访问方法
- 下一篇：一种砷碱渣的处理方法
